Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности

Номер патента: 115098

Автор: Коломийцов

ZIP архив

Текст

115098 БЛаГОГьаря Пр 1.МС 11 Е:1 ИЮ раЗдеднтЕЛЬНОЙ трал/1 ЕцсндаЛЬНОй ПРИЗМЫ и телескопической системы с наклонными плоскими зеркалами достигается высокая точность измерения глубины узких следов обработки. Предмет изобретения/ Ь7 Комитет но делам нзооретенп 11 н открытп 11 н 1 и Сонете Министров СССР Репактоп Л. П. Ситников Подп. к печ. 2411 П 1 9 г.тираж 1675, Цена 25 коп,Иа/формаинонпо-издательский отдел,О /ь;Г 17, л. Зак. З 1/. Гор. Алатырь типография М 2 Ыпппстерстаа культуры Чупашской АССР,Микропрофилометр для оценки и йсследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюдения в поле зрения окуляра интерференционных полос, отличающийся тем, что, с целью повыгдепия точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной разделительной трапецеидальной призмой и телескопической системой с наклонными плос 1 еими зеркалами,

Смотреть

Заявка

576456, 25.10.1954

Коломийцов Ю. В

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: исследования, микропрофилометр, оценки, поверхности, чистоты

Опубликовано: 01.01.1958

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-115098-mikroprofilometr-dlya-ocenki-i-issledovaniya-chistoty-obrabotki-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности</a>

Похожие патенты