G01N 23/20 — с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Номер патента: 1786407

Опубликовано: 07.01.1993

Авторы: Бобоев, Гинзбург, Дадоматов, Кузнецова, Нуралиев, Туйчиев

МПК: G01N 23/20

Метки: механических, полимерного, рентгенодиагностики, свойств

...состоянии; на фиг. 4 а и 4 б представлены аналогичные фиг. 3 графики для образцов из волокон ПЭТФ, но отожженных в фиксированном состоянии,Предлагаемый способ рентгенодиагностики полимерного материала реализован следующим образом.П р и м е р 1. Образец из отожженной в свободном состоянии пленки капрона(ПА-б)меру КРМ. В малоугловой камере применялась рентгеновская трубка с медным анодом (длина, волны рентгеновского излучения 1=1,54 Я), Снимают рентгенограмму исходного ненагруженного образца в меридиональном направлейии в области углов 10 - 100 мин. Строят график зависимости интенсивности рассеяния (, имп/с) от угла рассеяния (р) (рис, 1 а) для ненагруженного (кривая 1) и упруго нагруженного (кривая 2) образца, На фиг, 1 а по оси абсцисс...

Номер патента: 1793343

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Кошелев, Посысаева

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, поверхности, рентгеноструктурного

...между участком исследуемой поверхности и полученной от него дифракционной картиной; на фиг. 3 - участок рентгенограммы, снятой по предложенному способу,Предлагаемый способ может быть реализован следующим образом.Рентгеновский источник 1 располагают над поверхностью 2 изделия, диафрагму 3 с кольцевой прорезью устанавливают таким образом, чтобы обеспечить заданный угол 2 а раствора конического пучка 4, а также перпендикулярность оси симметрии конического пучка к исследуемой поверхности 2 изделия, дифракционные пучки 5, которые сходятся в соответствующих точках на окружностях фокусировки 6, регистрируют детектором 7, в качестве которого может быть использована фотопленка в кассете или двухмерный ионизационный счетчик.Фокусировка...

Номер патента: 1793344

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Акимова, Сапрыкин, Тороев

МПК: G01N 23/20

Метки: параметра, структурного, эффективного

...на точность определения размера 45Ьд =Ь,Поочередные рентгеносъемники с излома предусмотрены только в симметричной геометрии, не позволяющей всегда с достаточной достоверностью определять эффективный структурный параметр материала, особенно при относительно малых его величинах: Ьсп 8 10 м.Условие определения размера Ьд = Ь по интегральной ширине дифракционной линии Вд - (0,7 - 0,8)Вр не является постоянным, поскольку величины Вд и Вр зависят отгеометрии рентгеносъемки,Цель изобретения - повышение достоверности определения эффективного структурного параметра материала при снижении затрат на реализацию.С этой целью применен способ, включающий механическое воздействие на локальные объемы материала с трещиной при начальной скорости Чо =...

Номер патента: 1795358

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Непийвода, Новиков, Швидкий

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристалла, слоя, структурно-нарушенного, толщины

...Реально подобная ситуация складывается лишь при использовании20/14 7/5 Обработка алмазной пастой зернистости 8,2- 3 82- 12 9,0- 2 56,8+ 10 12 4. 30+ 735,1+ 4 45+18 Толщина нарушенного слоя, измеренная аз шаю им способом, мкм Толщина нарушенного слоя, полученная 42,4. 5заявляемым способом, мкм Составитель Т. ВладимироваРедактор В.Трубченко Техред М.Моргентал Корректор С.Патр, шева Заказ 426 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101. сравнительно малых толщин нарушенных слоев. В случае кремния на медном излучении при отражении от плоскости (1 И)линейность от Ь зависимости...

Номер патента: 1798670

Опубликовано: 28.02.1993

Автор: Бурдина

МПК: G01N 23/20

Метки: держатель, крупнозернистых, образцов, рентгенографирования

...обеспечения возможности съемки образцов с разной площадью исследуемой поверхности делается набор упорных колец с отверстиями разных диаметров, 5, 10, 15, 20 мм; благодаря использованию резьбового соединения упорного кольца с цилиндром обеспечивается быстрая замена колец при изменении размера образцов, отпадает необходимость сборки деталей с помощью винтов.Чтобы обеспечить взаимозаменяемость держателя и кварцевого кольца, профиль кромок упорного кольца должен повторять профиль кромок кварцевого кольца, а расстояние межДу поверхностями А и Б упорного кольца должно равняться толщине кварцевого кольца (5+ 0,01) мм, Для контроля точности изготовления кольца произво1798670 Составитель С, ИзофатоваТехред М,Моргентал Корре Редактор Заказ 767...

Номер патента: 1800336

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Дорошенко, Нижник, Островская

МПК: G01N 23/20

Метки: мартенситностареющих, рентгенографического, сталей, термической

...гомогенизированной высокотемпературной у-фазы,Первые микрообьемы обратнрго аустенита, в соответствии с диффузионным механизмом а-фу превращения, максимально пересыщены аустенитообразующими легирующими элементами, в результате чего постоянная их кристаллической решетки (ад)2 достигает наибольшего значения, По мерв развития а - у превращения (ад)2 плавно уменьшается в связи с постепенной гомогениэацией высокотемпературной у-фазы (фиг.1). В результате этого экспериментально наблюдаемая зависимость ад-Т имеет немонотонный характер, максимум которой не совпадает с максимумом кривой 1 д - Т (фиг.2,3), Зависимость ад-Т является результатом совокупного влияния на ад постоянной кристаллической решетки остаточного (эд)1 и обратного (ад...

Номер патента: 1804613

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Аристов, Никулин, Снигирев, Юнкин

МПК: G01N 23/20

Метки: глубины, микрорельефа, поверхности, твердых, тел

...недостатком,Целью изобретения является расширение диапазоне исследуемых структур.На фиг,1 приведена схема трехкристальной рентгеновской дифрактометрии;на фиг.2 - экспериментальная зависимость3 В (В) в случае структуры, описанной в20примере 1; на фиг,3 - экспериментальнаязависимость 1 В (В) в случае структуры,гописанной в примере 2.П р и м е р 1. В качестве объекта исследований была взята подложка кремния КДБ 10, ориентации 111 с заранее созданнойструктурой ячеек памяти для ИС. Периодструктуры а = 3,82 мкм, ширина щелей рельефа б = 0,28 мкм, глубина рельефа 1 = 0,67 30мкм. На гониометре ТРСс рентгеновской трубкой БСВс медным анодомдлина волны Л = 0,154 нм) осуществлялиугловое сканирование В - 2 В в диапазонеВ 40 - 300. Регистрацию...

Номер патента: 1805360

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Брусиловский, Дрыга, Клочко

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, крупногабаритных, объектов, рентгеновская

...узлов камеры, которые входят в понятие настройка.Настройка камеры состоит в следующем, Поворачивают трубку 7 вокруг собст венной оси (конструкция защитного кожуха позволяет выполнить это действие) на определенный угол - угол наклона первичного пучка к поверхности образца; перемещают каретку 5 с трубкой 7 по направляющему 15 валу 3 при помощи штурвала 6, Перемещение необходимо для того, чтобы после каждого варианта поворота трубки первичный пучок попадал на один и тот же участок объекта; перемещая трубки тубуса, регули руют расходимость первичного пучка. При переходе от одного варианта съемки к другому можно при необходимости сохранять площадь облучаемого участка неизменной; перезаряжают кассету с пленкой; переме щают кассету с пленкой...

Номер патента: 1805361

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Жабин, Левочкин

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, количественного, кристаллических, рентгенофазового, сравнения, стандартов, частично

...значения, то есть будет1805361 Составитель М,ЛавочкинТехред М,Моргентал Корректор Л.Пилипенко Редактор Заказ 937 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 составлять требуемую часть от интенсивности дифракционного максимума полностью окристаллиэовавшегося образца. Немедленное охлаждение образцов после достижения этого момента позволяет прекратить 5 дальнейший рост степени кристалличности и зафиксировать ее заданное значение, то есть получить стандарт сравнения. Полученный стандартсравненйя получают неразрушающим способом, следовательно, его 10 можно применять и в том...

Номер патента: 1806355

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Жердев, Колодко, Левин, Соболев

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгенодиагностики, смектитов

...смектитов вдоль оси "с" структурам ди- и триоктаэдрических слюд соответственно, Для последних относительная интенсивность рефлекса 002 является диагностическим признаком, Основным фактором, ограничивающим его использоаание в диагностических целях может быть изоморфизм между трех-двухвалентным катионами в октаэдрической координации, Поскольку в структуре смектитов изоморфизм между трВх- и двухвалентным катионами октаэдри. ческой координации ограничен и имеет место разрыв смесимости, для них этот признак вполне может использоваться как диагностический.Способ реализуется следующим образом,П р и м е р 1. В одном из районов при региональных литологических исследованиях выявлено три площадных ореола смектита. Его содержание в...

Номер патента: 1807357

Опубликовано: 07.04.1993

Автор: Саркисов

МПК: G01N 23/20

Метки: качества, поверхности

...и градуировочный график зависимости В/В от йг, полученный по результатам измерений на нескольких образцах с известными параметрами шероховатости поверхности (фиг,2).П р и м е р. Измерения проводились на рентгеновском рефлектометре. Расходимость исходного могнохроматического пучка МоКа 1 - излучения составляла В 1 - бф . Пучок имел лентообраэную форму с прямоугольным сечением в районе образца 5 мкм х 4 мм, Этот пучок под углом Й 3 направлялся в щель между двумя одинаковыми, наиболее гладкими из имевшихся в распоряжении (14 в - класса по ГОСТ 2789- 73), плоскими стеклянными пластинами, плотно прижатыми друг к другу, образуя таким образом бесщелевой коллиматор. Угловое распределение выходящего излучения (см.фиг.1) измерялось с помощью...

Номер патента: 1822954

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Алиев, Исмаилов, Султанов, Шафизаде

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, кинетики, переходов, пленках, тонких, фазовых, электронографического

...подводится к неподвижной щели датчика с фотоэлектронным мнО- жителем и фиксируется на ней, При этом размер щели датчика устанавливается больше ширины дифрвкционной линии с уче 1 ом смещения линии в процессе нагрева исследуемого объекта, исключая попадание дру- ф гих линий спектра в данную щель. После 00 установления необходимой для фазового пе- срехода в исследуемом объекте температуры запускается регистрирующая стойка электронографа и производится запись кривой 1 у зависимости интенсивности линии от температуры, т. е. основной экспериментальный +ф материал, с помощью которой строятся кинетические кривые фазовых превращений.Тем самым отпадает необходимость получения серии кинематических элекгронограмм с фоторегистрацией и их...

Номер патента: 1832189

Опубликовано: 07.08.1993

Авторы: Бремер, Брехбюль, Вундерлих, Ефанов, Кемпфе, Кертель, Ценкер

МПК: G01N 23/20

Метки: зон, кристаллических, напряженного, образцов, поверхностных, рентгенодифрактометрического, состояния, частично

...углы поворота составОо + 120 о + 240 оизмеренных при этих углах поворота величин углов отражения формируют среднююарифметическую величину Г=(ир, +юр, + 1 гоо+йро+г 4 оо)/3 (1) Эта величина м,844 О. Величина угла отражения Рсвязана со средней величиной деформации кристаллической решетки 7 соотношением-с 19 о(фф-уо) =е. (2)Сумму нормальных напряжений (011+ огг) теперь можно определить из известного уравнения линейной теории упругости"+ (3)-- зп ф+е 1г2 2где е 1 и а - рентгенографические постоянные упругости, соответственно равные для никеля е 1 - -1,48 10 ммг/Н и - = 13,22 10 мм 2/Н (4). Для описанного случая величина (011+ ог) - -26,4 Н/мм .Во втором случае использован начальный угол поворота уЪ - 60 при том же делении полного...

Номер патента: 1833808

Опубликовано: 15.08.1993

Авторы: Горбачева, Едигарова, Жигалова, Парилов, Сидохин, Утенкова

МПК: G01N 23/20

Метки: гониометра, держатель, образца, рентгеновского

...скобы - вставки в середине соосно выполнены клиновидные прорези 9. На верхней плоскости верхней полки и на нижней плоскости нижней полки-образной скобы расположены прижимы 1 С, На одной иэ полок -образной скобы-вставки смонтировано средство натяжения 11.Работа с держателем образца рентгеновского гониометра осуществляется следующим образом,Держатель образца рентгеновского гониометра устанавливается в посадочное место гониометра и.крепится в ней известным способом. Для установки в держатель образца 12 в виде тонкой проволоки необходимо освободить съемную вставку 7, оттянув подпружиненный прижим 6, Образец 12 устанавливают в соосно выполненных клиновидных прорезях 9, прижимают его прижимом 10, Натяжение образца осуществляют с помощью...

Номер патента: 2003080

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Андреев, Васильков, Химич

МПК: G01N 23/20

Метки: материалах, напряжений, рентгенопрозрачных

...приводит к значитель- -;ым ошибкам для рентгенопрозрачных ма;ериалов, где глубина проникновения составляет несколько миллиметров, В частности, если напряжения сосредоточены в ;иком приповерхностном слое,.например после механической обработки, результат .:,мерений оказывается не чувствительным к попобнь 1 м напряжениям, так как в результате усреднения по большому обьему, измен-"змые напряжения будут нулевыми.1 ель изобретения - повышение. чувствительности измерения напряжений,Поставленная цель достигается применением щели, экранирующей часть дифрагированного пучка и расположенной непосредственно на поверхности образца в(Бб) Русаков А.А, Рентгенография металлов. М. Атомиздат, 1977, с. 286-299.35 ГСтри р м а изобретени СПОСОБ И В РЕНТГЕНО...

Номер патента: 1369496

Опубликовано: 19.06.1995

Авторы: Авдюшкин, Григорьев, Евграфов, Лужбина, Хаютин, Широков

МПК: G01N 23/20

Метки: механических, свойств

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ проката, заключающийся в облучении его поверхности пучком рентгеновских лучей в процессе перемотки, измерении интенсивности дифрагированных лучей и определении механических свойств по предварительной градуировке, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения механических свойств металлической ленты в процессе ее протяжного отжига, интенсивность дифрагированных лучей измеряют для кристаллографических плоскостей, соответствующих текстурам прокатки и отжига, а механические свойства определяют по их соотношению.2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью определения механических свойств ленты из меди или сплавов на ее основе, измеряют интенсивность дифрагированного...

Номер патента: 1739749

Опубликовано: 27.06.1995

Авторы: Григорьев, Климов, Наумкин, Новоселов, Хаютин, Ястребков

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометрическое, рентгеновское

РЕНТГЕНОВСКОЕ ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО для неразрушающего контроля структурного состояния проката, содержащее смонтированные по фокусирующей схеме Зеемана-Болина источник рентгеновского излучения, детекторы и прижимный ролик, снабженный вырезом для пропускания первичного и дифрагированного рентгеновских пучков, глубина которого определяется из соотношениягде R радиус прижимного ролика; угол падения центрального рентгеновского луча на поверхность контролируемого объекта;w угол расходимости рентгеновского пучка,

Номер патента: 1356716

Опубликовано: 20.06.1999

Авторы: Гордеев, Николаенко, Самсонов

МПК: G01N 23/20

Метки: облучения, параметров

Способ измерения параметров облучения, заключающийся в том, что пробу алмазного порошка помещают в зону облучения, выдерживают в течение времени облучения, извлекают и, определив рентгенографически расширение кристаллической решетки алмаза, устанавливают по нему температуру (Т) облучения, отличающийся тем, что, с целью определения одновременно с температурой флюенса нейтронов (F) при снижении трудоемкости способа, часть пробы алмазного порошка предварительно облучают при температуре 70 - 100oC флюенсом нейтронов 5 1019 - 5 1020...

Номер патента: 1551072

Опубликовано: 10.10.1999

Авторы: Ануфриенко, Дергалева

МПК: G01N 23/20

Метки: волокнообразующих, качества, нефтяного, пека, свойств

Способ контроля качества волокнообразующих свойств нефтяного пека, включающий установление физического параметра, характеризующего качества пека, и установление его соответствия значению параметра для пека, удовлетворяющего требованиям качества, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, производят рентгенографирование проб пека, а в качестве физического параметра контроля используют его дифракционную картину.

Номер патента: 1616322

Опубликовано: 20.10.1999

Авторы: Качанов, Кузнецова, Лагутина, Меламед, Яблонская

МПК: G01N 23/20

Метки: остаточного, ресурса, эксплуатации, энергооборудования

Способ определения остаточного ресурса эксплуатации деталей энергооборудования, работающих в условиях малоизменяющихся нагрузки и температуры, из стали с интерметаллидным упрочнением, заключающийся в отборе пробы с поверхности детали методом скола или "лодочкой", растворении ее электролитически и получения анодного осадка для определения параметра, характеризующего ресурс, отличающийся тем, что, с целью сокращения трудоемкости и повышения точности, полученный анодный осадок подвергают рентгеноструктурному исследованию, а в качестве параметра, характеризующего остаточный ресурс, принимают отношение интенсивностей рентгеновских линий интерметаллидной и карбидной фаз, строят тарировочную...

Номер патента: 1533496

Опубликовано: 20.02.2000

Авторы: Аристов, Ерохин, Никулин, Снигирев

МПК: G01N 23/20

Метки: деформации, кристаллической, поверхностных, слоев, структуры

Способ измерения деформации кристаллической структуры поверхностных слоев в контролируемом образце, включающий измерение угловой зависимости дифрагированной волны многокристальным рентгеновским дифрактометром и определение деформации по этой зависимости, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности, изготавливают тестовый образец из того же материала и по технологии, полностью соответствующей контролируемому образцу, деформирующим воздействием на поверхности исследуемого образца формируют периодическую структуру из чередующихся с постоянным периодом из интервала значений от 0,1 мкм до 2 длин экстинкции рентгеновского излучения областей с нарушенной и ненарушенной структурой,...

Номер патента: 281671

Опубликовано: 20.03.2000

Авторы: Ленин, Сериков

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, геологических, порошковых, проб, рентгеноспектрального

Способ рентгеноспектрального анализа геологических порошковых проб разнообразного вещественного состава с использованием в качестве внутреннего стандарта рассеянного первичного излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности анализа, в качестве внутреннего стандарта используют некогерентное рассеяние характеристической линии анода рентгеновской трубки, а фон на месте линии определяют по величине интенсивности этого некогерентного рассеяния.

Номер патента: 1671009

Опубликовано: 27.10.2004

Авторы: Белашев, Карелина, Мелех, Петрова

МПК: G01N 23/20

Метки: мусковитного, слюдяного, сортности, сырья

Способ определения сортности слюдяного мусковитного сырья, включающий определение толщины кристалла слюды и измерение физических характеристик, по которым судят о сортности кристалла слюды, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности оценки благодаря учету микронеоднородностей структуры, на кристалл слюды воздействуют коллимированным монохроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интенсивность малоуглового рассеяния рентгеновского излучения при двух углах рассеяния 1 и 2 из диапазона(8/1,54)