Черепин

Номер патента: 1839274

Опубликовано: 30.12.1993

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...от наружного 8 и внутреннего 9 электродов расположена входная диафрагма 5, а в противолежащей входной диафрагме 5 стороне кольцевого проводящего электрода 10 относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма или щель 11, диаметр или ширина которой больше диаметра входной диафрагмы 5, причем угловое расстояние между центрами первой промежуточной диафрагмы 11 и вгорой диафрагмой 5 составляет угол т - Э . Противоположно первой промежуточ;ой диафрагме 11 в кольцевом провод:.щем электроде 10 расположена вторая промежуточная диафрагма 12, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы 5, а центр ее находится в экваториальной плоскости под углом 20 относительно входной диафрагмы 5. По ходу ионного пучка, описывающего...

Номер патента: 1781728

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Пивоваров, Ченакин, Черепин

МПК: G01N 23/225, H01J 49/26

Метки: анализа, количественного, примеси, твердом, теле

...См, а исходная концен-. трация изотопа М составляет соответственно См, то в состоянии динамического равновесия процессов ион нога внедрения и распыления полная концентрация изотопа М в поверхностном слое с учетом его до- . полнительного внедрения ионным легированием до насыщения будет превосходить исходную концентрацию М в Ю разСм ам См443)м ам ам, аму - природная распространенность, соответственно, изотопов М и Му элемента М;Яр, Мр - средний проецированный пробег первичных ионов изотопа М+ и их 5 страгглинг, соответственно;е - заряд электрона.Физическое обоснование предлагаемдго способа заключается в следующем, При ионной бомбардировке твердого тела пуч ком ионов иозтопа М его концентрация в приповерхностном слое в любой момент ....

Номер патента: 695295

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел

...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...

Номер патента: 1720108

Опубликовано: 15.03.1992

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: анализа, ионов, масс-спектрометрического

...в меридиональной плоскости, которая сама поворачивается относительно оси полюсов, Для строгого описания такого движения иона решают связанные дифференциальные уравнения движения вида: где гп - масса иона;о - заряд;Н - напряженность магнитного поля;Ех, Еу, Е - компоненты напряженностиэлектрического поля,В аналитическом виде решить эти уравнения невозможно и нужно применять численные методы, Однако для обоснования предлагаемого способа достаточно приближенной оценки, основанной на рассмотрении проекции траектории ионов на экваториальную плоскость (фиг.2).Если ион с энергией цОО и скоростью Ч; - т р я движется в вкввторивявП 1 ной плоскости в магнитном поле Н, то поддействием силы Лоренца траектория становится дугой окружности с...

Номер патента: 1711260

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Вайсберг, Голубовский, Дубинский, Походня, Черепин, Швачко

МПК: H01J 49/26

Метки: вторично-ионный, масс-спектрометр

...на внутренней поверхности пОлого электрода 13. В этом режиме работы масс-анализатора применение сетчатого отражателя позволяет устранить фон, который в случае сплошной поверхности отражателя создается вторичными электронами и эмиттируемыми ею под действием неотразившихся положительных ионов и других частиц, прошедших через анализатор 5. Ускорение к электроду 10 положительные ионы выбивают из него электроны, которые после ускорения к ускоряющему электроду 15 регистрируются фотоумножителем 19.10 20 ройству электрод 13 позволяет измерятьионные токи без энергоанализа и усиленияфотоумножителем, что повышает динамиче 30 35 В режиме анализа отрицательных ионов необходимое распределение потенциала вионно-оптическом тракте...

Номер патента: 1707802

Опубликовано: 23.01.1992

Авторы: Войцеховский, Черепин, Черный, Шуляренко

МПК: H05K 13/02

Метки: ориентированного, перемещения

...шаг посредством упоров 8 платформы 3 с кареткой 2, При этом каретка 2 неподвижна отно 5 10 15 20 25 30 35 ао 45 50 55 сительно платформы 3 благодаря действию сил трения покоя Достигнув максимума, высоковольтный импульс падает до нуля, вызывая обратную противофазную деформацию пьезопреобраэователей 6 и 7, возвращая платформу 3 в исходную точку (вправо) Скачок напряжения ускоряет платформу 3, в результате чего на каретку действует сила (инерции). превышающая максимальную силу трения покоя, При этом платформа 3 скользит вправо относительно каретки 2, Трубчатые пьезопреобразователи могут обеспечить ускорение платформы 330 и больше, в то время, как предел, налагаемый трением покоя, составляет 1. Таким образом, даже если реальный коэффициент...

Номер патента: 1661867

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Косячков, Черепин

МПК: H01J 37/20

Метки: образца, позиционер

...противоположного по знаку напряжения относительно обычно заземленного внутреннего электрода приводит к изгибу 5 пьеэокерамической трубки в направлении Х и У в зависимости от того, какая пара из электродов находится под напряжением. Если это напряжение пилообразное и синхронно прикладывается ко всем четырем 10 пьезокерамическим трубкам таким образом, что последние изгибаются в одну и ту же сторону, например вдоль оси Х, то в фазе медленного линейного нарастания напряжения плоская пластина, жестко связанная 15 с верхними концами пьезокерамических трубок, и каретка, свободно размещенная на пластине, перемещаются в направлении Х. Сила трения покоя каретки удерживает ее от перемещения относительно пластины, В 20 фазе скачкообразного спадания...

Номер патента: 1582098

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Косячков, Трилецкий, Черепин

МПК: G01N 23/203

Метки: анализа, атомной, поверхности, структуры

...комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О,(111), равное 4,47 А, что хорошо соответствует объемному значению 4,44 А в этом же направлении, Ошибка при определении д составляет 0,03 А при точности определения критического угла скольжения 0,25.При исследовании атомной структуры поверхности Мв (111) известным способом из-за неопределенности в выборе уровня нахождения критического угла скольжения 0,5 - 0,9 от максимальной интенсивности ,значение а, (170) меняется от 49 до 52, При этом возникает неопределенность в измерении д,+0,2 А. При измерении того же расстояния предлагаемым способом с учегом того, что точность определения критических углов скольжения составляет 0,25, ,из-за неопределенности в выборе уровня в...

Номер патента: 1548726

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Косячков, Трилецкий, Черепин

МПК: G01N 23/203

Метки: анализа, поверхности, твердого, тела

...ГКНТ СССР( ) Институт металлофизики АУССР(56) Патент СНА У 3480774, кл, 25049,5, 1 969.Н, ЧегЬее 1 ег а 1, Мераг 1 че Ьусгояеп акоп Гогшасхоп Ьу Ьас 1 ясаггег.прйгош Яо 1 Ы ЯцгГасея ЯигГ Ясе. 1980,чо 1, 95, И 2-3, р, 380-390,бретение относитс ских методов иссл ел, а более конкре рассеяния медленмой для структуронцентрапионного го анализа повер бретения - снижение степеия анализ ируемой пове рхносервичных ионов беэ снижетельности анализа.изобретения заключаетсяании в качестве первичныхательно заряженных ионов и его изотопов.е р, Проводили анализ пористаллического вольфрам образец помещали в свермную камеру и выставляли ЛИЗА ПОВГРКИОСТИ ТВЕР ия медленных ионов структурного, элеционного и физико-х мического анализа поверхности твердо3...

Номер патента: 1538194

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Исьянов, Ольховский, Черепин

МПК: H01J 49/42

Метки: исследования, масс-спектрометр, твердых, тел

...в б.пок 7 четырех квадрупольных линз, на электроды которого подают разнополярные потенциалы в соотношениях, обеспечивающих работу блока7, аналогично осесимметричной линзе,а величины этих потенциалов подобраны таким образом, чтобы ионы определенной энергии, например 20 эВ, Фокусировались на вход квадрупольногофильтра 8 масс.Вторичные электроны, попадая вмагнитное поле, создаваемое намагниченным электродом, отклоняются от осиблока 7 и не проходят на вход квадрупольного Фильтра 8 масс, В то же время ионы, не испытывая влияния магнитного поля, благодаря значительнобольшей массе иона по сравнению сэлектроном, Фокусируются на входквадрупольного фильтра 8 масс.В поперечной плоскости квадруполь.ной линзы, благодаря наличию двух5 15381...

Номер патента: 1471233

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Бабанская, Маньковский, Черепин

МПК: H01J 49/44

Метки: анализа, анализатор, ионов, разрешением, рассеянных, угловым, энергетический

...16 и 19 заземлены. Расстояние между диаграммами и потенциал 7 на диафрагме 18 выбираются из условия, что фокус Й лежит в плоскости щелевой диафрагмы 20, Приближенное значение можно получить из выражения1 3 еУ2К 80 К.где Е - энергия электронов;Э - расстояние между диафраг"мами.Щели в диафрагмах 16, 18 и 19лежат в исследуемой плоскости (плоскости рассеяния ионов). Щель в щелевой диафрагме 20 находится под углом оС к исследуемой плоскости (Фиг. 3), Чем больше угол Ы и чем меньше ши" рина щели Й в щелевой диаграмме 20, тем лучше разрешающая способность по углам. Но необходимо учитывать, что уменьшение ширины щели Й уменьшает чувствительность анализатора, а величина угла ы, ограничена расстоянием Ь между отклоняющими пластинами 2 1 н 22...

Номер патента: 1324079

Опубликовано: 15.07.1987

Авторы: Исьянов, Косячков, Черепин, Яцук

МПК: H01J 37/20

Метки: исследования, поверхности, твердого, тела

...84 и 85 стоек 79 и 80 соединен с карданным валом 11, В полом валу 73 установлен цггифт 86, имеюший направление в пазу 87 ступицы 1 и в пазу 88 полого вала 72. С полым налом 72 соединена рейка 89, находящаяся в зацеплении с удлиненной цилиндрической шестерней 46., а с полым валом 73 соединена планка 90 с рейкой 91, находящаяся н зацеплении с шестерней 53 вала 52 вилки 50. На кронп:тейпах 92 и 93 через подшипники 94 и 95 закреплсн червячный вал 96, соединенный с карл-ппым валом 13.Устройство работает следуюш,им обраС помощью фланца 1 устройство для исследования поверхности твердого тела герметично подсоедин 5 пот к снерхвысоконакуумной камере. От ввода нрашения 4 через карданный нал 8 приводится во вращение ходовой винт 22, который...

Номер патента: 1265890

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Голиков, Косячков, Черепин

МПК: H01J 49/32, H01J 49/44

Метки: энерго-массанализатор

...поверхностью ионы или электроны проходят через систему 5 коллимирующих и замедляющих электродов, ограничивающих угол отбора частиц, определяя тем самым угловое разрешение анализа, и через входную щель 7 внутреннего электрода 6 попадают в энерго анализатор. В последнем частицыподвергаются анализу по энергии в поле соответствующей конфигурации, образованном внутренним электродом 6 и двумя симметричными электрически 40 разъединенными частями 9 и 10 внешнего электрода. Выходящие через выходную щель 8 внутреннего электрода 6 энергоанализатора частицы проходят через входную щель 13, прорезан; 45 ную во внутренней пластине 11 плос" кого конденсатора. При анализе электронов разность потенциалов на плас" тинах 11 и 12 плоского...

Номер патента: 1262594

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Коляда, Нагорная, Ченакин, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, компонентов, содержания, твердых

...обусловленной влияниями легирования и внутреннего стандарта,Переменную составляющую потока вторичных ионов внутреннего стандарта получают отфильтрованием постоянной составляющей, Обе составляющие потока ионов с заданной массой измеряют одновременно,Предлагаемый способ анализа по принципу действия относится к дифференциальному методу измерений, основанному на сравнении исследуемой и стандартной величин. Дифференциальчныи метод в предлагаемом способе реализуется благодаря легированию твердого вещества внутренним стандартом в виде параллельных равноотстоящих полос и соизмеримости ширины полослегирования и расстояния между поло1262 55Способ анализа содержания компонентов твердых веществ, заключающийся в легировании твердого вещества сами...

Номер патента: 1257725

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Коляда, Марченко, Нагорная, Черепин

МПК: G01N 27/68, H01J 49/16

Метки: анализа, веществ, послойного, твердых

...эмиссии на границе слоя.Идентичность состава многослойного образца и исследуемого твердого вещества исключает необходимость использования коэффициентов распыления ивторичной ионной эмиссии, что повышает точность анализа. В практике получения тонких пленок методами вакуумного осаждения известен прием получения пленок с минимальным содержанием адсорбированных газов, который состоит в выборе соотношения между скоростями напыления и адсорбции - первая должна значительно превышать вторую. Этот технологический прием используется в предлагаемом изобретении, однако только совместно с другим признаком (временем формирования соединения на поверхности) удается достичь конечной цели способа - получение многослойной структуры из одного...

Номер патента: 1226554

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Черепин, Швецов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...меньшечем знаменатель зависит от состоянияповерхности в связи с чем 1 характеризует состояние поверхности, аизменение его - изменение состояния поверхности, чтс учитывают при получении и обработке результатов анализа и что является технической сущностью изобретения,В масс-спектрометрии вторичныхионов, ионном легировании, катодномраспылении материалов и других областях техники широко применяют пучки ионов различной массы и энергии,Изменяя последнюю достигают различных глубин проникновения ионов, скоростей распыления, выходов ионов илиизлучений из мишеней и т.д. Предлагаемый способ существенно отличается отизвестных тем, что позволяет контролировать состояние поверхности твердого вещества путем учета специфических особенностей...

Номер патента: 1224855

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Васильев, Емельянинков, Коляда, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, количественного, послойного, твердых

...анализа можноповысить, если для этих целей использовать отношение потоков одноатомныхк полиатомным ионам, поскольку частично сократятся погрешности, связанныес.нестабильностью условий анализа исредств измерений.ЮБомбардировка твердого вещества 2 О пучками первичных ионов может производиться как раздельно (в этомслучае для суждения о концентрацияхиспользуют потоки вторичных ионов,. создаваемые вторым пучком), так и 2 совместно (в этом случае используютротоки вторичных ионов, создаваемыеодновременно обоими пучками)Распыление твердого вещества пучком первичных ионов с Б 1 снижаетточность послойного анализа ввидунеблагоприятного воздействия бомбардировки на состояние поверхности, в .связи с чем влияние этого пучка минимизируют...

Номер патента: 1211645

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: вторичной, ионной, компонентов, коэффициентов, образца, эмиссии

...очиЗ 5 щают поверхность от загрязнений,возникающих при контакте поверхности образца с окружающей средой впроцессе пробоподготовки и вакуумирования. После этого с помощью на гревателя с источником питания произ.водят кратковременный 1-2 минразогрев до 800 С для термическогообезгаживания поверхности образца.После остывания образца в камеру 45 напускают из баллонов с редукторамиактивную по отношению к железу газовую смесь - водород и азот, устанавливая парциальные давлениясоответственно 9 1 О и 3 10 Па.50 Выбор в качестве активного газаазотно-водородной смеси обусловлентем, что в зависимости от темпеО 15 20 25 ния определяется по значению токавторичных ионов в реперной (экстремальной) точке.Тип соединения опреде:,лением активного...

Номер патента: 1151874

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Ильинский, Мантуло, Минина, Новоставский, Петьков, Харитонов, Черепин, Щербединский

МПК: G01N 23/20

Метки: высокотемпературный, дифрактометр, рентгеновский

...через щели, Формирующиепервичный пучок излучения, и фокус источника рентгеновских лучей,при этом держатель кюветы с образцом установлен с возможностью жесткого соединения и совместного вращения с источником рентгеновских лучей, а источник установлен с возможностью дополнительного поворотавокруг оси, лежащей в плоскостистенки кюветки, выполненной из кристалла-монохроматора и параллельнойоси гониометра.На фиг.1 показан дифрактометр(вариаит кинематической.схейы 6-0,разрез по плоскости, перпендикулярной главной оси дифрактометра; нафнг.2 и 3 - схемы хода рентгеновскихлучей в дифрактометре,Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр содержит источникрентгеновских лучей со щелями 2 дляформирования первичного пучка ндетектор 3 со...

Номер патента: 1138855

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Васильев, Дубинский, Костюченко, Косячков, Макеева, Ченакин, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, послойного, твердых, тел

...концентрацией С данного эле мента в анализируемом слое Сев= щ,д /Ч а " К йе (2) гдето;- минимальный регистрируемыйток вторичных ионов,- степень ионизации (отношение числа вторичных ионовк общему числу распыленныхчастиц)- коэффициент пропускания прибора.Известен способ послойного анализа, заключающиися в распылении поверхности пучком ускоренных ионов споследующим масс-спектрометрическиманализом выбитых вторичных ионов ЯОднако этот способ не позволяетполучать высокое послойное разрешение при высокой концентрационнойчувствительности и локальности.55Наиболее близким к изобретениюявляется способ послойного анализа,заключающийся в расфокусировке первичного пучка ионов аргона, при этомскорость расопыпения объекта уменьшается до 0,5 А/с, в...

Номер патента: 1122503

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Галич, Завилинский, Исьянов, Черепин

МПК: B25J 11/00

Метки: зону, объектов, перемещения, рабочую

...59, содержащий корпус 60, на одной из продольных сторон 61 которого установлены неподвижные губки в виде роликов 62 и 63, а на другой стороне 64 - подпружиненные губки в виде роликов 65 и 66. Перемещение роликов 65 и 66 под действием пружин 67 ограничено регулируемой шайбой 68. На поперечной стороне 69 корпуса 60 в направляющей 70 установлена подпружиненная опора 71, перемещение которой под действием пружины 72 ограничено головкой винта 73.На продольных сторонах 61 и 64 корпуса 60 на осях 74 и 75 установлены упорные поворотные подпружиненные собачки 76 и 77. Оси 74 и 75 охвачены торсионными пружинами 78 и 79; одни концы которых взаимодейст вуют с собачками 76 и 77, а другиес упорами 80 и 81, закрепленнымив корпусе 60, Поворот собачек...

Номер патента: 1100656

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Аникин, Жуков, Киреев, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, идентификации, ионной, масс-спектрометрии, пиков, соединений, химических, элементов, эмиссии

...массой, если же это отношение не зависит от температуры, то ионы с меньшей массой являются осколком молекулы и в образце отсутствуют31.Недостатками этого способа являются:узкая область применения, так как он позволяет идентифицировать толькоВпики, соответствующие ионам, образовавшимся в результате диссоциации более сложной молекулы,усложнение установки за счет применения дополнительного устройства для нагревания образцов и регистрации температурной зависимости вторичных ионов;увеличение времени проведения анализа, что приводит к повышенным требованиям на стабильность экспериментальных условий.Цель изобретения - повышение точности и упрощение анализа. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу идентификации циклов...

Номер патента: 1079812

Опубликовано: 15.03.1984

Авторы: Арсланбеков, Галич, Черепин, Яцук

МПК: F16K 3/02

Метки: клапан, сверхвысоковакуумный

...у)или отклОчения и:( ог 1)т)(,:1)с)и,в сверхвысоковакуумцых Н 1,П),технологическо 10 обору,Ов;)Н 1:1:ИЗВЕСТЕН ВЫСОКОВЗК1),1:Ы К,1 ЦЦпмсе которого мстацновлсн) з; 00 ы;на нацравляк)п)их и механц);" ),",:,ния. Запорный ор 1 ац аяза до;хным механизмом цеемсп(с:Ня, и ьустановлен ) ш)р, цсГгрир) г 01)з:,.1 л;)орган относители:о с,1 лаНаличие доцолг(тельно 0ремещеция позволяет сфор")ц:) и:;ным органом материал уцо-. цс ажд разох) на Все б,;из)и с необходимым успл смОднако коцструктцц)к вьиГ 1 О л н и те л ъ н 0 го м с х а и и:1 1) а и ( р с ;цорнОГО Орган)1 т)рсбст 11(1 ч 1,НОГО (Доно)НИ ГЕ(ЬЦ 010 ПРИВО ),няст управ.1 енис цз вест: ы)1 к 1)11:) ПОНаиболее блцзким по тс 1 и),ности к предлае)10)1, яля; гвакуумный клапан, сод(р":(;)щ)в...

Номер патента: 1078502

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, значения, ионно-ионной, компонент-поверхности, коэффициентов, относительного, твердых, тел, эмиссии

...при постоянном значении тока ионов первичного пучка ионное легирование производят тем же пучком первичных ионов с энергией, превышающей энергию ионов первичного пучка при распылении, при этом длительность масс-анализа устанавливают больше времени прекращения спада тока вторичных ионов с массой, соответствующей массе ионов первичного пучка.На фиг. 1 - 4 представлены варианты масс-спектров и временные зависимости токов (в.и.и.э.).При проведении масс-анализа происходит распыление ионнолегированного слоя, поэтому в спектре в.и.и.э., снятом в момент времени 0 ТсТ, наблюдаются вторичные токи компонент А (пики А, А, Аз, А 4) и вторичный ток 1-, который складывается из двух составляющих - вторичного тока 1 от ионов первичного пучка, легирующих...

Номер патента: 964904

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Левинзон, Тимченко, Чемерисов, Черепин

МПК: H02M 3/335

Метки: переменного, преобразования, стабилизации

...поступает на вход полумостового инвертора 2,с выхода которого высокочастотное, модулированное по длительности переменноенапряжение подается на первичную обмотку трансформатора 5, На вход схемы 12управления, выход которой подключен кбазам ключевых транзисторов 3 и 4, поступает сигнал с "суммирующего узла 9,величина которого изменяетса в зависимости от сигналов, поступающих на компаратор 10 суммирующего узла 9 с делителя 7 входного напряжения и делителя 8 выходного напряжения, На другой вход компаратора 10 подается пилообразное напряжение генератора 11.Схема 12 управления вырабатываетимпульсы, поочередно открывающие транзисторы 3 и 4, подумостового инвертора 2, Например, в момент времени ;(фиг. 1) открывается силовой транзистор 3. В этом...

Номер патента: 957317

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Косячков, Черепин

МПК: H01J 49/32

Метки: энерго-массанализатор

...систему 3 фокусировки пучка ионовна исследуемый образец 4, расположенныепо ходу пучка анализируемых частиц коллимирующую и замедляющую систему 5, установленную на входе полусферического энергоанализатора 6, отклоняющее устройство 7, выполненное, например, в виде плоского конденсатора, и установленное на выходе энергоанализатора 6. За отклоняющим устройством 7 по ходу движения анализируемых частиц расположен массанализатор 8 и детектор 9 ионов. Управляемый извне манипулятор 1 О осуществляет поворот образца 4 на любой угол относительно направления падения пучка бомбардирующих ионов.Коллимирующая и замедляющая система 5, энергоанализатор 6 и отклоняющее устройство 7 механически жестко связаны между собой и размещены на поворотной...

Номер патента: 957185

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Левинзон, Тимченко, Чемерисов, Черепин

МПК: G05F 1/46

Метки: источник, постоянного, стабилизированный

...диаграммы, иллюстрирующие работу его отдельных узлов.Силовой тракт устройства состав 1 О ляют последовательно соединенные сетевой выпрямитель .1 (фиг. 1), блок2 силовых ключей (преобразовательнапряжения), трансформатор 3 и нагрузочный блок 4 (с собственным вып 15 рямителем), В состав источника входят также генератор 5 пилообразного (линейно подающего) высокочастотного сигнала 5, компараторы 6 и 7первые входы которых соединены с вы 20 ходом генератора 5, Вторые входыкомпараторов 6 и 7 подключены к выходам соответственно сетевого выпрямителя 1 и инвертирующего усилителя 8,а выходы непосредственно и через инвертор 9 - к входам логического элемента И 1 О.Управление силовыми ключами преобразователя 2 напряжения осуществляется фазообразующим...

Номер патента: 949269

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Галич, Завилинский, Исьянов, Черепин, Чугунов

МПК: F16K 3/08

Метки: вентиль, высоковакуумный, образцов, шлюзования

...транспортной платформе 18 закреплена зубчатая рейка 31, кинематически связанная с валом 17.Винтовая передача нажимных дисков1и 12 можег быть выполнена в виде шариковой винтовой передачи 32, содержащей оси33 и 34 с винтовыми канавками 35 и 36 подшарики 37 с правым и левым направлениемих винтовой поверхности и втулку 38 с винтовыми канавками 39 и 40 с правым и левым направлением их винтовой поверхности.Вентиль работает следующим образом.В рабочем положении вентиль закрыт и окно 5 выгрузки, соединяющее вентиль с высоковакуумным объемом, перекрыто упругими уплотнительными кольцами 13 затвора 9.Для установки образца снимается крышка 6, образец устанавливается на транспортную платформу 18 и вентиль закрывается крышкой б. После чего...

Номер патента: 892433

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Левинзон, Тимченко, Чемерисов, Черепин

МПК: G05F 1/58

Метки: защитой, источник, перегрузок, постоянного

....соответствующий вывод выпрямителя 13:переменное напряжение на которыйпоступает с дополнительной обмотки14 трансформатора 2, Противоположный вывод выпрямителя 13 подключенк дополнительной шине дополнительного источника постоянного напряжения,.Вместо дополнительной обмотки 14трансформатора 2 с выпрямителем 13 к базе транзистора 11 может бытьподключен суммирующий .усилитель 15(фиг. 2), неинвертирующий вход которого подключен через. резистор 16 кположительной шине, а инвертирующийчерез Фотоприемники 17 и 18 опто-электронных приборов 19 и 20, светоизлучатели которых 21 и 22 подключены параллельно вторичным обмоткам23 и 24 трансформатора 22, подключенк отрицательной шине дополнитель ного источника постоянного напряжения,В качестве...

Номер патента: 859253

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Данютин, Зубарев, Черепин

МПК: B65G 17/24

Метки: сушки, транспортировки, трубчатых

...конвейер 2,на станине которого смонтировано транспортн.рующее полотно, состоящее из основных роли.ков 3 и дополнительных роликов 4, установ.ленных с возможностью вращения на общихосях 5. Оси.5 соединены между собой звеньями тягового органа в виде цепи 6.Ролики имеют приводы вращения в видешестерен 7 и б,которые кинематически связа.ны с неподвижно установленными на станинеконвейера 2 вдоль направления движения зуб.чатыми,рейками 9 и 10. Причем отношениедиаметров основных 3 и дополнительных 4 роликов равно обратному отношению диаметровсоответствующих шестерен 7 и 8.Устройство для транспортировки и сушкитрубчатых изделий работает следующим образом,Заготовки поступают с конвейера укладки,перегружаются на транспортирующее...