Интерференционный способ определения

Номер патента: 196359

Авторы: Кулантис, Мацюл

ZIP архив

Текст

ОПЙСАЙЙЕ ВЙЗОБРЕТЕЙ ЙЯ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельства1060951/26кцЗаявлсцо 22,1,1966 рцсоедицецием з МПК 6 01 ЬУ 3,К 621.9.015,08(088.8) ПрцорцтетОпубликовано Комитвт по деламизобретений и открыт Х.1967. Бюллетень11 ри Совете Министре СССР. В. Кулайтис и Д. А, М" цюлявичу филиал Кауцасского политехнического институт ител ИНТЕРФЕРЕНЦИОИНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЯ ЧИСТОТЫ (БЕРОХОВАТОСТИ) Г 1 ОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛЕЙ В ПРОЦЕССЕ ТОНКОЙ ОБРАБОТКдмет изобретения Известен интерференционный способ определения измерения чистоты (шероховатости) поверхности деталей в процессе тонкой обработки, состоящей в том, что по изображению интерференционной картины судят о чистоте (шероховатости) поверхности.Такой способ определения чистоты (шероховатости) поверхности детали позволяет контролировать чистоту поверхности только в статистическом состоянии,Предлагаемый способ отличается от известного тем, что с исследуемой поверхности детали сдувают охлаждающую жидкость, например, струей воздуха и сротограрируют последовательно ицтерферецциоццую картину исследуемой поверхности, по которой судят об изменении чистоты (шероховагости) поверхности детали.Зто позволяет повысить точность определения параметров, характеризующих чистоту поверхности (шероховатости) непосредственно в процессе тонкой обработки детали прц использовании охлаждающей жидкости.На чертеже изображена схема измерительного комплекса, поясняющая предлагаемый способ.В процессе тонкой обработки без снятия детали со станка применяется измерительный комплекс, который включает шлифовальцый круг 1 ца круглошлифовальном станке, сопло 2 воздушной заслонки, исследуемую деталь 3, закрепленную в центрах 4, диск - световую заслонку 5, лампочку 6 накаливания, кронштейн 7 крепления, фотоэлемент 8, провода 9 - 12, исто и;цк питания импульсной лампыстроботроца 13, устройство 14 синхронизации, кинокамеру 15 с электрическим приводом, ицтерферометр 16 для исследования подвпжцых поверхностей деталей в процессе обработки ц 10 поводковое устройство 17 для вращения детали.При осуществлении способа цнтерферометр 16 для исследования подвцжцых поверхностей деталей в процессе обработки закрец ляется против шлифуемой детали 3. Струейвоздуха очищают деталь от охлаждающей жидкости, которая цеооходпма п 1)и Об 1 эаботкс детали шлифованием, применяя с этой целью воздушную заслонку, рабочий конец которой 20 подведен к зоцс шлифования. Затем фотографируют последов ательцо иптерфсрсцциоццую картину цсслсдуемоц поверхности, по котороц судят об изменении чпстоты (шероховатости) поверхности детали. Интерферецццоццыц способ определешгя изменения чистоты (шероховатости) поверхцо стц деталсц в процессе топкой обработки, от лссчаюи 4 ийся тем, что, с целью повышения точности определения параметров, характеризующих чистоту поверхности (шероховатость) непосредственно в процессе тонкой обработки деталей, при использовании охлаждающей жидкости, с исследуемой поверхности детали сдувают охлаждающую жидкость, например, струей воздуха и фотографируют последовательно интерференционную картину исследуемой поверхности, по которой судят об измене пии чистоты (шероховатости) поверхности детали,;акая 2147/4 Тираж 535 Подписног 101 ИИПИ Комитета ио лелям изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Цсптр, ир. Серова, р. 4 Типографии, пр. Сапунова,

Смотреть

Заявка

1050951

В. Кулантис, Д. А. Мацюл вичус Вильнюсский филиал Каунасского политехнического института

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G03B 15/00

Метки: интерференционный

Опубликовано: 01.01.1967

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-196359-interferencionnyjj-sposob-opredeleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерференционный способ определения</a>

Похожие патенты