Патенты с меткой «муаровых»

Номер патента: 189605

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Карташёв, Кучин

МПК: G01B 11/30

Метки: высот, искривлению, муаровых, наблюдения, неровностей, поверхности, полос

...б подобрано таким образом, чтобы в плоскости растра 7 5 шаги обоих растров были одинаковы. Растр 7можно разворачивать в плоскости, перпендикулярной оптической осц на угол в , 5, что позволяет менять количество муаровых полос в поле зрения микроскопа от 1 до 15.10 Муаровые полосы, локализованные в плоскости растра 7, перепроектцруются системой 8 переноса изображения в плоскость сетки окулярного микрометра 9.Для измерения высот неровностей от 40 15 до 0,1 лкл в приборе предусмотрено две парысменных растров с расстояниями между штрихами в плоскости предмета соответственно 20 и 4 ккм. 20 Прц исследовании поверхностей с ленным расположением неровцосте скопе предусмотрена возможность ния длины штрихов растра 3 с те поверхность...

Номер патента: 297861

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аллахвердов, Донской, Никитин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, картине, муаровых, полос

...деформируемая вместе с изделием при нагружении. В ре зультате наложения деформированной и недеформированной (эталонной) сеток друг на друга образуется картина муаровых полос, по которой можно получить все компоненты деформации. 15Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций по картине муаровых полос.Это достигается тем, что определяют отношение скоростей взаимного перемещения де формированной и эталонной сеток к скорости перемещения муаровой полосы и по величине этого отношения судят о величине деформации.Согласно способу на эталонную сетку с ша гом Х, накладывается деформированная сетка с шагом Хд или ее копия. Деформированная сетка Рд о ки в после поло сдвигается сносительно ненаправлении,дней. Скоростьпри этом, о...

Номер патента: 684300

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Резников, Сегаль

МПК: G01B 11/16

Метки: муаровых, полос

...на поверхность изделия наносят растр, деформируют изделие и получают картину муаровых полос путем сравнения с эталонным растром, накладываемым на поверхность изделия 12.Недостатком известного способа является невысокое качество картины муаровых полос из-за невысокой точности совмещения растров. Целью изобретения является повышение качества картины муаровых полос.Указанная цель достигается тем, что эталонный растр наносят на поверхность изделия.Способ осуществляется следующим образом. На поверхность исследуемого изделия механически или фотоспособом наносят растр, деформируют изделие, наносят на поверхность изделия эталонный растр и получают картину муаровых полос. Точное совмещение растров путем использования одной и той же системы...

Номер патента: 1716323

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Колмогоров, Конников, Макарова, Скиба, Ширинкин

МПК: G01B 21/00

Метки: картины, муаровых, полос, фиксирования

...возможных значений шага сетки растра на телевизионном экране зависит от размера экрана, разрешающейспособности телевизионного экрана. Растрсетки на экране телевизионной камеры удобен для случая, когда объект подвергается растяжению, В случаях же сжатия используют шаг сетки растра, наносимый на поверхность объекта заведомо меньшей величины,чем шаг сетки растра на телеэкране, или, как ранее указывалось, перемещают объектив камеры, удаляя его от объекта,На поверхность исследуемого объектананосятсетку растра любым иа известных способов, Затем сетку растра на поверхности объекта проектируют через обьектив на видикон приемной телевизионной камеры. которая взаимодействует с растром видикона, образуя картину муаровых полос на экране,...

Номер патента: 1737263

Опубликовано: 30.05.1992

Автор: Ломаш

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, муаровых, объекта, определении, полос

...деформаций объекта, заключающемся в том, что на поверхность исследуемого деформируемого объекта наносят растр, освещают растр, экспонируют отраженным светом фотоматериал и регистрируют картину муаровых полос, объект экранируют от посторонней засветки, освещение производят стробоскопическим источником света, а экспонирование осуществляют с момента начала, деформи-.рования объекта до окончания деформирования.Предлагаемый способ получевых полос при определении деобъекта реализуется следующимЗаказ 1883 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 На поверхность исследуемого...