Чуховский

Номер патента: 1629753

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Барашев, Хапачев, Чуховский, Шухостанов

МПК: G01B 11/16

Метки: градиента, деформации, монокристаллических, неоднородных, образов, пленочных, рентгенодифракционный, составу

...0 до наиболее интенсивного максимума приведены в табл, 1. Из выражений (8) и (10) получают формулы (2) и (3), по которым, измеряя на КДО угловое расстояние Ьдц, между интерференционными максимумами 1 и ), сопоставляя его с соответствующим ЬЧ и Ф 11 из таблицы 1, можно рассчитать градиент деформации в линейной и квадратичной моделях.Ввиду монотонности линейного и квадратичного законов изменений деформаций и в случае, когда деформация Ьео =Ье "о +Ье 1 о;Ье 10 = ЬЧг ЬО 12 садЬЧо 1ЬЧг 12Ля 1 о ЛО 1 г с 1 ц О (16)Л Ф 1 о з 1 п О ЛФ 1 г у нсозр равна нулю(фиг, 1) при г= и или (фиг. 3) при= 0 соответствующие этим случаям изменения деформации КДО приведены на фиг.4), из (2), (3) и (15) получаютй - Х б н 2 лсоз где ЛО 1 г - угловое расстояние от...

Номер патента: 1622908

Опубликовано: 23.01.1991

Авторы: Габриелян, Демирчян, Пискунов, Чуховский

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, рентгеновского, точечной, фокусировки

...кристалла.В соответствии с известными методами 10 анализа дифракционных интегралов, фокусные расстояния определяются из условий Когда радиусы изгиба кристалла Я и Ву 30связаны условием условия (2) и (3) выполняются на одинаковом расстоянии Ь от кристалла - происходит фокусировка точка в точку.Из (4) и (5) следует, что поскольку выражения для координат фокусной точки не зависят от длины волны падающего излучения, двухосноизогнутый кристалл с радиусами изгиба Ях и йу, связанными условием (б), ахроматически фокусирует вседлины волн в одну точку, определяемую условиями (2) - (5)Из общей формулы (1) можно определить распределение интенсивности отраженного излучения в окрестости фокусной точки и дифракционные размеры фокусного пятна...

Номер патента: 1402873

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Казимиров, Ковальчук, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, монокристаллов, совершенства, структурного

...от его положения, соответствующего максимуму интенсивностидифрагированного им излучения, отраРженный от исследуемого образца пучокнаправляют на кристалл-анализатор подуглом к его поверхности, большим Вз,выделяют диффузный максимум и измеряют его интегральную интенсивность,из акоторой находят относительную величину дефектной области исследуемогокристалла, 5 ил,1402873 разца первого и второго типа соответственно. ф о р м у л а изобретения Способ исследования структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что рентгеновский пучок от источника направляют на 10 кристалл-монохроматор, установленный под брэгговским углом 0 = 9 в, отраженный от первого кристалла пучок направляют на исследуемый образец, повернутый на заданный...

Номер патента: 1163227

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Воронков, Максимов, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: деформаций, монокристаллических, пластин, упругих

...ориентация которой задана углами 1 имежду следами отражающейкристаллографической плоскости награнях пластины и ее ребрами, нафиг. 2 - схема измерений,На пластину действуют изгибающиеи крутящий моменты М 1, М и Н, которые создают определенное поле упругих смещений й(х,у,л) 1 4 1Исследуемую монокристаллическуюпластину облучают рентгеновским излучением от точечного фокуса Г. Коллиматор К 1 ограничивает размеры иугловую расходимость рентгеновскихлучей в одном направлении. Кристаллюстировкой на гониометрической приставке вводится в отражающее положение. Отражающие плоскости выбираются таким образом, чтобы выполнялосьусловие дифракции по Лауэ. Все отраженные рентгеновские лучи проходятчерез коллиматор К, который служитдля...

Номер патента: 1132205

Опубликовано: 30.12.1984

Авторы: Гусев, Ефанов, Комяк, Лютцау, Петрашень, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, рентгеновской, топографии

...на расстояние, определяемое необходимым разрешением в горизонтальном направлении. Накопление изображения осуществляется соответствующей электронной схемой с аналоговым или цифровым запоминающим устройством, после чего изображение ,воспроизводится на телевизионном экране или любом другом средстве ви 35 зуализации иэображений.На фиг. 1 приведена геометрия ус. - тановки в вертикальной плоскости; на фиг, 2 - то же., в горизонтальной плоскости.40Устройство содержит источник 1, кристалл 2, линейный координатный детектор 3, щель перед детектором 4, экран прямоге пучка 5.Рассмотрим количественно достижимые характеристики устройства. Как видно из геометрии (фиг. 2) размытие изображения в плоскости образца, вызванное конечным размером фокуса,...

Номер патента: 1040388

Опубликовано: 07.09.1983

Авторы: Головченко, Ефанов, Ковьев, Лютцау, Миренский, Чуховский

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновской, топографии

...массовогопроизводства не представляется воз"можным или сопряжено со значительнымитехничеСкими трудностями.Цель изобретения - повышение пространственного разрешения топографического изображения и контрастнойчуй:твительности устройства.Поставленная цель Яостигается тем,что в устройстве для рентгеновскойтопографии, содержащем микрофокусныйисточник рентгеновского излучения сосредствами линейного перемещения Фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца идетектор, перед детектором введенкристалл-анализатор, размещенный так,что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещенияфокусного пятна.Введение кристалл-анализатора перед детектором позволяет практическиисключить рассеянное и...

Номер патента: 873281

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Габриелян, Гильварг, Петрашень, Суходольский, Чуховский

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, коллимирующий, монохроматор, рентгеновского

...отражения от кристалла 1 пучок попацает на изогнутый моно- кристалл 2. Отраженный от первого монокристалла 1 пучок имеет угловую и спектральную расходимости, соответствующие угловому диапазону дифракции 35 для данного дифракционного отраженияИИ 1 что эквивалентно наличию мнимого точечного источника 5Второй изогнутый монокристалл 2 установлен таким образом, что40 1 4от кристалла 1. Дифракционное уширение отражаемого от монокристалла 2 рабочего пучка определяется выражениемФ=(4 Я ь )Предлагаемый монохроматор также позволяет увеличить интенсивность рабочего пучка в узком угловом интервале, тем самым сокращая время эксперимента по сравнению с двух(трех) кристальными коллиматорами с плоскими монокристаллами.Пример реализации. Для коллимации...

Номер патента: 842522

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Гильварг, Глазунов, Чуховский

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновский, спектрометр

...винт 6 и пружину 7 с жестко укрепленным кронштейном 8,Кристалл-монохроматор 2 укреплен в центральной части рамы, деформа- ция пластин которой, лежащих в одной плоско.ти с ним, определяется соотношением жесткости этих пластин и деформирующей их регулирующей пружины 7. Это дает с заданной степенью точности (0,1-0,01 ) параллельность дифрагированного вдоль поверхности кристалла-монохроматора 3 излучения. Кроме того, выбранный способ силового регулирования изгиба кристалламонохроматора 2 обеспечивает необходимую точность и стабильность работы прибора (абсолютную погрешность радиуса изгиба ь Р 10-20 см при Р 100-150 м) .Радиус изгиба определяют по формуле И = (,о 3 о (7 о у)2где о - расстояпнйе мнимого источника излучения (дифрагированного...