Интерференционный микропрофи л омет р
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 187320
Текст
Комитет по делам аобретений и открытий при Совете Министров СССР1.Х.1966. Ь)оллстснь л Дата опубликования описания Авторыизобретени, П. Линни аявитель ОПРОФИЛОМЕ ИОННЬ ИНТЕРФЕ Известны интерференционные микропрофилометры для контроля профиля поверхности в заданном сечении, выполненные в виде микропрофилоле 1 ра Линника, опчеса ссема которого Гроектруст изобра)кение узкой щели на контролируемую поверхность и на эталонную поверхность, представляющую собой двойное зеркало с двугранным прямым углом, и передаст через цилиндрическую линзу расширенное изображение щели в окуляр л)ик р;)интсрфсромстра. Однако эти приборы пе дают возможности контролировать внутренпис поверхности. Известные микропрофилометры 10. В, Коломийцова, решающие эту задачу, имеют сложную Оптическую схе), что зат 1)уд няет их изготовление.Предло)кенный микропрофилометр отличается от известных тем, что, имея несложную оптическую систему, позволяет контролировать профиль внутренних поверхностей. Это 2 достигается тем, что он снабжен наконечником с размещенной в нем призмой, сопряженной с объективом, проектирующим изображение щели на контролируемую поверхность,Иа черте)ке приведена принци(иальная схс )и 331 с)ва(л)ого )1)1)бо 1)3.1 м 310 чк 3 икл)13)анп 533 л 0)цн) копд(нсрн 33 линзы 2 осве)п)т узкую иель 1, 3)а)спл)кснну)0 в фокальн 013 пл:3(ст и бьсктива 1 ис 1)пендкулярно и плоскости 1)исунка. Выходящий из объектива параллельный пучок лучей )азделяетсл полупрозрачной поверхностью пластины 5 на два пучка, один изкоторых падает на обьектив 6, а другой ,после прохождения через компенсационную пластину 7) - на об.ьектив 8. Обьск)п)3 6 вмссте с призмой 9 вводится внутрь контролируемой детали 10 и проектирует на сс поверхность изоора)кение щели ). Оъсктив ( дастизображение щели вблизи р(бр прзмы 1,работнощей как двугранно( зеркало. Призманеобходима для того, чтобы тражшпый пучоклучей после обратиго пр(хо)кдп 351:Срс:3объектив В шел под небольшим угло) к своспе)1)она)ал).нол)л НГ)п)ав,)ени)0, чт поз)30 Л 5 ет полечить 1)нте(1)ср(чп;31 ннс 1 ,3 с тр(.буеми) ширины,Г 1 учки лучей, отраженные от граней призмы 1 и от контролируемой поверхности 10,вновь соединяются пластиной 5 и попадают взрительную трубу, состоящую из бъ ктпва12 ОН 1 Л 511)а 13 и Б 11 клоча 10 цес 51 ц)3 лпп )ричскоп линзы 14. П 1)п в)кл)01)енп:1 линзе 11полс зрсн)351 Окуляр видн 11;(в)1 изЙ 1жснищели 3, которые гри включении линзы рас)пи 115310 тся 1 п 1)51)10 угол)ники и никла:1,ваютс 5187320 Сост витсль Л. А, Калгобакинаекред Т. П. Курилко Корректоры: Л. Е,и С. Н. ариси колов едактор Н. Коган Заказ 3363 у 6 Тираж 2725 Формат буки 60 К 90/а Обьсгк 0,16 изд. л. ПодписноеЦ 111 И 1 И Комизста по делам изобретений и открытий при Совстс Министров ССС 1 оМосква, Цеигр, пр. Серова, д. 4 ипография, пр. Сапунова,интерференционные полосы имеют одинако. вую ширину независимо от радиуса кривизны контролируемой поверхности, причем ширину полос можно регулировать перемещением зеркала 11 или объектива 4 перпендикулярно к оптической оси. Методика измерения высоты неровностей на поверхности не отличается от известной методики, используемой при работе с микроинтерферометрами,Предмет изобретенияИнтерференционный микропрофилометр для контроля профиля поверхности в заданном ее сечении, выполненный в виде микропрофилометра Линника с оптической системой, проектируошей изображение узкой щели на контролируемую поверхность и на эталонную поверхность, представляющую собой двугранное зеркало, и передающей через цилиндрическую линзу расширенное изображение щели в окуляр микроинтерферометра, отличающийся тем, что, с целью контроля профиля внутренних поверхностей, он снабжен наконечником с размещенной в нем призмой, сопряженной с объективом, проектирующим изображение щели на контролируемую поверхность.
СмотретьЗаявка
1025542
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/02
Метки: интерференционный, микропрофи, омет
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-187320-interferencionnyjj-mikroprofi-l-omet-r.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерференционный микропрофи л омет р</a>
Способ определения среднего радиуса кривизны поверхности крупногабаритного плоского зеркала
Номер патента: 1359664
Опубликовано: 15.12.1987
МПК: G01B 9/02
Метки: зеркала, кривизны, крупногабаритного, плоского, поверхности, радиуса, среднего
...зеркала 2. Регистрируют рического зеркалаф иа фиг, 2 - схема З 0 на фотопленку интерференционную карполучения интерферограммы при паде- тину, измеряют астигматизм волнового нии по нормали к контролируемому фронта и определяют радиускривизны плоскому зеркалу параллельного пучка контролируемого плоского зеркала получей. формулергсоз 1 81 пг 1В, цсоз 1 соз 1+1з г2% дИ -ЬНг 81 пг( соя 1+сОБсОБ ( соя 1+81 п цгде К 40 50- радиус кривизны контролируемого плоского зеркала; - световой диаметр контролируемого плоского зеркала - длина волны светового излучения- размах астигматической ошибки в деформации волного фронта в схеме при наклонном падении на контролируемую поверхность расходящегося светового пучка, выходящего изцентра кривизны...
Способ изготовления копии изображения на плоской поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 2004919
Опубликовано: 15.12.1993
Автор: Алексеев
МПК: G03F 7/23
Метки: изображения, копии, плоской, поверхности
...быть электронного, электромеханического или чисто механического типов,Но толщины наносимыхна поверхность красочных пленок будут воспроизводить оптические плотности оригинала правильно лишь в том случае, когда краситель остается на поверхности, образуя стабильную ровную пленку. 8 действительности, в связи с тем, что при распылении образуются капли различных размеров. оседающие на поверхность, не всегда создаются условия для стабильного пленкообразования. Чаще, особенно на участках с низкими оптическими плотностями, осевшие на поверхность капли образуют множество красочных точек различных размеров, Результирующая оптическая плотность участков будет отличаться от теоретической. Кроме того, различные поверхности могут впитывать часть...
Способ сравнения радиусов кривизны оптических поверхностей с помощью интерферометра
Номер патента: 1747895
Опубликовано: 15.07.1992
Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов
МПК: G01B 21/00
Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения
...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...
Трафарет для систем оптической обработки информации
Номер патента: 318978
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Васильков
МПК: G09G 3/02
Метки: информации, оптической, систем, трафарет
...некотором расстоянии установлена маска 4 с прозрачными символами 8, расположенными напротив сферических лунок экрана.Диаметр светового пучка в плоскости маски всегда должен соответствовать размеру символов, т, е. символы должны вписываться в круговое сечение светового потока, а размеры самих символов - больше минимального сечения отверстия в экране.Передняя поверхность маски выполнена отражающей. Число фокусирующих ячеек на экране (фиг, 2) должно быть равно числу символов на маске. Экран и маска могут быть жестко соединены между собой, а могут быть установлены и с возможностью регулировки относительно друг друга.фПри использовании такого трафарета в устройстве оптической обработки информации последнее работает следующим образом.Конусный...
Зеркально-линзовый объектив
Номер патента: 1652954
Опубликовано: 30.05.1991
Авторы: Комарова, Пашков, Порфирьев, Соломатов, Тимофеев
МПК: G02B 17/08
Метки: зеркально-линзовый, объектив
...на приемник типа ПЗС и ПЗИ. Очевидно, что при всех прочих равных условиях точность измерений в такой системе будет тем выше, чем меньше изменений претерпевает фигура рассеяния, построенная объективом, при смещении от оптической оси по полю зрения к его краю. Следствием этого является необходимость стабилизации заданных исходных данных геометрических размеров пятка рассеяния. Поставленное условие надежной работы системы выполнено, если синтез оптической схемы позволяет так сбалансировать аберрационные составляющие осевых и широких наклонных пучков лучей, чтобы полихроматическая картина фигуры рассеяния в плоскости установки приемниВ предлагаемом объективе силовыми компонентами являются; линза Манжена и вторичное сферическое...
Предыдущий патент: Прибор для вычерчивания коробовой линииэллипсов
Следующий патент: Ультразвуковой импульсный контактный толщиномер
Случайный патент: Киносъемочный аппарат