Зсеоо
Интерферометр для контроля качества вогнутых отражающих поверхностей вращения
Номер патента: 321674
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Аксельрод, Груздева, Зсеоо, Лобачев, Сокольский
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей
...рядка, Это достиг установлен межд тролирусмой пове стоянии от нее.На чертеже пок ваемого интерферо Интерферометр выполнен по схеме Майкельсона. Его рабочая ветвь образована объективом 1, компенсатором 2 сферической аберрации и контролируемой деталью 3, при чем компенсатор установлен между параксиальным центром кривизны О и контролируемой поверхностью П-го порядка детали на расстоянии от нее, равномДев10 г, Р - радиус кривизны в вершине контро.лируемой поверхности 3;е - эксцентриситет поверхности 3;15 р - постоянный параметр компенсатора2, зависящий от увеличения, с которым он изображает центр кривизны О в точку О, совмещенную с фокусом объектива 1,20 Параллельный пучок света падает наобъектив, собирается в его фокусе О и,пройдя...