G01N 23/20 — с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 684410
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Епифанов, Петьков, Поленур, Тарнавский
МПК: G01N 23/20
Метки: высокотемпературная, дифрактометру, камера-приставка, рентгеновскому
...корпусе смонтированы радиационные экраны, входящие в кольцевые выточки на шпинделе и перекрывающие зазор совместно с экранами шпинделя.На чертеже принедена схема конструкции камеры-приставки.Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру содержит корпус 1 с окнами 2, предназначенными для прохождения рентгеновских лучей,и высоковакуумный насос 3 с вентилем 4 для предварительной откачки и штуцером 5 для размещения вакуумметрических датчиков Бескерамический ленточный нагреватель б окружен радиационными экранами 7. Ленты нагревателя выполнены иэ тугоплавкого металла, например вольфрама, и установлены так, что между ними образуется щель для прохождения рентгеновских лучей. Держатель 8 образца 9 закреплен в...
Камера для рентгеновской топографии
Номер патента: 694801
Опубликовано: 30.10.1979
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, рентгеновской, топографии
...держатсль 12 фотокасссты 13, который может перемещаться относительно кристалла по направляющим 14, с целью установя требуемого раестояния между фотока;сетой и образцом. Крнсталлодеркатсль 10 вместе с фотокассстой 13 и ее держателем 12 может наклонятвся, поворачиваясь вокруг оси 15.Предлагаемая камера работает слсдующи,м образом.В крнсталлодержатсль устанавлив астся образец. Стол 1 гониометра вместе с закрепленными на нем узлами, т. е. вместе с образцом, кассетой, щелями и сканируюшиьм устройством поворачиваспся относительно первичного рентгенозского луча вокруг оси А-А (т. с. в брегговеком направлении) нс теоретичееки рассчитанной угол брегговского отражения, а счетчик 16 поворачивается вокруг оси А-А 1 на длсйной угол брегговского...
Рентгеновский гониометр
Номер патента: 702280
Опубликовано: 05.12.1979
Автор: Захаров
МПК: G01N 23/20
Метки: гониометр, рентгеновский
...5луча иной, но взаимное положение образна и детектора сохраняется),йие- дифрагированные лучи 12, которыемогут быть зарегистрированы детектором 7 в этом случае, не изменяютсвоего йоФложения относительно детектора, в реэультом: Предложенный рентгеновский гониометр позволяет исследовать образцы с помощьюпозиционно-чувствительного детектора в широком диапазоне углов дифрвкции, схорошим угловым разрешением и безтрудпоучитываемых геометрических искажений. Это делает данный гониометруникальным прибором высокой точностйдля исследования материалов в тех случаж, когда по условиям экспериментанеобходимо измерять распределение интецсивности в широкой области вокругузла обратной решетки (например, прирасшифровке кристаллических структур и изучении...
Высокотемпературная приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 706756
Опубликовано: 30.12.1979
Авторы: Дейно, Мясников, Финкельштейн
МПК: G01N 23/20
Метки: высокотемпературная, дифрактометру, приставка, рентгеновскому
...2 образца и йагреватель 3. Нагрева- ниена порядок (от 10 4 до 10 мм рт.ст.,тель" окружен комплектом цилийдрическйх 4, при работе в интервале температур 800-1500 С.верхних 5 и нижних б плоских экранов, кото- При этом газологлотительное действие экрарые могут быть"выполнены иэ различныхсоче-нов оказывается достаточным для подцержаниятакий материалов. С помощью вакуумпровода 7 1 о в течение 60 мин давления внутри приставкивнутренний объем приставки связан с системойне менее Зх 10 мм, рт,ст. при полном отклю отКачки; чении ее от внешней системы откачки.При йроведейии высокотемпературйых исследований, наивь 1 Сшуютемпературу Имеет" экран,расположенный непосредственно вблизи нагре- . 1 Б Ф о р м у л а и з о б р е т е н ийВателя,"а...
Рентгеновская низкотемпературная камера
Номер патента: 712743
Опубликовано: 30.01.1980
Автор: Захаров
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, низкотемпературная, рентгеновская
...с возможностью поворота вокруг по крайней мере двух взаимноперпендикулярных осей.На чертеже показана схема низкотемпературной камеры в начальном положении, т. е. когда углы поворота образца вокруг осей равны нулю,Образец 1, закрепленный в держателе 2, расположен в подвижной рабочей камере 3, выполненной в виде концентрических тепловых экранов, разделенных вакуумным пространством. Держатель 2 жестко закреплен в рабочей камере 3, в которой имеются окна 4 для пропускания рентгеновских лучей. Камера 3 жестко связана с осью в 1)ащепя 5, которая совпадает с нормалью к поверхности образца. Ось 5 связана с корпусом 6, который по дуге 7 может поворачиваться вокруг горизонтальной оси, перпендикулярной оси 5 (нормально поверхности...
Способ дифракционной микрорентгенографии
Номер патента: 720349
Опубликовано: 05.03.1980
Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян
МПК: G01N 23/20
Метки: дифракционной, микрорентгенографии
...рентгеновского пучка через установленный в отражающее положение тонкий монокристалл и фотографической регистрации дифрагированногоизлучения г 1. Однако разрешающая способность такогоспособа недостаточна.Цель изобретения заключается в том, чтобы повысить раэрешание получаемой дифракцнонной картины.Эта цель достигается тем, что по предложенному способу дифракцнонной микрорентгенографии, заключающемся в том, что на исследуемый монокристалл, установленный в отражающее положение, направляют коллимированный пучок монохроматического рентгеновского излучения н регистрируют дифрагированный пучок, последний дополнительно пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокрнсталл, толщина которого выбрана иэ условия нормального...
Рентгеновский интерферометр
Номер патента: 720350
Опубликовано: 05.03.1980
Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян
МПК: G01N 23/20
Метки: интерферометр, рентгеновский
...и трехкристзльная системы, с помощью которых получают муаровые картины.Узкий пучок рентгеновских лучей, проходя через коллиматор с диаграммой, падает на двухблочную систему из кристаллов 1 и 2. Дифрагированный лучок падает на идеальныи толстый кристалл 3, находягднйся в лоложенни отражения, а проходящий пучок задерживает ся экраном 4. Дифрагированный пучок, содержащий муаровые картины, проходит чсреэ кристалл 3 который, не меняя характера муара, увеличивает эту муаровую картину.илиал ППП Патент"ЖГО 1 эОд, ул. рай:.сэ па 5 Снимок может быть получен ца фотоВ)с 1- ке 5, помещенной между вторьм и третьим бпоками или на фотопленке б, расцогн)женцоп после третьего блока.Аналогичный эффект (увеличение) цоту )- ется при использовации...
Способ контроля ограненных пластинчатых кристаллов гексагонального типа
Номер патента: 725001
Опубликовано: 30.03.1980
МПК: G01N 23/20
Метки: гексагонального, кристаллов, ограненных, пластинчатых, типа
...не более 3, и регистрацию рентгеновских дифракционных отражений, запрещен. ных структурным фактором, с .помощью счетчика квантов, Отражения получают,по схеме съемкиБрэгга. По угловому положе. нию запрещенных отражений определяют, 20 состоит кристалл из одного политипа или является" сростром:Известен также способ контроля кристаллов на присутствие включений полатипов 12, в котором облучают кристалл моно. 25 хроматическим пучком лучей, направлен. ным перпендикулярно кристаллографическому направлению 1 ОООЦ пластины кристалла, покачивая объект, регистрируют рентгеновсиие дифракционные отражения; полу- З 9 2ченные по схеме съемки Брэгга, на фотопленку и, анализируя положения и интенсивности разрешенных отражений, определяют, состоит кристалл...
Способ рентгеновского спектрального анализа
Номер патента: 741122
Опубликовано: 15.06.1980
МПК: G01N 23/20
Метки: анализа, рентгеновского, спектрального
...этого пика Чд в отличие от зеркального практически не зависит от угла скольжения прямого пучка и определяется в ос 35 новном плотностью отражающей среды,Таким образом, если направить на отражающую поверхность два рентгеновских пучка, один под углом скольжения, большим Ча пругой - под углом, равЧ то удастся свести вдоль одногос 1направления часть излучения от двух разчичных падаюших пучков, что и используотся в предложенном способе.На чертеже изображена схема устройства для осуществления способа.Устройство содержит источники электронов 1, 2, ограничивающие диафрагмы 3-6, зеркало 7, кристалл-анализатор 8, детектор излучения 9, Врашение кристал 50 ла-анализатора 8, ограничивающей диа-фрагмы 6 и детектора 9 осуществляется вокруг оси...
Держатель образца рентгеновской высокотемпературной приставки
Номер патента: 775672
Опубликовано: 30.10.1980
Авторы: Дейно, Финкельштейн
МПК: G01N 23/20
Метки: высокотемпературной, держатель, образца, приставки, рентгеновской
...плоскость корпуса выполнена сравнимой, но заведомо меньшей по размеру в вертикальном направлении, чем кювета, а устройство прижима выполнено в виде установленной одновремен. но на кювете и корпусе накладки с ассиметрично расположенной клиновидной установочной прорезью, при этом центр тяжести накладки находится со стороны опорной плоскости за ней.На чертеже изображен общийвид одного иэ вариантов предлагаемого держателя образца,На упор 1 корпуса 2 держателя, имеющего плоскость опоры 3, устанавливается кювета 4 с порошкообразным образцом или сам пластин чатый образец, Высота опорной плоскости долж. на быть заведомо меньше высоты кюветы. На. кладка 5, устанавливаемая сверху на образец, имеет асимметрично расположенную клиновидную прорезь, с...
Приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 777562
Опубликовано: 07.11.1980
Авторы: Дорожинский, Евграфов, Зеге, Зыль, Рогачев, Сенюта
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, приставка, рентгеновскому
...смонтирована стойка 14, несущая двигатель 15 и привод рычага 16, выполненного в виде полукольца, левый 17 н правый 18 фиксаторы, двигатель 19 привода шпинделя, на котором смонтирован держатель 20 кюветы, упорная скоба 21, находящаяся в контакте с эксцентриком 22, установленным на регулировочной рукоятке 23. Последняя необходима для выведения плоскости исследуемого образца на ось гониометра, На торце держателя кювет 20 закреплены постоянные магниты 24 для удержания кюветы во время экспозиции, Рычаг 16 снабжен электромагнитами 25, управляемыми по сигналам программного устройства.Приставка работает следующим образом.Кюветы 10 с исследуемыми образцами находятся в обойме магазина 9, рычаг 16 стоит на правом фиксаторе 18 и двигатели 2, 15 и 19...
Коллимирующее устройство
Номер патента: 783660
Опубликовано: 30.11.1980
Авторы: Зеленов, Лейкин, Мингазин
МПК: G01N 23/20
Метки: коллимирующее
...перпендикулярном ходу рентгеновского луча, края которой отстоят от параллельных полосе краев пластины на расстояние, достаточное для ослабления рентгеновских лучей в материале пластин до уровня Фона.На Фиг. 1 представлено схематически кое изобретение предлагаемого коллимирующего устройства; на Фиг. 2 - разрез А-А на Фиг. 1.783 бб 0 Формула изобретения Фие. 2 ВНИИПИ Заказ 8532/45 Тираж 505 Подписное Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 не выше 10-го класса (такая обработка может заключаться в механическом выщерблении, вытравлении углублений, шлифовке крупнодисперсным порошком и др), Направление пучка рентгеновских лучей показано стрелками 4.Прохождение пучка рентгеновских5 лучей по границе раздела двух плоских...
Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев
Номер патента: 800836
Опубликовано: 30.01.1981
Авторы: Афанасьев, Болдырев, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Лобанович, Миренский, Семиошкина, Смирнов, Шилин
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, монокристалли-ческих, слоев, совер-шенства, структуры
...эмиссии в виде газонаполненной камеры 4 снаходящимся в ней держателем образца,установленной на гониометрической головке главного гониометра 5, и детектор 6 дифрагированного образцом излучения.Камера 4 представляет собой объем 7,внутри которого расположены держательс образцом 8, нитевые электроды 9 и10. Держатель с образцом с помощьюустройства 11 может перемещаться относительно электродов. Камера такжеимеет два штуцера 12, служащих цляввода и вывода газовой смеси, наполняющей объем, и два окна 13, прозрачныхдля рентгеновских лучей, Напряжениеподается на держатель с образцом и одиниз электродов 9 или 10, что соответствует исслецованию образца при брэгговской или лауэвской дифракции (на просвет). Предварительно коллимированное и...
Способ контроля качества глино-земсодержащего спека
Номер патента: 808922
Опубликовано: 28.02.1981
Авторы: Андрюшина, Арлюк, Калмыков, Кириллова, Насыров, Чернова, Швецов
МПК: G01N 23/20
Метки: глино-земсодержащего, качества, спека
...Кф = Ос 2019,Ос 1603 с КОс 2249808922 Таблица 2 Интенсивность линий алюминатных фаз по рентгенограмме, мм Извлечение А 1 03из спека пристанд. выщел. похимич. анализу,Расчетноеизвлечение А 1 0по рентгенограмме95 А 2 7,76,2 14 89,9,6 7 9,7 90,2 64 90,18 Таким образом, отношения интенсив костей указанных пяти линий на рентгенограмме спека отражают влияние химического состава степени термообработки на извлечение глинозема и качество спека. Для определения из- ЗО влечения щелочи достаточно измерения интенсивности четырех линий на рентгенограмме.Так как качество спека контролируется с периодичностью 10-20 мин при термообработке шихты во вращающихся печах, предлагаемый способ контроля используют в системе управления процессом спекания.При этом...
Способ исследования многоволно-вого рассеяния рентгеновских лучейна монокристалле
Номер патента: 811122
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Безирганян, Габриелян
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, лучейна, многоволно-вого, монокристалле, рассеяния, рентгеновских
...фона в пучке.Такой пучок может быть получен с помощью двухблочного интерферометра, в первом блоке которого возбуждается окольный пучок, играющий роль первичного пучка для второго блока. Окольный пучок, возбужденный в первом блоке, автоматически будет в положении многоволнового отражения во втором блоке, в частности отражение (200) во втором блоке автоматически возбудит трехволновую конфигурацию (111) и (200).Интерферометр состоит из двух параллельных одинаковых монокристаллических пластин (блоков), из практически бездислокационного монокристалла германия на общем основании. Размеры больших поверхностей блоков 25(20 мм, расстояние между ними 5 мм. Блоки вырезаны таким осразсм, что плоскость (111) является боковой поверхностью...
Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов
Номер патента: 817552
Опубликовано: 30.03.1981
Авторы: Безирганян, Дрмеян
МПК: G01N 23/20
Метки: дифракционной, микрорентгено-графии, монокристаллов
...схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 - схема получения рентгеновских топограмм,Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2, Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный .монокристалл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в. отражающее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и817552 талла пучка; тличаюнирование исуществляют установленной совершенным дифрагировантличаюнирование исуществляют пу" осительно мацки,и...
Способ контроля степени мозаично-сти изогнутого монокристалла
Номер патента: 819653
Опубликовано: 07.04.1981
Авторы: Лобова, Подлесная, Райхельс, Смушков
МПК: G01N 23/20
Метки: изогнутого, мозаично-сти, монокристалла, степени
...чем вдвух точках,Точки выбирают на том расстоянии, длякоторого построена градуировочная зависимость, и определяют степень мозаичностипо градуировочной кривой,После выращивания монокристаллов привысоких температурах и остывании до комнатной температуры, наблюдаемая мозаичность кристалла часто обусловлена такимстатистическим распределением блоков мозаики по кристаллу, при котором соседниеблоки повернуты один относительно дру-гого в одну сторону, Измеренный характер 4изменения углов отражения рентгеновскнх лучей в точках кристалла, расположенных вдоль какого-либо направления, имеет впд монотонно изменяющейся кривой. Это обуславливает искривление кристаллографической плоскости как целого всей поверхности кристалла.На чертеже изображен...
Способ определения профиля распределенияструктурных искажений b поверхностномслое монокристалла
Номер патента: 830206
Опубликовано: 15.05.1981
Авторы: Афанасьев, Буйко, Имамов, Ковальчук, Кон, Лобанович
МПК: G01N 23/20
Метки: искажений, монокристалла, поверхностномслое, профиля, распределенияструктурных
...профиля до совпадения кривых 4.Недостатками данного способа являются небольшая точность из-за малых интенсивностей отражений в дополнительных областях дифракции при исследовании тонких поверхностных слоев, а также неоднозначность восстановленного профиля при сложных формах искажений.Цель изобретения - повышение точности и достоверности получаемого профиля структурных нарушений. 40Поставленная цель достигается тем,что согласно способу определения профиля распределения структурных искажений в поверхностном слое монокристалла, заключающемуся в том, что про-изводят регистрацию кривой дифракционного отражения монохроматическогорентгеновского излучения от исследу"емой поверхности монокристалла, моделируют профиль распределения...
Способ определения качества известня-ковых пород
Номер патента: 834473
Опубликовано: 30.05.1981
МПК: G01N 23/20
Метки: известня-ковых, качества, пород
...основымежду зернами в агрегатах, в нихпреобладает дощатая Форма кристаллов,имеют высокую температуру разложенияпри нагревании (990-980 оС), обладаютвысокой степенью чистоты (как правило СаС 090). и т.д т.е, имеют не-.высокую химическую активность, Дляэтих пород величина вариации Д /Дсоставляет 0,65-0,90.Значение 0,65 соответствует пре-.дельной величине вариации 3, /Зхарактерной для исландского шпатаСаСО 99,6, принятого в качествеструктурного эталона.Породы Физико-химической группыН 1 слабо кристаллизованы, мелкозернисты (размер зерен с 10 мкм), содержат большое количество (до .50) цементирующей основы в виде пелитоморфного кальцита и глинистых примазок,что сопровождается уменьшением степени их чистоты (СаСО до 70)и температуру...
Держатель монокристаллов длярентгеновского дифрактометра
Номер патента: 840717
Опубликовано: 23.06.1981
Авторы: Гаврилюк, Ременюк, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: держатель, дифрактометра, длярентгеновского, монокристаллов
...(пружина8)механизм вращения монокристаллавокруг вертикальной оси, параллельной оси рентгенгониометра и смещеннойотносительно оптического центра гониометра на величину радиуса монокристалла, включающий фоикционный ролик 9 и 40гибкий трос 10, связующий ролик 9 сприводом 11 поворота. Для фиксации, разметки монокристалла служит ленейка-шаблон 12, Установочные винты 13 обеспечивают юстировку предлагаемого устройства относительно оптической оси рент 4генгониметра, т.е. выведение образующей монокристалла на вертикальную осьвращения рентгенгониометра.Для определения положения заданной 50кристаллографической плоскости, параллельной оси цилиндрического монокрис 7 4галла, относительно его геометрических координат (образующие цилиндрической...
Приставка к рентгеновскому дифракто-метру для ориентированной резки moho-кристаллов
Номер патента: 842518
Опубликовано: 30.06.1981
Авторы: Гаврилюк, Павлов, Ременюк, Фомин, Юшков
МПК: G01N 23/20
Метки: moho-кристаллов, дифракто-метру, ориентированной, приставка, резки, рентгеновскому
...изображено предлагаемое устройство, вид спереди, на фиг. 2 - вид А на фиг,1,Приставка содержит стационарнуючасть, устанавливаемую на рентгенгониометре дифрактометра, и переносноеприспособление-оправку. Стационарнаячасть состоит из основания 1, закрепляемого на рентгенгониометре,каретки 2, связанной с основаниемсоединением типа "ласточкин хвост",поворотной головки 3, смонтированнойна каретке, съемного указателя 4оптического центра гониометра и держателей 5 и 6 оправки, установленных 40на головке, Переносное приспособление-оправка состоит из базовогоэлемента 7, выполненного в виде соединения "ласточкин хвост" (для перемещения и крепления в направляющихдержателей 5 и 6 приставки и держателе станка для резки), стопорного болта 8, обоймы 9,...
Способ относительного измеренияпараметра решетки монокристаллов
Номер патента: 842519
Опубликовано: 30.06.1981
Автор: Лидер
МПК: G01N 23/20
Метки: измеренияпараметра, монокристаллов, относительного, решетки
...усложняет. технику выполнения измерений.Цель изобретения - упрощение относительного измерения параметра решетки с одновременным сохранением высокой точности.Поставленная цель достигается тем, что в способе относительного измерения параметра решетки моно- кристаллов, включающем облучение плоскопараллельного образца с двух842519 Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 5056/45 Тираж 907 Подписное Филиал ППП "Патент", г,ужгород, ул,Проектная,сторон двумя рентгеновскими пучками, коллимированными отражением от монохроматоров, поворот исследуемого кристалла и регистрацию двух дифракционных максимумовсоответствующих отражениям от противоположных5 сторон образца, последний выполняют двухслойным со слоем изучаемого материала на одной стороне и...
Низкотемпературная приставка к рентге-новскому дифрактометру
Номер патента: 842520
Опубликовано: 30.06.1981
Авторы: Прохватилов, Прыткин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, низкотемпературная, приставка, рентге-новскому
...10 в диске 7. Образец 11 или кювета с исследуемым веществом устанавливается в держателе 8 образца, который может без нарушения юстировки вращаться вокруг горизонтальной оси с помощью червячной пары 12. Вращение задается электродвигателем 13 и передается червячной паре 12 через муфту 14 и тросик 15, проходящий в камеру-приставку через вакуумное подвижное уплотнение (не показано) .Держатель 8 образца по периметру окружен кольцевой трубкой-теплообменником 16 с запаянным выходным концом, имеющей по внутренней образующей отверстия диаметром 0,5 мм. Кольцевой теплообменник присоединен к переливному сифону 17 через подвижное уплотнение, Хладагент из транспортного сосуда Дьюара поступает в камеру-приставку по переливному сифону 17 через...
Устройство для получения рентгеновс-кого изображения b переменном mac-штабе
Номер патента: 842521
Опубликовано: 30.06.1981
Автор: Коган
МПК: G01N 23/20
Метки: mac-штабе, изображения, переменном, рентгеновс-кого
...Фц и 9 наклона оптической оси устройства к рабочей поверхности монокристалла со 60 стороны падающего и дифрагированногопучков, легко определить его радиус изгиба-"-+ - = 1Г Г;2 ИВ любой плоскости и наблюдается сфокусированное полихроматическое в каждой точке изображение сопряженной плоскости 2.При изменении углов Уо и М 1,оокружность 12 радиуса гО отображается в окружность 13 радиуса г 1,касательную к ней в полюсе монокристалла. Их радиусы связаны соот 20 ношением1 1 2- +ГОИзображение бесконечно удаленнойточки (2= с ) наблюдается в плос 25 кости Ч= и удалено в бесконечрсть при помещении объекта в плоскость 2=.,Следовательно, 1 и Г - переднее и заднее фокусные расстояния КФЭв пространстве объекта и изображениясоответственно.В общем...
Устройство для исследования кольцевыхобразцов
Номер патента: 845068
Опубликовано: 07.07.1981
Авторы: Кононенко, Новоставский, Скляров, Тимин
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, кольцевыхобразцов
...дифрактометра при установке приставки, например, в гониометрическом устройстве дифрактометра. В стойках 3 размещены ползуны 4 с ходовыми винтами 5. На каждом ползуне 4 расположено по ролику 6 (крайние линейные опоры). Средний ролик 7 выполнен из фракционного материала и посажен на выходной вал редуктора, корпус 8 которого служит рычагом, а входной вал соединен с электродвигателем 9. Исследуемый образец 10 зажимается между наружными роликами 6 и внутренними 7 под действием на рычаг 8 пружины 11. Для определения положения ползунов 4 стойки 3 снабжены шкалами 12, лимбы которых отградуированы в диаметрах исследуемых образцов.Приставка работает следующим образом Кольцевой образец 10 надевается на фрикционный ролик 7 при опущенном положении...
Рентгеновский дифрактометр по схемезеемана-болина
Номер патента: 851211
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Дроздова, Евграфов, Колеров, Скрябин, Фрейцис, Юшин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометр, рентгеновский, схемезеемана-болина
...оси 13 с фокусирующей окружностью. Исследуемая поверхность образца 14 пос тоянно касается в процессе измерения фокусирующей окружности.На поворотной платформе 15 находится рентгеновская трубка 16 и монохроматор 17. Фокус 18 монохроматора расположен на фокусирующей окружности в точке пересечения геометрического продолжения оси 9 платформы 15 с фокусирующей окружностью, В ходе проведения измерений точка касания образца 14 фокусирующей окружности и центр приемной щели 12 детектора 2 пере- зо мещаются соответственно на платформах 1 и 3 независимых приводов по фокусирующей окружности.Сохранение постоянной ориентации падающего рентгеновского пучка на образец и отраженного пучка на приемную щель З 5 детектора обеспечивается...
Приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 851212
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Колеров, Логвинов, Скрябин, Юшин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, приставка, рентгеновскому
...является одновременно и патрубком смены газовой среды. Устройство крепления образца состоит из упора 7 с керамическими накладками 15 8 и прижима, включающего чашку 9 и сильфон 10, внутрь которых введен патрубок 11 трубопровода системы подвода хлад- и теплоагента, Образец 12 помещен между керамическими накладками и чашкой.Упор 7 с керамическими накладками 8 20 закреплен на нижней крышке 3, а прижим - чашка 9 с сильфоном 10 - к корпусу 4. Такое крепление образца обеспечивает возможность изменения температуры благодаря контактному теплообмену между образцом и дном чашки, что исключает необходимость введения хлад- и теплоагента в рабочий объем приставки, и в то же время достигается сохранение положения рабочей плоскости образца...
Способ рентгеновского топографированиямонокристаллов
Номер патента: 851213
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 23/20
Метки: рентгеновского, топографированиямонокристаллов
...отоблучаемого участка монокристалла и 15по их суммарной интенсивности судято наличии дефектов структуры,Детектор квантов может быть расположен и перед исследуемым монокристаллом, что позволяет исследовать монокристалл в геометрии Брэгга,На чертеже изображена схема реализации способарентгеновского топографирования монокристаллов в геометрииЛауэ, 25Коллимирозанный пучок 1 рентгеновского излучения облучает участок 2исследуемого монокристалла 3. Квантовый детектор 4 одновременно регистрирует излучение, рассеянное различ.ными группами кристаллографическихплоскостей монокристалла, для которых выполняется условие брэгговскойдифракции для различных длин волнрентгеновского излучения во всем энергетическом диапазоне источника излучения....
Монохроматор рентгеновскихлучей
Номер патента: 851214
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Генкин, Красильников, Макарычев, Щербань
МПК: G01N 23/20
Метки: монохроматор, рентгеновскихлучей
...внутреннего монокристалла, причем ось поворота монокристалла и втулка снабжены, соединенным споворотным рычагом кольцом со стопорными винтами для одновременного илипопеременного соединения кольца сосью и втулкой,60 65 На фиг.1 представлена схема размещения монокристаллов; на фиг, 2 - поворотное устройство, разрез.Рентгеновский луч 1 проходит че" реэ внешний монокристалл 2 и внутренний монокристалл 3, размещенные в корпусе 4 поворотного устройства, содержащего втулку 5, ось б, рычаг 7, кольцо 8, стопорные винты 9-12,Основанием монохроматора служит корпус 4. Внутри корпуса расположена с возможностью поворота втулка 5, на торце которой прикреплен внешний монокристалл 2. Во втулке 5 установлена ось б, на торце которой закреплен 5 0 15...
Камера для прицельной съемки рентгенограмм
Номер патента: 853502
Опубликовано: 07.08.1981
Авторы: Горбачева, Минина, Утенкова, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, прицельной, рентгенограмм, съемки
...скамьи, если образец крупный, но при этом сбивается юстировка, по вышается вероятность ошибки, т.е. ухудшаются эксплуатационные качества камеры.Целью изобретения является рентгенографический контроль объектов про иэвольной формы и размеров.1Для решения поставленной задачи в камере для прицельной съемки рентгенограммы, содержащей основание и смонтированные на нем оптический50 микроскоп, коллиматор пучка рентгеновских лучей, детектор, держатель объекта, снабженный гониометрической головкой, систему взаимной юстиров 55 ки оптического микроскопа и коллиматора, включающую юстировочную диафрагму, ее держатель и дополнительный детектор, оптический микроскоп и коллиматор смонтированы по одну сторону от держателя объекта, ось коллиматора и ось...