Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 284306

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бржезинский, Симахина

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, линейных, перемещений

...показана схема описываемого двухлучевого интерферометра.Интерферометр содержит основание 1, источник монохромагического света 2, коллиматор 3, зеркала 4 - 10, полупрозрачную пластину 11 для разделения световогс пучка на две ветви и наблюдательную систему 12.Две пары регулируемых между собой блоков, отражательных призм 13 - 1 б, расположены на основании во взаимно перпендикулярных плоскостях, а плоское зеркало 17 с отверстием установлено в одной пз ветвей интерферометрз.Раоотает интерферометр следующим образом.Свет от источника направляется в коллпматор, выходит из него параллельным пучком, зеркалом 4 направляется на пластину, где делится на два пучка. Один из пу гков падает на зеркало б, установленное на подвижной ре- О гулируемой...

Номер патента: 321674

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аксельрод, Груздева, Зсеоо, Лобачев, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...рядка, Это достиг установлен межд тролирусмой пове стоянии от нее.На чертеже пок ваемого интерферо Интерферометр выполнен по схеме Майкельсона. Его рабочая ветвь образована объективом 1, компенсатором 2 сферической аберрации и контролируемой деталью 3, при чем компенсатор установлен между параксиальным центром кривизны О и контролируемой поверхностью П-го порядка детали на расстоянии от нее, равномДев10 г, Р - радиус кривизны в вершине контро.лируемой поверхности 3;е - эксцентриситет поверхности 3;15 р - постоянный параметр компенсатора2, зависящий от увеличения, с которым он изображает центр кривизны О в точку О, совмещенную с фокусом объектива 1,20 Параллельный пучок света падает наобъектив, собирается в его фокусе О и,пройдя...

Номер патента: 299736

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Комиссарук

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционный, интерферометр

...систем.Известные дифракционные интерферометры дают либо полосы только параллельные штрихам решетки, либо полосы невысокого качества. Предлагаемый дифрационный интерферометр позволяет получить полосы произвольной ориентации и хорошего контраста.На чертеже показан предлагаемый дифрак ционный интерферометр, В фокальных плоскостях двух встречных коллиматорных объективов 1 и 2 располокены параллельные дифракционные решетки 3 и 4. Между объективами расположен объект исследования б, изоб ражение которого переносится объективами 2 и б в плоскость фотопленки 7. Изображение источника света фокусируется на решетку 3.Астигматический элемент 8, помещенный вблизи решетки 3, представляет собой одиноч ную цилиндрическую линзу или комбинацию...

Номер патента: 306342

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Московское, Ордена, Пур, Савостин

МПК: C01B 11/06

Метки: детали, интерферометр, нанесения, пленок, поверхность, процессе, толщины

...призмы блока 5, ова 7 и небольшого участка детали 12т), на которой наносится пленка. Эталонная ветвь включает в с угольую призму блока 5, объектив 6 детали 12 (точка б), свободный от пленки благодаря действию экранаРаботает предлагаемый интерфер дующим образом. При отсугствцц цацосцмоц пленки оптические пути в эталонной и рабочей ветвях постояш 1 ы, и в плоскости фотоэлемента 11 возникает ицтерфереццноцная картина в виде колец. При нанесеьцш пленки в точке т происходит изменение разности хода в ветвях интерферометра, что вызывает изменение освещенности в центре интерференционной картины. При измецешш расстояния вдоль оси между когерентцымц источниками, расположенными вблизи заднего фокуса объектива 9, на величину 0,5 Л (Л -...

Номер патента: 315102

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Коробкин, Тницкий, Якушев

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...

Метки: диагностики, интерферометр, плазмы

...10, и,попадает на фотоумножители 24 и 25. Частота лазера 2 устанавливается в выбранные точки кривых пропускания резонаторов интерферометра. При изменении расстояния между зеркалами 5, б (или 9, 10) изменяется величина сигнала, снимаемого с фотоумножителя 24 (или 25). Это изменение усиливается усилителем 30 (или 31) и подается на пьезоэлектрик 32 (или 33), компенсирующий изменение длины резонатора лазера 1 (или резонатора 3),Однако при этом изменение интенсивности излучения лазера 2 воспринимается системой стабилизации как изменение пропускания резонаторов лазера 1 и интерферометра 3, т, е. как изменение их длин, и ложно компенсируется, Так как кривые пропускания резонатора лазера 1 и резонатора 3 различны, нарушается постоянство их...

Номер патента: 319838

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Богуславский, Крицын

МПК: G01B 11/08

Метки: двухлучевой, диаметра, интерферометр

...через светоделптсльную пластину и собирается объективом б в плоскости выходной щели 7. Второй пучок света проходит через светоделительную пластину д, падает на боковую поверхность и поверхность верхнего основания усеченного конуса б. Часть пучка, падающая на боковую поверхность, отражается от нее и в радиальном направлении падает на измеряемую поверхность детали 8. Далее этот пучок света, отражаясь последовательно от измеряемой поверхности детали и боковой поверхности конуса, вместе с частью пучка, отраженного от верхнего основания усеченного конуса, возвращается обратно к пластине д, отражается от ес поверхности и собирается при помощи объектива б в плоскости выходной щели 7. Оба пучка света, имеющие разность хода,...

Номер патента: 330380

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Московский, Попов

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностики, интерферометр, лазерный, плазмы

...стабилизаццц оптической длинь пассивного резонатора вклочает монохроматор 7, приемник 8 излучения, предварительный усилитель 9, основцой усилитель 10 и пьезоэлемент 5. Предварительный усилитель является усилителем постояч;ого тока, Оц юеет небольшой коэффициент усиления ц находтся рядом с приемником 8. Основноц усилитель также является усилителем постоянного тока. Его коэффициент усиления выбирается достаточно большим, Измерительный канал образован моцохроматором 7, приемником 11 излучения ц катодцым повтор - телем 12.Для регистрации ццкчов модуляции используется импульсный осциллограф 13. В пассивном резонаторе находится камера 14, в ко. торой образуется плазма лри действии разрядного устройства 15, от которого одновременно запускаются...

Номер патента: 332319

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, выпуклых, гиперболических, интерферометр, качества, эллиптических

...поверхности; Ы - толщина плоскопараллельной пластинки; и - показатель преломления плоскопараллельной пластинки,Лучи, выходящие из оптического квантового генератора, фокусируются микрообъективом и образуют точечный источник света, расположенный от пластинки на расстоянииа= (2) где Рг и Р - геометрические фокусы (анаберрационные точки) контролируемых поверхностей.Лучи, идущие из точечного источника света, достигают пластинки и разделяются на два пучка: один из пучков построен лучами, отраженными от полупрозрачной поверхности пластинки, и образует эталонный сферический волновой фронт; другой пучок проходит через пластинку, достигает контролируемой поверхности, отражается от пее и вновь проходит через пластинку, но в обратном направлении,...

Номер патента: 335530

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бабаджанов, Богданова, Гофман, Майоров, Цейтлин

МПК: G01B 9/02

Метки: двойным, изображением, интерференции, интерферометр, полос, света

...нулевое деление по черной ахроматической полосе (либо шкала смещается до совмещения с черной ахроматической полосой).Затем по смещению черной ахроматической полосы по аттестованной шкале зеркало 1 5 10 15 20 25 перемещается на заданную величину, соответствующую п нониальных совмещений, Затем включается вместо источника белого света 7, источник монохроматического света 1, плавно перемещается зеркало 3, точно совмещаются интерференционные полосы, наблюдаемые в призме двойного изображения б, Направление движения полос для совмещения выбирается в зависимости от определенного при аттестации знака разности Ь.Первое совмещение полос соответствует (с погрешностью в пределах тысячных долей микрометра) перемещению подвижного зеркала...

Номер патента: 339771

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Телешевский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, фазовый, фотоэлектрический

...волновое число,/,Х - длина волны света,х, 2 в направлен распространениясигеальной и опорной волн соответственно.Сцгцальцая волна от точки выходя (пластина2) из оптической схемы интерферометра доточки обратного входа в схему (зеркало 18)проходит путь, равный 2 Е+1., изменяющийсяпри перемещении отражающей призмы 5,где Е - постоянный путь волны в призме. Следовательно сигнальцая волна 12 сца входеоптической схемы интерферометра выряжается в виде:1 с (2 Рс( - 2(сЕ - 2 И )1 - са в фокальной плоскости линзы 104,.с (2 с Ео 1- -сЕ 1 - Ес 1 ф5 10 20 5где б - фазовые набеги сигнальной волны ч,промежутке от зеркала 13 до фокальной плоскости линзы 10 (/плоскости щели 11) и в призме 5, имеющие постоянную величину.Опорная волна 3 претерпевает...

Номер патента: 339772

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Дтег, Клочкова, Контиевский, Холопова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...интерференционную картину, чем в известныхинтерферометрах,На чертеже показана схема предлагаемогоинтерферометра.Интерферометр включает осветительную си 15 стему 1 и наблюдательную систему 2, В осветительную систему входят источник 3 излучения, конденсор 4, диафрагма 5, объектив б,светоделитель 7 и зеркало 8, Наблюдательнаясистема включает зеркало 9 светоделитель 10,20 объектив 11 и диафрагму 12.Оптическая ось осветительной системы иоптическая, наблюдательность системы составляет различные углы с контролируемой плоскостью 13.25 Предлагаемый интерферометр работает следующим об р а вом.На контролируемую поверхность падаютдва пучка лучей, Углы падения этих пучковравны т 1 и 4. Интерференционная картина30 изучается наблюдателем, находящимся...

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...

Номер патента: 346571

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Московское, Пат, Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: иммерсионный, интерферометр

...б, эталонное сфериче- О ское зеркало 7, конденсорную линзу 8, лазерный источник 9 непрерывного действия, объектив 10, диафрагму 11. Центры кривизны С, и С сферических поверхностей 4 и 5 линзы 8 совмещены с геометрическими фокусами Р, и 5 1 е контролируемой асферической поверхности. Благодаря нормальному падению на поверхность 4 и равенству показателей преломления линзы 8 и иммерсионной жидкости 2, 20 все лучи, идущие из точки 11 (С 1), достигаютконтролируемой поверхности 1, не меняя своего направления. Отраженные от контролируемой поверхности лучи падают нормально на полупрозрачную сферическую поверхность б, 25 после отражения от которой повторяют свойпуть в обратном направлении и за светоделительным кубиком б интерферируют с лучами,...

Номер патента: 355488

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, интерферометр, оптических, систем, элементов

...то Нось 10. Форма дсфор- анрованноЙ зе 1)алиОЙ иовсрхнос(и ятгсстуется с помощью колец 11 ьютона, которые образуются при введении в систему полупрозрачной пластины 11,тр отличается ользх ется зеркоторая под и пневматичер, близкую кенного испыому повышаетфероме она исп астины, ских ил ает фо та, иска даря эт нципиальная роля оптичеаберрациями 2 Иа фиг, 1 пр схема интсрферо ских систем со с конечного расс Свет от монох пример, лазера) руется на от ройдя черезедставлена п 1 метра для кон значительными О ЯИ 51,рома 1 ического 1 1 конденсорнсп верстие точечноторую, попада сточника (налинзой 2 фоой диафрагмы ет сначала на 3 кусид, п Предложенный инте тем, что в качестве этал кальная поверхность пл воздействием механиче ских нагрузок приним к...

Номер патента: 355489

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Духопел, Симоненко

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, качества, поверхностей, цилиндрических

...пучок направляется па цилиндрическую линзу б, с помощью которой ня гряп 5 гх а и б кубика 7 собирается в прямыс ли нии, параллельные образующим цилиндрических поверхностей линзы 8 и проверяемой детали 10 и расположенныс, соответственно, в фокальной плоскости линзы 8 и пл)Скост 51 центров кривизны проверяемой поверхности.10 1.1 я гранях а н б нанесены зсркальныс по,1)ски, в середине которых прорезаны узкие прозрачныс цели (св. внд по стрелке Л), Щель па граш 6 совмещена с фокальной линией лпнзь 1 б и пропускает к поверхности проверяс мОЙ детали гольку ту часть пучка, котора 51дифрагировала на щели. После отражения от детали 10 пучок направляется в пнтерферов 1 етр мимо зеркальной полоски, 1 кой х),1 пучка обеспечивается соответствующиз...

Номер патента: 358611

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Белозеров, Спорник, Яничкин

МПК: G01B 9/02

Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой

...получать переменную величину и направление сдвига волновых фронтов при различной ширине и ориентации интерференционных полос,Схема предложенного интерферометра показанн а н а чертеже.Интерферометр содержит источник света 1, объектив 2 осветительной части, объектив 3 приемной части, дифракционные решетки 4, б и экран б.Световые пучки, сформированные объективами 2 и 3, дифрагируют сначала на решетке 4, Нулевой порядок дифрагированного светового пучка, прошедшего через решетку 4, дифрагирует на решетке б. В результате взаимодеиствия световых пучков, дифрагированных на обеих решетках, в первых порядках дифракции одного знака образуется интерференционная картина. Ширина интерферен ционных полос зависит от шага дифракционных решеток и...

Номер патента: 389397

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, клиновидный, многолучевой

...плоскости чертежа,После прохождения через двоякопреломля 25 ющую призму б световой пучок, идущий отосветителя, распадается на два пучка света,поляризованных во взаимно перпендикулярных направлениях. Применение двоякопреломляющей поляризационной призмы в каче 30 стве светоделительного устройства позволяетго г 5 зо г 2 Л. Гоихмраненко оставительТехред 3. Т рректоры: Л, Царькови Л, ОрловП едактор Т. Орловская одписное Сапунов пографии, пр. использовать в интерферометре высококогерентные лазерные источники света.Первый пучок проходит через призму как через плоскопараллельную пластинку. Второй пучок отражается от гипотенузной грани призмы 6, зеркала 7 и, еще раз отразившись от полупрозрачной грани пластины 8, пространственно...

Номер патента: 391387

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Комиссарук, Яничкин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный

...1. После призмы 2 Волластона расходящийся пучок света преобразуется коллиматорным объективом З,в параллельный, проходит сквозь об ьект исследования и камерным объективом 4 направляется па элемент 5, поворачивающий плоскость поляризации и вторую призму б Волластона.,Пройдя поляроид 7, свет направляется на приемник излучения, например фотопластинку,Принцип работы устройства заключается в следующем. Первая призма 2 Волластона придаетастигматизм обеим волновым повсрхностям обыкновенного и необыкновенного .тучей. Эле мент 5 поворачивает плоскость поляризациилучей на 90 и, благодаря этому, вторая призма б Волластона компенспрует астигматизм, внесенный в световой поток призмой 2, Если призмы 2 и б установлены перпендикулярно 20 оптической...

Номер патента: 395705

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Комиссаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...покрытия, адвух образованных при этомния лучей прохождение черези отражение от двух. Для выдпучков на входе и выходе порагмы. тр отличается о установлены световые пучки с нанесенными 20 етоделительныими друг, другая луча измерирез все четыре для каждого из 25 в ветви сравнеодно покрытие еления рабочихмещецы дцафЭто повышает чувствительность и точность измерения разности хода до 0,004 длины световой волны ь установках больших габаритных размеров.На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого пнтерферометра.Луч света из осветителя 1 через входную диафрагму 2 падает на разделительную пластину 8, где в результате отражения от ее светоделцтельных покрытий он делится на три луча. Один луч проходит в измерительной ветви...

Номер патента: 395706

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Каторгин, Шир

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...через блок зеркал 2, 3 и 4, попадает на зеркало 5 и отклоняется им на полупрозрачное зеркало б.Во втором плече интерферометра зеркало 7 отклоняет излучение в блок зеркал 8, 9 и 10, пройдя который излучение попадает на полупрозрачное зеркало б. Блоки зеркал в процессе работы поворачивают на угол вокруг оптической оси в противоположных направлениях.Интерферометр устанавливают в фокусе объектива телескопа, а интерференционная картина наблюдается в плоскости его выходного зрачка, Световое излучение от объекта светоделительным зеркалом 1 направляется в оба плеча интерферометра. При повороте одного из блоков зеркал на угол а вокруг оптической осп волновой фронт на выходе его поворачивается на угол 2 а. Таким образом, волновые фронты на...

Номер патента: 396543

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, двухлучевой, интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...и,следовательно,:с ограничивают точности измерения местных ошибок.На чертеже приведе а схема предтагаемогоинтерферо., етра для случая контроля плоскихповерхностей.Иптерферометр содержит осветительное устройство, Вклочаюцсе псточнп( 1 излученп 5,конденсор 2 и диафрагму 3; объектив 4, в фокальной плоскости которого находится диафрагма 3; систему пз свстодслптелей 6, 6 изеркал 7, 8; обордчптдопхуо систему пз трехплоских зеркал 9, 10 и 11, Выполненную пои 1 ротпой относ;тельно оптической оси О - Оинтерфсрометрд, Кдртпнд ш тсрферепцпп двухпучков, отражеп;ых от контролируемой поверхности 12, рассматривается наблюдательным хустрогством (например, глазом), помещенным за диафрагмой 13, расположенной вфокдльной плоскости обьектпва 11. Одна...

Номер патента: 403949

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Духопел, Пахомова, Урнис

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...содержит монохроматическпй источник 1 света, кондепсор 2, диафрагму (входддодд зрачок интерферомстра) 3,25 плоское зеркало 4, светоделительн пластину 5, тубуспую линзу 6, микрообъектив 7, полусферическую линзу 8, выключающийся объектив 9, окуляр 10.Позицией 11 обозначена контрол30 таль, 12 - капля иммерсионной ж25 ЗО 35 3образцовая сферическая поверхность; б - контролируемая поверхность.Работает предлагаемый интерферомстр следующим образом.Монохроматический источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает отверстие диафрагмы 3, установленной в фокальной плоскости тубусной линзы 6. Прошедшие через диафрагму пучки плоским зеркалом 4 направляются сначала на линзу 6, а затем в микрообьектив 7, В предметной плоскости...

Номер патента: 407185

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Сихарулидзе

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемыцений

...пу. тн между отражателями 7 и 9 в одной ветви и 8 и 10 в другой и попадают на плоские зеркала 11 и (2, после отражения от которых проделывают пройденный путь в обратном порядке, вновь соединяясь на разделяющей пластине 3.При описании одного полного витка ось пучка света смещается в сторону биссектрисы прямого угла подвижного уголкового отражателя параллельно самому себе на расстояние.2 в - 2(в - а), где в - расстояние между осью первого пучка лучей, падающего на подвижный уголковый отражатель, и биссектри 5 20 25 Зо 35 40 д 50 55 00 65 сой прямого угла последнего, Г 1 ри описании каждого нового витка пучок лучей смещается на ту же величину по отношению к предыдущему положению, при этом К - число прохождений пучком света пути между...

Номер патента: 370454

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, контактный, линейного, объекта, перемещения

...интерферометра.д 0 Предлагаемый интерферометр может осуществлять одновременно измерение как путемсчета полос, так и абсолютным методом.На фиг, 1 показана принципиальная схемапредлагаемого интерферометра; на фиг, 2 -1 поле зрения интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 света сконденсором, монохроматор 2, блок, разделяющий световой пучок на два пуска, в виде светоделительной пластины т, неподвижное зер 20 кало 4, измерительный наконечник 5 с подвижным зеркалом 6, дополнительное неподвижное зеркало 7, окуляр 8, фотоэлектрический преобразователь 9 и счетчик 10.Работает предлагаемый интерферометр сле 25 дующим образом,При измерении измерительный наконечник5 с зеркалом б перемещается, При этом в поле зрения окуляра 8 проходит...

Номер патента: 371490

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Щербов

МПК: G01N 22/00, H05H 1/00

Метки: диагностики, интерферометр, плазмы

...опорного напряжения и со смесителя поступают в блок фазометра 8 и далее на индикаторный осциллограф 9, горизонтальная развертка которого запуокается синхронного с началом плазменного разряда.Синхронизация плазменного разряда с вращением кулачка модулятора и запуском горизонтальной развертки осциллографа осущеспвляется с помощью синхронизатора 10. Синхронизатор вырабатывает импульсы для запуска плазменного разряда и горизонтальной развертки осциллографа только в моменты времени, соответствующие определенному по. ложению кулачка 11 модулятора (фиг. 2).Синхронизатор вырабатывает импульс только тогда, когда металлическая пластина 12 замьгкает контакты 18, 14 синхронизатора,Плазменный разряд должен проходить в отрезок времени,...

Номер патента: 373519

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Лазарева

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических

...цабцаяэкраном 5,Работает предлагаемый интерферометр сле 30 дующим образом.Параллельный пучок лучей, идущий из оптического квантового генератора, проходит через полупрозрачную пластинку 2 и направляется к объективу 8, который фокусирует лучи в заднем фокусе Р. После объектива 3 рас положен компенсатор 4, у которого первая поверхность является вогнутой сферической, причем центр кривизны С этой поверхности совмещен с задним фокусом Г объектива 3. Лучи, отраженные от первой поверхности ком пенсатора, создают эталонный сферический волновой фронт сравнения. Преломленные компенсатором лучи после выхода из него также создают эталонный волновой фронт, форма которого определяется параметрами контро лируемой детали. Например, для случая,...

Номер патента: 380946

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Елисеев, Клочкова, Кожевников, Контиевский, Пережогин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, качества, оптической, плоской, поверхности

...ширина границ раздела полосы на участки с взаимно повернутыми изображениями практически равна нулю, плоскость изображения полос проходит через границы раздела, и параллакс между изображениями полосы на различных участках отсутствует, что повышает точность контроля.На фиг, 1 из птпредлагаемого ра15 20 25 30 35 разрез по А - А на фиг. 1; на фиг. 3 - вид поля зрения интерферометра.Интерферометр содержит осветительную систему, включающую источник 1 монохроматического излучения, конденсор 2, диафрагму 3, положительные линзы 4 и 5, объектив б, эталон 7, светоделительную пластину 8, разделительное оптическое устройство, состоящее из светоделительного кубика 9, пента- призмы 10, призмы 11, клина 12, зеркальных покрытий 13 в виде...

Номер патента: 434257

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Щербов, Электроники

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностики, интерферометр, плазмы

...направлению распространения сигнала и составляет угол 45 с плоскостью поляризации.На чертеже приведена блок-схема предлагаемого интерферометра.Сигнал от СВЧ генератора 1 через развязывающее устройство 2 делителем 3 делится на две части (опорный и измерительный сигналы),5 передающую анткой 7.Вектор электрического поля измерительного сигнала перпендикулярен к проволочной решетке, поэтому он проходит сквозь нее без 10 ослабления.Пройдя через плазму 8, сигнал отражаетсяот двухгранного отражателя 9, разворачивает плоскость поляризации на 90 и попадает на решетку 7. Благодаря повороту плоскости 15 поляризации вектор электрического поля отраженного сигнала оказывается параллельным проволочкам решетки, а следовательно, он вновь...

Номер патента: 438865

Опубликовано: 05.08.1974

Автор: Арлов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сдвига

...объ ектив 5 вместе с объективом 4 образуетуменьшенное изображение 7 объекта, расположенное вблизи задней фокальной плоскости объектива 5.Сдвиговое устройство расщепляет падаю 5 щую на него световую волну на две, расходящиеся под углом 0 одна к другой. В качестве устройства сдвига может быть использовано любое из известных приспособлений для углового расщепления световых лучей. Объектив 8 формирует на экране 9 раздвоенное изображение объекта. В области переналожения изображений наблюдаются интерферепционные полосы, характеризующие разность фаз между точками волновых фронтов, разделенными расстоянием сдвига АПеремещение устройства сдвига в 1 тической оси приводит к изменению Н согласно формулеКорректор Л. Котова Редактор В, Смирягииа...

Номер патента: 441443

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Власов, Вульман, Пресняков, Слоцкий

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сдвига

...этого система деления отраженного от объекта пучка выполняется в виде набора диафрагм, размеры которых определяются величиной измеряемой деформации и величиной сдвига. оправе 3, мпкрометрпческпй винт 4 для перемещения половины 2 бплинзы относительно ее неподвижной половины 5, закрепленной в неподвижной оправе 6. Действующие диаметры обеих половин билцнзы регулируются оправами 7 и 8.В процсссе измерения излучением когерентного источника освещают исследуемый объект. Вблизи плоскости квадратичного детектора получают два сдвинутых одно относптельно другого изображения объекта. Величину сдвига устанавливают по понпусной шкале винта 4 либо визуально по сдвигу изображений. Прп этом действующие диаметры обеих половин билинзы...