ZIP архив

Текст

Класс 6 02 п; 42 Ь, 34156715 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.1.,.(т. т у Подписная груп(т ЛБ 170 В. П. Бардин, А, Н. Хомяков и И. А. Заболотский ПЕРЕНОСНЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТИЗаявлено 7 шоня 1962 г. за 7 Сз 781733 26.О в Комитет ио лелам изобретсни и открыти 11 при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений и товарных знаков Хв 6 за 1963 г. Предмет изобретенияПереносный интерферометр для контроля плоскостей, работающий по принципу пробного стекла, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью При контроле плоскости путем прямого положения пробного стекла на исследуемую поверхность на эталоне и проверяемой детали появляются царапины,Предлагаемый переносный интерферометр отличается от известных тем, что он исключает опасность появления царапин при наложении эталона на контролируемую деталь, позволяет вести контроль непосредственно на шпинделе оптического станка и дает повышенную контрастность интерференционной картины.Это достигается тем, что между эталоном и контролируемой деталью помещены прокладки, наклеенные на эталон, и для освещения применен монохроматический источник света.На чертежике изобразкена оптическая схема интерферометра, которая содержит монохроматический источник света 1, матовое стекло 2, пластинку-отражатель 3 и эталон 4.В качестве эталона взято рабочее стекло заданного диаметра, рабочая поверхность которого обработана с точностью до 1 интерференционной полосы (в линейной мере не более 0,03 лк). На поверхности эталона приклеены три пластинки 5 заданной толщины (около 5 лк).Производственные испытания интерферометра показали, что он удобен в работе и дает четкую, контрастную интерференционную картину.156715 Редактор Г. С. Милюкова Техред А. А. Камышникова Корректор Я. И. Эльмус дп. к печ. ОЪ 111.63 г. Формат бум. 70каз 2080/5 Тираж 650ЦНИИПИ Государственного комитета по делахМосква, Цент 1), пр. Серо 081/ю Объем 0,18 изд. л. Цена 4 коп. и открытии СССРнзобретениа, д. 4,пография, пр. Сапунова,предохранения от повреждения эталонной и исследуемой поверхностей и повышения контрастности интерференционной картины при осуществлении контроля непосредственно на шпинделе оптического станка; менсду эталоном и контролируемой деталью помешены прокладки, наклеенные на эталон, а для освещения применен монохроматический,источник света.

Смотреть

Заявка

781733

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 156715

Опубликовано: 01.01.1963

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-156715-156715.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">156715</a>

Похожие патенты