148912

Номер патента: 248249

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальной, оптический, поверхности, прямолинейности

...марки в отсчетный микро скоп, огличагогиггйся тем, что, с целью повышения точности измерения и предотвращения повреждения проверяемой поверхности, оптической системой последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверх- Оность, в промежуточное пространство и с двуПриоритетОпубликовано 10,И 1.1969 Известен оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афокальную оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и .оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.Особенностью предлагаемого оптического способа является то, что оптической системой...

Номер патента: 1589059

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Заболотский, Подобрянский, Путилин, Хлебников

МПК: G01B 21/22

Метки: базовых, излучателя, оптического, оси, основания, относительно, поверхностей, узла, юстировки

...диафрагму 11, координатно-чувствительной фотоприемник 12, блок 13 обработки, вход кото рого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 12, индикатор 14, вход которого подключен к выходам фотоприемного блока и блока 13 обработки.30Устройство работает следующим сбразом.На основание устанавливают платформу 4 с,закрепленными на ней диаф. - рагмой 5, зеркалом 8, ирисовой диафрагмой 9, фотоприемником 10, диафрагмой 11, координатно-чувствительным фотоприемником 12, блоком 13 обработки и индикатором 14, а на подставку 2 устанавливают оптический узел 3 в40 виде линз, призм, зеркал: с излучателем. Пучок лучей от излучателя направляют через диафрагму 5 на фотоприемный блок 10, от которого сигнал поступает на индикатор 14, который45...

Номер патента: 1643973

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Кисляков, Метелкин, Носов, Якимов, Янковский

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, оптических, поверхностей

...приобретает фазовый сдвиг, который определяется как конструктивными параметрами контролируемой оптической поверхности, так и величиной ее децентрировки. Отраженное излучение вновь проходит через объектив, который по частотному спектру восстанавливает изображение тест-объекта.Вышедшее из оптической системы излучение отражается от светоделителя 4 и формирует изображение тест-объекта в плоскости анализа фазового оптико-электронн а го и реаб разо вателя б. Если контролируемая поверхность центрирована, та ее оптическая ась совмещена с базо 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 вой осью и при вращении поверхности относительно базовой оси изображение тест- объекта в плоскости анализа остается неподвижным.При наличии децентрировки контролируемой...

Номер патента: 200227

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Клочкова, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...4 и б. Интерференцпонная картина, представляющая собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.Между объективом 3 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражаюгцие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигастся установкой призм на плоско- параллельную стеклянную пластину 11.Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины направлены параллельно плоскости, в котороп лежат отражающие грани призм Дове, а изображения полосы,...

Номер патента: 878530

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Витриченко, Евсеев, Прохоров, Трушин

МПК: B24B 37/00

Метки: оптических, поверхностей, формообразования

...некоторые технологические константы. Более подробно алгоритм расчета изложен ниже.Принцип работы ТУРУ представлен на фиг. 4. Обрабатываемое изделие 12 закрепляют на вращающейся планшайбе 17, малый инструмент 18 перемещается вдоль радиуса изделия 12 с переменной скоростью, что обеспечивает величину съема материала, независимую от расстояния, между осью вращения изделия и осью вращения инструмента. Кроме того, усилие прижима инструмента 18 к обрабатываемой поверхности изменяют при помощи силового устройства 19 по программе, которую задают на основании расчета технологического режима. Для определения относительных положений изделия и инструмента, а также величины рабочего усилия в процессе работы ТУРУ имеется система, датчиков обратной...