Иолин
Способ определения деформаций монокристаллических пластин
Номер патента: 1532856
Опубликовано: 30.12.1989
Авторы: Гаврилов, Золотоябко, Иолин, Косарев, Кувалдин, Райтман
МПК: G01N 23/20
Метки: деформаций, монокристаллических, пластин
...шлифованными боковымиповерхностями-, одна из которых под вергнута финишной химико-механической полировке, устанавливают на предметный стол установки так, чтобыона заняла относительно источника 1излучения отражающее положение(в геометрии Лауэ), На полированнуюповерхность пластины устанавливаютс помощью вязкой жидкости, напримерэпоксидной смолы без отвердителя,кварцевый пьезоэлектрический возбудитель колебаний на чертеже не показан). Пластину 5 облучают коллимированным пучком рентгеновскогоили нейтронного излучения, например, имеющим поперечное сечение0,052 мм, измеряют. приемником 4интенсивность отраженного излучения, затем с помощью возбудителяколебаний возбуждают в пластине поперечную ультразвуковую акустическую волну на частоте,...
Способ определения ориентации монокристаллических пластин
Номер патента: 1103127
Опубликовано: 15.07.1984
Авторы: Золотоябко, Иолин
МПК: G01N 23/20
Метки: монокристаллических, ориентации, пластин
...и величина 1, быстГ - ширина мессбауэровскай . ро уменьшается с ростом Ялинии;. Для получения функциональной эави к- величина вектора обрат- симости между измеряемыми интенсивной решетки;, ностями дифракции и углом отклонениями5К - радиус облучаемой об-. , нужно провести усреднение допплеласти пластины. ровского Сдвига .ЬЕ по облучаемой области йластины и учесть долю рассеянВ предлагаемом, способе пластину . ных квантов, попадающих в детекторпомещают на гониометр в отражающее;, при фиксированных коллимациях пучковположение, облучают пучком мессбауэ- излучения. Для осуществления способаровского. излучения, Дифрагированный необходимо, чтоьы облучаемая областьпучок фиксируют детектором, установ- . пластины содержала участкй, не...