Патенты с меткой «схем»
Контактное устройство для подключения интегральных схем
Номер патента: 364131
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Гамаюнов
МПК: H05K 7/12
Метки: интегральных, контактное, подключения, схем
...не заскочит за выступ ползуна. В этот момент все контакты разведены в стороны и внутренняя полость обоймы 4 свободна для размещения выводов интегральной 5 схемы (ИС) .После этого упор 10 переводят в положениеВключено. Пружины 15, наезжая на выступающие контакты 5, перемещают их к центру и вилка контакта надежно схватывает вывод 0 в месте его присоединения к корпусу, где изгибы минимальны. При приближении фиксатора 11 к посадочному месту в планке 14 против выступа пружины 8 вместо сплошного цилиндра оказывается паз, выполненный в кор пусе 13, Это приводит к тому, что пружина 8немного распрямляется и отводит упор 7 от центра, высвобождая ползун 1, который под воздействием пружины 8 устремляется в крайнее верхнее положение. При этом...
Устройство для диагностики неисправностей многоярусных пирамидальных схем
Номер патента: 367422
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G06F 11/26
Метки: диагностики, многоярусных, неисправностей, пирамидальных, схем
...подан сигнал Яо, а на другой - сигнал с выхода 23 схемы 21. Кроме того, сигнал Яо подан на единичный вход триггера 13, и на нулевые входы триггеров 13 г - 13, регистра номера яруса, а также на нулевые входы всех триггеров 11, регистра номера элемента.Функционирование схемы пояснено на примере диагностики неисправностей пирамидальной табличной схемы свертки шестнадцатиразрядного двоичного числа по модулю д = 3 (фиг. 2). Кроме схемы свертки, содержащей 15 табличных сумматоров по модулю 3, на фиг. 2 показаны регистр входного набора, имеющий 16/т = 8 групп триггеров по т = 2 триггера в каждой группе, и соединения соответствующих триггеров регистра входного набора с триггерами регистров, фиксирующих наборы, приведшие к отрицательному и...
Устройство для контроля схем цифровых вычислительных машин
Номер патента: 378852
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G06F 11/24
Метки: вычислительных, машин, схем, цифровых
...2 задания, преобразователем 3, блоком 4 сравнения, компаратором-преобразователем 6, блоком 8 индикации.Это позволяет достигнуть логичеой гибкости, возможности контроля параметров логических схем по заданным пределам и ввести программируемый переход в режим самоконтроля.Программа проверки схемы, в качестве носителя которой выбрана перфолента, начинается с кода начало программы. Каждая программа состоит из подпрограмм по и+1 строке, где п - максимальное количество контактов анализируемой схемы.Номер строки каждой подпрограммы соответствует номеру контакта анализируемой схемы, а информация, записанная в одной строке, соответствует коду того сигнала с определенными параметрами, который необходимо подать на один контакт либо получить с...
Устройство для автоматического исследования радиоэлектронных схем
Номер патента: 378862
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Бабанскийб, Кравченко, Мараховский, Овс
Метки: исследования, радиоэлектронных, схем
...опыта.Перфолента с записью операционных условий эксперимента и его названия подается лентопротяжным механизмом 2 к окну фото- диодов фотосчитывающего блока ФСБ. Юстировочный усилитель ФСБ вырабатывает команду замедления лентопротяжного механизма для исключения возможности пробега маркерного отверстия па перфоленте. Маркерный усилитель ФСБ вырабатывает команду остановки лентопротяжного механизма, ФСБ вырабатывает команды, поступающие в модель исследуемой схемы б на подключение заданных уровней ее параметров. Сигнал маркерного усилителя ФСБ поступает также в счетчик 10, где происходит выработка номера опыта, индикация его в самом счетчике и посылка в цифропечатающий механизм 8. Одновременно с подключением уровней варьирования параметров...
Способ контроля интегральных схем
Номер патента: 382031
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Берг, Красюк, Платонов, Старое
МПК: G01R 31/307
Метки: интегральных, схем
...которого производят контроль, сканирует между обкладками полученного, конденсатора в плоскости, параллельной им, Если схема не работает, то поле внутри конденсатора постоянно и однородно. При включеьп 1 и схемы электрическое поле внутри конденсатора становится неоднородным по ходу электронного пучка. Степень неоднородности поля определяется распределением потенциала на поверхности интегральной схемы относительно ее подложки. При прохождении через конденсатор электронный пучок будет реагировать на все этп неоднородности и иска 5 кать форму сетки, регистрируемой на экране. При совмещении искаженных и неискаженных изображений сеток для контролируемой и эталонной схем получают муаровые картины, а по их сравнению судят о качестве"фее 4...
Способ инфракрасного контроля качества многослойных пленочных электронных схем
Номер патента: 382093
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Майсов
МПК: G01R 31/308, G06F 11/30
Метки: инфракрасного, качества, многослойных, пленочных, схем, электронных
...поясняющая реализацию енного способа, изображена на че теже.На чертезке приняты следующие обозначения: 1 - контролируемая схема; 2 - каретка;3 и 4 - кулачки; 5 - барабан, б - магнитная лента; 7 - бобины; 8 - головка записи, считывания и стирания программы сигналов,на подачу импульсов тока для разогрева элементов схемы; 9 - головка записи, считывания и сти; рания эталонного сигнала; 10 - головка записи, считывания,и стирания сигналов с величинами допусков; 11 - электронная вычислительная машина (ЭВМ); 12 - шланг с многожильным кабелем; 13 - объектив инфракрасного радиометра; 14 - модулятор; 15 - приемник инфракрасного излучения; 1 б - усилиУстройство работает следующим образом.При вращении кулачков 3 и 4 каретка 2 с испытуемой...
Система автоматического контроля электрических параметров электронных схем
Номер патента: 382095
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Богородицкий, Грачев, Лышенко, Попель, Рыжих, Сазиков
МПК: G01R 31/28, G05B 19/08, G05B 23/02 ...
Метки: параметров, схем, электрических, электронных
...7 - с входом приоритетного прерывания 26 УВМ 8, а выход 27,реле времеви подсоединен к соответствующему входу 28 дополнительной схемы ИЛИ 22.Работа системы автоматического контроля параметров электронных схем происходит следующим образом.Управляющая вычислительная маштина 8 выдает через блок согласования 7 в измерительное устройство б программу испытания контролируемой электронной схемы 29, содержащую данные о необходимых коммутациях в коммутационной матрице 5, о включении коммутатора 3 на рабочем посту, о значениях величин напряжений, которые должны быть выданы с программных источииков напряжения 12 ,и программного,источника тока 13, о режимах работы измерительного устройства 11, информацию номера контролируемой схемы и номера...
Сносов вскрытия монокристллличёских островков кремния в структурр, для интегральных схем
Номер патента: 382174
Опубликовано: 05.01.1974
МПК: H01L 21/463
Метки: вскрытия, интегральных, кремния, монокристллличёских, островков, сносов, структурр, схем
...Ратшска 51 иаб., д, 45двлоярословеикоя городсяоя ти 1 огдв 1 ия Килтгясяого оолдстиого уирдвлсниа ив,твтсльсто, ир.тигрвфии и кви:Кио 1 торговли В(,1 цчиид усилия, огредед 5 емя из указдииого соотношения, достаточна для выирямлсиия исе 1)ИВлеций струетуры и ис ириюдцт и се разрушению. После того, как ириложсо усилие и структуры выирямлецы, ие ЗДКРСИ,5110 Г В ЭТО) ИО,ОЖСИИИ.С 1) Метмр 1 иослс соили(1)овки ир дети" с ски состоит цз одиородиого слоя иоликрцстдлличесеого крсмиця с вклочииями от- ,СЛЬ 1 ЫХ Е РИС 1 Д.1,ОВ, ИЗО(1 ИРОВЯИИЬХ ДИЭ,1(Е- трцком. 11 аиряженця в структуре, сущсствующис зд счет различной величины смиератури,1); наиряжсицй слоев, снимаются после искры гчя моиоерисалли чески)( островков. Посл( сошлифовки структуры не...
Устройство для стабилизации угловых характеристик импульсных схем сравненияпо фазе
Номер патента: 418929
Опубликовано: 05.03.1974
Авторы: Коробейников, Краснодарский
МПК: H02H 3/38
Метки: импульсных, сравненияпо, стабилизации, схем, угловых, фазе, характеристик
...импульс, соответствующий максимальному мгновенному значению тока во вторичной обмотке трансформатора независимо от величины угловых погрешностей, вносимых трансформатором тока.На фиг. 1 представлена принципиальная схема устройства для стабилизации угловых характеристик импульсных схем сравнения по фазе; на фиг. 2 приведены временные диаграммы, иллюстрирующие работу устройства.Устройство подключается к трансформатору тока (ТТ) и содержит промежуточный ,трансформатор Трзарядную цепочку (Я С, Дь Д), блокинг-генератор, выполненный на транзисторе ПТ, тиристор Твыходной трансформатор, который через диод Д, подключенк нагрузке Л,.Устройство работает следующим образом.При поступлении на вход схемы несинусоидального тока, обусловленного...
Устройство для контроля интегральных схем
Номер патента: 419852
Опубликовано: 15.03.1974
Авторы: Ерлашов, Кнышев, Сливицкий, Шибаев
МПК: G05B 23/02
Метки: интегральных, схем
...1от цифровой вычислительной машины.В состав какдсго анализатора 4 входит:формирователь испытательных воздействий12, формирующий последовательности испытательных воздейстзий па выводе интегральнойсхемы 5 из двоичных последовательностейопорных испытательных воздействий, коммутатор испытательных воздействий 13, компаратор 14, сравнивающий последовательностиконтролируемых параметров, снимаемых с выводов интегральной схемы 5, с двоичнымиопорными граничными последовательностямии выдающий результаты контроля, коммутатор гпаничпых воздействий 15, регистр тестовых переходов 1 б для запоминания и хранения кодов тестовых переходов, дешифратор 17и коммутатор перестройки 18, предназначенный для настройки на формирование и...
Устройство для контроля интегральных схем
Номер патента: 419903
Опубликовано: 15.03.1974
Автор: Майсов
МПК: G05B 23/02
Метки: интегральных, схем
...прцх:тдптся лелатт при прог 1 таммировятпи, ця Оя 1)ЯОяне 3 п 1 тедусмотреця Откидная предохранительная накладка, це кяс 11- ющаяся поверхности ленты прц ее рабочем продвижении тцс указат а ца ертеяах).Устройство имеет воздуходувку 76, снабженную регулятором 77 скорости потока ц трубопроводаъи 8 ц /9 д,я Охлая;ецця исследуемых плат с одной и двух сторон, а также снабжено клапаном 80 ц трубопроводом 81 лля автоматического съема псследоваццых плат потоком воздуха.На стиг. 2 изображена в разрезе малая каретка 54, съетая вставная рамка 82 с печятноц схемой Лля рязводкц тока ца выводы испытуемой схемы, откидная работка 83 с шарциром 84 для ппост тяцствецтого ориентирования испытуемых плат 2, которые автоматическим загрузочным устройством пли...
Преобразователь ток-код для контроля интегральных схем
Номер патента: 420112
Опубликовано: 15.03.1974
Авторы: Кнышев, Сливицкий, Фонд
Метки: интегральных, схем, ток-код
...7 отрабатывает на выходе напряжение У, которое вызывает появление уравновешивающего тока 1,. через программируемое сопротивление 8. Отработка напряжения У. заканчивается, когда падение напряжения на диодах 9 и 10, включенных параллельно и встречно между источником 4 и выводом схемы 5, близко к нулю, в результате чего ток 1 через диоды равен нулю, а измеряемый ток в проверяемой цепи схемы 1, равен 1, Тогда напряжение К=У+ +1 ф;, где Л, - величина сопротивления 8 в -ом диапазоне преобразования тока,Напряжение с выходов повторителя и усилителя подается соответственно на входы вычитаемого и уменьшаемого схемы 11 вычитания, выполненной, например, на операционном усилителе с дифференциальным входом. Схема 11 осуществляет вычитаниеЦ=-1+1,Я, -...
Способ маркировки элементов интегральных схем
Номер патента: 423206
Опубликовано: 05.04.1974
Авторы: Лепилин, Матвеев, Самыгина, Черн
МПК: H01L 21/48
Метки: интегральных, маркировки, схем, элементов
...известного способа являются сложность механических устройств для его 15 реализации, а также нанесение метки на полупроводниковом кристалле, из-за чего он целиком бракуется. Однако при изготовлении ряда приборов, например многоканальных коммутаторов на МОП-транзисторах, вы ход из строя одного канала не влияет на работоспособность остальных каналов, поэтому практически можно использовать все кристаллы, имеющие хотя бы один годный канал.25Предложенный способ маркировки элементов ицтегралы 1 ых схем отличается тем, что после измерения их электрических параметров риску наносят острием электроизмерительного зонда ца 11 оцтактцо 1 плонадке, соотВетствующей негодному элементу,Способ реалцзуется слсду 1 ощцм образом. Прп Обцаруже:1...
Устройство для контроля логических схем
Номер патента: 424150
Опубликовано: 15.04.1974
МПК: G06F 11/25
Метки: логических, схем
...со входом 34 того же элемента; выход 35 элемента 20 - со входом 36 того же элемента. Входы 37 - 42 элементов 8, 14 ц 20, соотвстственно, а также входы 43 - 48 элементов 5 - , соответственно, являются управляющими входами. Точки 31, 33 и 35 являются выходами устройства.Входы 1 - 4, 10 - 13, 16 - 19, 38, 40, 42, 45 и 47 имеют вес %,=1; входы 26, 28 и 30 имеют вес Ъг=2; входы 32, 34, 36, 37, 39, 41, 44, 46 и 48 имеют вес Юз=3. Пороги элементов 5 - 7 одинаковы и равны Т 2=5. Пороги элементов 8, 4 и 20 одинаковы и равны Тз=б.В зависимости от значений управляющих сигналов К К 2 и К, существуют два режима работы устройства: запоминание без восстановления (К 1 = Кз = Кз = 1)В первом режиме запоминание исправленной входной информации (Х Хз и Хз),...
Способ изготовления керамических оснований корпусов интегральных схем
Номер патента: 427425
Опубликовано: 05.05.1974
Авторы: Клименский, Ромашов
МПК: H01L 23/02, H01L 23/06
Метки: интегральных, керамических, корпусов, оснований, схем
...по известной толстопленочнойтонкопленочной технологии. Изобретение относится к раной технике.Известен способ изготовлениских оснований корпусов интегрс вакуумплотными проходнымииспользованием металлизациипоследующей их пайки.,Предлагаемый способ отличазаготовки керамических корпусформы подвергают обжигу, нанометаллизированные выводы, сообожженными керамическимиподвергают совместному обжигуобожженной керамики. Это позввакуумплотные выводы в основа оби- пооэлект о ллия керамиче альных схе выводами с отверстий необож- кольца оожига утренний бы полул) после ется тем, что ов дисковой сят по торцу бирают с не- кольцами и в режиме неоляет создать нии. га- чаных или На фиг. 1 изображ с металлизацией и нео фиг. 2 представлена п...
Зонд для измерения параметров интегральных схем
Номер патента: 427499
Опубликовано: 05.05.1974
Автор: Исмаилов
МПК: H05K 7/12
Метки: зонд, интегральных, параметров, схем
...регулировки соответственно для каждой цепи или ооладают недостаточной точностью установки электрода на контактную площадку микросхемы из-за невозможности вести контроль за процессом установки электродов на контактные площадки через микроскоп, так как зонд по габаритам не помещается под окуляром микроскопа. троля за установкои электрода и создаетудоб ство в р а боте.На чертеже схематически изображен зонддля измерения параметров интегральных схем.5 Зонд включает ось 1, на которой подвижно закреплен рычаг 2, на рычаге 2 шарнирноустановлен кронштейн 8 с подвижно размещенным на нем стержнем 4. На одном концестержня 4 имеется ручка 5, а на другом -10 втулка б из изоляционного материала с электродом 7. Пружина 8 обеспечивает...
Вычислительное устройство для минимизации структур логических схем
Номер патента: 428387
Опубликовано: 15.05.1974
Авторы: Барбаш, Безбоков, Обретен, Тимонькин, Ткаченко
Метки: вычислительное, логических, минимизации, структур, схем
...минлмизаццц структур логических схем.Для решения задачи определения полной совокупности простых импликант на наборном поле 5 через ввод задаются все запрещенные числа логической функции, описывающей структуру минцм 11 зируемэй логиче койсхемы. В логический блэк 3 через ввод зада 5 ется одно из рабочих чисел, характеризующихлогическую функцию.При решении задачи определения про"т химплицент логической функции на наборномполе 5 задаются все раоочие числа мцню 11 о зируемой логической функции, а в лэгцче"к .йблок 3 вводится одно из запрещеняых чисел.На счетчик 7 блока управления 1 последовательно поступают импульсы через зв"д.Выходы счетчика 7 подключены ко входам5 дешифратора 2 и логического блэка 3, В соответствии с сигнала 11,...
Процессор для контроля цифровых схем
Номер патента: 435527
Опубликовано: 05.07.1974
Авторы: Институт, Лиг, Сергеев
МПК: G06F 11/22, G06F 15/06
Метки: процессор, схем, цифровых
...получаемых от внешних устройств; приоритетное устройство 36, которое выбирает среди зафиксированных в регистре 30 запросов запрос высшего приоритета и формирует в регистре 29 адрес начала подпрограммы, обслуживающей этот запрос.Основной исходной информацией для блока управления 35 является значение кода операции в регистре 15 и признаков адресации в регистрах 16 и 30,Предлагаемый процессор работает следующим образом.Центральный модуль 1 обеспечивает выполнение команд следующих типов (см. фиг, 4):Тип 1. Команды переменного формата, содержащие непосредственные операнды длиной от 1 до 16 байтов, служащие для передач информации во внешние устройства (в том числе в регистр индикации 23), выполнения операций во внешних устройствах, а...
Устройство для измерения области работоспособности электронных схем
Номер патента: 436304
Опубликовано: 15.07.1974
Авторы: Качура, Медвинский
МПК: G01R 31/28
Метки: области, работоспособности, схем, электронных
...2 возмущений по непрерывному закону изменяет параметры генератора 5 входных сигналов и условия работы исследуемой схемы 6. Выходной сигнал этой схемы проверяется анализатором 7 длительности импульса, анализатором 8 длительности фронта и анализатором 9 аиплитуды, В случае соответствия параметров импульса заданным нормам на выходе одного из анализаторов 7, 8 или 9 возникает импульс.Только при наличии импульсов на выходах всех анализаторов блок 10 логики запускает формирователь 11 импульсов подсвета, выход последнего подключен к модулятору электронно-лучевой трубки 4. Выходной сигнал генератора 12 пилообразного напряжения поступает на преобразэватель 13 возмущений и на усилитель 14 напряжения, усиленное напряжение которого поступает на...
Система для комплексного контроля интегральных схем
Номер патента: 437988
Опубликовано: 30.07.1974
Авторы: Кнышев, Сливицкий, Шибаев
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, комплексного, схем
...нця программного обеспечения системы и контрольно-измерительной информации. Устройства 1 и машина 2 осуществляют обмен информацией с устройствами и блоками системы посредством блока 3 сопряжения и блока 4 управления, в результате чего синтезируются из независимых устройств и блоков контрольно-измерительные схемы для каждого контрольного теста и для цикла испытаний,Посредством контактиру;ощего устройства 5 выводы контролируемой интегральной схемы 6 соединены с блоком 7 согласования и распределения выводов, который распределяет их по функциональному и испытательному назначению ца выводы статических воздейст.вий и измерений, входы, выходы и т. д а также согласует с высокочастотными контрольно-измерительными цепями для уменьшения...
Элемент для согласования насыщенных и ненасыщенных логических схем
Номер патента: 438119
Опубликовано: 30.07.1974
МПК: H03K 19/00
Метки: логических, насыщенных, ненасыщенных, согласования, схем, элемент
...тока через транзисторы 3 и 4 в любом логическом состоянии и состоящий из транзистора 6, на базу которого подается опорное напряжение, а эмиттер через резистор 7 связан с шиной эмиттерного питания,При подаче на входы А и В логической единицы, т. е, высокого уровня, эмиттерные переходы транзистора 1 смещаются в обратном направлении, напряжение на базе и коллекторе его, а также в точке т повышается. Транзистор 5 фиксирует потенциал точки т на уровне У=Увэ и обеспечивает тем самым потенциал в точке б, равный нулю, так как падение напряжения на транзисторе связи 4 также равно У,. Если использовать интегральные транзисторы 4 и 5, расположенные в одном кристалле и имеющие относительно малый разброс напряжений и их температурных...
Система для контроля электрических параметров электронных схем
Номер патента: 443392
Опубликовано: 15.09.1974
Авторы: Богородицкий, Гаврилов, Грачев, Костенков, Лышенко, Николаев, Очков, Попель, Шаромет
МПК: G05B 23/02
Метки: параметров, схем, электрических, электронных
...схемы. Для этого программа контроля из устройства 7 программного управления через панель б управления и индикации выдается в устройство 3 контроля статических параметров. Часть указанной программы устройствами панели 6 расшифровывается в сигналы управления, которые спо входам 5 управления поступают на первый косстрольпый пост 2. По программе костро,сс на контрольном посту и в устройстве 3 выполняются необходимые коммутации, вырабатываются контрольные сигналы, которые по входам 1 поступают на контрольный пост и далее на контролируемую электронную схему, и измеряются статические параметры.На любом другом, например втором, контрольном посту 2 в это время может выполняться контроль динамических параметров электронных схем, Для этого в...
Устройство для диагностики неис правностей многоярусных пирамидальных табличных схем
Номер патента: 446062
Опубликовано: 05.10.1974
Авторы: Долгов, Изосимов, Трусов
МПК: G06F 11/04
Метки: диагностики, многоярусных, неис, пирамидальных, правностей, схем, табличных
...имеламесто в подмножестве Г" илиматрице М 1, то она обязательно юлжна оыла проявиться в видевозбуждения двух выходных шин,определив отрицательный исход проверки)21 исход поовепки отоицательфф ный; неисправность ймеет место в подмножестве Г , либо в матрице М 1,1Дия разрешения альтернативы отрицательного исхода проверки сформируем второй диагностический набор следующим образом: в качестве компонентов, подаваемых на входы подмножества матриц Г" , 1 О возьмем одноименные компойенты набора ж, , а в качестве компонентов, подаваемыми на входы подмножества матриц Г - одноименные компоненты набора ж тевее ид Н 1 т 2 тзтФ тетбт 7 те) г При подаче такого набора на 20 входы схемы свертки в подмножестве риц Г возбудятся заведомо испйвные елементы...
Устройство для контроля интегральных схем
Номер патента: 451065
Опубликовано: 25.11.1974
Автор: Ерлашов
МПК: G05F 23/02
Метки: интегральных, схем
...следующим образом.Логическое состояние в каждом такте контроля задается от накопительного регистра 1, О а начало перехода к другому логическому состоянию задается от блока 2 временных ин тервалов.Выходы обеих схем 4 и 6 соединены с общей нагрузкой входом блока 3 контакти рования с выводами интегральной схемы. Приэтом, чтобы исключить влияние шунтируюшего действия схемы 4 статического воздействия, ее выход соединяется с входом блока 3 контактирования через фильтр 5 нижних частот, О а выход схемы 6 динамических воздействий -непосредственно.При динамическом воздействии на данныйвход интегральной схемы и поступлении импульса из блока 2 временных интервалов сра батывает схема 6 динамических воздействий,и фронт импульса передается на вход...
Устройство для контроля дискретных логических схем
Номер патента: 451994
Опубликовано: 30.11.1974
МПК: G06F 11/00
Метки: дискретных, логических, схем
...л и ч а ющ е е с я ч л), что, с целью повышениянадежности роботы устройства, оно содер-жит элемент "ИЛИ-НЕ и второй элемент"ИЛИ", входы которых соединены с выходами соответстиук)1 их разделительныхЬОсхем, а также Второи элемент "кок)р)го с.оед)нены с Выходами второ Оэлемента "ИЛИ" и элемента ИЛИ-ПЕ", авыход подключен ко второму входу первобб го элемента ФИЛИ".,3Устройство работает следуюшим образоМ., При работе устройства используется принцип сравнения работы проверяемой схемы 17 и эталонной схемы 18 при всех возможных комбинациях входных сигналов, Если хотя бы при одной из входных комбинаций уровни напряжений на Выходах схем 17, 18 не совпадают, это фиксируется включением индикаторного элемента "Отказ" 12. В противном же случае...
Клише для изготовления печатных схем
Номер патента: 452081
Опубликовано: 30.11.1974
Автор: Титов
МПК: H05K 3/00
...лоя уси протечек акти юшимися нове тредпа- ипечаттивную средусквозными о стиями 3,1 ре изобрет я, печатных сасичгн и 1 Клише отовпен смел Ф эп держащее основание 5 мент о т л и ч ение относится к радиотехнике,сы клише для изготовления печатсодержашие основание и эпастичст.эти клише пригодны толь одного типа схем,Цель изобретения -универсальности клише,Лпя достижения этой цели на основаниенанесена координатная сетка, в узлах которой выполнены пазы, а эластичный эпел 1 ентвыполнен в виде втулок, размешенныхв пазах основания, и перемычек, зажатых между втулками,На фиг, 1 представлен участокаемого клише; на фиг. 2 - участокной схемы, из 1 отовленный с помощью этого клише.Корпус 1 изготовлен из материала, невзаимодействуюшего с активной...
Автоматический синтезатор однотактных релейных схем
Номер патента: 453698
Опубликовано: 15.12.1974
Авторы: Белов, Николаев, Токмаков, Токмакова, Чериобриоец, Шафраиский, Шилов, Ширина
МПК: G06N 1/00
Метки: автоматический, однотактных, релейных, синтезатор, схем
...кя)сдо) со 1 стяППР 1 че 1 эез кскРл роп скястс 5 БС 51 таолцця состоянии).Генератор коцститусчтов представляет собой дВОИНЫИ СЧСТЧК, СооряНПЬП Ня 5 ЧСПКХ 82 (фиГ. 6) и содср)кяццй пят. р 33)5 ЛОБ, тяк как максцмяльцос число цсрсмснцых в цровс- РЯСЭМЫХ КОМО 33 ЦИ 51 Х РсВЦО Ц 5 ТП. ОДИОТИПЦЯ 5 ячейка 82 содержит трш 3 гср 83, повтортель 84, а также ячейки совиялсцця 85, запретя 86 : Гсцсрщ)уюцую 81 л 51 ограничения БрсмсИ 1)200 ТЫ Г".ИС.с 10 рс 1 КСНСТИТЕНТОВ ПЭц ОбРсООТКС МСИЬИС.ГО Ц 51 Ц ЧЦСЛЯ ИСРСЭСЦИЫХ ПРС.- дусмотрены контакты 88, ш)оляцие в работу ТО,ЬКО Ну)КИОС ИСЛО рс 13 р 5 ДОВ. В ПСрВОй ПЗ 51 сск 82 ткой ксцткт нс рсбстс 53, тяк ;к оЛин разряд всегдя Б расОтс. Кроме того, схема генератора коцсгитуеитов содержит ЛН)Л- ные...
Устройство для разбраковки интегральных схем
Номер патента: 454718
Опубликовано: 25.12.1974
МПК: H05K 13/00
Метки: интегральных, разбраковки, схем
...В а л 0 м и р и В Од 1 э,1 с к т р 0 д Г п Г а тел 51 1 5.."1 ехап 1 зм рязбра ковки пнтсГряльцых схс.1состоит из окон 16 с откидными зяслошями 17, электромагнитов 18 и наклонных лоткОВ.25 11 нтсгральпая схема, опустившаяся из накопителя на профильную криволинейную направляющую 2 под действием собственного веса, захвятывясгся рычагом 3 и перемещается ИО этой иИрявля 01 цсй В зону фиксации и 30 контактирования, где останавливается подвижным упором 7. Рычаг 3 останавливается подвижным упором 8 и фиксирует интегральную схему совместно с упором 7, боковыми стенками профильной криволинейной направляющей 2 и с верхним неподвижным упором 1 О. Контактное устройство 9 зондами прижимает выводы интегральной схемы к верхнему неподвижному...
Устройство для получения минимальных диагностических тестов бесповторных комбинационных схем
Номер патента: 458830
Опубликовано: 30.01.1975
Авторы: Андрианов, Бессмертных, Ишков, Шишкин
МПК: G06F 15/20
Метки: бесповторных, диагностических, комбинационных, минимальных, схем, тестов
...5, - 5 коммутатора 2 переменных логической функции. Объединяя полученные таким образом наборы, получают минимальныйдиагностический тест для контроля шунтирования элементов диагностируемой схемы,Для определения, наборов диагностического теста, выявляющих, разрыв элементов диагностируемой схемы, с помощью коммутатора 2 переменных логической функции набирают все переменные инверсной логической схемы, а с помощью коммутатора 3 переменных элементарных:конъюнкций - все переменные одной из конъюнкций контрольной дизъюнктивной нормальной формы. При подаче питания с блока управления 1 на индикаторе 4 тестовых наборов отображается информация о состоянии переменных в наборе тестовых команд.Остальные, наборы тестовых команд, выявляющие разрыв...
Устройство для отпаивания интегральных схем с печатных плат
Номер патента: 459874
Опубликовано: 05.02.1975
Авторы: Дрик, Крушев, Левин, Станишевский
МПК: H05K 13/00
Метки: интегральных, отпаивания, печатных, плат, схем
...ПП.Панель защищает поверхность ПП от попадания расплавленного припоя за пределы рабочей зоны, В ней имеется окно 8, размеры 15 которого соответствуют геометрии ИС.Механизм снятия ИС состоит из цилиндра9, неподвижного поршня 10 н пружины 11, В юбке 12 цилиндра находятся захваты 13, в исходном положении прижп маем ые к стенкам 20 юбки плоской пружиной 14. На корпусе цилиндра крепится упор 15, под которым установлен мпкропереключатель 16.Система подачи сжатого воздуха состоитз электропневмоклапанов 17 - 19, подсоедиенных к магистрали сжатого воздуха через егулятор давления 20, фильтр 21 и кран 22.Устройство работает следующим образом, При включении электропневмоклапана 17сжатый воздух через канал в поршне подается 30 в вериною полость...