Патенты с меткой «рентгеноинтерферометрический»

Номер патента: 1117503

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Асланян, Безирганян

МПК: G01N 23/20

Метки: атомной, искажений, монокристалла, рентгеноинтерферометрический, решетки

...При малых поворотах (повороты в пределах угловойобласти отражения) векторыНЬ Й и ЬН можно представить в следующем вйде (фиг.1):", лгде х, у и У - единичные векторы по направлениям осей ОХ, 07 и 02 соответственно.Следовательно, величину вектораЬ Нможно представить уравнением1 дн 1= (2) 7503 о повопериода торого где Ни Нбратных реше исталлов с При выводеуглы Е и Еционарных интся выражением(ЬНг) В этом случае внутри второго кр лярны к отражающи муаровые плоскости сталла перпендикуплоскостям (фиг. и 4),Муаровые плоско можно регистрирова(наблюдать),ых распределеисталла непароверхности вы(,наблюдаютсяторце получаютности второгортины, вызвайоси ОУ, нельзя если плоскости муаровний внутри второго кр ал 25лельны (пересекают) пхода этого...

Номер патента: 1673933

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, кристаллов, рентгеноинтерферометрический

...даже до их проектирования, не полны - они преимущественно представляют картины полей деформации, возникших в направлении нормали отражающих плоскостей.В рентгеноинтерферометрических исследованиях, кроме перечисленных, регистрируемые дифракционные изображения (муаровые картины) сильно зависят от направления поворотов отражающих плоскостей, вызванных несовершенствами кристаллов интерферометра, от характера изменения межплоскостных расстояний отражающих плоскостей, от как абсолютного, так и относительного месторасположения несовершенств кристаллов интерферометра. Если в случае отдельного кристалла при формировании дифракционного изображения основную роль играет относительное расположение векторов Бюргерса и дифракции, то в...

Номер патента: 1679313

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян

МПК: G01N 23/20

Метки: дилатационных, исследования, монокристаллов, несовершенств, рентгеноинтерферометрический

...от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего кристалла, получают1 11 оьь ЮьоКопо - Ив1. В двухкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первого и второго кристаллов отличаются одно от другого, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или второго кристалла.2. В трехкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первых двух(первого и второго) или последних двух (второго и третьего) кристаллов одинаковы, но отличаются от межплоскостных расстояний оставшегося (третьего или первого) кристалла, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего...