Патенты с меткой «интерферометр»
Голографический интерферометр
Номер патента: 1749701
Опубликовано: 23.07.1992
Автор: Махмутов
МПК: G01B 9/025, G03H 1/04
Метки: голографический, интерферометр
...изображений, ду 5 смещают между экспозициями в ееНа фиг,1 изображена схема устройства; плоскости, интерференционные полосы в на фиг.2 - элементы, формирующие точеч- восстановленной интерферограмме периый диффузныи рассеиват. л, 5 пендикулярны направлению смещения, ИнГолографический интерферометр со- терферограмма в полосах конечной ширины держит лазер, си т1, систему 2 очистки, расши- образуется при восстановлении голограмрения и коллимации лазерного пучка, мы пространственно когерентным источни-, фазовый объект 3, фокусирующую систему ком света, в полосах бесконечной ширины - 4, регистрирующую среду 5, положительную 10 некогерентным,Преимущество изобретения заключаПервая экспозиция среды 5 произво- ется в простоте реализации, что...
Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей
Номер патента: 1753258
Опубликовано: 07.08.1992
Авторы: Бодров, Комраков, Чудакова
МПК: G01B 9/02
Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей
...изобретение предпочтительнее применять для контроля поверхностей, технологический процесс изготовления которых не приводит к появлению несимметричных ошибок, Это условие выполняется, например, при изготовлении асферических поверхностей методом вакуумной асферизации, где возможно лишь появление зональных осесимметричных ошибок.5 10 На чертеже изображена оптическая схема интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, микрообьектив 2, светоделитель 3, объектив 4, плоскопараллельную пластину 5 с эталонной светоделительной поверхностью 6, оптический компенсатор 7, на центральный участок поверхности которого, противолежащей плоскопараллельной пластине 5, нанесено зеркальное отражающее, покрытие 8 диаметром 01...
Интерферометр для контроля формы поверхности
Номер патента: 1755041
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, поверхности, формы
...Точки А 1 и Р 1 линзой 17 проектируются вских поверхностей; на фиг.2 - для 20 центрдиафрагмы 6,контроля вогнутых эллиптических поверх- Объектив 10 (фиг,4) в рабочем потокеностей; на фиг,З - для контроля выпуклых фокусирует излучение в фокус Р 2 вогнутойгиперболических поверхностей, на фиг.4 - гиперболической поверхности 26 оптицедля контроля вогнутых гиперболицеских по- ской детали 22. В ойорном потоке интерфеверхностей, .: , . 25 рометра установлен мениск 14, одна изСхемы интерферометра Включают апланатицеских "тоцек которого совмещенаследующие элементы; лазер 1, светоде-. с фокусом Р 1 поверхности 26; а другая аплалительный кубик 2, зеркало 3, призму 4, натическая точка, сопряженная кубиком 5 ссветоделительный кубик 5, диафрагму 6,...
Интерферометр для контроля формы поверхности
Номер патента: 1755042
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, поверхности, формы
...мениски 9,10 и линзы 11, 12, Ха схемах показаны контролируемые оптические детали 13, 14 с параболическими поверхностямй 15, 16. И нтерферометр (фиг.1) содержит объектив 7 и последовательно установленные лазер 1 и светаделительный кубик 2, делящий излучение на два потока. В каждом из потоков установлены отражательные элементы,выполненные с плоскими отражающими поверхностями, ориентированными пад углом к направлению соответствующего потока.Один из потоков является рабочим. В этом потоке отражательным элементом служит зеркало 3. В другом потоке, который является опорным, установлены объектив 7 и отражательный элемент - призма 4. Интер ферометр снабжен апланатическим менискам 9, установленным в опорном потоке так, что одна из его...
Интерферометр для измерения углов
Номер патента: 1756757
Опубликовано: 23.08.1992
Авторы: Веселев, Копытов, Лизунов, Набока
МПК: G01B 11/26
Метки: интерферометр, углов
...управления формисхема интерферометра; на фиг.2 - положерует управляющие сигналы на привод 10 ние шкивов на платформе. Интерферометр содержит основание 1,каретки, которая переместит полупрозрачное зеркало 6 в положение, при котором пучок лучей после отражения от триппельпоследовательно установленные йаоснова призмы 13 попадет в центр координатнонии 1 измеритель 2 перемещенйй. светоделитель 3, компенсирующее устройства 4 в чувствительного фотоприемника 8виде каретки 5; установленной с возможйо-" Для комйенсации нейрямблинейности стью перемещения вдоль оси, параллель" . перемещения кареткй 5.служитфотойрием 10 ной ойтиче.ской оси измерител"я" 2 ник 7, сигнал с которого поступает на блок перемещений,"последовательно установ управления,...
Относительный интерферометр
Номер патента: 1758432
Опубликовано: 30.08.1992
МПК: G01B 21/00
Метки: интерферометр, относительный
...через оптический затвор 8 на фотоприемник 11. Часть этого пучка, пройдя зеркало 5, поступает на измеритель контраста 16. Второй пучок, отразившись от зеркала 2 и пройдя калибро 5 10 15 вочную линию 3 через полупрозрачное зеркало 6 одной частью поступает на измеритель контраста 16, Другая часть этого пучка, отразившаяся от полупрозрачного зеркала 6 направляется через оптический затвор 9 на фотоприемник 12. Генератор 10 вырабатывает стробирующие импульсы, следующие с постоянным периодом Т, их длительность г может регулироваться и управляет ими оптическими затворами 8 и 9, пропуская на короткое время опорный и информационный пу кки на фотоприемники 11 и 12. Инерционность фотоприемников 11 и 12 и стоящих за ними усилителей 13 и 14...
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей
Номер патента: 1760312
Опубликовано: 07.09.1992
Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов
МПК: G01B 11/24
Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей
...двумя исследуемыми волновыми фронтами, смещенными и наклоненными по отношению друг к другу. Поэтому малые случайные смещения и наклоны любых оптических элементов схемы приводят только к малым смещениям интерферограммы и не искажают ее, а это в свою очередь означает повышение надежности и достоверности результатов измерения отклонения поверхности от плоскости, Во-вторых, вместо двух дифракционных решеток в прототипе в поперечносдвиговом интерферометре использована только одна решетка, которая помещена после второго объектива в сходящемся пучке в области фокуса, и поэтому имеет небольшие размеры, независящие от размеров контролируемой поверхности. В-третьих, предложенная оптическая схема с одним делительным элементом позволяет при...
Дифракционный интерферометр
Номер патента: 1762116
Опубликовано: 15.09.1992
Авторы: Ефимов, Образцов, Подоба
МПК: G01B 9/02
Метки: дифракционный, интерферометр
...обьектив, светоделитель, де, ржатель обьекта и фотоприемную систему, размещены за светоделителем первый объектив, плоскопараллельная пластина с отражателем, ориентированная перпендикулярно оптической оси и выполненная с выступом, на котором установлен отражатель, второй обьектив, причем светоделитель выполнен в виде рассеивающей пластины,Дополнительное повышение точности достигается ээ счет того, что интерферометр снабжен поляризатором, размещенным перед фотоприемной системой, источник излучения выполнен в виде источника плоскополяризованного излучения, а рассеивающая пластина выполнена из экс 5 10 15 20 25 30 35 40 45 понированного слоя фотоэмульсии, нанесенного на подложку в виде ахроматической четвертьволновой фазовой...
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей и систем
Номер патента: 1765803
Опубликовано: 30.09.1992
Авторы: Гвоздев, Кирилловский, Петрученко, Прохоренко
МПК: G01B 11/24, G04B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей, систем
...которогоэлектрически связан с выходом фотоэле,рической матрицы, а выход- с механизмами 15подвижек, обеспечивает воэможность автоматизации настройки интерферометра засчет обработки сигнала, полученного на фотоэлектрической матрице при попадании нанее отраженного испытуемой системой в 20режиме автоколлимации изображения точечного источника света, блоком управления, который вырабатывает управляющиесигналы для приводов в зависимости от отклонения изображения точечного источника света от центра матрицы, что ведет такжек повышению производительности и достоверности контроля за счет ликвидации недетерминированных ручных операций, икроме того, обеспечивает повышение производительности при любой случайнойразъюстировке схемы контроля,На фиг, 1...
Интерферометр для измерения перемещений объекта
Номер патента: 1768956
Опубликовано: 15.10.1992
Автор: Старков
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объекта, перемещений
...на угол а и падает 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 сначала на первый неподвижный отражатель 10, а затем, в процессе перемещения каретки 8, падает поочередно на второй 11 и третий 12 неподвижные отражатели, Каждый из неподвижных отражателей возвращает обратно пучок через клин на светоделитель 3, Оба пучка вторично делятся светоделителем, интерферируют и, создав интерференционную картину в плоскости щелевых диафрагм 14,15, частично проходят их и концентрируются цилиндрической линзой 13 на детекторах 16 и 17. При перемещении каретки 8 разность хода лучей измерительного и опорного изменяется и вследствие этого интерференционные полосы сканируют щелевые диафрагмы 14 и 15. Число полос К проходящих относительно щелей, связано с величиной...
Интерферометр для контроля формы вогнутых оптических поверхностей вращения
Номер патента: 1768965
Опубликовано: 15.10.1992
МПК: G01B 11/24
Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...волновой фронт, Поэтому перед компенсатором стоит высококачественный объектив, формирующий сферический вол-д новой фронт, что накладывает дополнительные требования к точности изготовления объектива и юстировке рабочей ветви интерферометра,Целью изобретения является повышение точности контроля и упрощение конструкции.1768965 оставитель Н. Кулакова хред М.Моргентал Соколова Те Корректор П, Гереши едакт Заказ 3638 ТиражВНИИПИ Государственного комитета по113035, Москва, ЖПодписноебретениям и открытиям при ГКНТ СССаушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 Указанная цель достигается тем, что в рабочей ветви интерферометра установлен компенсатор, выполненный из афокального и положительного...
Голографический интерферометр для контроля формы внутренней поверхности отверстий
Номер патента: 1772617
Опубликовано: 30.10.1992
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: внутренней, голографический, интерферометр, отверстий, поверхности, формы
...внутренней поверхности отверстий, содержащийпоследовательно установленные источник 45излученил, микроабъектив, коллимирующий объектив и регистрирующую среду,снабжен конусом, предназначенным для установки внутри контролируемого отверстияыполненным с внешней отражающей поверхностью, на которую нанесен растр, регистрирующал среда расположена по ходу излучения за каллимирующим объективом в плоскости, перпендикулярной оси интерферометра, и взаимосвязана с вершиной конуса, ориентированного так, что его ось совпадает с осью интерферометра.На чертеже представлена схема реализации голографического интерфераметра. Голографический интерферометр содержит последовательно расположенныеисточник излучения 1 например лазер ЛГ 30), микрообъектив 2 в...
Дисперсионный интерферометр
Номер патента: 1775622
Опубликовано: 15.11.1992
Автор: Драчев
МПК: G01J 9/02
Метки: дисперсионный, интерферометр
...оптических удвоителя частоты на расстоянии, обеспечивающем размещение между ними исследуемого объекта, светофильтр и регистрирующее устройство дополнительно введены поляризационный светоделитель, установленный по ходу излучения за светофильтром, и второе регистрирующее устройство, при этом оба регистрирующих устройства оптически связаны с выходами светоделителя, удвоители частоты и поляризационный светоделитель ориентированы так, что 4 Й. Й- а углы между с в Щ - а также в иА при линейной поляризации излучения источника составляет 45 соответствен 775622но, где Ь- единичный вектор поляризации излучения источника, К и 1 единичные векторы поляризации второй гармоники, генерируемой первым и вторым удвоителями частоты соответственно,...
Интерферометр для измерения перемещений объекта
Номер патента: 1779913
Опубликовано: 07.12.1992
Авторы: Барский, Будевич, Гончаров, Иващенко, Мельников
МПК: G01B 11/16
Метки: интерферометр, объекта, перемещений
...эа счет уменьшения потерь энергии,указанная цель достигается тем, что интерферометр для измерения перемещенийобьекта, содержащий последовательно установленные лазер и светоделитель, делящий пуо на два, в одном иэ которыхустановлены фаэовая пластина и уголковыйотражатель, а в другом пучке установленывторая фазовая пластина и уголковый отражатель, предназначенный для установки на 25обьекте, и установленную на одном из выходов интерферометра систему регистрации, выполненную в виде светоделителя идвух фотоприемников, ориентированныхтак, что их оптические оси перпендикулярнь 1, снабкен второй системой регистрации,идентичной первой, установленной на втором выходе интерфераметра, в обеих системах регистрации светоделигели выполненыв виде...
Контактный интерферометр пробное стекло
Номер патента: 1786369
Опубликовано: 07.01.1993
Авторы: Костюткин, Радевич, Спорник, Туев
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, контактный, пробное, стекло
...- повышение производительности и точности контроля путем обеспечения контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им "крутых" поверхностей, по всей поверхности одновременно.На фиг, 1 - 7 изображена принципиальная оптическая схема контактноо интерферометра - пробного стекла для контроля погрешности пслированных поверхностей.На фиг, 1-7 показан волоконно-оптический элемент (для контроля полусферы - фиг, 1 - 4, полуцилиндра - фиг. 5-7) в разрезе, где 1 - волоконно-оптический элемент, 2- контролируемая Деталь, 3 - поверхность, на которой наблюдается интерференционная картина, 4 - эталонная поверхность. На фиг, 1 - 4 изображено пробное стекло для контроля полусферы. На фиг. 4 - показано,что входные концы волокон...
Интерферометр для контроля качества поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1791701
Опубликовано: 30.01.1993
Авторы: Вавилова, Городецкий, Рафиков
МПК: G01B 9/021, G03H 1/22
Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей
...,еских деталей" .содержащий осветительную систему из источника монохроматического излучения (лазер) и коллиматора, внеосевой голограммный оптический элемент, держатель контролируе мой детали и блок регистрации, согласноизобретению между держателем контролируемой оптической детали и внеосевым голограммным оптическим элементом дополнительно введен преобразователь 10 сферического волнового фронта в асферический волновой фронт, выполненный в виде синтезированного голограммного оптического элемента, расстояние Е от которого до внеосевого голограммного оптического эле мента определяется соотношением1 О д1 , - сова+вМпа 2 220 где 0 - диаметр внеосевого голограммногооптического элемента;О - диаметр синтезированного голограммного...
Лазерный интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1793204
Опубликовано: 07.02.1993
Авторы: Михальченко, Рюмин, Яковлев
МПК: G01B 11/02, G01B 9/02
Метки: интерферометр, лазерный, линейных, объекта, перемещений
...устройств соединены с электронным блоком 8 и блоком 9 цифровой индикации,Излучение источника монохроматического излучения представляет собой две моды излучения с ортогональными линейными поляризациями и отличающиеся по частоте на 640 Мгц. После отражения от светоделительной грани кубика 2 обе поляризации поступают на фотоприемное устройство б.1793204 фазовая Л /4 пластинка 10 ориентирована так, что главная ось ее составляет углы в 45 к поляризациям компонент лазерного излучения. На выходе фазовой пластинки образуются две ортогональные круговые поляризации с той же разностью частот, Поляризатор 11 пропускает на фотоприемник 12 линейно поляризованные разночастотные излучения. В результате оптического гетеродинирования на выходе...
Интерферометр для измерения отклонений от прямолинейности
Номер патента: 1800258
Опубликовано: 07.03.1993
Автор: Смоляков
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, отклонений, прямолинейности
...круговые в 1 и й 2, Затем оптические клинья 8 и 9 отклоняют каждый пучок излучения на заданный угол а от визирной оси в разные от нее стороны и направляют каждый пучок перпендикулярно одному иэ отражателей 10 и 11, вследствие чего отраженные от них пучки совмещаются с падающими, Проходя на обратном пути черезов /4 фазовые пластины 6 и 7, пучки излучения вновь изменяют свою поляризацию с круговой на линейную, Однако при этом изменении первоначальная горизонтальная поляризация в преобразуется в вертикальнуюв 1 и соответственно вертикальная в в горизонтальную в 2 Затем пучок с вертикальной поляризацией в отражается от светоделителя 3, а пучок с горизонтальной поляризацией а 2 - от отражателя 4 и проходит через светоделитель с...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 1800259
Опубликовано: 07.03.1993
Авторы: Лазовский, Сигитов, Смоляков
МПК: G01B 11/16
Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений
...с первым пучком на светоделителе 6.Светоделитель б, имеющий поляризационное покрытие, разделяет компоненты излучения каждого попадающего на него пучка по поляризациям и формирует два совмещенных пучка излучения с ортогональными поляризациями, при этом один из пучков излучения имеет частоты ви где, а другой - частоты со 1 ,м 2 ц . Каждый пучок излучения может быть использован в самостоятельном рабочем канале. Для формирования опорного канала на пути одного из пучков устанавливают дополнительный светоделитель 15, отделяющий часть пучка и направляющий его на поляроид 11 и фотоприемник 13, Этот опорный канал может работать на оба рабочих канала,В каждом рабочем канале пучок излучения направляется через коллиматор 7 на поляризационный...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 1800260
Опубликовано: 07.03.1993
Авторы: Лазовский, Сигитов, Смоляков
МПК: G01B 11/16
Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений
...излучения на взаимно параллельные,После элемента 3 один из пучков излучения проходит через полуволновую фазовую пластину 4, которая поворачивает плоскость поляризации на 90, Второй пучок попадает на отражатель 5, установленный под углом к его оси, и, отражаясь от него, пересекается с первым пучком на светоделителе 6,Светоделитель 6 делит образовавшийся совмещенный пучок излучения на две части, каждая из которых содержит две волны с ортогональными поляризациями, Одна часть совмещенного пучка поступает через поляроид 11 на фотоприемник 13 опорного канала, Другая часть пучка направляется через коллиматор 7 на второй поляризационный светоделитель 8, который разделяет компоненты излучения по поляризации, а тем самым и по частоте, направляя...
Гетеродинный интерферометр
Номер патента: 1805306
Опубликовано: 30.03.1993
Авторы: Миронов, Привалов, Синица
МПК: G01J 9/02
Метки: гетеродинный, интерферометр
...к расщеплению частот мод. Если астигматический элемент выполнен в виде сферической линзы, размещенной под углом Брюстера к оптической оси 11, то разность частот мод равна где Р - разность частот, МГц;с, - частотный интервал между продольными модами лазера 1, МГц;и - показатель преломления материала элемента 7;щ - радиус пучка излучения, м;Я - радиус сферической поверхности элемента 7, м;К = 1,2 10 - коэффициент, найденныйзв эксперименте,По выходе из лазера пучок излучения, содержащий две моды, делится светоделителем на два пучка, один из которых направляется непосредственно на основной светоделитель 2, а второй пучок - на отражательное зеркало 10 и затем также на светоделитель 2 (см,фиг.2),При этом второй пучок при отражении от...
Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей составных зеркал
Номер патента: 1812421
Опубликовано: 30.04.1993
Авторы: Гусаров, Комраков, Лазарева, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, зеркал, интерферометр, поверхностей, составных, формы
...в рабочую ветвь"интерферометра,Падающий на плоскопараллельную пластину 4 пучок белого светаделится эталоннойсветоразделительной поверхностью на два:отраженный и проходящий. Отраженныйпучок проходит эеркальну 1 о призму 1,3 Даве,светоделитель 12 и дифрагирует на щеляхШ 1 и Ш 2 двойной щели 16, В фокальнойплоскости блока 19 формируется интерференцибнная картина; котораярегистрируется с помощью матрицы ПЭС или наблюдается в окуляр. Проходящий пучокнаправляется через зеркальный компенса.тор 6 нэ контролируемую поверхность.На практике наиболее распространены5 составные зеркала с сотовой структурой,при которой элементы зеркала имеют видмногоугольников и юстируются относительно центрального элемента (фиг, 2), Поэтомунаиболее целесообразным...
Интерферометр фазового сдвига
Номер патента: 1816313
Опубликовано: 15.05.1993
Авторы: Агашков, Иванов, Четыркин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига, фазового
...ЗВМ 11. При контроле неплоских поверхностей в измерительный. пучок излучения вводится формирователь 12 предметного пучка.Интерферометр работает следующим образом,Пучок излучения от источника 1 расширяют телескопической системой 2 и направляют на светоделитель 3, где он делится на два пучка, один из которых - измерительный поступает на контролируемый объект 5, а второй - опорный направляют на эталонное зеркало 4. По пути к эталонному зеркалу 4 пучок проходит кювету 6; наполненную газом. Отразившиеся от контролируемого объекта 6 и эталонного зеркала 4 пучки совмещаются светоделителем 3 и с помощью объектива 9 образуют интерференционную картину на поверхности матричного фотоприемного устройства 10, сигнал с которого обрабатывается Э ВМ...
Дифракционный интерферометр
Номер патента: 1818547
Опубликовано: 30.05.1993
Автор: Четкарева
МПК: G01J 9/02
Метки: дифракционный, интерферометр
...(паз. 4), в фокальной плоскости которого находится щелевая диафрагма, формирует параллельный пучок света, который падает на прозрачную фазовую решетку (поз, 5) под углом первого порядка дифракции для длины волны, соответствующей центральной части используемого интервала излучения источника света. С учетом того, что для образования полос в системе двух метрологических решеток с энергетической точки зрения выгодно использовать пучки наименьших, порядков дифракции, в интерферометре использованы фазовые решетки, концентрирующие излучение соответственно для прозрачной решетки в О, +1, а для отражательной в й 2. порядки спектра, При кратности постоянных решеток, равнойдвум, например, 600 и 300 штрих./мм соответственно для прозрачной и...
Интерферометр для диагностики плазмы
Номер патента: 1091683
Опубликовано: 23.06.1993
Авторы: Пятницкий, Фонкин, Якушев
МПК: G01B 9/02
Метки: диагностики, интерферометр, плазмы
...жения на выходе фотоприемника равнаудвоенной частоте модуляции. При смещении рабочей точки в точку А напряжение Овцх будет иметь частоту в и сдвиг фаз с модулирующим напряжением, равным Ов, а 35 при смещении в точку С - 1800.Сигнал с фотоприемника 11 (фиг,1), промодулированный по амплитуде и фазе, через полосовой фильтр 15 поступает на вход фазового детектора 16, на другой вход кото рого подается сигнал с генератора опорнойчастоты 18, В случае нахождения интерферометра в точке В (фиг.2) усиленный сигнал имеет частоту 2 а и выходное напряжение фазового детектора 16 будет равно О. Когда 45 же интерферометр находится в точках А илиС, с фазового детектора на усилитель поступает положительный или отрицательный сигнал, управляет работой...
Лазерный интерферометр
Номер патента: 1825968
Опубликовано: 07.07.1993
Авторы: Прилепских, Ханов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, лазерный
...плечо - линейной фазовой пластинкой 6 и уголковым отражателем 7. На пути отраженных уголковыми отражателями 5 и 7 лучей (на выходе интерферометра) установлены два поляризатора 8 и 9. Лазер 1 выполнен с линеиным поляризаторрм, четвертьволновая пластинка 2 установлена так, что ее оптическая. осьориентирована под углом 45 к плоскости падения светового пучка на светоделитель.Интерферометр работает следующим образом,Коллимированный линейно поляризованный пучок света от лазера 1, проходя через четвертьволновую пластинку 2, становится поляризованным по кругу. На поляризованном светоделителе 2 он делится на два световцх луча, равных по интенсивности и имеющих ортогональные поляризации, В измерительном плече световой луч проходит линейную...
Лазерный кольцевой интерферометр
Номер патента: 1827538
Опубликовано: 15.07.1993
Авторы: Балакин, Куцевол, Мурзаханов, Русяев
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, кольцевой, лазерный
...- первый, второй, третий, 10четвертый, пятый и шестой дополнительныеотражатели соответственно;2, 14 - оптические вентили (невзаимныеэлементы);6 - активная среда; 157 - отражатель;5, 9, 10 - первый, второй, третийпол 1 гпрозрачные отражатели соответственно; 8,13 - вспомогательные отражатели;12 - вспомогательный полупрозрачный 20отражатель;15 - интерференционное поле:16 - регистратор (дифференциальныйфотодетектор);И, Ы з - периметры основного контура и контуров взаимно ортогональных, удлиненных рециркуляторов (контург,контур Ь, контур з),-- т право- и-леводвижущиеся световыепотоки; 3007 - перпендикуляр к оси уровня (линияотвеса).Как следует из схемы, левый и правыйвыходы АС 6 через ПП отражатели 5, 9, 10 иотражатель 7 оптически связаны...
Голографический интерферометр
Номер патента: 1835047
Опубликовано: 15.08.1993
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...одновременно.Так введение трех дополнительных голографических пластин, которые сами пасебе известны, позволяет получить информацию о поверхности большого диаметра от1000-3000 мм. не увеличивая размер пластин, а только увеличив их количество.Связь между диаметром контролируемой поверхности 01 и диаметром объектива02 может быть представлена математическим выражением 02=2/3 01,Величина диаметра линзы 02 влияет наточность контроля, При величине диаметралинзы 022/3 01 световой поток, отраженный от контролируемой поверхности не используется полностью, в связи с чемснижается энергетическая эффективностьсхемы, что влечет снижение точности контроля.При величине диаметра линзы 022/301 величинаугла падения центрального луча в каждом предметном...
Интерферометр с регистрацией смещения дробной части интерференционной полосы
Номер патента: 1383973
Опубликовано: 30.05.1994
Автор: Мищенко
МПК: G01B 21/00
Метки: дробной, интерференционной, интерферометр, полосы, регистрацией, смещения, части
ИНТЕРФЕРОМЕТР С РЕГИСТРАЦИЕЙ СМЕЩЕНИЯ ДРОБНОЙ ЧАСТИ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ ПОЛОСЫ, содержащее оптически связанные источник монохроматического излучения, интерферометр, включающий подвижный отражатель, скрепленный с преобразователем перемещения, два фотоприемника, установленные в плоскостях формирования опорных и измерительных интерференционных картин, генератор периодического сигнала, выход которого соединен с преобразователем перемещения, два формирователя, входы которых подключены к фотоприемникам, первые блоки выделения переднего и заднего флангов, входы которых подключены к выходу первого формирователя, вторые блоки выделения переднего и заднего фронтов, входы которых подключены к выходу второго формирователя, генератор импульсов, первый...
Фотоэлектрический интерферометр для измерения перемещения
Номер патента: 1396717
Опубликовано: 30.05.1994
Автор: Мищенко
МПК: G01B 11/00
Метки: интерферометр, перемещения, фотоэлектрический
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЯ объектов, содержащий последовательно установленные источник монохроматического излучения, оптическую систему для расширения светового потока, светоделитель, призменный отражатель, предназначенный для скрепления с объектом, и фотоприемник, установленный в обратном ходе потока, отраженного от светоделителя, модулятор, задающий генератор, электрически соединенный с модулятором, и фазометр, входы которого соединены соответственно с выходом фотоприемника и генератора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, модулятор установлен между светоделителем и отражателем и выполнен в виде жестко соединенных между собой светоделительной пластины и оптического элемента с...