Интерферометр для контроля качества вогнутых отражающих поверхностей вращения

Номер патента: 355489

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Духопел, Симоненко

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, качества, поверхностей, цилиндрических

...пучок направляется па цилиндрическую линзу б, с помощью которой ня гряп 5 гх а и б кубика 7 собирается в прямыс ли нии, параллельные образующим цилиндрических поверхностей линзы 8 и проверяемой детали 10 и расположенныс, соответственно, в фокальной плоскости линзы 8 и пл)Скост 51 центров кривизны проверяемой поверхности.10 1.1 я гранях а н б нанесены зсркальныс по,1)ски, в середине которых прорезаны узкие прозрачныс цели (св. внд по стрелке Л), Щель па граш 6 совмещена с фокальной линией лпнзь 1 б и пропускает к поверхности проверяс мОЙ детали гольку ту часть пучка, котора 51дифрагировала на щели. После отражения от детали 10 пучок направляется в пнтерферов 1 етр мимо зеркальной полоски, 1 кой х),1 пучка обеспечивается соответствующиз...

Номер патента: 1670391

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08, G02B 5/06

Метки: вогнутых, интерференционный, поверхностей, цилиндрических

...проектируют в фокальную плоскость объектива 4. Оптический элемент 5 выполняют в виде пластины толщиной б. определяемой из соотношенияб - Я(19,81054 п - 53 02046 п + 58, - 32,34114 п + 9,05130 п - 1,01889 пб), где В - радиус кривизны цилиндрической поверхности 8;и - показатель преломления материала оптического элемента 5,Оптический элемент 5 устанавливают между фокальной линией 9 контролируемойповерхности 8 и самой поверхностью 8, Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 совмещают с фокальной линией 9 контролируемой поверхности 8.Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 и контролируемую поверхность 8 детали 7 освещают вышедшим из объектива 4 параллельным пучком лучей, перпендикулярных эталонной поверхности 6.Между линзой 2 и...

Номер патента: 502202

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Лаптев, Уразаев, Фадеев

МПК: G01B 5/25

Метки: базовой, детали, оси, отклонения, относительно, поверхностей, поверхности, соосности, цилиндрических

...корпус 1, помещенные в корпусе шпиндель 2 с левым центром 3, выполненный подвижным в направлении, перпендикулярном оси вращения центров, правый центр 4, имеющий возможность перемещаться в корпусе по линии центров каретку 5, с расположенными на ней упором 6, измерительным 7 и дополнительным 8 индикаторами. Угловое положение шпинделя 2 может фиксироваться пальцем 9.Устройство работает следующим образом.Деталь 10 устанавливают в центрах 3 и 4 таким образом, чтобы ось 11 базовой цилиндрической поверхности находилась со стороны правого центра 4, а ось 12, контролируемой цилиндрической поверхности находилась со стороны левого центра 3. Каретка 5 опу502202 Составитель И. Гаранина Текред Т. Курилко Корректор Н, Аук Редактор В. Другова...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Номер патента: 1460598

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов

...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...