Патенты с меткой «уровням»

Номер патента: 777592

Опубликовано: 07.11.1980

Авторы: Бартмер, Поляков, Чернышева

МПК: G01R 17/10

Метки: двум, индикацией, уровням

...- датчик параметра 3, в другое нижнее плечо - резистор предупредительной уставки 4, К одному из плеч подключен через ограничительный резистор источник прямоугольных импульсов тока 8, так что на время отрицательной полярности импульса (или отсутствия импуль777592 Составитель И, БахтинаТехред В. Серякова Корректор Л. Тарасова Редактор Б. федотов Заказ 2414/17 Изд.556 Тираж 1033 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 са при источнике однополярных импульсов) потенциал в месте подсоединения устанавливается равным предупредительной уставке, а при положительной полярности импульса - равным аварийной уставке.В диагональ моста...

Номер патента: 794670

Опубликовано: 07.01.1981

Авторы: Аржеухов, Олейниченко

МПК: G11C 29/00

Метки: двум, единиц, записи, записьюсигналов, контролямагнитных, накопителей, перек-лючением, потока, уровням

...втором канале сигнала ошибки, соответствующий второй и третьей ошибкам, в то время как дополнительные сигналы ошибки 5 д, 5,", формируются,Устройство, реализующее предложенный способ, содержит группу 1 блоков контроля информации 2 в каждом канале, блок поперечного контроля 3, буферный накопитель 4, блок управления записью и чтением из буферного накопителя 5, блок управления 6, коммутатор 7, блок формирования дополнительного сигнала ошибки 8 и блок коррекции ошибок 9.Устройство работает следующим образом.Информация поступает с магнитного носителя по У+1 каналам (У+1-Й канал контрольный) на блоки 2, Каждый из блоков 2 в 1-м канале реализует способ-прототип, т. е. осуществляет запись сигналов по двум уровням с переключением потока при...

Номер патента: 842974

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Аржеухов, Исаев, Степанова, Ускова

МПК: G11C 29/00

Метки: двум, записью, магнитных, накопителейс, сигнала, уровням

...к усилителю 31 записи. Выход 13 элемента ИЛИ 10 соединен со входом элемента 40 задержки и узлом 42 контроля, вход которого соединен с блоком 4 управления, а выход - со схемой 22 фиксации сбоя, Выход анализатора 41 соединен с нулевым входом триггера 43, единичный вход которого соединен с блоком 4 управления. Выходы триггера 43 подключены к управляющим входам элементов И 44 и 45, выходы которых подключены к элементу ИЛИ 46, выход которой соединен с выходом устройства. Элемент 40 задержки через преобразователь 47, который преобразует инвертированные при записи последовательности в прямой код, соединен с информационным входом элемента И 44 и непосредственно к информационному входу элемента И 45.На фиг. 2 представлены временные диаграммы, где...

Номер патента: 1269061

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Дмитриев, Малков, Петров

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, кмоп, надежности, отбраковки, схем, уровням

...Ом до момента, пока в результате очередной проверки будет полученсигнал, свидетельствующий о прекращении функционирования микросхемы,Функционирование микросхем контролируют методом функционально-параметрического контроля, при этомконтроль заданного значения параметра производится путем измерениязначения напряжения выходного сигнала через время задержки контроляпосле подачи очередного входногосигнала,Параметр считается соответствующим норме, если выходное напряжение микросхемы через время Т соответствует заданному в технических усло-,виях логическому уровню. Таким образом, контролируемым параметромявляется уровень выходного сигналачерез время г, Микросхема считаетсяправильно функционирующей, если выполняются условия где Б ; - выходной...

Номер патента: 1640660

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Воинов, Кураченко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, кмоп, надежности, отбраковки, схем, уровням

...у и нижней границе ее изменения РуИзвестно, что при проведении испытаний по биноминальной схеме при отсутствии отказов в процессе испытанийРу=(1 -у)" (3) где и - минимальное количество испытаний.Для определения количества минимально необходимых испытаний положим РуРтр,При этом условии соотношение (3) принимает видР,р (1 -у)(4)Логарифмируя неравенство (4), получим(5)Ограничиваясь минимальным значением и, получимп и (6)откуда и следует формула изобретения, На чертеже показана схема реализации способа.На схеме обозначены источник 1 питания, переменный резистор 2 нагрузки, испытуемая микросхема 3, блок 4 функционально-параметрического контроля, например стенд контроля интегральных схем "Повод".Напряжение питания с источника 1 подается на...