Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1538038
Автор: Недбай
Текст
; 1 Яу К 8.8)детельство СССР 1 В 9/02, 1986. ДЛЯ МНОГОКРАТНЫХЧЕВОМ ИНТЕРФЕРОм чувств ти- леГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ П 1 НТ СССР(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в двухлучевом интерферометре.Майкельсона для регистрации механических быстропротекакщих процессов - ударных волн, сигналов акусческой эмиссии, ультразвуковых ко банни, Цель изобретения - улучшениеэксплуатационных характеристик устройства за счет измерения кратностиотражений от контролируемой поверхности поворотом отражателя, а такжеполучения большого количества отражений с помощью меньшего количестваоптических элементов. Устройство длямногократных отражений содержит положительную линзу 3, вогнутое зеркало 4 и расположенное между ними вфокусе вогнутого зеркало 5. Поворотэтого зеркала 5 или его смещениесовместно с вогнутым зеркалом 4 позволяет легко регулировать кратностьотражения и вместе с эти ительность интерферометра, в которомиспользуется предлагаемое устройство. 1 ил.1538038 5 10 5 20 25 30 35 40 45 Составитель Л. ЛобзоваТехред М.Дидык Корректор М.Шароши Редактор В. Бугренкова Заказ 163 Тираж 478 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям дри ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано преимущественно в устройствах для регистрации быстропротекающих механических процессов, например ультразвуковых колебаний, сигналов акустической эмиссии, ударных волн, распространяющихся в различных материалах и конструкциях.Цель изобретения - улучшение эксплуатацис нных характеристик устройства за счет изменения кратности отражений ст контролируемой поверхности поворстом отражателя, а также получение большого количества отражений с помощью меньшего количества оптических элементов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для многократных отражений в двухлучевом интерферометре.Устройство содержит зеркало 1, связанное с контролируемым объектом 2 и установленное в фокальной плоскости положительной линзы 3, вогнутое зеркало 4, установленное в апертуре линзы 3 с возможностью смещения параллельно ее фокальной плоскости, отражатель в виде плоского зеркала установленного между вогнутым зерка-( лом 4 и линзой 3 в фокусе вогнутого зеркала 4 с возможностью поворотаДля ввода и вывода лучей из устройства многократных отражений используют плоские зеркала б и 7. В качестве зеркала 1, связанного с контролируемым объектом 2, при контроле быстропротека:ощих механических процессов используют поверхность самого контролируемого объекта 2, обработанную с помощью шлифовки и полировки или нанесением тонкого отражающего слоя,Устрой "тво работает следующим образом.Входной луч света 1 направляется с помощью зеркала 4 в линзу 3 параллельно ее оптической оси, отклоняется линзой 3 и отражается от зеркала 1, связанного с контролируемым объектом 2 и помещенного в фокусе линзы 3.Однократно отраженный от контролируемого объекта луч 1 проходит линзу 3, отражается от вогнутого зеркала 4 и попадает на зеркало 5, в зависимости от угла и направления поворота которого зависит количество отражений от контролируемого объекта 2. Количество отражений и расположение путей, по которым луч проходит расстояние между зеркалами 1 и 5, также изменяется при смещении вогнутого зеркала 4 параллельно фокальной плоскости, синхронном со смещением зеркала 5. Для упрощения на чертеже устройство для многократных отражений приведено с трехкратным отражением от контролируемой поверхности объекта 2, после которого луч (луч 1 ) выводится3с помощью зеркала 7 из устройства в интерферометр, в котором использовано это устройство. Формула из обретенияУстройство для многократных отражений в двухлучевом интерферсметре,содержащее установленные на пути светового пучка измерительной ветви интерферометра собирающую линзу и плоское зеркало, предназначенное дляустановки на контролируемом объекте,и отражатель, о т л и ч а ю щ ее с я тем что, с целью улучшенияэксплуатационных характеристик устройства, оно снабжено вогнутым зеркалом, расположенным с возможностьюперемещения вдоль его фокальнойплоскости между отражателем и линзой,а отражатель выполнен в виде плоскогозеркала и установлен от вогнутогозеркала на его фокусном расстояниис возможностью поворота относительно фокальной плоскости вогнутого зеркала и синхронного перемещения вместе с ним вдоль его фокальной плос-кости,
СмотретьЗаявка
4197459, 20.02.1987
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
НЕДБАЙ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
Опубликовано: 23.01.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1538038-ustrojjstvo-dlya-mnogokratnykh-otrazhenijj-v-dvukhluchevom-interferometre.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре</a>
Предыдущий патент: Емкостный преобразователь угловых перемещений
Следующий патент: Устройство для измерения линейных размеров изделий
Случайный патент: Способ определения прочности сцепления металлизационного слоя с металлическим основанием