Патенты с меткой «схем»

Страница 18

Устройство контроля контактирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1383231

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Баранов, Барановский, Романенков

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, контактирования, схем

...один вывод подключенияпитания ИС соединен с выходом источника 3 напряжения. 40Устройство работает следующим обРазом,В исходном состоянии при отсутствии контакта между зондами блока 2зондов и выводами ИС 1 датчики 4 потенциала открыты, напряжение на инверсных входах управляемых компараторов 6 превышает напряжение на прямыхвходах, поступающее с блока 5 опорных напряжений, поэтому выходы управляемых компараторов 6 находятся всостоянии логического нуля.После опускания зондов блока 2зсндов на выводы ИС 1 на вывод подкл:ючения питания ИС 1 поступает потенциал источника 3 напряжения. В результате этого на выводах ИС 1 устанавливается потенциал, соответствующий напряжению источника 3 напряжения. При наличии контакта между зондами и выводами...

Устройство для контроля логических схем

Загрузка...

Номер патента: 1383236

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Особов

МПК: G01R 31/28

Метки: логических, схем

...четвертый элемент И 12 фиксируется на втором счетчике 17. Третий элемент И 11 закрыт лог. "О", поступающим с выхода элемента НЕ 5. При переходе контролируемой точки в стабильное состояние (лог. "0" или лог. "1") на шине 24 синхронизации присутствует лог. О , 25 четвертый элемент И 12 закрыт.Таким образом, на втором счетчике 17, а следовательно, и на "втором индикаторном элементе 20 в процессе контроля зафиксируются моменты перехода контролируемой точки в третье состояние.При нахождении контролируемой точки в состоянии лог, "О" на выходе компараторов 3 и 4 присутствует лог,35 "0", на выходе третьего элемента И 11 - лог. "О", свечение третьего индикаторного элемента 21 отсутствует. При нахождении контролируемой точки в состоянии лог. "1"...

Устройство для контроля схем сравнения

Загрузка...

Номер патента: 1383367

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Рахлина, Тимонькин, Ткаченко, Харченко

МПК: G06F 11/22

Метки: сравнения, схем

...возвращении триггера 7 в исходное состояние.Элемент И 9 управляет прохождением тактовых импульсов на счетный вход триггера 6. Он открывается только при нулевом состоянии триггера 5, поэтому на вход триггера 6 проходят только нечетные тактовые импульсы.Устройство для контроля схем сравнения работает следующим образом.В исходном состоянии все элементы памяти находятся в нуле. Цепи установки элементов схемы в исходное состояние условно не показаны,После поступления сигнала Пуск на вход 11 устройства триггер 7 переключается в единичное состояние и запускает генератор 8 импульсов, который начинает формирование последовательности тактовых импульсов.Первый тактовый импульс проходит на вход элемента И 15. Если на втором выходе контролируемой...

Устройство для определения области работоспособности радиоэлектронных схем

Загрузка...

Номер патента: 1386947

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Мочалов, Мочалова, Орлов

МПК: G01R 31/28

Метки: области, работоспособности, радиоэлектронных, схем

...13 к первому адресному входу блока 29 и определяет строку матрицы, второй выход генератора 12 - к второму адресному входу и определяет столбец матрицы.В результате каждому значению кодов на выходах генератора 12 соответствуют свои уровни возмущающих воздействий и свои ячейки памяти в блоке 29 памяти. Это позволяет одновременно с испытанием схемы 1 записывать оценку ее работоспособности вблок 29 памяти,Для этого в каждом такте по синхросигналу Х с выхода коммутатора 4 после установления адресных кодов на входах блока 29 памяти на его выходах появляется содержимое выбранной ячейки памяти. Информация в каждой ячейке памяти блока 29 записывается в трех информационных полях и одномуправляющем поле. Управляющее поле ячейки содержит два...

Устройство для проверки электромонтажных схем

Загрузка...

Номер патента: 1390580

Опубликовано: 23.04.1988

Авторы: Корнильев, Фризюк

МПК: G01R 31/02

Метки: проверки, схем, электромонтажных

...друг от друга обеспечивают резисторы 38, дискретно изменяемые от одного кодирующего блока к другому при одинаковых величинах остальных одноименных резисторов. 25При проверке на обрыв и соединение с общим проводом, кодирующие блоки 26.1 - 26.3 практически не используются, так как отсутствие связи (обрыв) приводит к сохранению30 амплитудных значений двуполярных импульсов максимальными и симметричными, а в случае соединения с общим проводом - минимальным, Если щуп 2 не подключен ни к одному из контактов проверяемой схемы (или при касании 35 щупом 2 жилы с обрывом) на нем и на входе усилителя 6 присутствуют двуполярные импульсы, амплитуда которых максимальна. Выпрямитель 7 преобразует эти импульсы в однополярные, а 40 преобразователь 10...

Устройство для контроля параметров линейных интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1397859

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Адарюков, Малков, Негребецкий, Пашков, Стадченко

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, линейных, параметров, схем

...счетчика 15. Пусть (у- г, )О, тоГда импульсы с генератора 14 через переключатель 13 будут поступать на прямой вход счетчика 15 и код И в нем буде г увеличиваться. Соответственно коду И коэффициент ослабленияаттенюатора 8 увеличивается до тех пор, пока значение у, выходного сигнала детектора 1 О не превысит значение г о источника 7 опорного напряжения. После этого блок 11 установит переключатель 13 в состояние, при котором импульсы с генератора 14 будут поступать на инверсный вход счетчика 15, и код И в нем и соответственно коэффициент ослабления 1 , аттенюатора 8 будут уменьшаться до тех пор, пока значение ус не стаС нет меньше знаяпня г и т,д, В результате нескольких чередующихся циклов увеличения и уменьшения коэффициент ослабления...

Устройство защиты микроэлектронных гальванически развязанных схем от коммутационных перенапряжений

Загрузка...

Номер патента: 1398004

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Байле

МПК: H01T 4/10

Метки: гальванически, защиты, коммутационных, микроэлектронных, перенапряжений, развязанных, схем

...Редактор В.Петраш Заказ 2604/52 Т.ираж 632 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по,целам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано винформационно-управляемых и вычисли -тельных системах для защиты гальвани 5чески развязанных схем, передающихсИгналы напряжений и така, от коммутационных перенапряжений.Цель изобретения - повышение надежности работы. 10На чертеже изображено предлагаемое устройство,Устройство содержит разрядные электроды 1 из резистивных полосок, искровой промежуток 2, концы 3 резистивных полосок, развязанные элементы 4.Сущность изобретения заключаетсяв...

Устройство для автоматического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1401418

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Белогуб, Бровко, Номировский

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем

...измерительный резистор 5 при этом протекает суммарный ток, равный сумме токов утечки в измерительной линии, коммутаторе 6, цепях обратной связи, повторителе 4 и входного тока объекта 13 контроля, Падение напряжения на измерительном резисторе 5, пропорциональное сумме этих токов, выделяется сумматором 10. При этом на 10 первый вход сумматора 10 поступает напряжение с выхода повторителя 4 через инвертор 9, выполненный на базе усилителя 32 с единичным коэффициентом усиления, определяемым резистора ми 33 и 34На второй вход сумматора 10 поступает напряжение с выхода программируемого источника 3 напряжений, Коэффициент передачи сумматора 10 определяется резистором 36 обратной связи. Выделенное напряжение с выхода сумматора 10 поступает на...

Устройство для контроля контактирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1406539

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Архипов, Афанасьев

МПК: G01R 31/04, G01R 31/28

Метки: интегральных, контактирования, схем

...входе АЦП 7.Напряжение 0(п) поступает на вход АЦП 7, который имеет разрядность М, и может сформировать на выходе макЭО симальное значение двоичного кода с десятичным весом ш=2"-1 при Ц(п)=Е на входе. Если П(п)Е, то на выходе АЦП 7 формируются двоичные коды, десятичный вес а которых меньше и может быть подсчитан из соотношения 35П (и) (2 мли напряже колеблетс П (и) +Ж (и)оичные код ие Ц(п) на вых в пределах 2на выходе АЦП 7 мея и их десятичный вес е двоичные коды, лежа- диапазоне и поступаюобразователя 10, должать одному и тому же ольку отклонение чем отклонение ВП(п),. изменению и на еди 5 то дв няютс ш, .Вс щие в я, меняетс е различны некотором щие н ны со п ветствов по качению и, П(п) /2 мен е, ее соответстницу. обы преобразо с...

Способ контроля качества мдп интегральных схем с тестовыми транзисторами

Загрузка...

Номер патента: 1408393

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Латышев, Лисовский, Ломако

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, качества, мдп, схем, тестовыми, транзисторами

...без ошибок. При этих же лозах измеряют значения пороговых напряжений тестовых и- и р-канальных транзисторов. Циклы облучения - измерения параметров проводят до тех пор, пока це будет достИГНУто ЭНДЧЕНИЕ Я = Со. ЗДВИСИМОСтИ Г и П от лозы облучения (Р) испольгрЗУются Д 5151 пос ГРО ения ФУцк дни Го (11 с ) которая позволяет оценить качество схемотехпичес 1 со 1 о п 11 ое 1 стд. Нд фиг, 1-3 приведецы графики, логясцяющие предлагаемый способ.На фиг.1 показаны зависимости пороговых напряжений тестовых р-канальных транзисторов от дозы облучениядля схем 1 и 11. Указаны точки перехода линейной зависимости 1), (Р) кнелинейной, которые в нашем случаесоответствуют дозе = 10 Р. Видно,что изменение Б,р (Р) для схемы 11вьш 1 е, чем для схемы 1....

Устройство для контроля комбинационных схем

Загрузка...

Номер патента: 1410035

Опубликовано: 15.07.1988

Автор: Баранов

МПК: G06F 11/16

Метки: комбинационных, схем

...комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Заказ 3481/45 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Иэ обре те ние относится к вычислительной технике и может быть использовано для проверки работоспособнос ти комбинационных схем дискретногодействия и локализации в них неис;правностей.Целью изобретения является повышение достоверности контроля.На чертеже представлено предлагаемое устройство.Устройство содержит генератор 1импульсов, первый счетчик 2, дешифратор 3, блок 4 индикации, узел 5свертки по модулю два, Формировательб импульсов, второй счетчик 7, атакже контролируемая комбинационнаясхема 8.Устройство работает следующим образом.Перед началом работы...

Способ контроля логических схем

Загрузка...

Номер патента: 1411698

Опубликовано: 23.07.1988

Автор: Локазюк

МПК: G01R 31/3177

Метки: логических, схем

...("0" или "1") на входы 5.1-5.потключают по одному шинные формирователи 1.1 - 1.п. Отключение каждого изисправных элементов увеличивает токв цепи на определенную постояннуювеличину. Отключение неисправногошинного формирователя не увеличиваетток в цепи. Бракуют шинные Формирователи, не увеличившие ток на определенную постоянную величину.Поиск неисправного элемента в случае неотключения одного или нескольких шинных формирователей об общеймагистрали 3.Алгоритм поиска неисправных элементов в данном случае следующий, Навходах 4,1-4.п шинных формирователей1,1-1.п устанавливают уровень "1" иподачей соответствующих необходимыхсигналов (1011 или 1 п) на входы5.1-5,п разрешают передачу информа 5ции на выходы 2,1-2.п,. На общей магистрали...

Устройство для цифрового контроля электронных схем

Загрузка...

Номер патента: 1413633

Опубликовано: 30.07.1988

Автор: Нисневич

МПК: G06F 11/26

Метки: схем, цифрового, электронных

...тестовое слово с выходов регистра 25 может быть переписано по нужному адресу, определяемому блоком управления. Код получателя тестового слова определяется внешним устройством и сопровождает каждую порцию тестовой информации. Этот код поступает на входы дешифратора 33 с памятью в виде регистра. Соответствующие сигналы записи в получающие регистры формируются после стробирования выходных уровней дешифратора 33 сигналом 31 завершения формирования тестового слова. На выходе элемента ИЛИ 34 формируется сигнал 43 режима, который поступает на вход коммутатора 21, Если сигнал 43 имеет уровень "1", то на выходе коммутатора 21 постоянно имеется потенциал "1", Это приводит к последовательной переписи всей тестовой информации из регистра 24...

Контактирующее устройство для контроля кристаллов свч монолитных интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1415476

Опубликовано: 07.08.1988

Автор: Бугаец

МПК: H05K 1/11

Метки: интегральных, контактирующее, кристаллов, монолитных, свч, схем

...в гнездо 8, образованное прямоугольным отверстием 3 и плоскостьюпьедестала. Кристалл накрывается элас.томерным разъемом 11 (фиг.1). При визуальном наблюдении с помощью микроскопа золотые контакты 13 совмещаютс контактными площадками на кристалле 14 и диэлектрической подложке 4,и подается разряжение (форвакуум) . Это обеспечивает надежный электрический контакт экрана кристалла 14 с металлическим основанием 1, а также замыкание с помощью контактов 13 на пленке 12 соответствующих контактных площадок на кристалле 14 и диэлектрической подложке 4, или выступом 2 на металлическом основании 1 (корпуса)После этого включаются питающие напряжения, подаются измерительные сигналы и производятся измерения соответствующих электрических...

Устройство для коммутации маломощных схем

Загрузка...

Номер патента: 1418821

Опубликовано: 23.08.1988

Авторы: Ускач, Яковлев

МПК: A63H 30/04, H01H 13/26

Метки: коммутации, маломощных, схем

...выполненные из полиэтиленовой ленты, внутренняя поверхность которыхметаллизирована, например, фольгой3. Между металлиэированными поверхностями подвижных контактных элементов 1 расположен упругий элемент 4,выполненный в виде шайбы иэ электроиэоляционного материала, а междуметаллизированными поверхностями токоподводов 2 помещена полимерная "пленка 5. Полость 6, образованнаяподвижными контактными элементами 1 25и упругим элементом 4, герметиэирована за счет сварки,.Устройство работает следующим образом.При нажатии на подвижные кнат Оные элементы 1 их внутренние металлизированные поверхности соприкасаются и замыкают схему управляемого устройства, например, игрушки. При снятии сжимающего усилия с подвижных контактных элементов 1 под действием...

Устройство для защиты мдп-интегральных схем от статического электричества

Загрузка...

Номер патента: 1422398

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Свердлов, Соскин

МПК: H03K 19/094

Метки: защиты, мдп-интегральных, статического, схем, электричества

...представлена схема уст.ройства для защиты МДП-интегральных 15 :схем от статического электричества.Устройство содержит биполярные транзисторы 1, первый вывод 2 устройства, соединенный с эмиттерами транзисторов 1, второй выход 3 устройст ва, соединенный с базами транзисторов 1, выводы 4 коллекторов соответствую:щих транзисторов 1, дополнительный биполярный транзистор 5, эмиттер кото рого соединен с выводом 2 устройства, 25 а коллектор и база - с выводом 3 устройства. Устройство соединено с интегральной схемой 6. Каждый из защищаемых выводов 7 ИС соединен с од" ними из выводов 4. Вывод 8 подложки ЗО соединен со вторым выводом 3 устройства, а общая шина 9 ИС - с первым выводам 2 устройства.Устройство работает следующим об,разом. 35 При...

Устройство для контроля цифровых схем

Загрузка...

Номер патента: 1424019

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Атовмян, Березкин, Ефремов

МПК: G06F 11/26

Метки: схем, цифровых

...устанавливает момент опроса синхраимпульсом (через элементы И 7 и 8) состояний дешифраторд 9 эталонной сигнатуры. Единичный импульс на выходе 14 устройства свидетельствует о там, что эталонная сигнатура не совпала с Фактической сигнатурой, выработанной в результате проверки. Элемент И-НЕ 6 после обнаружения на входе 12 блоком 2 сравнения входного набора, совпадающего с очередным тестовым набором из контролирующей последовательности, пропускает очередной сицхраимпульс ца тактовые входы генератора 3 тестовых наборов и блока 4 свертки.Элемент ИЛИ-НЕ 11 предназначен для начальной устдцавки генератора 3 тестовых наборов и блока 4 свертки. Начальная установка производится сигналом на входе 15 или импульсом опроса состояния дешифрдторя 9...

Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430913

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Космачев, Малков, Молодык, Петров

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, надежности, полупроводниковых, приборов, схем

...2. Устанавливают требуемую амплитуду испытательных импульсов на выходе формирователя 2 и подают их на объект 3 контроля, Блок 5 выравнивает сигналы 45 переходного процесса и испытательных импульсов и вычитает, т.е, осуществляется выделение реактивных составляющих переходных процессов. Разделение сигналов реактивных составляющих переходных процессов, соответствующих фронту и спаду испытательных импульсов напряжения питания, осуществляется коммутаторами 6 и 7, При этом значения показаний вольтметров 8 и 9 (О и 0) соответствуют значениям реактивной мощности при фронте (Р,) и спаде (Р) импульса, Раздельно измейяя крутизну фронта и Т -Р, Т(,где минт РсмингеР Изобретение относится к электройной технике и может быть использовано при...

Устройство контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430914

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Гаврилов, Хлебников

МПК: G01R 31/02, G01R 31/303

Метки: интегральных, схем

...генератора 8 тока. Значение напряжения программируемого источника 6 напряжения равно0". Ток и нулевой потенциал поступают на два соответствующих вывода объекта 10 контроля, Выбор вывода объекта 10 контроля определяется информацией с блока 1 памяти. При наличииконтакта с выводом объекта 10 контроля через его входной диод протекает ток, который создает падение напряжения, фиксируемое измерителем 9.Компараторы измерителя 9 сравниваютуровень входного напряжения с двумяопорными напряжениями, задаваемымипрограммируемым источником 6 напряжений. Превышение входным напряжениемнормы соответствует браку, которыйфиксируется с выхода соответствующего компаратора измерителя 9 через,элемент ИЛИ 23 и элемент И 26 натриггере 15 в момент появления...

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430915

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Данилов, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем, функционального, цифровых

...9задержки - на микросхемах серии 500(например 500 ЛП 116), элемент И-НЕ 26 -на микросхеме 500 ЛМ 105.Устройство при контроле ИС по одному выводу работает следующим образом.На входную клемму 14 устройства поступает выходной сигнал с испытуемойИС с заданной частотой контроля(фиг,2 а). В блоке 1 аналоговых компараторов выходные сигналы ИС сравниваются с уровнями "1" и "0", задаваемыми источниками 19 и 20 опорных напряжений. На входную клемму 16 и,следовательно, на первый вход триггера21 поступает сигнал эталонной информа 1430915ции (фиг. 2 б), на входную клемму 17 (первый вход триггера 22) постоянно поступает сигнал разрешения контроля, разрешающий работу выходного тригге 5 ра 6. По достижении контролируемым сигналом уровня "0" (фиг.2 а,...

Устройство для юстировки элементов оптических схем

Загрузка...

Номер патента: 1436090

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Краснер, Кусимов

МПК: G02B 5/10

Метки: оптических, схем, элементов, юстировки

...оптической схемы 4 при условии, что соответствующие оптические элементы 1-3 отъюстированы, кроме то" га, датчик 6 интенсивности закреплен на корпусе оптической схемы 4 таким образом, что его центр совпадает с точкой пересечения продольной оси симметрии каналов коллиматоров 8, параллельной оптическим осям соответствующих оптических элементов 1-3 с карпу" сом 4 оптической схемы при условии что соответствующие оптические элементы 1-3 отьюстированы.Датчик 6 иктексивкости защищен экраном 17 представляющим собой свинцовую оболочку, покрывающую чув- ствительную поверхность датчика 6 интенсивности, с отверстием, центр которого сопадает с центром датчика 6 интексквкости.- Иатрица 5 чувствительных элементов ,Фиг.2 г) выполнена в виде...

Устройство для вырубки интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1442294

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Башкатов, Филипьев

МПК: B21D 28/14

Метки: вырубки, интегральных, схем

...на включение пресса. В момент т:.ырубки выталкиватель 6 находится в крайнем правомположении за пределами зоны вырубки,при этом подпружиненная планка развернута под действием выступов на 45направляющих 4. Интегральная схемапосле вырубки ложится в паз междупрофильными направляющими 4,Выталкиватель 6 перемещается вдоль лотка выгрузки и направляет подпружиненной планкой 7 вырубленную микросхему, при этом поводок 8 схо" дит с выступов направляющих 4 и планка 7 под действием пружины прижимает интегральную схему к направляющим 4, надежно фиксируя ее в них.При дальнейшем перемещении выталкивателя 6 интегральная схема попа" дает в наклонный лоток 9, имеющий профиль схемы и оттуда попадает в сменную кассету 10.Изобретение позволяет повысить...

Устройство для проверки диодно-релейных схем

Загрузка...

Номер патента: 1444685

Опубликовано: 15.12.1988

Автор: Савин

МПК: G01R 31/327

Метки: диодно-релейных, проверки, схем

...блока 5 распределениянапряжений равно нулю. Поэтому натретьем и четвертом выводах имеютсянапряжения логического нуля, которыеподаются на вторые выводы блоков 7и 8 управления. Так как к обоим вхо"дам логического элемента ИЛИ-НЕ 10приложено напряжение логического нуля, на его выходе образуется сигналлогической единицы, который подаетсяна второй вывод блока 9 управления,вызывая замыкание контактов 19 и 20,находящихся в блоке 2 согласования,через которые на объект 21 контролячерез входной разъем 14 подается пе"ременное напряжение высокой частоты, 1 ИД 685Ток высокой частоты после Объьскта21 контроля идет ца ицтегрл"ор 3.Параметры К и С интегратора 3 выбираюттакими, что для данной частоты емкостное сопротивление Х гораздоменьше К....

Устройство для испытания электронных схем

Загрузка...

Номер патента: 1449988

Опубликовано: 07.01.1989

Автор: Иванов

МПК: G01R 31/28, G06F 11/28

Метки: испытания, схем, электронных

...случае блок 4 деления в поле СР(2 ) реализован на элементе ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 7, блоки 6.1-6,3 умножения осуществляют умножение на -.так как соответствующие,ненулевые коэффициенты а 8, аэ и а, образующего многочлена равны 1Умножение на 1 эквивалентно простой передаче сигналов с входов блока на выходы без изменения (по этой причине блоки 6 на фиг.2 показаны пунктиром).Устройство работает следующим образом.Перед началом работы регистры 5 устанавливаются в нулевое состояние. Цепь установкив исходное состояние на Фиг.1 и 2 условно не показана, Синхросигналы проверяемого иэделия подаются на вход 1, контролируемые выходы - на входы 2. Устройство осуществляет сжатие длинных двоичных последовательностей, реакций объекта контроля (ОК) на...

Устройство для измерения теплового сопротивления интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1456919

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Кромин, Мадера, Резников

МПК: G01R 27/00, G01R 31/303

Метки: интегральных, сопротивления, схем, теплового

...цепи предустановки счетчика 13 и цепи записи "1" при начальной установке регистра 12.Генератор 11 тактовых импульсов формирует последовательность импульсов положительной полярности. Скважность этих импульсов равна скважности импульсов, представленной на диаграммах а и Ь(фиг. 2). Генератор 1.1тактовых импульсов определяет периодподачи напряжения питания на измеряемую интегральную схему 7. Ширинаимпульсов положительной полярностиопределяет время подачи на интегральную схему 7 напряжения источника 1напряжения. В начальный момент времени после нажатия кнопки 21 на выходегенератора 11 тактовых импульсов появляется логический "О", поэтомубуферные вентили 22, 1-22.М закрытыи источник 1 напряжения формирует нулевое значение питающего...

Способ контроля качества интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1458842

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Знаменская, Малков, Нуров, Петров, Черенков

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, качества, схем

...и, соответственно, проявляется в большем отклонении щ-параметра, целесообразно принять решение о выборе по меньшей мере одной цепи и нескольких значений измерительного тока, характеризуемых максимальными отклонениями ш-параметра от типового значения, Выбор нескольких значений тока и отказ от контроля непрерывной щ-ха" рактеристики в полном диапазоне токов упрощает процесс контроля. Повышение достоверности контроля дости гается за счет выбора в качестве информативных тех цепей, в которых отклонение ш-параметра у отказавших интегральных схем максимально, В отличие от известного способа, при котором выбираются цепи с наиболее часто встречающимися аномалиями, в предложенном способе может быть выбрана цепь с редко встречающимися...

Способ тестирования интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1465837

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Осипов, Суворинов, Титов, Шахбазов

МПК: G01R 31/308

Метки: интегральных, схем, тестирования

...соответственно; 11Физмеряемое напряжение; Ц- импульсы электронного пучка; Л(С) - интеграл информационного сигналя;Л -допустимая ошибка сравнения.На вход интегральной схемы 1 по-дают входной набор сигналов с частотои. . Одновременно с этим облучают импульсным электронным пучком2 с частотой импульсови с заданной длительностью и фазой, представленным на временной диагрямме(Фиг,2) графиком. Вторично-эмиссионный поток 3 от контролируемой области преобразуется и усиливается усилителем-преобразовятелем 4 и подаетсяна вход интегратора 5. С выхода интегратора сигнал, соответствующийграфику Я(С) на временной диаграмме(Фиг.2), подается на вход компаратора 6, опорное напряжение 11, на котором задается потенциометром 7. Сигнал ошибки (больше/меньше)...

Устройство для автоматического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1471155

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Белогуб, Бровко, Зайченко, Кипаренко, Самбуров, Свекла, Сергиенко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, схем

...канального формирователя, а также напряжений "Нижний уровень" и "Верхний уровень", управляющие выходными каскадами канального формирователя.Кажпый из канальных Формирователей содержит схему И-НЕ )90, схемы ИЛИ/ИЛИ-НЕ 191 в 93, транзисторы 194 и 195, диоды 196-201, резисторы 202- 224, ключ 225, конденсатор 226 и схему И-НЕ 227 (фиг.9). Канальный формирователь предназначен для преобразования логических сигналов ЭСЛ-схем (схемы 191 в 1) в уровни, требуемые для задания воздействия на выводы контролируемой схемы. Оконечные каскады выполнены на ненасыщенных ключах (транзисторы 228,195). Логические сигналы с выходов схем 191-193преобразуются в управляющие сигналыдля оконечных каскадов с помощью диф"ференциальных каскадов, выполненных на...

Устройство защиты электронных схем, находящихся под высоким напряжением

Загрузка...

Номер патента: 1477528

Опубликовано: 07.05.1989

Автор: Вараксин

МПК: B23K 15/00

Метки: высоким, защиты, напряжением, находящихся, схем, электронных

...из строя. не будут. Это идеальный случай, который в практике несуществует, так как схемы надо запитывать и управлять ими. Для этогомогут быть применены элементы, имеющие высокопотенциальную развязку,т,е, источник энергии и приемник разделены изоляцией, выдерживающей вы"сокое.напряжение, В частности, длязащиты схем используются высокопотенциальные трансформаторы, а дляпередачи управляющих сигналов - световоды. При установке высокопотенциальных трансформаторов в оболочкешара-экрана появляются разрывы и,соответственно, емкостная связь между элементами схем и корпусом. А таккак эта паразитная емкость заряженадо величины высокого напряжения, тов тот момент, когда при электрическом разряде шар-экран соединяется скорпусом, эта емкость...

Устройство контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1479899

Опубликовано: 15.05.1989

Автор: Гаврилов

МПК: G01R 31/28, G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем

...19образуется остаток от деления двухполиномов, Один полином - это входнаяинформация на полусумматоре 18, а второй определяется наличием связей с выходов соответствующих разрядов сдвигающего регистра 19 на входы полусумматора 18. После окончания определения наличия контактов с выводами объекта 15 контроля происходит определение его выходов, В этом случае отличие входа от выхода определяется путем подачи тока противоположного по знаку к предыдущей проверке, В отличие от первой проверки при второй проверке ток протекает через выходной буфер объекта 15 контроля, а через входной буфер ток практически не проходит (сопротивление входа по сравнению с выходом больше во много раз). Отсюда перекапряжение на измерительном входе измерителя 7...