Интерферометр сдвига
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е (ц 44443ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союа Советских Социалистических Респтбник) М. Кл. б 01 Ь 9,02 осударственный комите овета Министров СССР 3) УДК 772.99(088.8) Опубликовано.08.74. Бюллетеньния описания 06.08.7 ам изобретен откры ата опубликов 2) Авторы изобретения ласов, И. К, Вульман, Ю, П. Пресняков и В, Б. Слоцкий(71) Заявител 54) И НТЕРф ЕРОМЕТР СДВ И структуры демещения соо г Х - ига,составляет Х - п6 ствен 25 ена оптическая схема предром етр а; н а фиг. 2 изобр априве нтерф ий ви ометр м вер нпе фокальной На фиг. 1 лагаемого ижен его обш, Интер ферленные в не г, - длина волны, -- отношХ И жит корпус 1, установполовину 2 билинзы в ю Изобретение относится к оптическим интерферометрам и может быть применено для исследования деформации и вибраций диффузно отражающих излучение объектов, а также для изучения фазовых н зеркально отражающих ооъектов, освещенных через диффузныи расссиватель.( помощью известных интерферометров получают лишь интерферограммы сдвига для зеркально отражающих или фазовых обьектов, получение интерферограмм сдвига для диффузно отражающих объектов невозможно. Кроме того, конструкция интерферометра громоздка, что вызвано необходимостью защиты от вибраций и применения лазеров, работающих в одномодовом режиме,Цель изооретения - получение интерферограмм сдвига диффузно отражающих объектов при сниженных требованиях когерентности источника излучения.Для этого система деления отраженного от объекта пучка выполняется в виде набора диафрагм, размеры которых определяются величиной измеряемой деформации и величиной сдвига. оправе 3, мпкрометрпческпй винт 4 для перемещения половины 2 бплинзы относительно ее неподвижной половины 5, закрепленной в неподвижной оправе 6. Действующие диаметры обеих половин билцнзы регулируются оправами 7 и 8.В процсссе измерения излучением когерентного источника освещают исследуемый объект. Вблизи плоскости квадратичного детектора получают два сдвинутых одно относптельно другого изображения объекта. Величину сдвига устанавливают по понпусной шкале винта 4 либо визуально по сдвигу изображений. Прп этом действующие диаметры обеих половин билинзы устанавливают диафрагмами, размеры которых выбирают нз условия, согласно которому средшгй размер зернистой структуры должен быть больше, чем максимальная величина перемещения точек поверхности объекта.Средний размер зернистой ля продольного и поперечного пертдлины к действующему диаметру, иг - коэффициент уменьшения в плоскости пзображспя.В плоскости изображения волновые поля, образующие два сдвинутых изображения исследуемого объекта, накладываются под углом одно к другому, в результате чего при регистрации квадратичным детектором возникает 5 несущая пространственная частота и при восстановлении - дифракционные порядки, в которых наблюдают интерферограмму сдвига. Для выделения восстановленного порядка 10 дифракции оптической фильтрацией расстояние между центрами действующих диаметров верхней и нижней половин билинзы должно быть больше или равно удвоенному размеру действующего диаметра. 15 Предм т изобретения Интерферомстр сдвига, содержащий источник когерентного излучения, оптические злементы формирования пучка, освешающего объект, оптические системы формирования и сдвига изображения, расположенные за объектом, и квадратичный детектор, отличающ и й с я тем, что, с целью получения интерферограмм сдвига от диффузно отражающих объектов, система деления отраженного от объекта пучка выполнена в виде набора диафрагм, размеры которых определяются величиной измеряемой деформации объекта и величиной сдвига.
СмотретьЗаявка
1812754, 24.07.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584
ВЛАСОВ НИКОЛАЙ ГЕОРГИЕВИЧ, ВУЛЬМАН ИГОРЬ КОНСТАНТИНОВИЧ, ПРЕСНЯКОВ ЮРИЙ ПАВЛОВИЧ, СЛОЦКИЙ ВИКТОР БРОНИСЛАВОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
Опубликовано: 30.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-441443-interferometr-sdviga.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр сдвига</a>
Устройство для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1147927
Опубликовано: 30.03.1985
МПК: G01B 11/16
Метки: вектора, диффузно, объектов, отражающих, смещения
...излучения, прошедшего отклоняющий элемент 4 и отраженного от интерферометра, блок 10 обработки сигналов, входы которого электрически связаны с выходами приемников 3, 8 и 9, дифракционные решетки 6 и 7 установлены с возможностью одновременного относительного перемещения в направлении, перпен. дикулярном к штрихам решеток в плоскости расположения этих штрихов, и в направлении, перпендикулярном к этой плоскости дифракционные решетки 6 и 7 установлены под углом Брэгга к оптической оси устройства, а спекл-Фотографии 2 и 5 ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскостям дифракционных решеток 6 и 7.Устройство работает следующим образом,Источник 1 когерентного излучения освещает спекл-Фотографию 2. Для того, чтобы...
Способ определения очага деформации диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1516776
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Бахтин, Глухов, Костюченко, Перк
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, диффузно, объектов, отражающих, очага
...характере деформированного состояния, а также эа счет исследования очага деформации малых размеров.3В частном случае деформированного состояния, при котором полосы локализованы на объекте ( Л = 0) и,тем самым, может быть использован известный способ, в области очага деформации система полос, обусловленная смещением восстанавливающего пучка, теряет свою регулярность, что позволяет легко установить размерыочага деформации.П р и м е р. Определяли размер микроочага деформации, возникающего при вдавливании стального цилиндра диаметром 2 мм в металлическую пластину. Объект освещали коллимнрованным пучком когерентного излучения от лазера ЛГи получали увеличенное изображение с помощью объектива с фокусным расстоянием Е 20 мм и апертурой а...
Способ определения профиля поверхности диффузно отражающих объектов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1758421
Опубликовано: 30.08.1992
Автор: Хопов
МПК: G01B 11/24
Метки: диффузно, объектов, отражающих, поверхности, профиля
...образом,Положение уголкового отражателя измеряется относительно начального значения, которое фиксируется при помощи второй измерительной системы, Эта система представляет собой интерферометр, который функционирует аналогично устройству измерения размеров обьекта, В опорном плече интерферометра находится зеркало 15, а в обьектном - зеркало 16, относительно которого и фиксируется начальное положение уголкового отражателя б. В момент времени при изменении положения уголкового отражателя, когда на входном окне фотоприемника 17 появляются контрастные интерференционные полосы, блок 18 выдает импульс на счетчик 14 и обнуляет его вь 1 ходы. Первая измерительфокальная плоскость совмещена г плоско 3. Устройство по и. 2, о т л и ч а ю щее с я...
Устройство для определения коэффициента отражения диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1427249
Опубликовано: 30.09.1988
МПК: G01N 21/55
Метки: диффузно, коэффициента, объектов, отражающих, отражения
...(угол между нормалью к плоскости образ Изобретение относится к оптическому аналитическому приборостроению и может быть использовано в приборах для измерения характеристик отражения диффузно отражающих объектов,5 например бумаги, тканей, листьев растений, листовых и сыпучих материалов.Цель изОбретения - повышение производительности определения коэффициента отражения образцов материала диффузио отражающих объектов.На фиг. ) схематично изображено предлагаемое устройство; на фиг, 2 - 15 оптическая схема с оптическим ослабителем. ца и падающим пучком иэлучения), град;безразмерный параметр, численно равный углу наблюдения(- угол между нормалью к поверхности образцаи осью, проведенной из егоцентра к центру фотоприемника), град;е - основание...
Способ радиолокации отражающих объектов и устройство для его осуществления
Номер патента: 578780
Опубликовано: 23.05.1986
Автор: Голованевский
МПК: G01S 7/06
Метки: объектов, отражающих, радиолокации
...по отсчету дальности и азимуту квадрата положения цели е 20Цель изобретения - фиксация изображений отдельных объектов в полярных координатах на экране вспомогательной трубки с вращающимися синхронно с антенной станции катушками 25 магнитного отклонения катодного луча.Это достигается тем, что по предлагаемому способу радиолокации отражающих объектов радиолокационными станциями с линейной разверткой луча катодной трубки атметчика величину тока в отклоняющих катушках изменяют пропорционально изменению расстояния изображения на экране основной трубки от начала координат.35В устройстве для осуществления этого способа визир основной трубки, устанавливаемой перед изображением отдельного объекта, механически связан с движком реостата в...