Способ определения качества поверхности, например бумаги

/ИЕ ИЗОБРЕТЕНИРГСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ К АВ Подписная группа .У 172 ентьев и Я В, М н ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ, НАПРИМЕ УМАГИ, И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА делам изобрстени648011/28 в Комитетри Совете Министров С аявлено 21 декабря 1959 г. з и открытий)оиство для определ Способ определения качества поверхности, например буь путем освещения ее лучом света, направленным под углом к ней, и рени интенсивности луча, отражаемого этой поверхностью, известен.Известны устройства для определения качества поверхности, например бумаги, выполненные в виде осветителя, оптической системы для освещения направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направляющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором для измерепи интенсивности луча.По описываемому способу в отличие от известного для опр ения лоска и шероховатости исследуемой поверхности одновременно и ряют величину диффузной составляющей света в отражаемом луче,Устройство для осуществления описываемого способа отличается тем, что в нем применены ирисовая диафрагма и кольцевой фотоэлемент, установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы; устройство снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измеряющим шероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составляющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.На чертеже схематически изображено уст еппя качества поверхности, например бумаги.Лучи света от источника 1 собираются с помощ 1 ио двухлинзового конденсора 2 и проходят через ирисовую диафрагму 3, установленную в фокусе объект 11 ва 4, Выходящий из объектива 4 поток параллельных лучей света падает на неподвижный плп движущийся в плоскости 5 образец бумаги, ткани или иного материала, Вследствие альбедо материала (Отношение силы От 1 зажснного света к силс света, падающсгО на 1 с130700следуемую поверхность), отличного от единицы, и наличия некоторой шероховатости отражающей исследуемой поверхности, отраженный луч, по силе интенсивности несколько меньший луча падающего, разделяется на две составляющие: зеркальную и диффузную. Если бы отражающая поверхность была абсолютно гладкой, то весь отраженный свет состоял бы из одной зеркальной составляющей; поскольку же отражающая поверхность является более или менее шероховатой, часть отраженного света получает угол отражения, не равный углу падения, и при проходе через объектив б другой оптической системы не собирается в фокусе этого объектива, Зеркальная составляющая отраженного света регистрируется фотоэлементом 7; диффузная составляющая регистрируется фотоэлементом 8, имеющим в центре отверстие для пропуска зеркальной составляющей отраженного света,Световые потоки, падающие на оба фотоэлемента, замеряются гальванометрами 9 и 10. Ирисовая диафрагма 11, расположенная перед фотоэлементом 8, изменением своей апертуры дает возможность построения кривой рассеяния диффузной части отраженного света,Проводя исследование соотношения зеркальной и диффузной составляющих отраженного света и построив фотограммы рассеяния для эталонных сортов бумаги (или иных материалов), можно судить о качестве поверхности бумаги, Лоск поверхности бумаги определяется через ее альбсдо. За сто процентов принимается сила света, отраженного от зеркала с наружным серебрением, установленного в плоскости 5. Шероховатость поверхности бумаги определяется долей диффузной со. ставляющей в общем отраженном световом потоке и законом распределения рассеянного света, получаемым посредством фотограммы.Предмет изобр етени я1. Способ определения качества поверхности, например бумаги, заключающийся в том, что исследуемую поверхность освещают направленным под углом к ней лучом света и измеряют интенсивность луча, отражаемого этой поверхностью, отличающийся тем, что, с целью определения лоска и шероховатости этой поверхности, одновременно измеряют величину диффузной составляющей света в отражаемом луче исследуемой поверхности.2. Устройство для осуществления способа по п. 1, выполненное в виде осветителя, оптической системы для освещения направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направляющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором для измерения интенсивности луча, о тл и ч а ющ ее с я тем, что в нем применены ирисовая диафрагма и кольцевой фотоэлемент, установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы, и оно снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измеряющим шероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составляющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.