Патенты с меткой «микропрофилометр»

Номер патента: 115098

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: исследования, микропрофилометр, оценки, поверхности, чистоты

...системы с наклонными плоскими зеркалами достигается высокая точность измерения глубины узких следов обработки. Предмет изобретения/ Ь7 Комитет но делам нзооретенп 11 н открытп 11 н 1 и Сонете Министров СССР Репактоп Л. П. Ситников Подп. к печ. 2411 П 1 9 г.тираж 1675, Цена 25 коп,Иа/формаинонпо-издательский отдел,О /ь;Г 17, л. Зак. З 1/. Гор. Алатырь типография М 2 Ыпппстерстаа культуры Чупашской АССР,Микропрофилометр для оценки и йсследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюдения в поле зрения окуляра интерференционных полос, отличающийся тем, что, с целью повыгдепия точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной...

Номер патента: 137691

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Захарьевский

МПК: G01B 15/04, G01B 9/02

Метки: микропрофилометр

...Оптит ческая ось второго клина перпендикулярна к щели. Для световых колебаний, направленных параллельно или перпендикулярно к щели, такая призма эквивалентна стеклянному отклоняющему клину, Осевой луч, пройдя сквозь призму 5, несколько отклонится от своего направления, оставаясь в плоскости чертежа.Между призмой 5 и объективом 4 установлена пластинка 6 четверть волны, оси которой составляют с осями клиньев призмы 5 углы в 45, При прямом и обратном (после отражения от зеркала 7) прохождении лучей пластинка 6 эквивалентна пластинке пол-волны. Поэтому световые колебания лучей, вступающих в призму 5 на обратном пути (после отражения от зеркала 7), происходят в направлении, пер137691 ИЕНДИКУЛЯРНОМ С НЯИ 1)аВЛС.НИК) КОЛСОаИИЙ, ВЫШЕДШИХ ИЗ...