Патенты с меткой «схем»

Номер патента: 1596422

Опубликовано: 30.09.1990

Автор: Белявский

МПК: H02H 3/08, H02H 7/20

Метки: замыкания, защиты, короткого, перегрузки, схем, токов, электронных

...выводом, одним выводом подключенный к коллектору проходного транзистора 1, другим- к базе проходноготранзистора 1, и коллектору первого блокирующего транзистора б, база и эмиттер которого подключены соответственно к 20одному и другому выводам датчика тока 3,управляющий транзистор 7, эмиттером подключенный к одному выводу токозадающего резистора 5, базой к его среднемувыводу, а коллектором через резистор 8 к 25базе второго блокирующего транзистора 9,коллектор и эмиттер которого подключенысоответственно к коллектору и эмиттерупервого блокирующего транзистора б.Устройство работает следующим образом. 30В случае превышения током нагрузки допустимой величины, увеличивается ток базы. первого блокирующего транзистора 6, Последний...

Номер патента: 1599876

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Коновалов, Красников, Красникова, Ольшанский, Патлай

МПК: G06F 17/50

Метки: линий, параметров, связи, схем, цифровых

...2 ор ) 1 р2 ор л лллд 1.р /1.м э яя 2 риз р Сзмэ - ф эс 11599876 ф; - Ткнув 6 з.м Сомп + 2 п 1 р 1. ,Сом и 1 С, Еф + где 1 р, 1.м - длина выбранной линиисвязи в реальной схемегенератор слов комплекса "Элек роника НЦ-ВОЗ", а на входы синхро модели - сигналы синхронизатотой Г (см. Ьормулу (1,Частоту синхронизации мод уровни и длительности помехют из максимального значения ния длины линии связи в модне соответствующей линии связи в реальном объекте (и), а также по соотношениям электрических параметров линий связи, приемников и передатчиков по следующим эависимрстям.КозААициенты подобия рассчитывают ся по общей формуле т низации ции с час и модел ели Г,определя- отношеели к длиор омР омю Гору форф ю Сом вме р ю Гсов ности, емкости...

Номер патента: 928953

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Кудина, Лосев, Москалевский, Ярандин

МПК: H01L 21/8232

Метки: мдп-интегральных, схем

...силу нестабильного стехиометриеского состава такая пленка практически не удаляется кислотами илисмесями на основе НЮ, НБО, НС 1,ОН, Н ОУдаление пленки кипячением в НРО,Г(по аналогии с удалением ЯзГ 1,Г)также 25вляется невоспроизводимым, а кромегого, она взаимодействует с оголенным кремнием в активных областях ИС,что повышает фиксированный заряд идефектность в выращенном впоследствиина активных областях подзатворномокисле. Наличие кислорода в образовавшейся тонкой пленке на кремнии позволяет стравливать ее в составах,содержащих фтористоводородную кисло 35ту, В этом случаеподтравливается всяповерхность окисного слоя и происходит последовательный отрыв образовавшейся пленки от окисного "клюва и ее полное удаление, причем...

Номер патента: 1614001

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Алексеев, Рюмин

МПК: G05B 23/02

Метки: диагностирования, релейно-контактных, схем

...11памяти. Поэтому следующий импульс насинхровходе счетчика 14 приведет кпереводу состояния цОц с (и+1)-го на(и+2)-й выход дешифратора 15, соединенный через элемент НЕ 17 с пер"вым входом элемента И 22 ца втором .входе которого в данный момент такжесостояние "1", Выход элемента И 22соединен с первым входом элементаИЛИ 20, выход которого соединен свходами сброса элементов 1 и 14 ивходом записи элемента 12, В результате этого элементы 1, 12, 14 примут исходное состояние, Лналогкчнопроисходит работа и в следующих тактах, если цет сбоя в проверяемой схеме.Описанные выше опер ации поз воляютобеспечить защиту устройства от помех, а также заданную выдержку фиксирования соответствия работы схемы спрограммой, записанной в узле 2, необходимую...

Номер патента: 1431505

Опубликовано: 30.12.1990

Авторы: Львов, Попель, Шаромет

МПК: G01R 31/28, G01R 31/3177

Метки: схем, электронных

...датчцкд 2 токд.В зависимости от логического сигналя, иоддндемого на вход управления режимом, устройство может работать н дпух режимах: задание входного уровня идиряжсция и контроляуровня входного тока (контроль входа) и задания тока нагрузки и контроля выходного напряжения (контрольныхода ),В первом случае нд входы иреобразовдтелей 15 и 6 уровня через перекпючдтепц 10 и 1 проходят выход-,ные сигналы операционных усилителзй8 и 9, гд . оци приводятся к нормализондш ым логическим сигналам, которые иереддктся далее цд нходы логи-. ческого блока 23, где логическое состояние ца клемме 3 сравнивается с ожидаемым, задаваемым на третий вход логического блока 23 и выводится далее на выход устройства как результат контроляСигнал управления режимом...

Номер патента: 1620895

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Акимов, Афанасенко, Лифлянд, Свириденко

МПК: G01N 3/08

Метки: выводами, интегральных, ленточными, перемычек, прочности, схем

...интегральной схемы 2 с ленточными выводами 3 перемычек Г-образной формы и подложкой 4, нагружающий крюк 5 с датчиками Ь горизонтальной, параллельной основанию 1"и подложке 4 составляющей Р усилия Р и датчиками 7 вертикальной, нормальной к основанию 1 и подложке 4 составляющей Р усилия Р, механизм вертикального и горизонтального перемещения крюка 5,и поворота его, а также механизм перемещения подложки (не показаны) .Способ осуществляется следующим образом.Устанавливают на основание 1 подложку 4 с ленточными выводами 3 Г-образных перемычек интегральной схемы 2, связанными с ними припоями 8 и 9. Затем опускают крюк 5 до касания им подложки 4, поднимают его на высоту, меньшую высоты стойки 8 вывода 3 перемычки, и перемещаютв пространство...

Номер патента: 1621818

Опубликовано: 15.01.1991

Автор: Йозеф

МПК: H01M 10/54

Метки: батарей, печатных, плат, радиодеталями, схем, утилизации, электрических, электронных, элементами

...металлов, ионы которых находятся в растворе. В результате баланс по кис-. лоте не нарушается.Металлы, которые вследствие своих электрохимических свойств не осаждаются в кислой среде (к таким металлам относятся, например, алюминий, калий, литий и натрий), могут после качала кристаллизации вследствие высокой концентрации Фторборатов отделяться путем осаждения натрия, калия и лития на амальгамном катоде. Осаждающиеся на амальгамном катоде металлы могут быть легко отделены.Со временем в электролите накапливаются другие примеси, например различные Аторбораты и микроэлементы; Электролит в этом случае может быть очищен от них путем перегонки, которая для предупреждения термического разложения борАтористоводородной кис-. лоты проводится...

Номер патента: 1622857

Опубликовано: 23.01.1991

Авторы: Иванов, Койфман, Яковлев

МПК: G01R 31/28

Метки: схем, электронных

...триггеры16 и 17 в единичные состояния, которые определяют соответственно интервал обработки контролируемых последовательностей и интервал Формированияконтрольного кодаЕдиничное состояние триггера 16открывает элементы И 5,15.п,Приход следующего сигнала на вход 2переключает триггер 16 в "0", так какна выходе элемента 15 в этот моментвысокий уровень. Триггер 17 остается в единичном состоянии, так как навыходе элемента 14 низкий потенциал,блокир гюго элемент 12, Нулевой потенциал с выхода триггера 16 блоки.рует элементы И 5, закрывая "окно измерений , однако процесс формированияконтрольного кода на этом не заканчивается, Нулевой потенциал на выходетриггера 16 при единичном состояниитриггера 17 вызывает появление на вьгходе...

Номер патента: 1624368

Опубликовано: 30.01.1991

Авторы: Афонин, Ашмаров, Коробков

МПК: G01R 31/28

Метки: кмоп-логических, схем

...с 8+2-м разрядом ЗУ. Если в 8+2-м разряде присутствует "0", то контроль контактирования не происходит и "1" с выхода блока сравнения через элемент ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 7 проходит на первый вход блока 8 индикации, В 8+1-ой ячейке ЗУ находится информация о конце теста, Если тест не окончен, та на выходе блока 8 индикации отсутствует сигнал запрещения работы генератора 1 и тест продолжается. Если в И+1-й ячейке ЗУ содержится информация о конце теста, та блок индикации выдает сигнал запрещения работы генератора и индицирует сигнал "Годен". Если в И+2-й ячейке ЗУ присутствует "1", то это означает наличие контроля контактирования с испытуемой схемой. В этом случае в ячейку ЗУ, соответствующую одному из выходов испытуемой30 Формула...

Номер патента: 1624370

Опубликовано: 30.01.1991

Автор: Ефремов

МПК: G01R 31/28

Метки: больших, интегральных, схем, функционального

...заносится соответствующая информация. Разрешена работа элементов И 28, 31 блока 18 управления синхроимпульсами, и синхроимпульсы поступают на выход блока 18 независимо от результата контроля.Первый режим обеспечивает запись информации в блок 12 памяти ошибок при каждом такте функционального контроля. Задание режима осуществляется занесением соответствующей информации в регистр 17 рода работ, Основная особенность данного режима - формирование синхроимпульсов в блоке 18 на каждый импульс, поступающий от формирователя 5 временной задержки через элемент 22 задержки, В результате осуществляется запись в блок 12 памяти ошибок совокупной информации о поступающей на объект контроля информации с указанием координаты (номера цикла). При...

Номер патента: 1626223

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Новиков, Окатьев

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, потребления, схем

...усилителя 1, а их общая шина питания соединена с обшей шиной питания печатной платы 3, выход преобразователя 11 напряжение - гок соединен со средней клеммой 6, второй вывод источника 2 питания подключен к шине 8 питания печатной платы 3 и соединенные параллельно по цепи питания элементы 12 и 13,Устройство рабоТает для контроля тока потребления интегральных схем следующим образом,При включении источника 2 питания по шине 8 питания печатной платы 3 протекают токи потребления контролируемой микросхемы 4 и параллельно соединенных по питанию элементов 12 и 13, Клеммы 5 - 7 устанавливаются на шину 8 питания таким образом, чтобы средняя клемма б была соединена с выводом питания контролируемой микросхемы 4, Крайние клеммы 5 и 7...

Номер патента: 1626467

Опубликовано: 07.02.1991

Авторы: Баскенов, Никифоров, Пухкало, Феклистов, Шестаков

МПК: H05K 1/11

Метки: интегральных, контактирования, микроскопе, растровом, схем, электронном

...и блоком зондов.Устройство для контактирования интегральных схем содержит столик 1 и зондодержатель 2 с иглами 3, Зондодержатель 2 связан с электромагнитом 4 посредством толкателя 5 и имеет центральное подвижное кольцо 6, Между зондодержателем 2 и блоком зондов 6 установлено биморфное пьезокерамическое кольцо 7, являющееся составной частью поджимающего узла 8, В состав узла 8 входит также болт 9 и пружина 10,Устройство работает следующим образом,Исследуемая интегральная схема помещается на столик 1, размещенный в вакуумном объеме, Включается электронный луч, и с помощью электромагнита 4 опускается эондодержатель 2 до максимального сближения (но не контакта) игл с интегральной схемой. На пьезокерамические биморфные кольца 7 подаются...

Номер патента: 1628236

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Кабзималян, Кочарян, Нерсесян, Петросян, Элбакян

МПК: H05K 1/11

Метки: больших, интегральных, подключения, соединитель, схем

...8-образных пружинных элементов 4зафиксированы в пазах изолирующей накладки 3, которая жестко прикреплена ккрышке-радиатору 5, и крепятся к корпусустойками с ограничительными буртиками 9,не допускающими выхода вертикальной части Я-образных пружинных элементов 4 из отверстий изолирующей накладки 2, т.е, не допуская рассыпания соединителя. Стойки с ограничительными буртиками 9 одновременно являются технологическими для среза и доводки вертикальной части Б-образных пружинных элементов 4 в оазмер, определяемый ходом соединителя для подключения БИС к ПП с помощью технологических шайб (см.фиг.4).Расположение, конструкция и фиксация Б-образных пружинных элементов 4 исключает возможность их соприкосновения друг с другом или радиатором 1, повышая...

Номер патента: 1640660

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Воинов, Кураченко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, кмоп, надежности, отбраковки, схем, уровням

...у и нижней границе ее изменения РуИзвестно, что при проведении испытаний по биноминальной схеме при отсутствии отказов в процессе испытанийРу=(1 -у)" (3) где и - минимальное количество испытаний.Для определения количества минимально необходимых испытаний положим РуРтр,При этом условии соотношение (3) принимает видР,р (1 -у)(4)Логарифмируя неравенство (4), получим(5)Ограничиваясь минимальным значением и, получимп и (6)откуда и следует формула изобретения, На чертеже показана схема реализации способа.На схеме обозначены источник 1 питания, переменный резистор 2 нагрузки, испытуемая микросхема 3, блок 4 функционально-параметрического контроля, например стенд контроля интегральных схем "Повод".Напряжение питания с источника 1 подается на...

Номер патента: 1646645

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Кочетов, Махаев

МПК: B21D 28/14, B21D 43/00

Метки: вырубки, интегральных, спутники, схем, укладки, штамп

...фиксируемый относительно матрицы 2 ловителем 17, закрепленным на неподвижной плите 13. Позицией 18 обозначен технологический облой, остающийся после вырубки ИС.Штамп работает следующим образом.Рамка с невырубленной ИС 15 подается на матрицу 2 карусельным механизмом 16. Одновременно по каналу 3 для подачи спутников 4 под матрицу 2 подается пустой спутник 4. После этого включают привод 6 штампа, под действием которого подвижная плита 7 с пуансоном 1 переносится вниз, при этом карусельный механизм 16 фиксируется на ловителе 17. Одновременно с этим фиксатор 5 движется навстречу пуансону 1, Зажимные губки 11 и 12 входят в окно спутника 4 и осуществляют его точную ориентацию относительно вырубаемой ИС 15,При дальнейшем перемещении фиксатора...

Номер патента: 1647478

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Августимов, Биднык, Ильюк, Казинов, Матюшин, Остапчук, Пенцак, Саваневский

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, испытания, стабильности, схем

...типичные зависимости пробивного напряжения сток-истоковых областей в первоначальный момент (а) и в конце выдержки (б),Режим задания стабильного тока с устанавливается больше ко, где ко - канальный ток при температуре выдержки между стоком и истоком (фиг,З), В случае, если задаваемый стабильный ток будет менее Ьо, МДП-структура будет выдерживаться при низкой напряженности поля, связанной с приложением к сток-истоковым электродам напряжения менее О (фиг,З), что затруднит активацию зарядовых состояний,Учитывая, что в процессе выдержки канальный ток может возрастать, уровень стабильного задаваемого тока устанавливают больше канального тока при температуре выдержки, но меньше тока начала тепло 5 10 15 20 9 25 ЗО 35 40 45 50 вого...

Номер патента: 1647569

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Аленин, Савкина, Яковлев

МПК: G06F 11/00

Метки: больших, интегральных, схем

...в ноль, При этом сигнал с инверсного выхода О-тригтера 21 разрешает работу генератора 9 тактов, В остальные разрядц регистра ,0 записываются нули, Временная диаграмма для этого случая представлена на Фиг, 3. Выход гене. ратора 9 подается на счетчик 12 адреса. Установленное нулевое значение упомянутого разряда регистра 10 режимных сигналов поступает на вход мультиплексора 17 адреса и разрешает прохождение теперь через него выходов счетчика 12 адреса на выходы 49 блока 1 и далее на адресные входы блока 29 памяти откликов, блока 32 памяти воздействий и блока 33 памяти состояний входов-выходов. При этом в каждом иэ блоков памяти разрешены к обращению все разряды, причем блок 32 памяти воздействий и блох 33 памяти состояний входов- выходов...

Номер патента: 1647654

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Белоусов, Лагутин, Потапенко, Рубанов

МПК: G11C 29/00

Метки: памяти, постоянной, программирования, схем

...обеспечение получается простое, так как для отработки цикла программирования необходимо только подать сигнал запуска, далее устройство все отрабатывает автономно. Такое программное обеспечение берет на себя функции формирования адресов, контроля записанной информации и не требует изменения при появлении новых типов ПЗУ. Количество формирователей 21 равно четырем, так как в общем случае схемы памяти различаются числом адресных входов, входов данных, напряжений питания и выбора кристалла или входа для импульса программирования. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Таким образом, структура устройства получается с весьма высоким уровнем регулярности, что особенно важно в условиях массового производства, Блок 8 может быть выполнен в...

Номер патента: 1649474

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Бровко, Дмитриев, Жук, Зайченко, Киселев, Разлом, Смирнов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, параметров, схем

...точности выделения малыхприращений напряжения, необходимо учитывать даже малое изменение напряженияна конденсаторе 34 эа счет его самораэрядаи разряда через высокоомный вход усилителя 31, Для компенсации саморазряда и разряда конденсатора 34 использована схема,в которой медленно заряжается конденсатор 35, причем скорость разряда выбираетсярезистором 38 такой, чтобы компенсироватьуказанные рязряды.В момент времени тз на вход 52 преобразователя поступает напряжение Овых+ Ь Ос выхода контролируемого ИСН в ответ надестабилизирующее входное воздействие.Таким образом на левой (по схеме фиг. 3)обкладке конденсатора 34 напряжение становится равным Ов+ ЬО, а на правой - Л О,Напряжение Л О, выделенное и усиленноеусилителем 31, поступает с его...

Номер патента: 1649475

Опубликовано: 15.05.1991

Автор: Кривенко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, потребления, схем

...ИС 1, 21, 22, 23; постоянный ток, потребляемый исследуемой ИС 1 равенизм=А , (1) где А - показания измерителя 2 тока, равное величине тока источника 4 питания;К 1 - коэффициент, показывающий, какая часть всего тока потребляется исследуемой ИС 1Для нахождения коэффициента К 1 используется воздействие на шину питания ИС 1 переменного синусоидального тока от генератора 5, амплитуда колебаний существенно меньше значения 1 изм, Переменный ток генератора 5, проходя по проводнику 24 (через схему 1), наводит в катушке 10 напряжение синусоидальной формы. Мощность Рс, выделяемая в цепи обмотки катушки 10, пропорциональна квадрату значения амплитуды переменного тока, протекающего в проводнике 24 (с учетом того, что проводник 24 и катушка 10...

Номер патента: 1659924

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Кармызов, Петров

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, контактирования, схем

...отклонение опорного (на входе) и исследуемого (на выходе)сигналов, Разность уровней между ними задавали как функцию переходного сопротивления, В случае, если разность вышезаданной величины переходного сопротивления, качество контактирования неудовлетворительное и дальнейший маршрутсхемы определяется технологической картой. В случае, если разность равна или нижезаданной, условия контактирования удовлетворительные. Заданная величина переходного сопротивления выбирается взависимости от требований, предьявляемыхк схеме,При включении генератора и подаче питающих напряжений на выходе испытуемойИС появляется выходное напряжение, уровни "0" и "1" которого определяются переходными сопротивлениями 81 - 84. При Вт -84, РаВНЫХ НУЛЮ, Овх =...

Номер патента: 1662020

Опубликовано: 07.07.1991

Автор: Бербасов

МПК: H05K 1/11, H05K 1/18

Метки: бескорпусных, интегральных, контактное, схем

...групп 4. Подобным образом в корпусе 1 размещаются одновременно несколько держателей с ИС 13, При этом все выводы ИС оказываются надежно замкнуты накоротко посредством основания 2, которое в свою очередьзаземлено. Для исключения электростатического пробоя и любых других видов повреждений полупроводниковых приборов в процессах транспортировки и хранения контактные устройства штабелируют друг на друга посредством элементов 6 и 7 сочленения на корпусе 1 (фиг,4). При этом вследствие того, что высота выступов 7 меньше высоты штифтов, осуществляется примыкание основания 2 вышеразмещенного контактного устройства к торцам базирующих цанговых штифтов 3 нижеразмещенного устройства,Этим обеспечивается общее заземление всех полупроводниковых...

Номер патента: 1669090

Опубликовано: 07.08.1991

Авторы: Круглов, Медов

МПК: H05K 1/18

Метки: печатных, схем

...и электр осится к производству ппаратуры, в частности нологического контроческих параметров пе 1669090 А чатных схем, и является усовершенствованием изобретения по авторскому свидетельству 1450146, Цель изобретения - повышение надежности контактирования путем обеспечения равномерности распределения усилий контактирования - достигается за счет введения в устройство дополнительных балок 4 с установленными на них каретками 5 с прижимами, выполненными в виде подпружиненных стержней 7, Устройство позволяет надежно и с высоким качеством производить проверку печатных схем без повреждения радиоэлементов на подложке. 2 ил.1669090 4Фиг. 1Составитель Н.ШмелевРедактор С,Патрушева Техред М.Моргентал Корректор Т.Палий Заказ 266 ь 1 Тираж 482...

Номер патента: 1670668

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Афанасьев, Кухаренко, Мещеряков, Перов

МПК: G03B 27/32

Метки: интегральных, печатных, плат, схем, фотошаблонов

...5 осуществляется ручкой 17. Оригинал 18 закреплен на оригиналодержателе 2.Устройство работает следующим образом. 15 го 25 30 35 40 45 50 55 На оригиналодержатель 2 устанавливают оригинал 18, на рейки 8 пластинодержателя устанавливают тестовое контрольное стекло с нанесенной прецизионной сеткой. Подключают фотокамеру к сети питания и открывают электромеханический затвор, По рискам сетки тестового стекла настраивают на резкость установочный микроскоп 9. Настраивают на резкость изображение оригинала 18, добиваясь наилучшего качества изображения по всему полю топологии, Для этого перемещают в разные точки установочный микроскоп 9, проверяют в этих точках резкость изображения и при необходимости вводят корректировку путем...

Номер патента: 1670823

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Котов, Шейко

МПК: H05K 13/04

Метки: интегральных, схем, установки

...возможностей лючения интегдля измерения - достигается тэктных площа- диэлектрическоментами для ых схем 4, Устрпус 1, направль 6 и печатную выводов интегральнои схемы 4. Для обеспечения контакта выводов интегральной схемы 4 с соответствующими контактными площадками 3 корпус 1 снабжен центрирующими элементами 5, расположенными между пластинами 2. В корпусе 1 установлен с возможностью перемещения подпружиненный толкатель 6, Устройство предназначено для установки интегральных схем 4 с двумя рядами выводов на печатную плату 7 с отверстиями 8 для выводов интегральных схем с одновременным контролем параметров интегральной схемы и для контроля интегральных схем без выпайки их из платы,Устройство работает следующим образом.Интегральную схему 4...

Номер патента: 1672454

Опубликовано: 23.08.1991

Автор: Гремальский

МПК: G06F 11/22, G06F 11/36

Метки: больших, интегральных, схем

...в исходное состояние, Разряд, соответствующий выходу30.2, установлен в "1" - чтение сдвунаправленных выводов объекта 8 контроля и блока 9. Разряды, соответствующие выходам 30,3 и 30,4, такжеустановлены в "0", т,е. опрос генератора 6 тестов и сравнения откликов объекта 8 контроля и блока 9 не выполняются. К моменту выработки задающим генератором 3 второго тактового импульса на выходе формирователя 20 установлено значение "0" (фиг,8), поэтому навыходе элемента 23 устанавливаетсязначение 0 ВтороЙ тактовыпульс ( с Выхода генератора 3 черезэлемент 2 поступает на вход +1счетчика 29 и его содержимое становится равным А О + 1, Из блок памлт,1считьгвается следующее слово. В , ЛсБИС КР 580 ИК 80 рассматриваемое л; -во совпадает с первым, т.е. на...

Номер патента: 1674017

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Данилов, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/317

Метки: динамических, интегральных, параметров, схем, функционирования, цифровых

...информация, а на выходе триггера 6 сигнал "Разрешения контроля",С приходом на синхронизирующий вход регистра 15 памяти задержанного элемента 7 задержки строб-импульса информация с входов регистра 15 памяти переписывается на его выходы. Указанная информация поступает на входы решающего блока 16. Если контролируемая информация по своим логическим уровням соответствует заданным значениям "0" или "1", а также соответствует ожидаемому местонахождению, фиксируемому строб-импульсом, то на выходе решающего блока 16, а следовательно, и на выходе 12 устройства сигнал отсутствует. Это означает, что контролируемая цифровая микросхема функционирует правильно. В противном случае на выходе 12 устройства формируется сигнал несоответствия выходной...

Номер патента: 1674019

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Запольский, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/317

Метки: интегральных, схем, цифровых

...триггер 19 переключается два раза за такт, что соответствует режиму "Длительность импульса меньше такта". Уровни "0" на третьем и четвертом выходах приемного регистра 3 запрещают 15 прохождение этих импульсов, триггер 19находится в предыдущем состоянии, а элемент И 17 переводит амплитудный формирователь 7 в третье состояние, характеризующееся высоким импендансом, и 20 клемма 14 может служить выходом контролируемой ЦИС.Сигнал с выхода ЦИС поступает черезклемму 14 на сигнальный вход амплитудного формирователя, на второй вход которо го подается опорное напряжение с шины12. Результат сравнения запоминается на выходе логического компаратора 6 на время, определяемое длительностью строб-импульса. За это время на логиче ском компараторе 4...

Номер патента: 1674021

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Белогуб, Бровко, Буцкий

МПК: G01R 31/319

Метки: выходное, интегральных, схем, тестера

...поступают от блоков 2 и 4 компенсации сигналы, зависящие от длительности и паузы формируемых формирователем 5 импульсов. При этом установка постоянных времени г 1 и т 2, соответствующих тепловым постоянным времени установления верхнего и нижнего уровней формируемых формирователем 5 выходных импульсов, осуществляется блоками 2 и 4 компенсации по входам "Установка т 1" и "Ус 1 ановка г 2", Включение блоков 2 и 4 производится по входу "Компенсация".На вход блока 2 через инвертор 3 и на вход блока 4 поступает тестовая последовательность, определяющая длительность импульсов и пауз выходного сигнала, формируемого формирователем 5,По входу "Режим" задается режим работы буферного усилителя 1, а именно с внутренней обратной связью; с внешней...

Номер патента: 1674022

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Бродницкая, Левковец, Мельницкий, Соболева

МПК: G01R 31/303

Метки: мдп-интегральных, параметрического, схем

...и к отказу микросхем.П р и м е р. На автоматическом изме" , рительном стенде произнсдят Измеренияпороговых напрякений и крутизн контрольных тестовых транзисторов В 10 микросхе" мах на пластине, Для 0 измеренных контрольных тестовых транзисторон Опредвено значение седней величины поро-О- вых напряжений .Г=1 (Б) и определена величина среднеГО КВВГцатического Откло" нения (СКО) гто =0,2 (Б), Среднее значение крутизны вольт-амперной караю еристики (БАХ) ф 1 измеренных тестовых транзисторов составило 21,4 м(А/Б со средним квадратическим Отклонением 0,43 мкА/Б, Рассчитали по известной формуле коэффлциенты вариации порогсных напряжений ( )Ъ ) и (., ) Крутиэнь, Которые соотнеггтвенно равны ) .1%) . 2 С( Их отношение К=)л / у, составило...