Патенты с меткой «схем»

Страница 12

Устройство для контроля схем сравнения

Загрузка...

Номер патента: 940162

Опубликовано: 30.06.1982

Автор: Шадрин

МПК: G06F 11/26

Метки: сравнения, схем

...1 Осипнала сравнения с задаваемым соответствуюцими. триггерами управления, Вэтом случае блок формирования сигналаошибки вьщает ложный сигнал, Укаэанныйнедостаток обусловлен тем, что в извесьном устройстве число А формируется первым регистром сдвига, а число В - вторым. Регистры непосредственно связаныс входами проверяемой схемы сравнения,следовательно, они определяют, какой сит нал будет на выходе этой схемы. В то .время информацию о том, какой долженбыть сигнал на выходе схемы сравнениязадают триггеры, состояния которых .в общем случае не зависят от состояний цуказанных регистров сдвига.Цель изобретения - повышение надежности работы устройства,Поставленная цель достигается тем,что в устройство для контроля схем срав кения, содержащее...

Шунтирующее устройство преимущественно для интегральных схем с планарными выводами

Загрузка...

Номер патента: 820637

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Лебедев, Липилин, Меркулов, Новиков

МПК: H05F 3/00

Метки: выводами, интегральных, планарными, преимущественно, схем, шунтирующее

...стенок шунта выполнен канал, в который входит фланец носнтеля, образуя жесткое соединение 12.5 Недостатком данного технического ре.щения является то, что устройство состоит из двух различных по конфигурации деталей, для изготовления которых необходима сложная и точная технологическая осО пастка.3нарпыми выводами, содержащем крышкуи основание с элементами фиксации,крышка и основание выполнены 1 -образной формы, фланцы которых служатдля размеценпя выводов интегральной 5схемы, причем крышка и основание снабжены двумя элемецтамп фиксации Г-образной формы, расположенными ца торцорых поверхностях фланцев.На фпг. 1 показано предлагаемое шунтирующес устройство; на фиг, 2 - то же,общий вид.Шунтирующее устройство содержит основание 1 и крышку...

Устройство для вычисления оптимальных параметров микроэлектронных схем

Загрузка...

Номер патента: 942046

Опубликовано: 07.07.1982

Авторы: Колпаков, Милькевич, Сычев, Шевелев

МПК: G06F 17/00

Метки: вычисления, микроэлектронных, оптимальных, параметров, схем

...впроцессе проектирования пленочноймикросхемы, которое обычно включает45в себя и изготовление опытной партииэтих схем. Составление плана и реализация такого эксперимента в данномслучае предполагает, что варьируемыми параметрами, т.е, принудительно5 Оизменяемыми в процессе реализацииопытной партии микросхемы, являютсяне только параметры компонентов, нои параметры оптимизируемых технологических операцийДопустим, чтопараметром качества микросхемы служит 55один иэ ее выходных параметров, аоптимизируемой технологической операцией является операция, наиболее важня с точки зрения ее влияния на разброс параметров компонентов, Например, в случае пленочной технологиитакой операцией является напыление наподложку разистивного слоя....

Устройство для контроля цифровых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 943747

Опубликовано: 15.07.1982

Авторы: Гасенегер, Микушин, Ростовцев

МПК: G06F 11/22

Метки: интегральных, схем, цифровых

...признак последовательной загрузки и позиционный код номера сдвигового регистра памяти 7, В буфер 47 4ный регистр 12 параллельным кодомзаписывается часть тестовой последовательности для одного выводаконтролируемой схемы 13, равная подлине формату машинного слова ЦВИ 1,Триггер 8 устанавливается в состояние, соответствующее режиму записиинформации в память 7.Затем в регистр 2 из ЦВИ 1 записывается код конечного адреса па мяти ИК, где И - количество разрядовбуферного регистра 12 (или Форматмашинного слова ЦВИ 1), К=1,2,3, -номер цикла зписи информации в буферный регистр 12,Схема сравнения 3 открывает элемент И 4, через который тактовыеимпульсы от генератора 5 поступают навходы счетчика б, буферного регистра12 и через коммутатор 9 на вход...

Контактное устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 943924

Опубликовано: 15.07.1982

Авторы: Белов, Кононов, Махаев, Миненков

МПК: H01L 21/66

Метки: интегральных, контактное, схем

...устройство для контроля интегральных схем содержит корпус 1 с установленными в нем пружинящими контактами 2, механизм перемещения контактов и привод 3, Механизм 1 Б перемещения контактов состоит из двух планок 4 и П-образного ползуна 5, подвижно установленных внутри корпуса 1, Одной стороной каждая планка 4 взаимодействует с контак- рц тами 2, а другой -. с ползуном 5. В соприкасающихся поверхностях планки 4 и ползуна 5 выполнены лунки б, образующие паз 7, в котором размещен шарик 8, Между планками 4 уста ц новлены пружины 9. Ползун 5 соединен с приводом 3.В исходном состоянии контакты 2 находятся в разомкнутом положении с выводами 10 интегральной схемы 11. Замыкание контактов 2 с выводами 10 интегральной схемы 11 производят с...

Устройство для контроля функционирования интегральных схем памяти

Загрузка...

Номер патента: 947789

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Ворожеев, Лучин, Панов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, памяти, схем, функционирования

...каскады 2, ,2 п , предназначенные для 35усиления согласования и развязкивходных сигналов с блока 3 заданиявходных воздействий, компараторы 4,,4 и данных аппо количеству контролируемых схем), блок 5 задания ожи даемой информации, регистры ббйпамяти результатов контроля, служащие для хранения информации о результатах проверки каждой схемы,блок 7 управления и ЭВМ 8. На чертеже для простоты понимания предлагаемого решения не показаны режимные источники питания, коммутаторывыводов испытуемых БИС, устройствасогласования уровней (БИС - транслято 50ры сигналов), блок формирования рабочей частоты и строб-импульсов, блокфОрмирования адресных сигналов.Устройство работает следующимобразом.КонтролируемЯе БИС ОЗУ помещаются 55в подключающие...

Устройство для контроля электрических параметров электронных схем

Загрузка...

Номер патента: 947790

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Попель, Шаромет

МПК: G01R 31/28

Метки: параметров, схем, электрических, электронных

...Выход схемы 9 контроля соединен с выходом 12 сигнала контроля устройства.Устройство содержит также вторую, схему 13 контроля, входкоторой сое" 35 динен с выходом дифференциального усилителя. Вторая схема 13 контроля соединена кроме того с источниками 14 и 15 сигналов границ линейной зоны Функционирования дифференциаль кого усилителя. Выход второй схемы 13 контроля соединен с выходом 16 сигнала правильности функционирования устройства.Работа устройства заключается в следующем.В режиме контроля электроннойсхемы силовой выход 5 и измерительный вход 8 устройства замыкаются выводом контролируемой электронной схемы. Ток в цепи вывода и напряжение на выводе электронной схемы преобразуется измерительными преобразователями 4 и 7 тока и...

Контактное устройство для контроля интегральных схем на подложке

Загрузка...

Номер патента: 947974

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Коваль, Масленков, Минченко

МПК: H05K 1/18

Метки: интегральных, контактное, подложке, схем

...типа интегральных схем ( гдЕконтактные площадки имеют уже другиефункциональное назначение и расположение ) осуществляется узлом 7 за дания программы контроля, На узле 7задания программ контроля установлены соответствующие перемычки 19таким образом, чтобы каждый зонд .5контактирующего узла 4, контактные 60 площадки 17, 18 и входная измерительная цепь измерителя соответствовалисвоему функциональному назначению. Узел 7 задания грограммы контроля65 микросхем состоит из диэлектрической Контактное устройство содержит блок 1 позиционирования для перемещения контролируемой микросхемы, основание 2, соединительную плату 3, контактирующий узел 4 с зондами 5, микроскоп 6 (для настройки зондов на контактные площадки микросхеьи), узел 7...

Стекло для изготовления стеклокристаллического цемента для изоляции элементов интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 948921

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Ермолаева, Кошелев, Петрова

МПК: C03C 3/22

Метки: изоляции, интегральных, стекло, стеклокристаллического, схем, цемента, элементов

...в течение 4 часов при темпе - ратуре 1600 С. Выработку стекол проводят в виде гранулята путем от- зо ливки расплава в дистиллированную воду. Полученный гранулят измельчают в яшмовом барабане на валковой мельнице до удельной поверхности 5000 см: /г.Покрытия ситалла на кремнии получают следующим образом. Из порошка стекла на изобутиловом спирте готовят пасту сметано-образной 1 консистенции. Тщательно перемешанную пасту наносят методом полива на кремниевые пластины, Диаметр используемых кремниевых пластин составлял 40 мм, толщина - 300 мкм.1 21 4Количество наносимой пасты подбираютопытным путем таким образом,. чтобыполучить после оплавления и кристаллизации ситалловый слой толщиной 50010 мкм. После нанесенияслой пасты высушивают на...

Устройство для контроля электрических параметров электронных схем

Загрузка...

Номер патента: 949557

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Левон, Самарцев

МПК: G01R 31/28

Метки: параметров, схем, электрических, электронных

...и щ-разрядного сдвигающего 140 пульсы проходят на счетчик 18, нарегистра, входы второго логического выходах которого формируется код ноумножителя соединены с выходами соот- .мера контрольной установки (1-1)ветственно и-разрядного сдвигающего (1-щ), поступающий на преобразовательрегистра и управляющего вычислитель кода и в управляющий вычислительного блока, выходы логических умножиный блок 19телей соединены с соответствующими Преобразователь 16 кода преобраэувходами блока сканирования, вход . ет код номера контрольной устасчетчика соединен с выходом генера" новки (1-1)-(1-щ) в параллельныйт тактовых импульсова его выхо- :позиционный код. В зависимостиорант ольной стады - соответственно с входами управ О от кода номера контрольно...

Устройство для контроля пересчетных схем

Загрузка...

Номер патента: 949820

Опубликовано: 07.08.1982

Автор: Свинтицкий

МПК: H03K 21/34

Метки: пересчетных, схем

...преобразователя, вторые входы - с выходом генератора пилообразного напряжения, а выходы соответственно с первым и вторым входами элемента ИЛИ, выход которого подключен к входу генератора пилообразного напряже-,10 ния и установочному входу счетчика.На фиг. 1 представлена блок-схема устройства для контроля пересчетных схем; на фиг. 2 - временные диаграммы, поясняющие его работу.Устройство содержит счетчик 1, шину 2 тактового входа, цифроаналоговый преобразователь 3, установочный вход 4 счетчика, генератор 5 пилообразного напряжения компараторы 6 и 7, элемент ИЛИ 8 и входную шину 9 сброса.20Устройство работает следующим образом.По сигналу, поступающему на входную шину 9, счетчик 1 устанавливается в исходное состояние и начинается счет...

Устройство для анализа состояний логических схем

Загрузка...

Номер патента: 951311

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Балджи, Бондаренко, Коробцов, Майлис, Ткаченко

МПК: G05B 23/02

Метки: анализа, логических, состояний, схем

...работает следующимобразом.Входы 1 и 2 устройства подсоединяются к двум каким-либо контактамконтролируемой логической схемы.На входы схемы подается последовательность кодовых комбинаций, вызывающая изменение логических сигналовна ее контактах, При появлении, например, на входе 1 логического сигнала Оф 1, а на входе 2 сигнала 401 срабатывает элемент ИИПЛИКАЦИЯ 3. Это вызывает переброс тригге-;ра 5, а также срабатывание цепочки,состоящей из связанных с ним формирователя 7, элемента ИЛИ 10 и счетчика 11. Формирователь 7 формируетиз выходного потенциала триггеракратковременный импульс. После срабатывания триггера 5 на входе элемента И 9 появляется первый разрешающий сигнал, а на счетчике 11Фиксируется 1 ф, означающая появление...

Устройство для контроля выходных параметров электронных схем

Загрузка...

Номер патента: 954904

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Самарцев, Туз

МПК: G01R 31/28

Метки: выходных, параметров, схем, электронных

...контролируемой схемы 7, который через переключатели13 и 14 поступает на суммирующий вход блока 15 сравнения. Одновременно открывается первый ключ 18 и пе-,45 редним фронтом первого импульса,поступающего от второго формирователя.16 запускается генератор 20 линейно- изменяющегося сигнала и сбрасывается в нулевое состояние счетчик 23 им" пульсов. При этом на выходе перепол 56 нения счетчика 23 формируется сигнал, равный логическому "0". На вычитающий вход блока 15 сравнения через переключатели 11 и 14 с выхода первого блока умножения 10 поступает 55 сигнал, равный произведению линейно". развертывающего сигнала генератора 20 и выходного сигнала контролируе мой схемы 7. Пока значение сигнала, поступающего на суммирующий вход бло" ка...

Устройство для проверки функционирования логических схем

Загрузка...

Номер патента: 955072

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Гуляев, Залеский, Карабутов, Климанов, Неудачин, Скобов

МПК: G06F 11/25

Метки: логических, проверки, схем, функционирования

...6, при этом под воздействием этих сигналов в коммутаторе происходят соответствующие переключения контактов, обеспечивающих подключение к определенным каналам коммутатора входных и выходных контактов проверяемой логической схемы 8, а также групп входов и выходов блока 5.В следующем временном такте с блокаподается импульс опроса в блок 4, разрешающий параллельный ввод информационных входных сигналов через блок 5 в блок 7 и по каналам коммутатора 6 на входные контактные проверяемой логической схемы 8. Блок 5 определяет реакцию контролируемых входов и в случае, если хотя бы одйн из входов проверяемой логической схемы замкнут на землю, формирует сигнал неисправности данного входа, поступающий в блок 7 для фиксации номера неисправного...

Устройство для контроля схем сравнения

Загрузка...

Номер патента: 960822

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Глебович, Шушков

МПК: G06F 11/30

Метки: сравнения, схем

...отсутствии сигнала Х 1. В, случае исправности схемысравнения триггер 4 остается в нулевомсостоянии (все триггеры устройствапереключаются при подаче на их информационные входы перепада "логическаяединица - логический нуль".) и с егоинверсного выхода на вход второгоэлемента И 8 поступает сигнал логической единицы, т.е. элемент И 8 открыт для прохождения импульсов тактовой последовательности.Первый тактовый импульс переключает триггер 5 в единичное состояние,в результате чего на входе счетчика3 возникает перепад "логическая единица - логический нуль" и в счетчик3 записывается"1" (А = 1, В =О). Приэтом состояние триггеров 5 и 6 "10",а схема сравнения должна выдать сиг-.,нал Х 2 (АВ) .Второй тактовый импульс переключает триггер 5 в нулевое...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 960959

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Александров, Арасланов, Пономаренко

МПК: G11C 29/00

Метки: интегральных, схем

...устройстводля контроля интегральных схем, общий вид на фиг. 2 - то же в плане;на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2;на фиг, 4 - вид Б на фиг. 3.устройство содержит прозрачныйкондуктор 1, над которым располагается контролируемая доменная интегральная схема 2, первую 3 и вторую 4П-образные планки, планку 5 с уголковым вырезом, держатель 6, ось 7эксцентрика перемещения ИС по координате У, ось 8 эксцентрика перемещения ИС по координате Х, каретку 9,ось 10 эксцентрика кругового перемещения ИС, шарики 11, контакты 12,дисковую пружину 13, основание 14,шайбу 15, прухинный прижим 16 планки 4, стойки 17, пружинный прижим 18планки 3, пружинный прижим 19 планки5, вертикальный палец 20, эксцентрик21 перемещения ИС по координате У,эксцентрик 22...

Способ изготовления пленочных резисторов печатных схем

Загрузка...

Номер патента: 961169

Опубликовано: 23.09.1982

Авторы: Лебедев, Хижа

МПК: H05K 3/00

Метки: печатных, пленочных, резисторов, схем

...с парными проводящими контактными площадками 32-45 на резисторномслое 46-47. Полученные дискретные части резистора с проводящими площадками и соответственные элементы 6-") 5-15 фотошаблона, определяющие то 1961169 пологию дискретных частей резисторов,формируют согласно соотношениям(2)-(5) . Затем проводят промежуточное измерение величины изготовленной части резистора, например резистора 18, по контактным площадкам 32и 39Смещают фотошаблон по оси Хи повторным удалением проводящегослоя путем селективной фотолитографии полосков, по длине совпадающихс осью Х, на участках длиной ь Р,согласно соотношению (1) Формируютнедостаточную часть каждого резистора в виде дискретных частей 48-54(фиг.5 .Смецают фотошаблоны по оси У ина плате повторным...

Инструмент для присоединения внутренних выводов полупроводниковых приборов и интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 961901

Опубликовано: 30.09.1982

Авторы: Колычев, Щепин

МПК: B23K 20/10

Метки: внутренних, выводов, инструмент, интегральных, полупроводниковых, приборов, присоединения, схем

...цель достигается тем,что в инструменте, содержащем стер жень, имеющий продольную канавку нарабочем торце и боковое капиллярноеотверстие для подачи привариваемойпроволоки, боковое капиллярное отверстие выполнено овальным, при З 0 этом длина большей оси овала равна(2-3) й, а длина меньшей оси овала равна (1,2-1,4)с 1, где д - диаметр привариваемой проволоки.На Фиг. 1 и 2 показан инструмент в двух проекциях; на фиг. 3 - узел 1 на Фиг. 2; на фиг. 4 - сечение по 5 А-А, на Фиг. 3.Инструмент состоит из цилиндрического стержня 1, на конусном, торце которого имеется рабочая площадка 2 с пазом 3 и боковое капиллярное отвер стие 4.Работа инструмента осуществляетсяФ ледтющим образом,Проволоку пропускают через боковое капиллярное отверстие 4...

Тестовая структура для контроля отклонений размеров элементов интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 963121

Опубликовано: 30.09.1982

Автор: Устинов

МПК: H01L 21/66

Метки: интегральных, отклонений, размеров, структура, схем, тестовая, элементов

...резисторы 36, прямоугольный элемент 7 из поликристаллического кремния, прямоугольные окна 8 в диэлектрическом слое 9,проводники 10, контактные площадки11, прямоугольные области 12 с меньшим 1 чем у резисторов удельным сопротивлением.Пример применения тестовой структуры (ТС), имеющей прямоугольные области с меньшим, чем у материалатонкопленочных резисторов удельнымсопротивлением (фиг. 1 и 3).На окисленную поверхность 1 полупооводниковой подложки 2 нанесенылитографические слои, в которых выполнены тонкопленочные резисторы 3-6.Каждый из них представляет собой пря;моугольный элемент 7 из поликристаллического кремния, к которому сверхучерез прямоугольные окна 8 в диэлектрическом слое 9 контактируют проводники 10 и контактные...

Способ электрохимической обработки печатных схем

Загрузка...

Номер патента: 963785

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Иоффе, Шавырин

МПК: B23P 1/04

Метки: печатных, схем, электрохимической

...токоподводов 7, т.е. (П - Н ). Черезтокоподводы 7 к фольге 10 печатнойплаты подводится положительный потенциал от источника технологичес- щкого тока 11. Отрицательный полюс,источника 11 подведен к вспомогательному электроду 12, Между фольгой 10 платы и вспомогательным электродом 12 насосной станцией 13 прока" 45чинается электролит 14. При протекании анодного тока растворения между токопроводящим покрытием 10 печатной платы и вспомогательным электродом 12 производится электрохимическое травление токопроводящегопокрытия 10 в пробельных участкахпечатной схемы, а проводники печатной схемы, закрытые покрытием 3, необрабатываются их конфигурация определяется конфигурацией покрытия 3,соответствующего конфиругации проводников печатной схемы,...

Электрод-инструмент для электрохимической обработки печатных схем

Загрузка...

Номер патента: 963788

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Иоффе, Шавырин

МПК: B23P 1/12

Метки: печатных, схем, электрод-инструмент, электрохимической

...производится прокачка электролита при обработке печатных схем. В каналы 6 установлены плунжеры 7, соединенные штоками 8 с приводом 9. В качестве привода мо" жет быть применен гидравлический, пневматический, электромеханический и другие типы известных приводов, 1 ОЭлектрод-инструмент при обработ-, ке печатных схем прижимается к фольге обрабатываемой печатной платы и устанавливается в ванну с электролитом. Плунжеры 7, перемещаются в кана чах 6 возвратно-поступательно: при вводе в каналы 6 выталкивают из рабочей зоны электролит, а при выводе засасывают новую порцию электролита из ванны. Электрод, кроме основ- ;щ ной Функции инструмента для электро- химической обработки печатных схем, к которому приложен отрицательный полюс источника...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 966628

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Барткявичус, Курганов, Троицкий

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, схем

...импульса накоммутатор 3 после чего генератор 2начинает вырабатывать линейно-нарастающее положительное напряжение 0,поступающее через резистор 5 и коммутатор 3 на вывод питания положительной полярности интегральной схемы 11(фиг,2) .Одновременно с запуском генератора 2, синхронизатор 1 запускаетблок 8 цифрового отсчета времени,который отсчитывает в двоичном кодевремя нарастания напряжения питанияна входе контролируемой интегральнойсхемы 11 до момента пробоя или нару- бОшення непрерывности нарастания питания.В связи с тем, что напряжение питания возрастает по линейному закону, циФровой отсчет времени в блоке 8 б 5 пропорционален текущему значению напряжения питания.Блок 6 дифференцнрует,поступающеена его вход линейно-возрастающее...

Устройство для контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 966699

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Агафонов, Галка, Крамской, Мущенко, Никитин, Петров, Хоменко, Щирин

МПК: G06F 11/263

Метки: интегральных, схем

...схемы выход амплитудного Формирователя блока 8 через контакты реле КР 1, повторитель56 - через контакты реле КР 2, корпус - через контакты реле КР 3, эквивалент нагрузки 55 - через контактыреле КР 4 и блок 1 О - через контактыреле КР 5,Команды управления реле записываются в регистры 4 с линии Д 7 - ДО,,9 9666а выбор требуемой коммутирующей ячейки 53 осуществляется по линиям адреса АУ-АО.При работе вывода контролируемойинтегральной схемы б в режиме приема зинформации включены контакты релеКР 1, При этом, из блока 8 на данныйвывод контролируемой интегральнойсхемы 6 через блок 5 подаются импульсы тестовой последовательности, сформированные по амплитуде.В режиме чтения информации из контролируемой интегральной схемы бвключены...

Устройство для контроля схем сравнения

Загрузка...

Номер патента: 970377

Опубликовано: 30.10.1982

Автор: Лопатин

МПК: G06F 11/26

Метки: сравнения, схем

...выходы - в состоянии логичес- ловие А= б (после окончания формиркого нуля. вания последовательности всех возУстройство работает следующим об- можных комбинаций кодов на выходахразом. счетчиков 1 и 2 ). Одновременно сС поступлением импульсов на такто- этим сигнал переноса третьего счетвый вход 13 устройства счетчики 1 ичика 3 переключает распределитель2 одновременно изменяют свои состоя" 4 импульсов во второе состояние,приния, сохраняя равенство кодов вплоть котором на всех его выходах, кромедо появления в них комбинаций "11 . второго, устанавливаются сигналыТриггеры 9 и 10 находятся при этом с уровнем логического нуля, В каждомв нулевых состояниях, что соответству-)О из Ч состояний распределителя 4ет равенству чисел А и 8 в счетчи" ....

Устройство для контроля схем управления тиристорными преобразователями частоты

Загрузка...

Номер патента: 972415

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Грузов, Завьялов

МПК: G01R 23/00

Метки: преобразователями, схем, тиристорными, частоты

...И 2 И+3, выходной погическийэлемент И 2 и+4.Устройство работает следующим образом.Сигнал начапьной установки (фиг. 26) 30устанавливает все триггеры в исходноеположение, это происходит в произвопьный момент времении Ьо, 9 момент времени 1, когда появляется импупьс С(фиг, 2,а ) нв нервом входе устройстватриггера 1 (фиг. 2,в) переходит в состояние "1", разрешая тем самым прохождение импульса С через входной логический эпемент И И+2 на вход триггера 2По заднему фронту импупьса Стриггерпереключения 2 И+2 переходит в состояние "0 (фиг, 2 г).В момент временипоявляется сигнвп С (фиг. 2,а) на втором входе устройства и переводит триггер 2 в состояние "1" (фиг. 2,в ), что разрешит прохождение импульса Су через входной погический эпемент И И+3 на...

Устройство для измерения параметров интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 972423

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Белогуб, Бровко, Еремин

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, параметров, схем

...такжепрограммируемый источник 8 тока, дополнительный источник 9 тока и коммутатор 10,который вторым входом соединен с испытуемой схемой 5. Второй вход нуль-индикатора 7 подключен к выходу источника 4.Схема 2 управления соединена с выходомнуль-индикатора 7 и с управляющими входами источника 8, источника 9 и коммутатора 10. Аналоговые входы источников 4,8 и 9 подсоединены к выходу источника 11эталонного напряжения,5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Устройство работает следующим образом.В соответствии с программой, переданной из программатора 1, схема 2 управления устанавливает задатчик 3 исходных режимов и программируемый источник 4 испытательного напряжения в состояние, необходимое для контроля интегральной схемы 5. Ток программируемого...

Устройство для контроля и диагностики логических схем

Загрузка...

Номер патента: 972516

Опубликовано: 07.11.1982

Автор: Бурдиян

МПК: G06F 11/26

Метки: диагностики, логических, схем

...сигналы с которого подаются на эталонный блок 3 и диагностируемую логическую схему 4, а также на первые входы элементов И группы 5 и группу входов элемента И 11. Выходные реакции логических схем сравниваются первым блоком б сравнения и суммируются на накапливающем сумматоре 7 в каждом такте.972516 Предлагаемое устройство контроля и диагностики логических схем обладает рядом преимуществ, основными из которых явлются возможность создания унифицированного оборудования для диагностики широкой номенклатуры логических схем, автоматизация и высокая точность диагностики. В общей случае, если счетчик импульсов имеет и выходов, число выходов первого блока б сравнения 1,то накапливающий сумматор должениметь л+1 разрядов. При этом в...

Устройство для проверки диодно-релейных схем

Загрузка...

Номер патента: 974303

Опубликовано: 15.11.1982

Авторы: Зимин, Семенищев

МПК: G01R 31/28

Метки: диодно-релейных, проверки, схем

...выводом блока согласовання и обшей шиной, выход блока фикса-., 1цци тока через второй триггер соединенс соответствующими входами блока индикации.На чертеже представлена структурнаясхема устройства. 20Устройство содержит блок 1 согласовапи, генератор 2 импульсов, блок 3 разделения импульсов, первый триггер 4,блок 5 индикации, блок 6 фиксации тока,второй триггер 7, 2Работа основана на том, что при прохождении импульса тока через объект 8контроля, содержащий реле и диоды, фиксируют факт прохождения указанного импульса тока через контролируемую цепьи возникновения ЭДС самоиндукции вслучае наличия шунтируюшего диода,Устройство работает следующим образом,Генератор 2 импульсов выдает импульстока, .который проходит в случае целостности цепи...

Устройство для контроля контактирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 978085

Опубликовано: 30.11.1982

Автор: Терпигорев

МПК: G01R 31/02, G01R 31/28, G01R 31/303 ...

Метки: интегральных, контактирования, схем

...контроле контактирования ИС контактные площадки структур на пластине ( выводы готовых ИС) для подключения источника питания ИС закорачиваются на корпус, а осталь ные выводы ИС разбиты на две группы в зависимости от типа канала выходного транзистора ( полярности подключения защитного диода ) и подключены через токоограничивающие резисторы 5 к разноименным выходам источника 6 напряжения таким образом, чтобы обеспечить открытое состояние этого транзистора (прямое смещение диода). При коротком замыкании контролируемого вывода на общую шину на входе двухпорогового дискриминатора 7 присутствует нулевой уровень потенциала, при отсутствии контакта - высокий уровень потенциала (равный напряжению источника 6), а при наличии контакта для...

Способ контроля прочности внутренних выводов полупроводниковых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 979935

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Лифанов, Хлопов, Чернуха

МПК: G01M 7/00

Метки: внутренних, выводов, интегральных, полупроводниковых, прочности, схем

...с противоположной стороныкорпуса 1 по его внешнему контуру. Дляприложения нагрузки в центре корпуса подвижный элемент 7 вибратора 5 делают выпуклым, Путем перемещения вибратора 5 в на.правлении опор 6 корпус 1 изгибают стати 50ческой нагрузкой, создающей в кристалле 2со стороны крепления внутренних выводов 3напряжения растяжения, воздействующие назаделку концов выводов 3, Уровень деформации изгиба корпуса 1 контролируется тензо.датчиком (не изображен), После достижения . 55требуемого уровня статической деформацииизгиба включают вибратор 5 и к корпусу 1прикладывают вибрационную нагрузку, созда 4ющую циклическую деформацию изгиба корпу.са. Амплитуду вибрации поддерживают постоян.ной, а частоту физменяют в...