Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 175542

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Каллагов, Ломизе, Людмирский

МПК: G01R 33/02

Метки: интерферометр, свч-диапазона

...Амплитуда последней пропорциональна фазовому сдвигу, имеющему место при прохождении зондирующего сигнала черезплазму.На чертеже показана блок-схема интерферометра, работающего на прохождение, когда объектом измерения является плазма, Здесь: 1 - однотона льный частотный модулятор; 2 - генератор; 8 - измерительный канал; 4 - волноводная линия задержки; б - смеситель; б - усилитель промежуточной частоты; 7 - детектор; 8 - осциллограф. Описанный интерфер шей помехозащищеннос производится не в виде жуточной частоте, рави те модуляции. Это позв усиливаемого сигнала г ваемые плазменной уст наименьший уровень. обладает больак как усиление ме, а на промекратной часто. выбрать частоту зоне, где создай помехи имеют метр ью, т режи й илг ляет...

Номер патента: 177116

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Контиевский, Ухов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: двух, интерферометр, лучевой, фурье-спектрометрии

...а также создает возможность для применения его в далекой инфракрасной области спектра. На фиг, 1 представлена схема описываемого интерферометра; на фиг. 2 - конструкция светоделительного элемента.Параллельный пучок лучей 1 и 2 падает на зеркальную поверхность 3 плоскопараллельной пластины 4 светоделнтельного элемента интерферометра. Половина пучка (лучи 1) отражается от зеркальной поверхности пластины, падает на плоское зеркало 5, отражается от него, вновь падает и отражается от .-поверхности 3, Лучи 2 (другая половина пучка) проходят через продольные сквозные параллельные пазы б, сделанные в пластине 4, падают на плоское зеркало 7, отражаются от него, проходя снова через пазы пластины, и выходят параллельно лучам 1. При этом лучи...

Номер патента: 188064

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Всесоюзный, Трофимова

МПК: G01B 9/02, G01D 5/36

Метки: двухлучевой, длясмещений, интерферометр

...с пучком лучей первой ветви.Зеркала 7 и 8 могут быть параллельные илиустановлены под некоторым углом один к дру гому и к ходу лучей, ооеспсчивающим требуемое число отражений.Интерференционная картина может наблюдаться визуально через объектив 10 и щель 1 У или с помощью полупрозрачной пластины 12 о и поворотного зеркала 13 проектироваться надве щели 14 и 15, Для фотоэлектрического преобразования световых потоков в электрические сигналы используются фотоэлектронные умножители 16 и 17. Для преобразования 5 информации в дискретно-цифровую формуслу)кит электронная схеха, состоящая из усилителей 18 и 19, схемы формирования импульсов 20 и реверсивного счетчика импульсов 21,Малые разности хода лучей в интерферо метре измеряются следующим...

Номер патента: 180376

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...чтобправлениемпендикулярнВысокая тционную пол Известны интерферометры для контроля качества плоских оптических поверхностей по измерению искривлений полос равной толщины посредством двухлучевой интерференции, содержащие осветительную и наблюдательную системы.Предлагаемый интерферометр отличается от известных тем, что между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена призма Дове, главное сечение и отражающая грань которой параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.Призма Дове установлена на направляющие, которые обеспечивают ее прямолинейное перемещение в двух взаимно перпендикулярных направлениях, параллельных плоскости контролируемой...

Номер патента: 190618

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой, переменной, разностью, типа, фабри-перо, хода

...повредить зеркальные слои пластин. На чертеже представлена схема предложенного многолучевого интерферометра типа Фабри - Перо с переменной разностью хода.Интерферометр состоит нз полупрозрачных 5 зеркальных пластин 1 и 2, подвижной системы отражающих зеркальных поверхностей 3 и 4, расположенной между зеркальными пластинами, и регистрирующей системы.Световой, пучок от источника падает иа,по лупрозрачную зеркальную пластину 1, многократно проходит между зеркалами 1 и 2 по пути 1 - 3 - 4 - 3 - 2 и обратно. Образованная в результате многократного отражения между зеркалами 1 и 2 многолучевая интерферен ционная картина наблюдается с помощьюоптической системы б на экране б. Ребра зеркальных поверхностей 3 и 4 параллельны друг другу и лежат в...

Номер патента: 192435

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Константиновска

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: двухлучевой, интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...чивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позволяет снизить требования к точности изготовления оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с большим рабочим 2 полем,Применение лазера позволяет увеличить интенсивность интерференционной картины.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого интерферометра. 3 Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает па полупрозрачную пластину 1 и делится на два пучка,Пучок, отраженный от пластины 1, преобразуется в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 8 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5,...

Номер патента: 197218

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Скоков

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...параметров.Для таких неоднородностей, характеризующихся разными величинами и направлениями градиентов плотности, необходима исходная настройка различных участков интерференционного поля на различную ширину и ориентировку полос.Известные многолучевые интерферометры не позволяют проводить одновременную настройку интерференционной картины, обеспечивающую получение системы полос с различными параметрами за один цикл эксперимента, т. е, без перенастройки устройства.В данном устройстве это достигается тем, что одна из зеркальных пластин выполнена в виде многоэлементного блока, состоящего из системы зеркальных пластин с различными Он содери коллиматора ную пластин блок 4, пред 0 кальпых пла ми отражен тировочные родность 5,стему 7. 5...

Номер патента: 197219

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ловков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...независимую пару когерснтных световых пучков и направляю. щих их на систему плоских зеркал, полупро зрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференцион. ную картину.Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентировкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).На чертеже изображена схема описываемого интерферометра.Световой поток от источнидит коллиматор 2, попадает стину 3 и делится ею на дв оторых проходит через эта еркало 4 и полупрозрачную п ой пучок - через рабочую б и полупрозрачную пласти в приемную систему 7. Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в...

Номер патента: 198008

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Зорин, Шестопалов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, фотоэлектрический

...фиксации части интерференционной полосы, генератора 9 линейного напряжения, электронного ключа 10, генсратора 11 стабильной частоты и счетчика 12 импульсов.Измерения линейных перемещений на фотоэлектрическом иитерферометре производятгя следующим образом.Ня датчик б подается линейное напряжение от генератора 9. Одновременно сигналом от генератора 9 открывается электронный 20 ключ 10, который пропускает импульсы ста.бпльной частоты генератора 11 на счетчик 12.При изменеш 1 и разности хода лучей в интерферометре до величины, при которой срабатывает схема фиксации части интерференцц онной полосы, сигнал с выхода последней закрывает электронный ключ и счетчик прекращает счст. Для заданной длительности Л 11 нсй 11 ОГО НЯпря кения и частоты...

Номер патента: 200226

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Константинов, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01M 9/06

Метки: двухлучевой, интерферометр

...образуется оптическими элементами 8, 9, 10, а другая рабочая ветвь - оптическими элементами 8, 11,10.5 Световые пучки, распрострацгпощиеся подвум ветвям ицтерферометра, проходят через полупрозрачную пластину 10 и интерферируют между собой, Интерференционная картина, локализованная в плоскости прозрачной мо дели 4, расположенной в камере 12 с исследуемой, неоднородностью, наблюдается в приемной части 13. При воздействии ца модель 4 газового потока в приемной части 13 интерференциоццая картина изменяется вне 15 прозрачной модели 4. Внутри модели 4 интерференццоццая картина не наблюдается из-за большой разности хода между ицтерферирующими лучами, возникающей при прохождении света через прозрачную модель 4. По цз менению интерференционной...

Номер патента: 200227

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Клочкова, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...4 и б. Интерференцпонная картина, представляющая собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.Между объективом 3 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражаюгцие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигастся установкой призм на плоско- параллельную стеклянную пластину 11.Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины направлены параллельно плоскости, в котороп лежат отражающие грани призм Дове, а изображения полосы,...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Номер патента: 202550

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Забелин

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, сдвига

...при помощи конденсорной системы проектируется на щель 1, установленную в центре кривизны сферического зеркала 2 или в фокусе объектива коллиматора, Световой пучок, пройдя через щель, попадает на вспомогательную полупрозрачную пластинку 3 и, отразившись от нее, падает на сферическое зеркало 2 (или объектив коллиматора), Пройдя дважды поле исследуемых неоднородностей, свет направляется на полупрозрачную пластинку 3, проходит через нее и попадает на первую разделительную пластинку 4 интерферометра. Отраженная от этой пластинки часть светового пучка падает на зеркало 5. Отразившись от зеркала 5 я пройдя клиновый компенсатор 6, сходящийся световой пучок дает изображение светящейся щели в плоскости разде,чительной пластины 7.Часть света,...

Номер патента: 203972

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Трофимова, Цорин

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, перемещений

...Лнтерференционные полосы перемещаются при этом относительно неподвижно установ. ленных щелей 11 и 12, на которые они проектируются зеркалами 8 и 9.При определенном, соотношении размеров щелей и их положения относительно интерфе. ренционной картины,на фотокатоды фотоприемников И и 14 попадает модулированный световой поток, а на выходе фотоприемников появляются синусоидальпые электрические сигналы, сдвинутые для осуществления реверсивного счета полос по фазе на л/12. Сдвиг фаз достигается смещением интерференционной картины на щели 12 с помощью наклонов зеркала 9 или введением в ход лучей пластинки Л/8, Л/16 и т. д,Полученные сигналы усиливаются усилителями 15 и 1 б, преобразуются схемой преобразования импульсов 17 в...

Номер патента: 206144

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Гордеев, Килин, Поль, Суменко

МПК: G01N 30/00

Метки: интерферометр, шахтный

...(эталонные) и газовый (измерительный) каналы газовоздушной камеры, заполненные соответственно чистым воздухом и анализируемый смесью.В то время, когда один из когерентных лучей проходит через воздух, содержащий любой из газов (Н, СН, СО.,) или их сумму, а другой когерентный луч проходит через чистый воздух, то, кроме постоянной разности хода, заданной оптикой прибора, между когерентными лучами возникает дополнительная разность хода, вызывающая смещение спектра относительно штрихов сетки, Поскольку показатели преломления водорода, метана и углекислоты различаются незначительно (с той лишь разницей, что у водорода он является отрицательной величиной), то при опреде206144 Предмет изобретения Составитель Н. Шаблыгина дактор Л, М....

Номер патента: 207427

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/02

Метки: измерений, интерферометр, контактный, линейных, уверского

...образце они могут быть совме.щены известным способом. ципиальная Лва встречерометра в точника 1 с ветофильтр рая раздека. Один иззеркало б,25 Контактизмсрений двухлучево из светоде и неподвиж 30 емого объ терферометры предназначены аружных линейных размеров ий методом с авнения с конКонтактные индля измерения нразличных издел Рцевыми мерами.Известен контактный интерферометр для линейных измерений, построенный по принципу двухлучевой интерференции света при контактном касании измеряемого объекта. Известные контактные интерферометры для линейных измерений недостаточно точны потому, что не обеспечивают стабильность контактных сближений между измеряемым объектом и предметным столом.Предлагаемый интерферометр свободен от указанного...

Номер патента: 211829

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Вольфганг, Германска

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...окуляра смещена относительно оптической оси интерферометра в плоскости, перпендикулярной интерференционным полосам.Причем, может быть использован любой окуляр, хроматическая аберрация которого отлична от нуля,Плоскость может быть или повернута или смещена параллельно оптической оси окуляра, Ахроматичность только одного минимума первого порядка получается также при комбинированном смещении: повороте и параллельном смещении. Смещение оси окуляра и аберрация хроматизма увеличения влияют друг на друга. Чем больше аберрация хроматического увеличения, тем меньше может быть в некоторых пределах смещение при постоянном расстоянии между интерференционными полосами.При увеличении расстоянияренционными полосами, сме а минимума и нулевая...

Номер патента: 257601

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Клюкин, Фабриков, Хромов

МПК: G01R 33/035

Метки: интерферометр, сверхпроводящих, токов

...которая совмещена со сверхпроводящим элементом.Благодаря совмещению сверхпроводящего элемента и магнитной пленки, нарушающей сверхпроводимость по заданному закону, число сверхпроводящих полос можно довести до 10, что повышает чувствительность устройства.На чертеже дана схема предлаГасмоГО ннтерферометра сверхпроводящих токов.На подложке 1 расположена магнитная пленка 2 с полосовой дохтенной структурой толщиной 1 - 0,5 лтклт, на которой находится пленка 3 из сверхпроводящего материала толщиной 0,5 лтклт, часть которой при окислении образует диэлектрический слой 4 толошиной 10 - 20 А. Сверху расположена вторая пленка 5 сверхпроводящего материала толщиной 0,5 лилг. К пленкам 3 и Ю подсоединены ВЫВОДЫ 6, 7.Интерферометр работает...

Номер патента: 234706

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Скоков, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...пройдя оптическую систему 2, падает на плоские полупрозрачные зеркала 8 и 4. Интерференционная картина регистрируется приемником б с помощью оптической системы б. Камера 7 с исследуемой неоднородностью установлена между зеркалами 8 и 4. Для наблюдения второй интерференционной картины между зеркалами 8 и 4 после камеры 7 установлена полупрозрачная пластина 8, с помощью которой световой поток направляется на дополнительную мет изобретения Предлагаемое устройство о сти оптических исследований в прозрачных средах.Известен многолучевой инт Фабри-Перо для изучения газ нородностей, содержащий дв прозрачных зеркала и регистр му. оптическую систему, содержа лупрозрачное зеркало 9, опт 10 и приемник 11, Незавпси зеркал 4 и 9 при неподвижн 5 каждой...

Номер патента: 234707

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Колошников, Лапшин, Рагимов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, фабри-перо

...параллельно, Зеркало 1 крепится на оправе сканирующей системы 3, которая сообщает зеркалу 1 коле бательное движение с частотой омо и амплитудой а, Зеркало 2 закреплено в оправе, установленной на подвижном столике 4, который перемещается в горизонтальном направлении с постоянной скоростью при помощи микро метрического винта. Оправа снабжена регулировочными винтами для установки положения зеркал и точной юстировки их параллельности. Параллельность зеркал сохраняется при пх взаимных перемещениях. Излучение источ ника 5, прошедшее через интерферометр ифильтр с полосой пропускания меньшей, чем область дисперсии интерферометра Фабри-Перо, регистрируется приемником б излучения и через усилитель 7 поступает на вход спнхрон ного...

Номер патента: 235341

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02, G01N 11/02

Метки: интерферометр, оптических, систем

...от центра зеркала 7 до Е, Р, и Р., - волновые фронты, идущие цз контролируемой системы после отражения лучей от зеркал 8 и 9. По 25 вознцкающец интерференционной картине,для наблюдения которой служит диафрагма 4, определяют погрешности контролируемой системы 6.Пучок лучей, выходящий из контроли ЗО мой системы 6, прц помощи зеркала 7 раляется на два пучка, идущих к сферическим зеркалам 8 и 9 разных радиусов. После отражения от этих зеркал и выхода из контролируемой системы пучки лучей образуют два волновых фронта Р, и Р, деформированные относительно друг друга на незначительную величину, хотя отклонение каждого волнового фронта от сферы или плоскости может быть очень большим. В результате взаимодействия этих волновых фронтов возникает...

Номер патента: 244665

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Комиссаров, Харитонов

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: газодинамических, интерферометр, исследования

...на них света, Пласти.5 ны б и б установлены под углом 45 к оппи.ческой оси,прибора (наиболее оптимально с учетом габаритов их и удобства,в настройке) .Отраженный от пластины б пучок света совмещается с,пучком света, прошедшим через О пластину б с помощью соединительной полу.прозрачной пластичны 7; эта пара пучочков света совмещается с пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через камеру 8 с исследуемой неоднородностью 8. При, этом в приемной части 9 интерферометра, в одной из,половин поля зрения, наблюдается трехлучевая интерференционная картина; в другой - двухлучевая картина, образованная пучком света, прошедшим через пластилину 5, и соответствующим пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через соседний...

Номер патента: 247509

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Долинский, Зверев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, правильности, торических, формы

...газовый лазер, разделительный блок, например полупрозрачную пласти ну 2, эталонное зеркало 3, объектив 4, окуляр б с сеткой б и отражающую систему, выИнтерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от источника 1 направляется на полупрозрачную пластину 2, которая разделяет его на два пучка. Один пучок попадает на плоское эталонное зеркало 8 и, отразившись от него, направляется в окуляр б, а другой - пдст в объектив 4 и далее на коническое зеркало 7 (илп на сочетание конического или цилиндрического зеркала 8 с коническим зеркалом 9), преобразующее изображение, даваемое объективом, в кольцевую линию, совпадающую с геометрическим местом центров кривизны образующих окружностей торической поверхности кольца шарикоподшипника 10.После...

Номер патента: 261489

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Коробкин, Тницкий

МПК: H05H 1/00

Метки: диагностики, интерферометр, плазмь

...разделенСных по частоте интервалом Лг= (С - ско 2.оптрость света, Еот - оптическая длина пути внутри интерферометра), При возникновении внутри интерферометра плазмы показатель преломления на длине плазмы р меняется по сравнению с показателем преломления первоначального газа на Лгг . Оптическая длина пути резонатора 3 меняется при этом на величину рЛпр, что вызывает смещение максимумов пропускания по частоте на ЬгР РЛггопт пли в долях порядкао ъ 2 тг,напр г7Лф С где- частота излучения лазера.Теперь линия лазерного излучения располагается на другом участке кривой пропускания интерферометра. Это изменение проходящего через интерферометр света и зафиксирует регистрирующая система, содержащая светофильтр 12, фотоумножитель 13 и...

Номер патента: 266103

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бекетова, Белозеров, Зимин, Кузилин

МПК: G01B 9/021, H01S 4/00

Метки: голографический, интерферометр

...7, поворотного зеркала 8 и поступает в оптическую систему 9, 10, где расширяется и коллимируется, При помощи плоского зеркала"311 и полупрозрачной пластины 12 опорный пучок направляют под выбранным углом голографирования через светофильтр 13 на голограмму 14. Рабочий пучок от светоделительной пластины, отраженный от плоского зеркала 15, направляют в систему, включаю. щую линзу 1 б и сферическое зеркало 4. Коллимированным пучком просвечивают неоднородность, расположенную в рабочей зоне. Далее рабочий пучок трансформируют зеркально-линзовым объективом, состоящим из сферического зеркала б, плоского зеркала 7, плоского зеркала 17 и объектива 18, и направляют через полупрозрачную пластину 12 и светофильтр 18 на голограмму 14, При помощи...

Номер патента: 269527

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...8 и 9, расположенных в фокальных плоскостях объективов 10 и 11, имеющих одипаковые фокусныс расстояния, свстоделительной пластины 12, зеркал 18 - 15, блока 1 б призм Дове, ромб 11 чсских призм 17 и 18,Световой поток от источника 1 монтического излучения через конденсор щает диафрагму 8. Параллельный п чей, выйдя из объектива 4 и отразив светоделительной пластины 5, падает н но на эталонную поверхность пробног б. Отраженные от поверхности стекла поверхности контролируемой детали интерферируя друг с другом, образую 10 ференционную картину, локализовавоздушном промежутке между поверх стекла б и детали 7. Интерференционная картина, представляю щая полосы равной толщины, наблюдаетсядвумя глазами через диафрагмы 8 и 9, Лучи направляются в...

Номер патента: 272603

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Васильев, Ершов

МПК: G01B 9/02, G02B 5/18

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой, фазовой

...Нлевой максимум раснрострацяется так же. как распростра цялся бы свет при отсутствии дифракцпоццойрешетки. Остальные максимумы отклонены от нулевого на некоторый угол.Поскольку изображения когерецтцы, то притталокетттти имеет место обычная ицтерферен ционная картина, характерная для двух лхчевых иптерферометров. Она позволяет измерять разность хода световых лучей, вносимую нсс,ттед смой ттеодцородностью.Качество тттттертЬеретттттоттттотт картины зави сит от амплитуд ицтерферпрующих волн. Лляболыттетт освещенности амплитуды волн должны быть достаточно велики, а для достаточно высокой контрастности полос амппитуды должны быть близки дрг другу. При этом необхо димо, чтобы решетка дчя оптимальных условий интерференции двл схем пулевого и...

Номер патента: 272604

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 5/18

Метки: интерферометр, качества, поверхностей, полированных, торических

...торическая поверхность 9. В фокальной плоскости объектива 8 образуется кольцевое изображение АА, плоскость которого перпендикулярна оптической оси объектива 8. Торическая поверхносгь 9 устанавливается так, чтобы геометрическое место центров кривизны сечений, проходящих через ось кольца шарикоподшипнпка (мерндиональные сечения), совпало с кольцевым изображением АА. Тогда все лучи, падающие на торическую поверхность, будут направлены нормально к ней и после отражения от торической поверхности пойдут в обратном направлении. По интерференционной картине с помощью объектива 8 определяют качество поверхности с точностью 0,05 - 0,15,як.Для контроля торических поверхностей колец упорных шарикоподшипннков в плоскости кольцевого...

Номер патента: 274418

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 11/08

Метки: аберраций, интерферометр, оптических, систем

...изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вы шедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на 25 фиг, 2 - схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 3, и сам объектив, 30 идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один цз которых направляется в эталонную ветвь цнтерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь...

Номер патента: 281829

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Телешевский

МПК: G01B 11/04

Метки: интерферометр, фотоэлектрический

...например кварца с плоскопараллельными гранями, и установлен по ходу одного из пучков света между пластиной 3 и зеркалом б. Электронный генератор стабильной частоты 11 возбуждает в модуляторе б бегущую ультразвуковую волну. Линза 12 установлена за зеркалом Б, и в ее фокальной плоскости размещена щелевая диафрагма, Реверсивный счетчик 13 считает целое число фазовых циклов, соответствующих сдвигу фаз ме;кду сравниваемыми сигналами.Выход фотоприемника может быть присоединен с резонансному электронному усилителю сигнала, настроенному на частоту ультразвуковой волны в модуляторе. Щелевая диафрагма фотоприемника может быть расположена в месте максимума первого порядка картины дифракции света на ультразвуковой волне.Интерферометр работает...