Карташёв

Номер патента: 189605

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Карташёв, Кучин

МПК: G01B 11/30

Метки: высот, искривлению, муаровых, наблюдения, неровностей, поверхности, полос

...б подобрано таким образом, чтобы в плоскости растра 7 5 шаги обоих растров были одинаковы. Растр 7можно разворачивать в плоскости, перпендикулярной оптической осц на угол в , 5, что позволяет менять количество муаровых полос в поле зрения микроскопа от 1 до 15.10 Муаровые полосы, локализованные в плоскости растра 7, перепроектцруются системой 8 переноса изображения в плоскость сетки окулярного микрометра 9.Для измерения высот неровностей от 40 15 до 0,1 лкл в приборе предусмотрено две парысменных растров с расстояниями между штрихами в плоскости предмета соответственно 20 и 4 ккм. 20 Прц исследовании поверхностей с ленным расположением неровцосте скопе предусмотрена возможность ния длины штрихов растра 3 с те поверхность...