Сканирующий интерферометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1523906
Авторы: Мамедов, Соколовский
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИНГОСМДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМу ПРИ ПЧНТ СССР(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованб в оптических приборах, в частности в Фурье-слектрометрахвидимого и ближнего ИК-диапазонов. Цель изобретения - увеличене разрешающей способности достигается за счет увеличения максимальной сканирующей разности хода пучков в ветвях интерферометра. Пучок света делится светоде2 лителем 1, формируя две ветви интер ферометра. Пучки света, пройдя через соответствующие плоскопараллельные пластин З И 4, установленныепод углом Ц друг к другу на вращающемся основании 5, отражаются плоским отражателем 2 и по тому же пути возвращаются на светоделитель 1. Фотоприемннк 6 регистрирует сигнал, получаемй в результате интерференции двух пучков. Сканирование разности хода осуществляется путем вращения основания 5; Угол Ы.между пластинами 3 И 4 выбирается исходя из параметров пластин (толщины 1 и показателя преломления Ь), заданной максимальной разности хода Ь н заданного диапазона изменения углов 6 падения лучейИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптических приборах, в частности в Фурьеспектрометрах видимого и ближнего ИКдиапазонов.Целью изобретения является увеличение разрешающей способности.На чертеже представлена схема ска(пирующего интерферометра.;света (не показан), светоделителя 1,плоского отражателя 2, плоскопаралъ лельных пластин 3 и 4, установленных под углом Ы одна к другой на основанмн 5, установленном с возможностью вращения вокруг оси, перпендикулярной плоскости распространения лучей, и фотоприемника 6, а уголсх определен из соотношенияы: эт 1(1)6 где Азаданная разность хода лучей интерферометра; 1толщина пластин; п - показатели преломления мате риала пластин; 9заданное максимальное значение угла поворота пластин.интерферометр работает следующм образом.Световой пучок от источнка падаю ет на светоделнтель 1 и делится на два параллельных пучка. Оба пучка проходят через узел сканнрованя, С состоящий их плоскопараллельных пластин 3 н 4, установленным под углом с(одна к другой на вращающемся основанми 5. Световой пучок, падающий На плоскопараллельную пластину (например, 3) под углом 9ПРН 0 бреТаеТ разность хода Ь(9) (ПО сравнению с 9 в о), определяемую выражениемгде 1толщина пластины; п - показатель преломления материала пластины;угол паденя луча на плас ТИПУ.при малых углах падения (9 05 рад)это выражение преобразуется к видудля того, чтобы обеспечивалось сканирование разности хода по ли 55нейному закону, во вторую ветвь ин терферометра введена вторая плоскопараллельная пластина (например, 4) которая повернута по отношению к пер вой на угол Ы. При этом результирующая разность хода определяется как разность М 94)М 99), где 6,Эдуглы падения лучей на пластины З и 4 в первой и второй ветвях соответственно. Причем 6 д= 99 +. Тогда раз ность хода лучей в ветвях интерферо метра определяется выражениемИз этого выражения определяется угол Ы между плоскопараллельными пластинами в зависимости от заданных параметров толщины и показателя преломления пластинок 1 и п соответст ВВННО, МЗКСИМЗЛЬНОЙ РЗЗНОСТИ ХОДЗИ ЗЗДЗННОГО ДИЗПЗЗОНЗ ИЗМЕНЕНИЯ УГСканированн: разности хода осуществляется путем вращеня основания 5. Ф О Р М у л а н з о б р е т е н и яСканирующй интерферометр, содерд жащй последовательно установленные источник света, светоделитель отражатель и фотоприемнк, о т л н ч а ющ и й с я тем, что, с целью увеличения разрешающей способности, он Ц снабжен основанием, установленны с возможностью вращения вокруг своей оси, перпендикулярной плоскости распространения лучей, и двумя идентичнымм плоскопараллельными пластинами, установленными под углом д(одна к к другой так, что каждая пластина размещена в одной из ветвейннтерфе рометра, а угол р(определен из соотношения1(1 - 339 где Азаданная разность хода лучей интерферометра; а толшна пластин; . показатель преломления материала пластин;заданное максимальное значение угла поворота пластин, нд
СмотретьЗаявка
4338280, 07.12.1987
ИНСТИТУТ РАДИОТЕХНИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ АН СССР
МАМЕДОВ АКИФ МАИЛ ОГЛЫ, СОКОЛОВСКИЙ АЛЕКСАНДР АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сканирующий
Опубликовано: 23.11.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1523906-skaniruyushhijj-interferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Сканирующий интерферометр</a>
Способ определения разности хода интерферирующих лучей
Номер патента: 715928
Опубликовано: 15.02.1980
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферирующих, лучей, разности, хода
...ис- . точника света, изменяют длину когерентносги источника света, находят не менее двух последовательных минимумов контраста интерференционной картины, определяют по ним средние значения длины когерентности, а разносгь хода лучей находят из соотношения, связывающего ее значение со средними значениями длин ко. герентности, при этом точную зависимость конт раста от длины когерентности и разности хода Наиболее является с терферирую Изобретение относится к области оптической интерферометрии и может быть использовано для измерения расстояний в геодезии.Известны способы определения раэноспг хо. да, основанные на измерении дробных частей порядка интерференции при использовании не.3 скольких известных. длин волн источника све та...
Способ регистрации нулевой разности хода световых лучей и устройство для его осуществления
Номер патента: 939938
Опубликовано: 30.06.1982
МПК: G01B 21/00
Метки: лучей, нулевой, разности, регистрации, световых, хода
...напряжений на элементах схемы.Устройство регистрации нулевойразности хода световых лучей состоит из источника 1 монохроматическо.го излучения, интерферометра 2,50фотопреобразователя 3 с диафрагмой 4,соединенных последовательно интегратора 5, синхронного детектора 6,порогового элемента 7, нуль-органа 8,привода 9, подключенного к фотопреобразователю 3, блока 10 перестройки длины волны источника излучения,модулятора 11, соединенного с диафрагмой 4 фотопреобразователя 3 и ссинхронным детектором б.Способ регистрации нулевой разности хода световых лучей с помощьюустройства реализуется следующимобразом,С помощью перестраиваемого источника 1 монохроматического излуче йия и интерферометра 2 в поле зрения фотопреобраэователя 3 создают...
Многолучевой интерферометр
Номер патента: 1060939
Опубликовано: 15.12.1983
Автор: Рокос
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, многолучевой
...а также оптические оси анизотропных элементов, нумерация которыхсвидетельствует нумерации, приведенной на фиг. 1; на фиг. Э - зависимость выходного сигнала узкополосно 20 го усилителя О от Фазового смещения Ф; на фиг. 4 - функции Эйридля лучей, поляризованных соответственно в плоскостях о = (110) ир = (110 1, а также аппаратная функ 25 ция устройства 0 = Е (сР)Устройство состоит из источникамонохроматического излучения 1, поляризатора 2, зеркал интерферометрафабри-Перо 3 и 4, Фазовой пластинки 30 5, гониометра б, на столике которого установлена исследуемая пластина 7, поляризационнйй комйенсатор,например компенсатор Бабине 8,элект.рооптического модулятора 9, анализа тора 10 диаФрагмы 11, фотоэлектронного умножителя 12,...
Интерферометр для измерения углов
Номер патента: 1401271
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Веселев, Копытов, Лизунов
МПК: G01B 11/26
Метки: интерферометр, углов
...шкивом 13 с помощью гибких кольцевых лент 16 и 17 соответственно. Оси всех шкивов 13 - 15 лежат на одной прямой. Две триппель-призмы 18 и 19 установлены соответственно на втором 14 и третьем 15 шкивах так, что их вершины совпадают с осями поворота шкивов 14 и 15. Платформу 12 скрепляют с объектом измерения (не показан).Устройство работает следующим образом.При повороте платформы триппель-призмы 18 и 19 смещаются параллельно на некоторое расстояние, так как они установлены на шкивах 14 и 15, которые при повороте платформы на угол к поворачиваются в противоположную сторону на такой же угол.Триппель-призмы 18 и 19 смещаются по двум взаимно перпендикулярным осям: по оси, параллельной оптической оси измерителя 2 перемещений - друг к другу,...
Прибор для демонстрирования законов отражения и преломления световых лучей
Номер патента: 88148
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Глазырин
МПК: G09B 23/22
Метки: демонстрирования, законов, лучей, отражения, преломления, прибор, световых
...введением приспособления, выполненного в виде нескольких поворотных зеркал,разбивающих пучок света на несколько лучей, направляемых на линзы под разными углами.На фиг, 1 изображен общин вид описываемого поибора; на фиг. 2 - этот же прибор, впд сзади; на. фиг. 3 в устройст осветителя.Прибор состоит пз диска 1 с градусной шкалой, закрепленного на стойке 2, осветительного устройства 3, монтированного на стержне 4, поворачивающемся вокруг оси 5 и снабженном стопорным винтом б, а также набора линз, зеркал и других приспособлений, монтируемых на диске 1.Осветитель 3 состоит пз источника света 7, линзы 8, шапбы 9 с тремя щелевыми отверстиями и поворотных зеркал 10, монтпрованных в общем кожухе 11.Для демонстрирования законов отражения и...
Предыдущий патент: Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Следующий патент: Сферометр
Случайный патент: Устройство для управления приводом робота