Интерферометр для контроля аберраций оптических систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 274418
Автор: Пур
Текст
СоюзСоциалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ/08 МПК С Комитет по делам изобретений и открыти при Сосете Миииотрое СССРД 1( 535.411(088.8 1.1970, Бюллетень ЛЪ 21 Опубликов ата опубликования описания 6.Х.19 Авторзобретениаявитель Д, Т. Пуряев осковское высшее техническое училище им, Н. 3, БаумаИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АБЕРРАЦ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ1Изобретение относится к области оптического приборостроения, где часто возникает необходимость в контроле аберраций оптических систем, например асферическцх линз, линзовых компецсаторов и т. д. 5Известны интер феро метры для контроля аберраций оптических систем, содержащие источник моцохроматического света, точечную диафрагму, полупрозрачное зеркало, объектив и диафрагму приемной части, рабочую и 10 эталонную ветви.С целью повышения точности контроля и расширения диапазона контролируемых аберраций, и рабочей ветви предложенного интерферометра установлена зеркальная линза, 15 преломляющая поверхность которой вместе с контролируемой системой образует безаберрациоцное изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вы шедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на 25 фиг, 2 - схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 3, и сам объектив, 30 идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один цз которых направляется в эталонную ветвь цнтерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь в обратном направлении, Другой пучок поступает в рабочую ветвь, в которой установлены контролируемая система б (например, асферическая линза) и зеркальная линза 7. Преломляющая сферическая поверхность Р, линзы 7 обращена к контролируемой системе, другая сферическая поверхность Р. является зеркальной. Отразившись от сферической поверхности, лучи также повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, выходящие из рабочей и эталонной ветвей, интерферцруют между собой. Для регистрации ццтерференционцоц картины служат объектив 8 ц диафрагма 9.Интерферометр, схема которого изображена ца фиг, 2, содержит в отличие от первого разделительный кубик 3 и эталонное сферическое зеркало 4. Ход лучей в рабочей ветви интерферометра аналогичен ходу лучей наПараметры зеркальной линзы ц ее положение в рабочей ветви рассчитаны таким образом, что контролируемая система б (см. фцг. 1) вместе с преломляющей сферической оверхцостью Р, образует безаберрационное изображение для осевого параллельного или расходящегося (см. фцг. 2) пучка лучей, а
СмотретьЗаявка
1310341
Д. Т. Пур Московское высшее техническое училище Н. Э. Баумана
МПК / Метки
МПК: G02B 11/08
Метки: аберраций, интерферометр, оптических, систем
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-274418-interferometr-dlya-kontrolya-aberracijj-opticheskikh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для контроля аберраций оптических систем</a>
Предыдущий патент: Илтестио-ц техническая библиотека
Следующий патент: Хяйческ. ая библиотекаj
Случайный патент: Устройство для измерения отношения сигналшум