Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 1629748

Опубликовано: 23.02.1991

Автор: Шмалько

МПК: G01B 9/02

Метки: волноводный, интерферометр, оптический

...с одинаковой интенсивностью в плечи 5 и 6, Затем оно с помощью элементов 7 и 8 связи поступает в выходной полосковый волновод 9, где в зависимости от разности фаз ЬФна выходе возникает оптический сигнал соответствующей интенсивности, При Ь ф = линтерферометр(фиг. 1) в отсутствие управляющего сигнала обеспечивает получение выходного огггического сигнала, равного нулю. При ЬФ =л /2 интерферометр (фиг. 2) в отсутствие управляющего сигнала обеспечивает на выходе интенсивность оптического сигнала о/2, где 10 - интенсивность оптического излучения на входе в интерферометр. Зри атом элемент связи на двух связанных ОВ обеспечивает на выходе сдвиг фазы ЬФ = -л/2, а элемент сВязи на трех ОВ ЬФ = к,10 15 20 25 30 35 40 45 50 Таким образом,...

Номер патента: 1631407

Опубликовано: 28.02.1991

Автор: Шестимиров

МПК: G01N 29/04

Метки: акустический, дифференциальный, интерферометр

...10, установленным в канале 9 с зазором, тепловой контакт последнего с тепловым накопителем 6 выполнен по дну 11 анала 9, а датчик 12 температуры средства 4 поддержания температуры установлен на дне канала 9.Устройство работает следующим образом.Во все камеры заливают эталонную жидкость, например, дистиллированную воду. После включения блоков интерферометра в тепловую емкость накопителя 6 из средства 4 поддержания температуры уст-, ремляется поток тепла или холода в зависимости от соотношения между заданной и текущей температурами накопителя б, Одновременно с этим устанавливается температура исследуемых камер 1, 2 и 5. Это обеспечивается постоянной времени тепло- обмена накопителя 6, После установления заданной теМпературы измеряют...

Номер патента: 1633272

Опубликовано: 07.03.1991

Авторы: Захаров, Лукин, Мустафина

МПК: G01B 9/021

Метки: интерферометр

...структуруугол дифракции излучения на рельефно- фазовой структуре, связанный с угломсоотношением.1633272 .труктурой, распределение колец в которой определяется соотношением сверх 1 ш) 20ои линзы де (Р,) радиусконца(р,)-(рсферические поверхности плосковыпуклых линз установлены в контакте с соответствующими сферическими поверхностями плосковогнутых линз и имеюттакой же по величине радиус кривизны,третий светоделитель выполнен с одинаковыми коэффициентами Рзотраженияи ь пропускания, а коэффициенты отражения О, первого светоделителя и Рвторого светоделителя связаны соотно-го кольцао.-.Ъазовойры; релье струк ение-1-, 1 .р1 Опо япЮ пв соя 9 3 расстояние от фокуса основного объектива телескопической системы до поверхности рельефнофазовой...

Номер патента: 1635014

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Евдокимов, Кравчинский, Соловьева, Тхоржевский, Шатенев, Штенгер

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...либо удовлетворяют неравенству ас-ав-фаз,либо35 ас(аеа. Во-вторых, точность выполненияусловия (1) термостабилизации толщины интерферометра определяется лишь разбросом ТКЛР, их зависимостью от температурыи точностью изготовления элементов его40 конструкции.Пьезоэлементы 3, разброс ТКЛР которых максимален, не влияют на условие стабилизации, так как в каждой точкекрепления зеркал 2 к фланцам число пьезо 45 элементов 3 - четное, поэтому они взаимнокомпенсируют друг друга.Температурную стабильность рассматриваемого интерферометра определяют по .вытекающей из выражения (3) формуле:50 61/6 Т = 4 (О+ Н) ба, (5) гдв ба- максимальный разброс ТКЛР в рассматриваемом диапазоне температур.При изменении толщины интерферо метра предлагаемой конструкции...

Номер патента: 1640529

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымшиц, Желтов, Калугин, Листратова, Прохоров, Фабро, Шехтман

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...порядка определяется выражением в 1 п а 2 = и л, /б, где б - шаг решетки, 1640529длина волны излучения. Излучение, отразившееся от решетки 3 в максимум того же и-го порядка, направлено под углом а 1, определяемым выражением зи а= (п- -2 Ь)/О, где Л- разность глубин друх соседних полостей. Видно, что аа р, Кроме того, из сопоставления выражений для гхоз и а 2 следует, что разность а 2 - адля различных дифракционных максимумов различна, Следовательно, различна и величина смещения волновых фронтов, отраженных от решеток 2 и 3. Таким образом, в максимумах разных порядков одновременно образуются интерференционные картины с различной величиной сдвига.Величина сдвига волновых фронтов в максимумах в интерферометре задается заранее самой...

Номер патента: 1640530

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымов, Тедеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптический

...7, которые скрещены друг с другом, причем ось одного из них параллельна плоскости отражения зеркал 3, 4 и превращается в линейно поляризованное излучение, т.е, плоскости поляризации пучков А и В перпендикулярны одна к другой. После того как эти пучки света по прохождении светоделителя 5 сложатся, пройдут через четвертьволновую пластинку 8, отразятся от зеркала 9, повторно пройдут через четверть- волновую пластинку 8, плоскость поляризации каждой из них повернется на 90. Оси Хд и Хв четвертьволновой пластинки 8 должны быть ориентированы под углом 45 к векторам напряженности электрического поля Ед и Ев падающих на нее пучков света А и В (фиг. 2). Таким образом, после повторного прохождения четвертьволновой пластинки 8 для луча А...

Номер патента: 1645912

Опубликовано: 30.04.1991

Авторы: Гоголев, Иськив, Козловский, Лобкова

МПК: G01R 25/04

Метки: высокочастотных, интерферометр, коррекцией, неидентичности, трактов

...На второй вход фазовращателя 7 подают управляющий сигнал от генератора низкой частоты 5 15, При этом фазовращатель 7 производит модуляцию сигнала гетеродина 10 калиброванным по фазе изменяющимся но линейному закону за один период управляюшего низкочастотного напряжения. Модулиро ванный сигнал гетеродина 10 подают на передающую антенну 4 и излучают в направлении отражателя 2. Отраженный от отражателя 2 радиосигнал поступает одновременно с измеряемым радиосигналом на 15 приемные антенны 3 и 5 и далее на смеси- тели 9, 11. В смесителях 9, 11 модулированные сигналы гетеродина 10 смешиваются с сигналом гетеродина 10 и в результате смешения низкочастотная составляющая выде ляется и усиливается усилителями низкой частоты 12, 14, с выходов...

Номер патента: 1647237

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Величенко, Вульчин, Демкив, Швец

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...восстанавливает сигнал, поступающий на его вход в виде дискретных отсчетов. Причем по первому выходу формируется непрерывный сигнал, 164723710 25 30 35 40 45 50 ка 12 управления,55 задержанный относительно реального сигнала фотоприемника 3 на один такт интервала дискретизации, а по второму выходу - сигнал, задержанный на пять интервалов дискретизации относительно входного или на четыре интервала дискретизации относительно сигнала, формируемого на первом выходе блока 9 интерполяции. Сигналы с обоих выходов блока 9 интерполяции сравниваются компаратором 10, и в момент их равенства на выходе компаратора 10 происходит изменение уровня напряжения с положительного на отрицательный или наоборот, в зависимости от соотношения разности...

Номер патента: 1651091

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Дубков, Каринский, Ханков

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, сканирующий

...уголкового отражателя 3 вдоль Я оптической оси интерферометра, 1 ил,щения вдоль оси луцка, вогнутое зеркало 4, оптически связанное с отражателем 2 и через светоделитель 1 с отражателем 3, и фотоприемник 5, установленный в фокусе вогнутого зеркала 4.Сканирующий двухлучевой интерферометр работает следующим образом.Коллимированный входной световой пучок делится светоделителем 1 на две части, Часть светового пучка а, отраженная от зеркальной поверхности светоделителя 1, уголковым отражателем 2 направляется на сферическое вогнутое зеркало 4, которым фокусируется на фотоприемнике 5. Другая часть светового пучка проходит мимо светоделителя 1 и уголковым отражателем 3. установленным с возможностью перемещения, направляется на зеркальную...

Номер патента: 1651092

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Казак, Поляков

МПК: G01B 9/04

Метки: голографический, интерферометр

...от источника 2 до микрообъектива 11 могут устанавливаться дополнительные светоделители для формирования новых опорных и объектных. пучков с целью получения дополнительной информации об объекте 15 и максимального использования объема сферического основания 1 путем создания трехмерных систем,Регистрация голографических интерферограмм осуществляется телевизионными камерами 16 и 17, установленными за голо- граммами 12 и 13. Перед объектом 15 могут устанавливаться голограмма 14, полупрозрачная пластина 6 и телекамера 18.Для замены исследуемого объекта, голограмм, для сборки новых схем голографировэния или проведения профилактических работ оператор открывает люк 19 и производит необходимые действия. Затем люк 19 герметизируют и производится...

Номер патента: 1652810

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Копитайко, Ремизов, Сизов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...и вогнутое эллиптическое зеркало 9 с дьумя анаберрационными точками, расположенное так, что ближний к его поверхности ; кус Р совпадат с фокусом зеркала 8, а дальний фокус Гэ зеркала 9 лежит на поверхности параболического зеркала 8, Зеркала 6 и 8 расположены на одном уровне, для Мего зеркало 6 выполнено с отверстием в 1 ентре, диаметр которого не менее диаметра зеркала 8, Отверстие в центре эллиптиЧеского зеркала 9, диаметр которого не Менее диаметра зеркала 7, обеспечивает взаимное осевое перемещение отражателей и прохождение лучей к зеркалу 7,Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от лазера 1 делится по амплитуде светоделительной пласгиной 2 на здорный и измерительный пучки 1 и 11, Пучо: 1, с помощью зеркала 3...

Номер патента: 1657947

Опубликовано: 23.06.1991

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...точка - предмет А 1 поверхности 9 совмещена с фокусом Е 7 объектива 7, где формируется изображение диафрагмы 3. При установке контролируемого эллипсоида его ближний фокус Е 1 совмещается с вершиной поверхности 10, а его дальний фокус Ег - с изображением А 2 этой поверхности, При контроле выпуклых и вогнутых гиперболоидов (фиг. 2) апланатическая линза 8 устанавливается между объективом 7 и его фокусом Ет в сходящемся пучке лучей. Первая поверхность 9 линзы 8 в этом случае выпуклая, вторая поверхность 10 - вогнутая, Линза 8 установлена в положение, при котором апланатическая точка - предмет А поверхности 9 совмещена с фокусом Ет объектива 7. При установке выпуклого контролируемого гиперболоида его ближний фокус Е 2...

Номер патента: 1565205

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Марипов, Турганбаев

МПК: G01B 9/021

Метки: голографический, интерферометр, тальбота

...готово кработе. Такую систему освещают исходными пучками 4 и 5, При этом наэкране 6 восстаналнвают саморепродукции исходного состояния решетки 1,на экранах 7 и 8 возникают голографические муаровые полосы в противоположных Фазах (негатив и позитив),на экране 9 - муаровая картина, получаемая в обычном интерферометре Тальбота. Необходимую частоту муаровыхполос на экранах устанавливают вра"щеиием решетки 1 вокруг пространственных осей Х, У , Ео. Контрастные 25и четкие иэображения возникают вположениях экранов 6-9, соответствующих саморепродукциям решетки, восстановленных с голограммы 2. Приэтом чувствительность устройства вканалах 1, 12 совпадает с чувствительностью голографического интер"Ферометра (высокие), а в канале 3 соответствует...

Номер патента: 1675661

Опубликовано: 07.09.1991

Автор: Махмутов

МПК: G01B 9/021

Метки: голографический, интерферометр

...излучения просвечивает рабочее поле интерферометра коллимированным световым потоком с сечением в виде кольца, центр которого заполнен компонентой излучения, преломленной и сколлимированной контротражателем-объективом 4, Радиус кривизны отражающей поверхности г 1 о этого объектива задается конструкцией осветительной системы, радиус г 20 неотражающей поверхности определяется по формуле тонкой линзы1/о = (1-пК 1 /г 1 оЙ 2 о),где Ьо= б+д, б - расстояние между зеркалом5 и контротражателем-объективом 4; д - ве личина выноса фокуса системы; и - показатель преломления материала объектива.Ход лучей в приемной системе отраженной компоненты излучения обратен рассмотренному. В плоскости окуляра 8 эта компонента обоазует кольцо с фокусом,...

Номер патента: 1677507

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Снежков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, радиального, сдвига

...пучков обладают разной кривизной волнового фронта и некоторой плоскости нормальной оси, где интенсивности рабочего и опорного пучков наиболее близки. Конструкция предложенного интермерометра значительно проще и надежнее, позволяет контролировать мощные пучки, 1 ил. Устройство работает следующим образом.Пучок лазерного излучения, волновой фронт А которого измеряют, направляется в оптическую систему 1, переотражается на поверхностях 2 и 3 в результате чего оптическая система 1 формирует несколько инО терферирующих пучков с различной расходимостью, например В и С.Благодаря отличию кривизны граней 2 и 3 оптическая сила такой оптической системы для каждого из сформированных ею интерферирующих пучков различна (т,е. 111 Ф 1 2) и...

Номер патента: 1677508

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Махмутов

МПК: G01B 9/02

Метки: голографический, интерферометр

...5 определяется из формулы тонкой линзы т - г 1 г 2/Ци)(и-г 1, где т- фокусное расстояние объектива 5; и - показатель преломления материала объектива; г 1, г 2 - радиусы сферических поверхностей объектива, в которой Г- г 2 (в обратном ходе лучей). При этом получают г 1 = г 2-г 2/и. Так как фокус окуляра 6 совмещен с Фокусом часи освещающего светового потока, дважды прошедшего через объектив 5 и отраженного от объекта 9, то окуляр и объектив образуют телескопическую систему объектного пучка, Формирующую изображение объекта в плоскости регистрирующей среды 7.Узел 8 крепления объектива 5 к исследуемому объекту 9 выполнен а виде трех или более опор из магнитных эластомеров на основе каучуков. Конструкция опор обеспечивает плотное...

Номер патента: 1696851

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Базыкин, Базыкина, Капезин, Телешевский, Яковлев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, отклонений, прямолинейности

...и проходящей через вершину триппель-призмы 5, выходная боковая грань триппельприэмы 5 выполнена полупрозрачной. 1.=лок 4 отражателей скрепляют с кареткой (не показана).Интерферометр работает следующим образом,Пучки лучей источника 1 монохроматического излучения проходят через акустооптический модулятор 2, где дифрагируют на бегущей ультразвуковой волне. В результате дифракции поле акустооптического модулятора 2 пучки лучей, распространяк)щиеся под разными углами по отношению к оптической оси интерферометра, В дальнейшем будем рассматривать только два пучка лучей, соответствующие дифракционным порядкам Е(0) и Е(-1), соответствующие нулевому и первому порядку дифракции, Частотные спектры пучков лучей Е(О) и Е(-1) отличаются друг от...

Номер патента: 1298529

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Духопел, Логачева, Мартынова, Прохорова, Серегин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, отклонений, переменной, плоскостности, поверхности, чувствительности

...полосы црп соответст вующих углах падения пучка лучей, а также устройство синхронного поворота осветительной и регистрирующей3 1298 систем це показано), кицематцческц связанное с ОРОротцыми Основаниями Зи 5,.Конструктивно особенностью интерферометра является наг нчие двух центров вращения: С для основания 3 осветительной системы и С для ос 2 новация 5 регистрирующей системы, расцоложенцьх симметрично относительно плоскости симметрии призмы 4. 10Центр;С, находится на пересечении перпендикуляра, опущенного иэ середины образцовой грани на входную грань, с продолжением луча осветительной системы, падающего после 15 преломления н призме на середину основания под углом полного внутреннего отражения.Ицтерферометр работает...

Номер патента: 1703994

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Лисогорская, Салоид

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: интерферометр, шахтный

...2 и после отражения на входном поворотном зеркале 3 попадает на вход призмы Кестерса 4. В этой призме происходит разделение светового пучка на два потока, параллельно выходящих из призмы Кестерса 4. Один луч с выхода призмы Кестерса 4 проходит только в полости. заполненной эталонной газовой смесью 5. а другой луч - только в полости, заполненной исследуемой газовой смесью б, Обд луча, пройдя соответственно камеры 5 и б, отразившись от уголкового отражателя 7, далее снова через камеры 5 и б поступают нд компенсирующую призму 8, После отражения от компенсирующей призмы 8 оба луча снова проходят камеры 5 и б и, отраэившсь от уголкового отражателя 1, через камеры 5 6 поступают после отрджения от боковых граней призмы Кестерса 4 на ее...

Номер патента: 1712778

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, второго, интерферометр, поверхностей, порядка

...для контроля вогнутых эллипсоидов.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на две ветви - рабочую иэталонную, последовательно установленные по ходу прошедшего светоделитель 2 излучения фокусирующий объектив 3, диафрагму 4, плоское зеркало 5, объектив 6 для формирования плоского эталонного волнового фронта, светоделитель 7 для совмещения эталонного и контролируемого волновых фронтов, блок регистрации интерференционной картины, состоящий из объектива 8, диафрагмы 9 и фотоприемного устройства 10, и размещенные по ходу отраженного светоделителем 2 излучения плоское зеркало 11, второй фокусирующий объектив 12, диафрагму 13, установленную в заднем фокусе объектива 12,...

Номер патента: 1716314

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Латышев

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, квазиоптический, латышева

...узла компенсатора интерферометра, показанном на фиг. 3 (на фиг. 1 обведен штриховой линией), направленный ответвитель приспособлен для работы в.миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах и выполнен на поляризационных принципах, На фиг. 3 представлены направленный ответвитель б, отражатель 5 и часть опорного плеча интерферометра. Направленный ответвитель б состоит иэ одномерной сетки 8 (проволоки металлические) и поляроида 9(например, аналогичного сетке 8). Относительная ориентация проволок сетки 8 и поляроида 9 показана на фиг. 3, угол между ними может составлять, например, 45 О. Этот узел работает следующим образом.Излучение из плеча интерферометра (сверху) падает на проволочную сетку 8 и отражается от нее в сторону отражателя...

Номер патента: 1717971

Опубликовано: 07.03.1992

Автор: Тынниссон

МПК: G01J 3/45, G01J 9/02

Метки: жидкостей, интерферометр, комплексного, маха-цандера, показателя, преломления, сканирующий

...кювету, состоящую из входного и выходного окон, расположенных под небольшим углом друг к другу, и вспомогательных стенок для закрытия объема, кювета устанавливается в одно из плеч сканирующего интерферометра Маха-Цандера вместо компенсационного клина с возможностью1717971 Формула изобретения Составитель Т.ТынниссонРедактор О.Юрковецкая Техред М.Моргентал Корректор Т,Палий Заказ 870 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 перемещения относительно оптическойоси.Сущность изобретения состоит в том,что кювета с исследуемой жидкостью имеетвозможность перемещаться...

Номер патента: 1723459

Опубликовано: 30.03.1992

Автор: Тынниссон

МПК: G01J 3/45

Метки: интерферометр, маха-цандера, сканирующий

...лучей падает на отражатель 2 (или светоделитель 1) и разделяется светоделителем 1 на два, Отразившийся от светоделителя 1 пучок отражается от отражателя 3 и падает на светоделитель 4. Второй пучок, пройдя светоделитель 1 насквозь, отражается от отражателя 5 и соединяется с первым пучком на светоделителе 4.В начальный момент времени блоки А и Б установлены таким образом, что длины ходов лучей для обоих плеч одинаковы и разность хода интерферометра равна нулю. При повороте блока А вокруг оси, перпендикулярной плоскости, образованной пересечением оптических осей интерферометрэ, т.е. перпендикулярной к плоскости чертежа, вносится разность хода между интерферирующими лучами за счет изменения оптического пути между двумя плечами, На...

Номер патента: 1728643

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Дымшиц

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...на всю поверхность,Между пластиной и отражающими элементами дифракционной решетки может быть нанесено поглощающее покрытие, а на пропускающие элементы решетки - просветляющее покрытие. Это позволяет устранить блики, возникающие при многократном отражении излучения внутри пластины, и связанное с ними появление дополнительных дифракционнь 1 х максимумов, Тем самым повышается контрастность интерференционной картины.На фиг,1 изображен интерферометр; на фиг.2 - наложение волновых фронтов в двух дифракционных максимумах.Интерферометр содержит неплоскопараллельную прозрачную пластину 1, нанесенную на одну ее поверхность отражательно-пропускающую дифракционную решетку 2, отражатель 3 в виде сплошного слоя, покрывающего противоположную...

Номер патента: 1728650

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бодров, Васильев, Комраков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...и для любой поверхности, эквидистантной идеальной.Контроль общей погрешности контролируемой поверхности осуществляется следующим образом.Схема интерферометра включает плоское зеркало с центральным отверстием, ориентированное таким образом, что его от-. ражающая поверхность пересекает оптическую ось интерферометра под прямым углом в точке заднего фокуса первого компенсатора, а также второй компенсатор, расположенный между задним фокусом первого компенсатора и контролируемой поверхностью. Центральная часть светового пучка, сформированного после прохождения через первый компенсатор, падает на второй компенсатор. Расчет второго компенсатора выполняется таким образом, что, если контролируемая поверхность не имеет погрешностей, то прошедшие...

Номер патента: 1728675

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Воронов, Мурзаханов

МПК: G01J 9/02

Метки: двухканальный, жамена, интерферометр

...лучей на вторую плоскопараллельную пластину, Все это приводитне только к более значительному(по сравнению с известным интерферометром)уширению интерференционных полос, вызванному наличием не только поперечного,но и углового смещения волнового фронтаотносительно рекомбинирующей плоскости, но и к большему изменению разностихода лучей в каналах интерферометра, чтоявляется причиной повышения чувствительности,На фиг, 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг, 2 - возможныеварианты включения клина в оптический канал интерферометра (на фиг. 1 и 2 не показаны источники когерентного излучения ирегистраторы интерференционных картин).Предлагаемое устройство содержитплоскопараллельные пластины 1 и 2 с толщиной й или клин 3.Ход...

Номер патента: 1733920

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Ероховец, Ларченко, Леонов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий

...последовательно оптически связанные лазер 1,первый компонент 2 коллиматора, дифракционную решетку 3, второй компонент 4коллиматора, объектив 5, дефлектор 6, вогнутую дифракционную решетку 7 и фотоприемник 8, причем центр вогнутойдифракционной решетки 7 совпадает с центром колебаний дефлектора 6, а дифракционная решетка 3 и вогнутая дифракционнаярешетка 7 расположены в оптически сопряженных плоскостях, которыми являются передняя фокальная плоскость второго 20компонента 4 коллиматора и задняя фокальная плоскость объектива 5,Выход фотоприемника 8 является выходом интерферометра,Устройство работает следующим образом.Первый компонент 2 коллиматора фокусирует излучение лазера 1 на расстоянии д 1 до дифракционной решетки 3которая разделяет его...

Номер патента: 1744443

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Сарычев, Семин, Шкорупило

МПК: G01B 9/021

Метки: голографический, интерферометр, параллельными, пучками, световыми

...резьбовую 25, винт настроечный 26, пружину 27, шарик 28, на 55 правляющие шпильки 29, диск с указателем30, шкалу отсчетную 31, маховичок 32,Работа устройства осуществляется следующим образом,1) Юстировка интерферометра. нечной ширины как при работе в реальноммасштабе времени, так и при работе методом двух экспозиций. Интерферограммы вполосах конечной ширины, в свою очередь,дают возмокность определять знаки измеряемых смещений и измерять смещенияменьше четверти длины волны используемого света.Однако, если при работе в реальноммасштабе времени в условиях визуального 1контроля дополнительные устройства обеспечивают уверенную настройку на полосыконечной ширины высокого контраста, то. при работе методом двух экспозиций визуальный...

Номер патента: 1744452

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей

...интерферограммы без ее видоизменения, что повышает надежность и достоверность измерений величины отклонения исследуемой поверхности от плоскости. Делительный элемент расположен в сходящемся (или расходящемся) световом пучке в области вблизи фокуса первого объектива и поэтому имеет малые размеры, не зависящие от размеров контролируемой поверхности. Предлагаемая оптическая схема с делительным элементом (дифракционной решеткой) является примером поперечно-сдвигового интерферометра, в котором величина изгибов интерференционных полос на интерферограмме пропорциональна не величине отклонения контролируемой поверхности от плоскости (как в интерферометре Физо), а пропорциональна первой производной функции отклонения от плоскости, так как...

Номер патента: 1749700

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Гусейнов, Попков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...а второй - один из ненулевых максимумов,Нормаль к поверхности зеркала б совпадаетс биссектрисой угла между интерферирующими пучками.Интерферометр работает следующимобразом,Луч лазера 1 (фиг.1), пройдя через коллиматор 2 и светоделитель 3, попадает наотражательную решетку 4, закрепленную наисследуемом объекте 5. Нулевой максимумдифракционного излучения, отразившисьот решетки 4, в обратном направлении, попадает на светоделитель 3 и делится на двапучка, один из которых 9 попадает затем наолупрозрачное зеркало 6. Отразившись отзеркала б, пучок 9 освещает матовь 1 й экран 7.Первый (или любой ненулевой) дифракционный максимум 10 отраженного отрешетки пучка излучения проходит черезполупрозрачное зеркало 6 и попадает наматовый экран 7, где в...