277270
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 277270
Авторы: Ветвинский, Харько, Янушкевич
Текст
Взамен ранее изданного 1 11 277270 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Реслублккс присоединением заявкиеннын комите 32) ПриоритетОпубликовано 15.12.75 овета Министров С 53) УДК 531,717,12;53Э. П, Янушкевич и А. А. Ветвинский ькоьский государственный научно-исследовательский институт метрологии(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТВЕРСТИЙ ПО АТТЕСТОВАННЫМ ПРОБКАМПредлагаемый тельной технике, ния отверстий.Известен спосо зрачном матерна кам, заключающ меряемое отвер подсвечивают ее ского контакта и прижимая ее к ст разность размер личеству набл полос. способ относится а именно к техт к измер ке цзмер стии в пронным проб водят в изю пробку, тся оптичеотверстия,определяют обки по ко- ренционных б измерения отвер ле по аттестова ийся в том, что в стце непрозрачн с боков, добиваю робки со стенками енке отверстия, и ов отверстия и пр ода емых интер фе 20 Однако этот способ отличается тем, что он позволяет измерять отверстия, выполненные только в прозрачном материале.Предлагаемый способ отличается тем, что, с целью измерения отверстий в непрозрачном материале, используют пробку из прозрачного материала с внутренней отражающей поверхностью, подсвечивают пробку со стороны торцов и наблюдают сквозь них интерференционные полосы. Для наиболее удобного наблюдения интерференционных полос добиваются оптического контакта перекосом пробки в отверстии в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности; с целью достижения наибольшей точности измерения ицтерференционные полосы ориентируют симметрично относительно продольных рцсок пробки и отсчитывают цх число со стороны обоих торцов пробки относительно ее поперечной риски.На фиг. 1 показано отверстие с введенной в него аттестованной пробкой (вцд в направлении, перпендикулярном оси); на фцг. 2 - то же, вид сверху вдоль осц. Кроме того, на фиг, 2 показано цзоораженцс цнтерферецццонных полос ц рисок, нанесенных на поверхности пробки,Предлагаемый способ осуществляют следующим образом. В отверстие изделиявводят аттестованную пробку 2 ц перекашцвают ее в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности 3, до получения оптического контакта в точках А и В (пробка выполнена цз прозрачного материала ц состоит цз двух элементов, склеенных непрозрачными отражающими поверхцостямц, расположенными под углом примерно 45 к ее осц), Затем пробку подсвечивают со стороны торцов и через прозрачные торцы наблюдают ццтерференционные полосы равной толщины.Полосы ориентируют симметрично относительно нанесенных вдоль образующей поверхности пробки продольных рцсок 4 и, считая пятна контакта Л ц В пулевыми полосами,отсчитывают со стороны обоих торцов целое число и дробную часть интерференцпонных полос до поперечной риски 5, также нанесенной на поверхности пробки.По суммарному числу полос определяют разность размеров отверстия и пробки в заданном направлении,Таким образом, приведенный способ позволяет измерять внутренние размеры в непрозрачном материале по аттестованным пробкам с использованием интерференционных полос.Применение явления интерференции света для измерения внутренних полостей, выполненных в непрозрачном материале, значительно повышает точность их измерения и позволяет измерять отверстия в любых диаметральных сечениях и направлениях.Предмет изобретения1. Способ измерения отверстий по аттестованным пробкам, заключающийся в том, что вводят в измеряемое отверстие пробку, подсвечивают ее добиваются оптического контакта пробки со стенками отверстия и определяютразность размеров отверстия и пробки по количеству наблюдаемых интер ференционныхполос, отличающийся тем, что, с целью5 измерения отверстий в непрозрачном материале, используют пробку из прозрачного материала с внутренней отражающей поверхностью, подсвечивают пробку со стороны торцови наблюдают сквозь них интерференционные10 полосы.2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью наиболее удобного наблюденияинтерференционных полос, добиваются оптического контакта перекосом пробки в отвер 15 стии в плоскости, перпендикулярной отражающей поверхности,3. Способ по пп. 1 и 2, отличающийсятем, что, с целью достижения наибольшейточности измерения, иптерференционные поло 20 сы ориентируют симметрично относительнопродольных рисок пробки и отсчитывают ихчисло со стороны обоих торцов пробки относительно ее поперечной риски.277270 Р 2 Составитель О. филиппов Техред А. Камышникова Корректоры: еизерман Тарасова аказ 305 Г 1 одпнсСССР ИИПИ Г 1303 Типография, пр. Сапунова, 2 дактор П. Горько Изд.2053дарственного по делам изоб 5, Москва, ЖТираж 782 омитета Совета Минист ретений и открытий 35, Раушская наб., д. 4,5
СмотретьЗаявка
1310986
Э. П. Янушкевич, А. А. Ветвинский, Харько гский государственный научно исследовательский институт
МПК / Метки
МПК: G01B 11/12, G01B 9/02
Метки: 277270
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-277270-277270.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">277270</a>
Предыдущий патент: Голографический способ контроля оптических
Следующий патент: Прибор для проверки пакаткых плашек
Случайный патент: Способ обработки винтовых поверхностей