Патенты с меткой «топографии»

Номер патента: 256851

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Киселев, Харпн

МПК: G01R 33/06

Метки: автоматической, записи, магнитных, полей, систем, топографии

...канал усиления с преобразованием частоты сигнала и исполнительный электродвигатель с редуктором.Сигнал рассогласования частотой 475 гц усиливается в канале усиления, преобразуется в сигнал частотой 50 гц и поступает на обмотку управления исполнительного электродвигателя, который через редуктор приводит в двийение каретку с пером регисгрирующего устройства 10 и движок потенциометрического датчика обратной связи до полной компенсаци э,д.с., пропорциональной напряженности м агн ит ного поля.Величина отклонения каретки с пером регистрирующего уст оойства пропорциональна в вертикальном направлении величине напряженности магнитного поля. В устройстве предусмотрены возможность компенсации основного уровня поля и записи незначительных...

Номер патента: 254644

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Дудко, Каменев, Петраш

МПК: G01R 33/00

Метки: записи, магнитном, носителе, топографии

...светового пятна на 5 поверхности датчика; наблюдатсльцый тубус 8с системой линз для фокусировки отраженного светового луча; анализатор 9, выделяющий полезную составляющую светового сигнала; фотоприемник 10, преобразующий световой 0 сигнал в электрический; усилитель 11; контрольный прибор (илц самописец) 12.Датчик 3 представляет собой стекляннукподложку, ца которую нанесена тонкая низко коэрцитцвная ферромагнитная пленка с зеркальной поверхностью толщиной около 1000 А.Магнитный носитель 2 закрепляют на оправке 1, установленной ца предметном столике 0 микроскопа, а рамку с магнитооптическим254644 Предмет изобретения Составитель Е. СергеевТехред Т. П. Курилко Корректор С, Л, Кузовенкова Редактор Громов Заказ 464/11 Тираж 480...

Номер патента: 315104

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Генкин, Горьковский, Макарычев

МПК: G01N 23/207, H05G 1/02

Метки: дифракционной, изображений, монокристаллов, развертки, рентгеновской, топографии

...в предложенном устройстве для развертки изображений при рентгеновской дифракционной топографии монокристаллов, содержащем рентгеновскую трубку, коллиматор, рентгеновский гониометр с держателем кристалла и кассеты с фотопленкой, рентгеновская трубка с укрепленным на ней коллиматором и рентгеновский гониометр с кристаллодержателем и кассетой с фотопленкой установлены на поворотных устройствах, соединенных с приводом синхронного поворота одного относительно другого в процессе топографирования кристалла.11 а фпг. 1 представлена принципиальная схема устройства; на фиг. 2 - схема падения луча и перемещения монокрисгалла в процсссе топографпрования.Устройство содержит рентгеновскую трубку 1 с коллиматором 2, установленные в поворотном...

Номер патента: 407216

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Воробьев, Лаферов, Филонин

МПК: G01N 23/18

Метки: пленки, плотностей, почернения, рентгеновской, топографии, трехмерной

...связанных с фотадатчик,ом, снимают снапряжения кадравой и спрочной частоты, определяющие положения детектара в плоскости оканиравания.Сигнал с фотодатчика, пропарционалвный плотнсасти почернения теневого изображения, и разварачивающие напряжения подают на вход устройспва б трехмерного преобразования, представляющее собой логическое устройство, реализующее завиоимость: где: У, - напряжение, лрикладываемое кпластсинасм вертикалвного отклонения элекпронволучевой прубки б;У - напряженне, приклады 1 ваемое кпластилинам гаризантального отклонения элекПроннолучевой трубки б;с 1, - пилоабр азотное налип(ряжение кадровой частоты, снимаемсе с потенциаметра 8;с 1 - пилообразное напряжение строчной частоты, снимаемое с потенциометра 4;У -...

Номер патента: 478235

Опубликовано: 25.07.1975

Автор: Инденбом

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновской, топографии

...пучки убираютсяшими экранами 4-6.Благодаря конденсору образец 1 освещается широким пучком, представляющим собой изображение щели в кристалле-конденсоре 2.Пучок испытывает внутри исследуемого кристалла дифракционное сжатие и на глубине Ы равной толщине кристалла-конденсора 2 дает узкое изображение исходной щели с точностью / , гдеЛ -2.т Кэкстинкционная длинао с)( -гол Брэгга, Кристалл-объектив 3 фокусирует на фотопластинку или иной приемник изобран(ение слоя, расположенного на глубине б от поверхности, Таким образом, благодарядифракционной фокусировке рентгеновскихлучей внутри исследуемого образца в реп тгеновское изображение дают преимушествен"ный вклад дефекты, расположенные в сравнительно тонком слое на глубине ЦСмена...

Номер патента: 521536

Опубликовано: 15.07.1976

Автор: Ширинкин

МПК: G01R 33/07, G01R 33/10

Метки: автоматической, магнитных, полей, регистрации, топографии

...систем соде 10 ки . ндс датчиком ХОлла.,стрОЙ твоперебрешьн: . зонда, включающее В себякривошипы-шатунный механизм, состоящийих ма,;Овика, кривощипа 8, шату521536 ЦНИИПИ Заказ 4872/530 Тираж 1029 илиал ППП фПатент", г, Ужгород, ул, Проектная,равляющего цилиндра 10, фигурного диска 11, контактного прерывателя 12, источника питания 13; регистрирующий прибор (осциллограф ) 3; подвижный соленоид настройки 4; импульсный блок питачия 5 соленоида и настраиваемую магнитную систему 6.,Устройство перемещения 2 зонда обеспечивает возвратно-поступательное движение з ада 1 в исследуемой магнитной системе 6 и синхронизацию развертки изображения магнит-,- ного поля на экране осциллографа 3.Низкочастотный сигнал, снимаемый с зонда 1 после...

Номер патента: 611142

Опубликовано: 15.06.1978

Авторы: Аветян, Авунджян, Безирганян, Шабоян

МПК: G01N 23/04

Метки: монокристаллов, рентгеновской, топографии

...устройство.Источником 1 рентгеновского излучения служит рентгеновская трубка с достаточно большой удельной мощностью и с точечным фокусом, Питание рентгеновской трубки осуществляется высоковольтным источником с помощью высоковольтного кабеля. Охлаждение трубки производится проточной водой. Пучок рентгеновских лучей из источника проходит через щель коллиматора 2 шириной 0,4 мм, расположенную на расстоянии 20 см от фокуса трубки (такое расположение оптимально). Это дает возможность 30 получить достаточно интенсивный узкий параллельный рентгеновский пучок с достаточным разрешением для получения изображения дислокаций величиной 25 мкм и более без длительных экспозиций. с Дифрагированный от монокристалла 3 пу" чок, проходя через...

Номер патента: 667878

Опубликовано: 15.06.1979

Авторы: Налбандян, Погосов, Шабоян, Эйрамджян

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, работы, рентгеновской, топографии

...уста новлены на платформе, подвижной отно, сительно держателя исследуемого кристалла и средств визуализаЦий; "Кроме того, одна из трубок используется в импульсном режиме, 15На фиг.1 показана принципиальнаясхема предлагаемого устройства; нафиг.2 - относительное размещениедвух рентгеновских трубок; на фиг.Зтопограмма, полученная с помощью 20предлагаемого устройства,Устройство содержит острофокусныерентгеновские трубки 1, 2, выходныеокна 3 которых расположены на однойпрямой, на которой находятся и фокусы 25трубок, коллиматор 4, исследуемыйкристалл 5 на держателе, щель 6;видикон 7, предварительный усилйтель8 и приемно-регистрирующее телеустройство 9. Из колЛйматора 4 выходитсовмещенный пучок 10 обеих трубок,а на видикон 7 попадает...

Номер патента: 694801

Опубликовано: 30.10.1979

Авторы: Мамалыга, Сорокина

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, рентгеновской, топографии

...держатсль 12 фотокасссты 13, который может перемещаться относительно кристалла по направляющим 14, с целью установя требуемого раестояния между фотока;сетой и образцом. Крнсталлодеркатсль 10 вместе с фотокассстой 13 и ее держателем 12 может наклонятвся, поворачиваясь вокруг оси 15.Предлагаемая камера работает слсдующи,м образом.В крнсталлодержатсль устанавлив астся образец. Стол 1 гониометра вместе с закрепленными на нем узлами, т. е. вместе с образцом, кассетой, щелями и сканируюшиьм устройством поворачиваспся относительно первичного рентгенозского луча вокруг оси А-А (т. с. в брегговеком направлении) нс теоретичееки рассчитанной угол брегговского отражения, а счетчик 16 поворачивается вокруг оси А-А 1 на длсйной угол брегговского...

Номер патента: 746351

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Келин, Кудрявцев, Машков, Шеин

МПК: G01R 33/02

Метки: исследования, магнитных, полей, топографии

...созшФ ,(2) где К - коэффициент чувствительности датчиков 1В - модуль вектора магнитной индукции в исследуемой точке плоскости; наименьший угол между нормалью к плоскости первого датчика и вектором магнитной индукции в исследуемой точке;б,В - нормальная и тангенциальная составляющие вектора магнитной индук- О ции. Напряжения Од, и О, поступа"2ют через ключи 6 и 7 на входы сумматора 8, выходное напряжение которого, З 5 при замкнутых ключах, пропорционально модулю вектора магнитной индукции О (Ц=К)8 Г зп(ой+Р) (3) К выходу сумматора подключен изме рительный блок, состоящий из последовательно соединенных усилителя, выпрямителя и-индикатора. В зависимости от того, какие ключи замкнуты, индикатор регистрирует, беэ изменения положения...

Номер патента: 864207

Опубликовано: 15.09.1981

Авторы: Азимов, Мирзабаев, Потаенко, Рубинов

МПК: G01R 33/06

Метки: магнитного, поля, топографии

...блок-схема предложенного устройства.Устройство содержит многоэлементный датчик 1 магнитного поля, выполненный в виде двумерной решетки изэлементарных датчиков 2, образующихи строк и в столбцов, систему электродов 3, каждый из которых объединяет омические холлонские контакты щдатчиков одной строки, систему электродов 4, каждый из которых объединяетвыпрямляющие контакты датчиков одногостолбца, а также системы электродон5 и 6, аналогичным образом объединяющих соответственно выпрямляющие иомические токовые контакты датчиковстрок и столбцов. Электроды 3 соединены с и коммутируемыми входами первого строчного кольцевого сдвиговогорегистра 7, а электроды 4 соединеныс в коммутируемыми входами первогокольцевого сднигового регистра столбцов 8,...

Номер патента: 875318

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Алексеев, Кудасов, Погодин, Тихомиров, Уваров

МПК: G01R 33/02

Метки: автоматической, магнитных, полей, регистрации, топографии

...углом 90 к ходовому винту 5 закреплена направляющая планка 14, на концах которой смонтиро ваны переключатели, предназначенные для ограничения и реверса движения каретки 6.На концах трубы 2 имеются фланцы, на одном из которых крепится электропри вод 4 (фиг. 1), а на другом - лебедка 15 и счетчик 16 точек, в которых происходит измерение. На одном из концов трубы 2 установлено торцовое зубчатое колесо 17 со штурвалом и круговой шкалой, которые служат для установки трубы 2, а вместе с ней и измерительного зонда 1 на заданный угол.Электропривод 4 прерывистого дввкения содержит пару зубчатых кожс, на одном из которых срезана часть зубьевСо стороны привода поворота трубы 2 находится шлюзовое окно с крышкой для доступа к каретке 6.Блок 9...

Номер патента: 951129

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Адамян, Безирганян

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, пьезоэлектрических, рентгеновской, топографии

...узким пучком рентгеновскогоизлучения и регистрации в геометрии.25 "на просвет" дифрагированного различными участками кристалла излученив условиях воздействия на кристаллпостоянного электрического поля,исследуемый кристалл предварительно30 облучают по всей исследуемой поверх951129 Составитель К.КононовРедактор Т, Парфенова Техред М,Рейвес Корректор И. Муска Заказ 5934/47 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-Д 5, Раушская наб., д.4/5Филиал ППП ".Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 ности рентгеновским излучением в условиях воздействия на кристалл постоянного электрического поля.Сущность изобретения заключается в следующем.При облучении кристаллов кварца...

Номер патента: 1004833

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Беляев, Гущин, Ефанов, Лютцау

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, рентгеновской, топографии

...ММ, подается на монокристалл под определенным углом и каждому лучу соотнетствует определенная длина волны рент.геновского излучения, для которой 30 выполняется условие брэггонского отражения (например лучу Г - длина волны характеристического излучения источника) от данной группы кристаллографических плоскостей. Посколь ку исследуемый монокристалл ориентирован н плоскости среза так, что линия, пересечения отражающей плоскости с плоскостями параллельных щелевых диафрагм составляет с направлением щелей угол меньше 90 и больше 0 каждый дифрагиронанный луч составля- ет свой определенный угол с плоскостью первичного пучка в зависимости от угла падения первичного луча на монокристалл, и следовательно, линия пересечения НР дифрагиронанного...

Номер патента: 1038840

Опубликовано: 30.08.1983

Авторы: Бородин, Бородина, Кузнецов

МПК: G01N 21/17

Метки: 180-градусных, бария, выявления, доменов, кристаллах, пластинчатых, титаната, топографии

...выглядит темным в скрещенных николях, а структура доменов не выявляется. Не выявляется она и при наклонном падении света: домены просветляются одинаково, Возбуждение в кристалле электрического поля, направленного перпендикулярно оси С., сопровождается появлением компоненты поляризации, направленной по полюс. При этом происходит деформация оптических индикатрис в соседних доменах. Кристалл становится оптически двуосным; при этом главные оси индикатрис соседних доменов отклоняются от оси с на некото рый угол Ы в противоположные стороны. И в этом случае при нормальном падении светового потока доменная структура не выявляется: домены просветляются одинаково. Если же световой поток проходит вдоль главной оси индикатрисы доменов с одним...

Номер патента: 1040388

Опубликовано: 07.09.1983

Авторы: Головченко, Ефанов, Ковьев, Лютцау, Миренский, Чуховский

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновской, топографии

...массовогопроизводства не представляется воз"можным или сопряжено со значительнымитехничеСкими трудностями.Цель изобретения - повышение пространственного разрешения топографического изображения и контрастнойчуй:твительности устройства.Поставленная цель Яостигается тем,что в устройстве для рентгеновскойтопографии, содержащем микрофокусныйисточник рентгеновского излучения сосредствами линейного перемещения Фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца идетектор, перед детектором введенкристалл-анализатор, размещенный так,что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещенияфокусного пятна.Введение кристалл-анализатора перед детектором позволяет практическиисключить рассеянное и...

Номер патента: 1048432

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Мирзабаев, Потаенко, Рубинов, Хайруллаев

МПК: G01R 33/06

Метки: магнитного, поля, топографии

...входами многоэлементного датчика, причем управляющие входы первого строчного кольцевого регистра и второго кольцевого сдвигового регистра строк подсоединены к тактовому генератору непосредст венно, а управляюшие входы первого и второго кольцевых сдвиговых регистровстолбцов подсоединены к тактовому генератору через делитель тактовой частоты,дополнительно введены последовательносоединенные источник напряжения, кольцевой сдвиговый регистр коррекции нап Фположений и делитель, выход которогоподключен к регистрирующему прибору,причем управляющий, вход кольцевогосдвигового регистра коррекции соединенс выходом тактового генератора, а выходпервого кое цевого сдвигового регистрастолбцов подключен к регистрирующемуприбору через...

Номер патента: 1115714

Опубликовано: 30.09.1984

Авторы: Карпов, Киваев

МПК: A61B 3/00

Метки: поверхности, роговицы, топографии

...приемника,Устройство для осуществления способа определения топографии поверхности роговицы содержит измерительную систему, состоящую из источника 1 (фиг, 1) излучения, измерительной марки, выполненной в виде системы концентрических колец 2, объектива 3, диафрагм 4 с приводом 5, светоделителя 6, оптико-электронного приемника 7 излучения, например измерительной телекамеры, зеркала 8, окуляра 9, вычислительного блока 10, Измерительная система помещена в корпусе 11, установленном на платформах 12-14, имеющем приводы 15-17, например в виде шаговых двигателей, Управление работой устройства осуществляется с помощью пульта 18, в котором установлены датчики 19-21, поворот которых осуществляется с помощью рукояток 22- 24. На пульте 18...

Номер патента: 1119652

Опубликовано: 23.10.1984

Автор: Карпов

МПК: A61B 3/10

Метки: поверхности, роговицы, топографии

...и эталона изображения измерительной марки, сравнивают радиальные положения точек этих изображений и по результатам сравнения определяют топографию роговицы, регистрируют изображение радиальной сетки, нанесенной на поверхность измерительной марки, сравнивают угловые положения точек изображений для роговицы и эталона и результаты сравнения учитывают при определении топографии роговицы.На фиг. 1 изображено схематично устройство для осуществления способа опре 30 35 40 45 50 55 деления топографии поверхности роговицы; на фиг. 2 - вид А на фиг. 1; на фиг. 3 - сечение Б - Б на фиг. 2; на фиг. 4 - изображение измерительной марки на поверхности чувствительного элемента. Способ осуществляют следующим обра. зом.В специальном приборе -...

Номер патента: 1132205

Опубликовано: 30.12.1984

Авторы: Гусев, Ефанов, Комяк, Лютцау, Петрашень, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, рентгеновской, топографии

...на расстояние, определяемое необходимым разрешением в горизонтальном направлении. Накопление изображения осуществляется соответствующей электронной схемой с аналоговым или цифровым запоминающим устройством, после чего изображение ,воспроизводится на телевизионном экране или любом другом средстве ви 35 зуализации иэображений.На фиг. 1 приведена геометрия ус. - тановки в вертикальной плоскости; на фиг, 2 - то же., в горизонтальной плоскости.40Устройство содержит источник 1, кристалл 2, линейный координатный детектор 3, щель перед детектором 4, экран прямоге пучка 5.Рассмотрим количественно достижимые характеристики устройства. Как видно из геометрии (фиг. 2) размытие изображения в плоскости образца, вызванное конечным размером фокуса,...

Номер патента: 1223104

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Белоцкая, Охрименко, Тихонов, Харькова

МПК: G01N 23/20

Метки: кососимметричных, рентгеновской, съемок, топографии, трансмиссионный

...от системы плоскостей .(202) так, что плоскость дифракции (плоскость, содержащая прямой В и дифрагированный Влучи) составляет с нормальюо к поверхности кристалла угол Ф =30 производят предварительную ориентировку кристалла, при которой нормаль его поверхности И (111) и нормаль отражающей плоскости и устанав- ливают в плоскость, содержащую ось гониометра и перпендикулярную штриху фокуса (полюсная фигура кристалла с нанесенными на ней положением плоскости дифракции (и- , В, В)702 ф относительно нормали поверхности кристалла Б) и выводят плоскость (202) в брэгговское положение тремя последовательными поворотами крисг талла, один из которых 4= - осу 2 ществляют вокруг нормали поверхности кристалла Б, при этом иустанавливают...

Номер патента: 1456857

Опубликовано: 07.02.1989

Автор: Лидер

МПК: G01N 23/20

Метки: двухкристальной, рентгеновской, топографии

...пучки ввиду того, что последний не попадает на фотопластинку,Если фотопластинку располагают параллельно выходной поверхности образца, в горизонтальной плоскости (плоскости дифракции) может возникнуть размытие изображения за счет того, прямой пучок не перпендикулярен фотоэмульсии. Величина такого размытия Г определяется из соотношения= Д с 8(ц. ) а з 1 п(8+с ) ъ П з 1 п(8- ) з 3.п(6+ 4,),Составитель Т.Владимирова Редактор В.Петраш Техред А.Кравчук Корректор Л.Патайте тЗаказ 7546/42 .Тираж 788 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 14568 метода) за счет сокращения...

Номер патента: 1562804

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Асланян, Безирганян, Мартиросян, Симонян

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, рентгеновской, топографии

...9 овЫ 9 лАгде 8, и В - углы наклонов левойи боковой поверхностейОА и О+Псоответственно. При одинаковых наклонах боковые поверхности Ь, и Дравны. Этот способ позволяет получить маят" никовые полосы от достаточно толстых клиновидных кристаллов, от которых можно получить и эффект Бормана.Когда в толстых кристаллах (фиг.8) первичная волна падает ближе к боковой поверхности, из верхней части кристалла в направлении отражения выходят ворны с волновыми векторами Ки К ь и образуют маятниковые по"Илосы, а от основания в результате эффекта Боомана выходят волны второФ, Уго поля К и К. На Фиг. 9 привеР 2.дена схема распределения интенсивности в зависимости от расстояния линии падения первичной волны до боковой поверхности призмы, показанной на...

Номер патента: 1571486

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Алешко-Ожевский, Ковальчук, Лидер, Литвинов, Мазуренко, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновской, синхротронной, станция, топографии

...кристалл монохроматор 12, а на третьей - исследуемый кристалл 13 в геометрии (и, -п,п), причем межплоскостные расстояния, соответствующие используемым рефлексам, близки для всех трех кристаллов. При движении вдоль пучка первого кристалла-монохроматора 11 и параллельном повороте обоих кристаллов-монохроматоров 1 1 и 12 относительно осей О, и О обеспечивается возможность непрерывного изменения длины волны в широком диапазоне, При этом дифракция на втором, асимметрично отражающем кристаллемонохроматоре 12 обеспечивает уменьшение угловой расходимости пучка и увеличение его поперечного сечения. Применение для монохроматиэации двух кристаллов монохроматоров 11, 12 с асимметричной дифракцией уменьшает возможный интервал изменения длин волн,...

Номер патента: 1652951

Опубликовано: 30.05.1991

Автор: Брякин

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитного, поля, топографии

...4 генератора 3 заряда так, чтобы была возможна передача заряда без существенных потерь между ними и чтобы угол, который образуют линии, соединяющие центры электродов 5 и 6 с центром электрода 4, был острым. Злектроды 5 и 6 располагают с таким расчетом, чтобы передача заряда между ними была исключена. Цепи подведения управляющих сигналов на схеме ус"ройствэ не показаны. Временныедиаграммы одного цикла измерения картины магнитного поля 5 10 :15 20 25 30 в предположении, что полупроводниковая пластина выполнена из полупроводника ртипа, представлены на фиг. 2, где Оо - напряжение, незначительно превышающее напряжение инверсии поверхности полупроводника; 01 - напряжение хранения за- . ряда; О 2 - напряжение передачи заряда;0201 Оо.Магнитные...

Номер патента: 1677492

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Зверков, Кучеренко

МПК: G01B 5/20

Метки: вращения, объекта, поверхностей, топографии

...расстояний до вспомогательного профиля 5, расположенного вдоль оси вращения. Причем отсчеты показаний всех датчиков выполняют одновременно. Затем последовательно переме.цают системы датчиков вдоль оси вращения на одинаковые интервалы Л 2,каждый раэ выполняя укаэанный цикл измерений.После измерения одной поверхностипродолжают перемещение системы датчиков вдоль оси вращения к следующей контролируемой поверхности (В), осуществляяпри этом отсчеты показаний вспомогательной системы датчиков 2 линейных перемещений укаэанным способом, Измерениевторой и последующих поверхностей производят аналогично, Угловые интервалы(02 - а 1) и (аэ - Ог) мЕжду датчиками 1 линейных перемещений выбирают кратнымиинтервалу Л р угла поворота объекта...

Номер патента: 1684761

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Белик, Брайко, Кирюхин, Климовская, Кондратов, Полозов, Проценко, Скурихин, Солунов, Шеховцов, Шувалов

МПК: G01R 33/06

Метки: вблизи, исследования, магнитных, объекта, поверхности, полей, рассеивания, топографии

...эначетизированных измерений осуществляют ния управляющих кодов, перемещая датчикслудеющим образом. 45 Холла 8 по осям х, у, г с определеннымПо центру координат разметки поворот- шагом и скоростью в заданную точку траекного столика 22 на высоте Ь =- Ь /2, где Ь - тории. При отработке заданных управляюзаданная высота обьекта исследования при щих кодов происходит передача вращенияотсутствии обьекта 26, устанавливают дат- шаговых двигателей 14 17 с редуктором вочик Холла 8, используя ручной или авгомд 50 вращение передающих винтов 18-21 сооттический режим управления работой шаго- ветственно во вращательное движение повыми двигателями 14 - 17 с помощью блоков воРотного столика 22 и в линейные переуправления 3-6 и ИВК 1, Совмещают...

Номер патента: 1709429

Опубликовано: 30.01.1992

Авторы: Герасимов, Косяков, Соболев

МПК: H01J 37/285

Метки: исследования, поверхности, проводящей, топографии

...поверхности, можно выбратьнужный участок исследуемой поверхности иперейти на второй режим работы устройства - режим точного регулирования,В этом режиме первый электрод 5 с помощью коммутатора 8 соединяется с первым выходом блока 9 управления, второйэлектрод б соединяется с выходом блока 13компенсации, а вход усилителя 12 напряжения соединяется с выходом встроенногоЦАП блока 10 регистрации.В момент перехода на второй режим свыхода встроенного ЦАП на вход усилителя12 направления поступает сигнал, под действием которого последний формирует максимальное управляющее напряжение натретьем электроде 7, вследствие чего пьезоэлемент координаты Е максимально сжимается, а острие 2 отодвигается от образца 3 ивыходит из зоны регулирования...

Номер патента: 1768947

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Воронец, Головнев, Марков, Ситников, Татаркин

МПК: G01B 7/28

Метки: поверхностей, топографии

...или поступательное перемещение (плоские поверхности) со скоростью Ч Щупу сообщают колебания, например гармонические, амплитуду которых задают равной половине ширины измеряемого участка В (см, фиг.1), с частотой и. Частоту колебаний и и период Т предварительно определяют по зависимости;1 ЧТ 1(1) где Ч - скорость перемещения детали относительно щупа, м/с,- длина измеряемого участка, мм; К - количество точек необходимых для аппроксимации.Скорость перемещения детали относительно щупа, для плоских деталей известна из характеристики прибора на котором производят профилографирование, для цилиндрических деталей рассчитывают по зависимости:д Д ( Дп(2)10005 где О - диаметр детали, мм;пп - частота вращения детали (по паспорту прибора),...

Номер патента: 745347

Опубликовано: 27.05.1999

Авторы: Куцоконь, Ли

МПК: H05K 13/08

Метки: печатных, плат, топографии

Устройство для контроля топографии печатных плат, содержащее источник света, держатели эталонной и контролируемой плат и фотоэлектронный преобразователь, связанный с блоком сравнения, подключенный к индикатору, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства, оно снабжено механизмом перемещения фотоэлектронного преобразователя и оптической системой проецирования изображения эталонной и контрольной плат на фотоэлектронный преобразователь, выполненный в виде двух объективов, размещенных напротив соответствующих им держателей, а фотоэлектронный преобразователь выполнен в виде набора фотодиодов, расположенных в одну линию.