Устройство для контроля полированных асферических поверхностей второго порядка
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 458705
Авторы: Александров, Зубарев, Подобрянский, Семибратов
Текст
(ц 45870 ОПИС Е Союз Советских Социалистических РвслчблинИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1) Зависимое от авт. свидетельства 01 Ь 9,02(22) Заявле инением заявкис при Государственный комитет Совета Министров СССР оо долам изобретенийи открмтнй 32) ПриоритетОпубликовано, Бюллетень4 та опубликования описания 18.03(71) Заявител УСТРОЙСТВО АСФЕРИЧЕСК Я КОНТРОЛЯ ПОЛИРОВАННЫХПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГОПОРЯДКА 1ся к области оптичесроля поверхностей вто Изобретение относитких устройств для контрого порядка.В известных устройствах точность контроля невыпуклых асферических поверхностей оценивается по величине диаметра пятна рассеивания, При этом невозможно судить о знаке и величине ошибки, что снижает точность контроля.Предлагаемое устройство снабжено эталонной параболической и,вспомогательной плоской отражающими поверхностями, расположенными на оптимической оси контролируемой поверхности так, что точки фокуса первой и последней совмещены, и дополнительными пентапризмами, расположенными по ходу пучка симметрично относительно той же оси.Это позволяет повысить точность контроля поверхностей.На чертеже изображена функциональная оптическая схема предлагаемого устройства.Параллельный пучок лучей коллиматора 1, входя в две входные пентапризмы 2, проектируется на две расположенные симметрично оптической оси площадки кольцевой зоны радиуса У вспомогательной поверхности 3, отражаясь от которой, направляется на контролируемую поверхность 4 и, вторично отразившись от двух симметричных площадок кольцевой зоны У, направляется на две выходные пентапризмы 5, из которых далее в отсчетную зрительную трубу 6.Отступление профиля обрабатываемой по верхности от идеального, рассматриваемоекак симметричный поворот двух зеркал в контролируемых зонах У, вызывает отклонение отраженного луча от своего нормального направления на некоторый угол а, величина и О направление котброго зависят от величины ихарактера ошибки. Проходя через две входные пентапризмы 2, лучи коллиматора 1 дважды отражаются от площадок одной и той же кольцевой зорины обрабатываемой поверхности и от клоняются на угол 2 а, величина которогопревышает в четыре раза величину угла поворота нормали в указанной зоне У от ее положения для идеальной поверхности.Зрительная труба 6 используется для отсчео та значений 2 а в различных зонах У при перемещении пентапризм по направлению, перпендикулярному оптической оси вспомогательной и контролируемой поверхностей,25Предмет изобретени Устроиство для контроля полированных асферических,поверхностей второго порядка, содержащее коллиматор, перемещающуюся пенИзд.1082ГИ Государственного комитета по делам изобретений г Москва, %-35, Раушская 1,1 ОЦНИ дписно ов СС шография, пр, Сапунова,тапризму, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности, точности контроля вогнутых и выпуклых параоолоидов, гиперболоидов, а также вогнутых эллипсоидов, оно снабжено эталонной параболической и вспомогательной плоской отражающими поверхностями, расположенными на оптической оси кон.тролируемой поверхности так, что точки фокуса этих поверхностей совмещены, и дополнительными пентапризмами, расположенными по 5 ходу пучка симметрично относительно той жеоси. Тираж 782Совета Мини открытий аб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
1215873, 05.02.1968
АЛЕКСАНДРОВ НИКОЛАЙ МИХАЙЛОВИЧ, ЗУБАРЕВ ВЯЧЕСЛАВ ЕВГЕНЬЕВИЧ, ПОДОБРЯНСКИЙ АНАТОЛИЙ ВИКТОРОВИЧ, СЕМИБРАТОВ МИХАИЛ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: асферических, второго, поверхностей, полированных, порядка
Опубликовано: 30.01.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-458705-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-polirovannykh-asfericheskikh-poverkhnostejj-vtorogo-poryadka.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля полированных асферических поверхностей второго порядка</a>
Предыдущий патент: Способ контроля зубчатых передач
Следующий патент: Контактная измерительная головка для контрольных приборов
Случайный патент: 826008