Интерферометр для контроля аберраций оптических систем

Номер патента: 243878

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Оптики, Тихомирова, Чуриловский

МПК: G02B 23/06

Метки: аберраций, зеркально-линзовойсистемы, компенсатор

...зеркально-линзовой визны их поверхностей окусе), Параксиальный еркала (на чертеже не ское Изобретение предназначено для исправлеия аберраций зеркально-линзовых систем, в астности объективов телескопов. Известны компенсаторы аберрации 3 льно-линзовых систем, устанавливаемые в дящемся пучке лучей, содержащие не бол двух одиночных менисков.Описываемый компенсатор отличается от известных тем, что в нем мениски выполнены отрицательными, концентричными относигельно заднего фокуса зеркально-линзовой системы, и имеют по одной асферической поверхности не более третьего порядка, а также тем, что в него введен дополнительный отрицательный мениск, концентричный относительно заднего фокуса зеркально-линзовой системы, имеющий асферическую...

Номер патента: 1640530

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымов, Тедеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптический

...7, которые скрещены друг с другом, причем ось одного из них параллельна плоскости отражения зеркал 3, 4 и превращается в линейно поляризованное излучение, т.е, плоскости поляризации пучков А и В перпендикулярны одна к другой. После того как эти пучки света по прохождении светоделителя 5 сложатся, пройдут через четвертьволновую пластинку 8, отразятся от зеркала 9, повторно пройдут через четверть- волновую пластинку 8, плоскость поляризации каждой из них повернется на 90. Оси Хд и Хв четвертьволновой пластинки 8 должны быть ориентированы под углом 45 к векторам напряженности электрического поля Ед и Ев падающих на нее пучков света А и В (фиг. 2). Таким образом, после повторного прохождения четвертьволновой пластинки 8 для луча А...

Номер патента: 569845

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Королев, Меньшикова

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, дифракционной, изображения, интерферометр, качества, оптических, систем, точке

...установлена линза 15 и вин товой окулярный микрометр 16.30Предлагаемый интерферометр работает следующим образом.На вогнутой алюминированной поверхнос ти зеркала 5 выполнено дифракционное от верстие, которое освещено через линзу 2 сфокусированным плоскополяризованным пуч ком света из оптического квантового генератора 1 непрерывного действия. Сферическая световая волна, возникающая на дифракционном отверстии, распространяется в боль с) шом телесном угле и попадает в объектив 3 коллиматора и в объектив. 11 системы не блюдения. После объектива 3 волна прохо дит через 1 иафрагму 4 и плоскопараллельную пластинку 7, вырезанную из кристаллического кварца и имеющую разность хода (2 + 1), Размер диафрагмы 4 равен диа.Лметру зрачка...

Номер патента: 355488

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, интерферометр, оптических, систем, элементов

...то Нось 10. Форма дсфор- анрованноЙ зе 1)алиОЙ иовсрхнос(и ятгсстуется с помощью колец 11 ьютона, которые образуются при введении в систему полупрозрачной пластины 11,тр отличается ользх ется зеркоторая под и пневматичер, близкую кенного испыому повышаетфероме она исп астины, ских ил ает фо та, иска даря эт нципиальная роля оптичеаберрациями 2 Иа фиг, 1 пр схема интсрферо ских систем со с конечного расс Свет от монох пример, лазера) руется на от ройдя черезедставлена п 1 метра для кон значительными О ЯИ 51,рома 1 ического 1 1 конденсорнсп верстие точечноторую, попада сточника (налинзой 2 фоой диафрагмы ет сначала на 3 кусид, п Предложенный инте тем, что в качестве этал кальная поверхность пл воздействием механиче ских нагрузок приним к...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...