Патенты с меткой «интерферометр»
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1249322
Опубликовано: 07.08.1986
Автор: Тарханов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, оптических, поверхностей, сферических, формы
...11, установлен ные в рабочей ветви, и регистратор 12 интерференционной картины,Столик 10 установлен на опоре 13 с возможностью наклона относительно центра 14, совпадающего с задним фокусом объектива 5 эталонной ветви. Эталонная деталь 8 установлена на столик 10 и расположена на оси пучка между объективом 9 и его фокусом в рабочей ветви, Плоскость зеркала 7 находится на пересечении осей рабочей и эталонной ветвей, Опора 13 помещена на основании 15.Интерферометр работает следующим образом.Перед началом контроля в столик 10 устанавливают детали 8 и 11 со сферическими выпуклыми поверхностями. Затем центры кривизны поверхностей совмещают с центром вращения столика 10 и задними фокусами объективов 9 и 5. Источник 1 монохроматического света и...
Сканирующий интерферометр фабри-перо
Номер патента: 1249344
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Елисеев, Загидуллин, Коростелев, Кривов
МПК: G01J 3/26
Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо
...- упрощение юстировки и повышение надежности.На чертеже приведена конструкция 1 Оинтерферометра,Интерферометр выполнен в видедвух модулей идентичной конструкции,Каждый модуль содержит цилиндрическуюступенчатую втулку 1, в которую 15вставлено зеркало интерферометра,выполненное в виде цилиндрическогопоршня 2 со штоком. В качестве конструкционного материала втулки 1 используется тот же материал, из которого изготовлен поршень со штокомнапример,кварцевое стекло), На штокпоршня 2 одет пьезокерамический преобразователь 3, представляющий собойпьезокерамический пакет, состоящий 25из нескольких пьезокерамических колец с нанесенными на них токопроводящими прокладками, которые соединеныпараллельно. Пьеэокерамический преобразователь 3 первого...
Интерферометр для диагностики плазмы
Номер патента: 1252715
Опубликовано: 23.08.1986
МПК: G01N 22/00
Метки: диагностики, интерферометр, плазмы
...частоты, второй делитель сигнала, первый смеситель и фазометр, причем между вторыми выходами первого и второго делнтелей сигнала включен опорный канал, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности при измерении электронной концентрации высокоплотной магнитоактивной плазмы, в опорный канал введен второй врашатель плоскости поляризации, второй делитель сигнала выполнен трехканальным, а между его выходом и вторым входом фаэометра включен второй смеситель. ЗО 35 40 45 Составитель А.ЛысовТехред В,Кадар Корректор Л.Пилипенко Редактор О,Бугир Заказ 4618/46 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Производственно-полиграфическое...
Интерферометр для измерения линейных и угловых перемещений объекта
Номер патента: 1260674
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Авелан, Михайловский, Рачков, Румянцев
МПК: G01B 11/00, G01B 11/26, G01B 9/02 ...
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений, угловых
...йазера, делится на два пучка светоделительной гранью 6 призмы 2. Один из образовавшихся пучков направляется к отражателю 3, причем направление его распространения нормально отражающей большей грани 8 призмы 2 лишь в том случае, когда угол Ы равен углу М з (как углы со взаимно перпендикулярными сторонами) и 1= с= М = Ч (1)Второй пучок преломляется светоделительной гранью 6 и проходит к отражающей меньшей грани 7 призмы, которая направляет его к отражателю 4. Для того, чтобы второй световойпучок встречался с большей гранью8, имеющей зеркальное покрытие, подпрямым углом, необходимо, чтобы выполнялось равенство М, = К, (углы 5 со взаимно перпендикулярными сторонами). Так как угол , равен углу м,то, следовательно, Ф= й = м(2).Ввиду того, что...
Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей
Номер патента: 1260676
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...за объективом 5 и ориентировано так, что его вогнутая поверхность обращена к объективу 5, объектив 5 выполнен в виде плосковогнутой линзы с асферической вогнутой поверхностью и ориентирован так, что вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.8 - контролируемая деталь.ьОбъектив 5 (фиг. 2) может быть выполнен в виде плосковогнутой и менисковой линз 9 и 10, плосковогнутая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к выпуклой поверхности менисковой линзы 10, менисковая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.Интерферометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 поступает через телескопическую систему 2 на светоделитель 3, делящий падающий на него поток на два....
Интерферометр ротационного сдвига
Номер патента: 1268947
Опубликовано: 07.11.1986
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, ротационного, сдвига
...для контроля волновых аберраций оптических систем,Целью изобретения является повышение точности, надежности измерений и упрощение конструкции интерферометраНа чертеже представлена конструкция интерферометра,Интерферометр представляет собойуголковый отражатель, выполненныйв виде триппельпризмы 1, а светоде.литель выполнен в виде полупрозрачной диэлектрическои пленки 2, нанесенной на основание триппельпризмы1, основание которой ориентированоперпендикулярно пучку 3 на выходеконтролируемой системы.Интерферометр работает следующимобразом,Исследуемая волна, попадая наоснование триппельпризмы 1, частично отражается диэлектрической пленкой 2 а частично проходит уголковый отражатель, испытывая поворот на180. В результате получаются дваповернутых...
Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций
Номер патента: 1270555
Опубликовано: 15.11.1986
Авторы: Кравец, Пономаренко
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, динамических, интерферометр, лазерный
...1 напротив зеркала 7,параллельно ему и после многократного отражения от зеркал 7 и 12 с помощью зеркал 14, 9, 10 и 15 направляется на зеркало 8, закрепленное на торце другого измерительного штока 6, отражается от него; падает на зеркало 13, закрепленное неподвижно на основании 1 напротив зеркала 8, параллельно ему, и после многократного отражения от зеркал 8 и 13 падает на зеркало 11, неподвижно закрепленное на основаниии, отражаясь от него, проходит цо тому же оптическому пути обратно до светоделителя 3, отражается от него и через коллиматор 16 и диафрагму 17 попадает на фотоприемник 18, где взаимодействует с пучком эталонного излучения и образуег интерференционную картину. При динамических деформациях объекта 20 изменяется расстояние...
Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образцов
Номер патента: 1272105
Опубликовано: 23.11.1986
Автор: Кравец
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, динамических, интерферометр, лазерный, образцов
...светоделитель 3, падает на уголковый отражатель 8., закрепленньй на одном измерительном штоке 5, отражается отнего, с помощью зеркал 10 -3 направляется на уголковый отражаель9, закрепленный на торце другого измерительного штока 6 и, о-ражаясь отзеркала 14, неподвижно закрепленного на основании 1. проходит по томуже оптическому пути обратно от светоделителя 3, отражается от него ичерез коллиматор 15 и диафрагму 16попадает на фотоприеыник 17, где вэа; имодействует с пучком эталонного излучения и образует интерференционную картину,При динамических деформациях образца 7 изменяется расстояние междуголковыми отражателями 8 и 9,закрепленными на торцах измерительныхштоков 5 и 6, что вызывает движениеинтерференционной картины на фотоприемнике...
Интерферометр для измерения поглощения ультразвука
Номер патента: 1272123
Опубликовано: 23.11.1986
МПК: G01H 5/00
Метки: интерферометр, поглощения, ультразвука
...и запускает ждущий иультивибратор 14. Сформированный ждущиммультивибратором 14 импульс запускает программный счетчик 15 импульсов и блок 6 перемещения, которыйс постояннойскоростью начинаетперемещать пьезоприемник 3 относительно пьезоиэлучателя 2 на фиксиро"ванном расстоянии Е.На обкладках пьеэаприемника 3 развивается переменное напряжение, максимумы модуля которого соответствуютакустическому резонансу столбика среды между пьезоиэлучателем 2 и пьеэоприемником 3 к повторяются при изменении дЛины столбика на каждую полуволну/2 ультразвука. Максимумы получаются при длине столбика среды,отличающейся от указанного на четверть длины волны/4 ультразвука.Величина/4 через Фиксированное расстояние Ь и число длин полуволн М, укладывающихся на...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1275205
Опубликовано: 07.12.1986
Авторы: Бараш, Пресняков, Резников
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений
...изобретения - повышение чувствительности путем устранения паразитных вибраций, приводящих к разъюстировке.На чертеже представлена схема интерферометр а.Интерферометр содержит источник 1 излучения, светоделитель 2, два трехгранных уголковых отражателя 3 и 4, один из которых 4 установлен с возможностью перемещения в направлении, перпендикулярном излучению от источника 1, оба уголковых отражателя 3 и 4 смонтированы в другом потоке от светоделителя 2 диаметрально противоположно один другому, на отражателе 4 выполнено сечение с отражающим покрытием, параллельным основаник, фото- приемник 5, установленный в одном из потоков от светоделителя 2, который выполнен в виде куб-призмы на одну грань которой со стороны, противоположной источнику 1...
Интерферометр для контроля изменения формы поверхности оптических элементов
Номер патента: 1283521
Опубликовано: 15.01.1987
Авторы: Гогин, Кузнецов, Кулешов, Лебедев, Суханов
МПК: G01B 11/04, G01B 11/06
Метки: изменения, интерферометр, оптических, поверхности, формы, элементов
...картины рассматриваются с помощью наблюдательной системы 10.Перед началом работы необходимопроизвести следующее: к оптическойповерхности зеркала 6 в центральнойего зоне приклеиваются элементы 4и 5 в виде двух полукругов плоскопараллельной пластинки полимерного материала, изготавливаются они из одной пластинки путем ее разрезания на две части, а приклеиваются таким образом, чтобы получился круг с зазором примерно 1 мм между половинками. Диаметр разрезаемого полимерного круга равен примерно половине диаметра зеркала 6. Далее зеркала 9-7, оптически сопряженные соответственно с зеркалом 6 и элементами 5, 4 и имеющие независимые подвижки, юстируются таким образом, чтобы на выходе наблюдательной системы 1 О получилось три...
Интерферометр
Номер патента: 1288498
Опубликовано: 07.02.1987
Авторы: Михайловский, Рачков, Смирнов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...оптическим осям плечей интерферометра, и фотоэлектрический приемник 9.Интерферометр работает следующим образом.Световой поток от источника 1 направляется на светоделитель 2, который разделяет его на два пучка и направляет в два плеча интерферометра (на пары отражателей 3,5 и 4,6). Отраженный от пластины 2 пучок попадает на пару отражателей 5 и 3, от которых попеременно отражается до тех пор, пока не приблизится к вершине отражателя 6 настолько, что попадет на ту же грань отражателя 5, от которой последний раз отразился в сторону отражателя 3. При этом происходит изменение направления распространения пучка на противоположное и пучок проходит в обратном направлении тот же путь между отражателями 3 и 5, приб" лижаясь к .краям...
Дифференциальный акустический интерферометр
Номер патента: 1288583
Опубликовано: 07.02.1987
Автор: Плотников
МПК: G01N 29/00
Метки: акустический, дифференциальный, интерферометр
...его температуру. Засчет теплового контакта по малому сечению 8 теплопровода 6 с корпусом 3корпус 3 приобретает температуру теплопровода 6. Таким образом, температура камер 1 и 2 с помещенными в нихжидкостями поддерживается на заданномзначении, при котором производитсяизмерение скорости распространения ипоглощения ультразвука в исследуемойжидкости с помощью средства 4 возбуждения и измерения скорости распространения ультразвуковых колебаний в камер 2 заполняется эталонной жидкостью. В качестве эталонной жидкости ис.пользуют жидкость, у которой температурный коэффициент скорости ультразвука близок к коэффициенту исследуемой жидкости. В этом случае синФазное изменение температуры обеих камер 1 и 2 практически не вносит погрешности в...
Интерферометр для измерения углов поворота объекта
Номер патента: 1290061
Опубликовано: 15.02.1987
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов
...г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения угловых перемещений.Цель изобретения - повышение точности измерения путем получения четырех импульсов отсчета за один период интерференционной картины.На чертеже представлена схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит последовательно расположенные лазер 1 и светоделитель 2, два уголковых отражателя 3 и 4, предназначенные для скрепления с объектом (не обозначен), фоторегистрирующий блок в виде двух светоделителей 5 и 6, четырех диафрагм 7, 8, 9 и 10 и четырех фотоприемников 11, 12, 13 и 14. Устройство работает следующим образом.Излучение от лазера 1, пройдя через свето- делитель 2, делится на два...
Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей
Номер патента: 1295211
Опубликовано: 07.03.1987
Авторы: Алипов, Контиевский, Феоктистов, Чунин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, интерферометр, поверхностей, формы
...выходного объектива 6 и светоделителя 7 изображение диафрагмы3 формируется в фокусе Рб объектива6, совмещенного с осью 00 поворотасканирующей головки. Лучи проходятпробное сферическое стекло 23 непреломляясь, так как центр кривизныэталонной поверхности пробного стекла 23 совмещен с изображением диафрагмы 3 осветительной системы и, отразившись от эталонной поверхностипробного стекла 23 и контролируемойповерхности детали 22, интерферируют,образуя интерференционную картину,локализованную в воздушном промежутке между эталонной поверхностью пробного стекла 23 и деталью 22, Интерферирующие лучи, пройдя светоделитель 7 и отразившись от плоского 35 зеркала 8, попадают во входной объектив 9 измерительной системы, фокускоторого совмешен с...
Интерферометр для измерения углов поворота объекта
Номер патента: 1315796
Опубликовано: 07.06.1987
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов
...и зеркало 5, и другом - другое зеркало 6, размещенное таким образом, что его отражательная плоскость 20перпендикулярна излучению, отраженному от светоделителя 3, отсчетныйблок 7, установленный симметричнодругому зеркалу 6 относительно светоделителя 3, Система 4 выполнена в25виде единого блока, скрепленного сналом 1 в одной точке таким образом,что излучение, прошедшее светоделитель 3, падает на отражающую граньодного из зеркал системы 4, В зеркале 5 выполнено отверстие в центре,и оно размещено в плоскости, перпендикулярной излучению, прошедшему систему 4 зеркал,Интерферометр работает следующим 35образом,Световой луч от лазера 2 направляется на светоделитель 3, который формирует два световых луча - проходящий и отраженный....
Кольцевой волоконно-оптический интерферометр
Номер патента: 1322084
Опубликовано: 07.07.1987
Автор: Сахаров
МПК: G01B 9/02
Метки: волоконно-оптический, интерферометр, кольцевой
...ответвителей 5 - 7 расщепляется на две волны и .вводится в кольцевой световод 8 в противополож 84 гных направлениях. Палее в кольцевом световоде 8 начинается циркуляция двух световых цугов, длительностьюнавстречу друг другу. Фазовый модулятор 10 при вводе излучения в контур не воздействует на свет. Палее начинается многократная циркуляция обеих введенных в кольцевой световод волн в прЬтивоположных направлениях. В это время происходит накопление саньякояского сигнала и его обработка для регистрацииАктивный элемент 9, являющийся усилителем для световых циркулирующих импульсов, восполняет потери и позволяет осуществлять циркуляцию в течение длительного времени, С каждым новым проходом обеих волн по кольцу в противоположных...
Интерферометр
Номер патента: 1326879
Опубликовано: 30.07.1987
Авторы: Романов, Садов, Шестаков
МПК: G01B 9/00
Метки: интерферометр
...счетчиком 13импульсов,Линза 3 расположена по ходу изл. -чения между линзОЙ 2 и светоде:1 и елем 4 ка расстояншГ2Т.+с 1, ) - Г 3 -Г-Р ",й- (1, +й )2 1-"1+1от перетяжки пучка после ,инзы 2,где Х - ЬокусеЕое ОасстояЕп:е лиЕезе.Б. - конфокалькый параметр 11 учкаапосле линзы 2;Е., - длина пути ее;кон, соответствующая нулевому 11 орядку ентРрферРИ 1 тиис 1 - расстояние от линзыда свеТОДЕЛИ Е РПЯ Интеоферометр работает следую 1 е,иобразом,Выходящий из источника 1 когерентного излучения световой пучок прохс".дит линзы 2 и 3 и разделяется свето -делителем 4 на два пучка, Каждый иэдвух пучков, отразиьпись от отража-:телей 5 и 6, 7 и 8 соответственно,.направляется на светосоедикитель 9,который совмеща.ет Оба пучка и капранляет на фотоприемники 10...
Интерферометр для измерения линейных размеров объектов
Номер патента: 1328666
Опубликовано: 07.08.1987
Авторы: Зейгман, Леонов, Перунов
МПК: G01B 11/02, G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объектов, размеров
...Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерениялинейных размеров объектов, в частностидиаметров до нескольких десятков метров.Цель изобретения - повышение точности измерения линейных размеров объектови расширение диапазона измерения за счетнезависимого перемещения отражателейнепосредственно по линии измерения, чтоне нарушает принцип Аббе,10На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для измерения линейных размеров объектов,Интерферометр содержит осветитель 1,дающий параллельный световой поток, разделяющийся на светоделительной пластине 152. Проходящая светоделительную пластину2 часть светового потока зеркалом 3 направлена на отражатель 4, затем посредством зеркала 3,...
Интерферометр для измерения расстояния
Номер патента: 1330455
Опубликовано: 15.08.1987
Авторы: Коломейцева, Лопанчук, Медовиков, Нигаматьянов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, расстояния
...от отражателя 5).Второй пучок излучения, образован- ный при делении амплитуды на левом полупрозрачном краю зеркала 3, падает на отражатель 7, отражается от него, падает на отражатель 7 и после отражения от правого полупрозрачного края зеркала.Э попадает в систему 6 регистрации интерФеренционной картины. Таким образом, в систему 6 регистрации интерференционной картины попадают три пучка: первый - опорный, прошедший между зеркалами 3 и 4, второй - дистанционный, прошедший да отражателя 5 и отраженный в систему 6 регистрации интерференционной картины, и, наконец, третий - дистанционный, прошедший от зеркала 3 до отражателя 7 и после отражения от зеркала 3 направленный в систему 6 регистрации интерференционной картины.Для измерения...
Оптический микроволноводный интерферометр
Номер патента: 1337652
Опубликовано: 15.09.1987
Авторы: Остроуменко, Шмалько
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, микроволноводный, оптический
...параметрами связи, ИнтерФерометр работает следующимобразом. Оптическое излучение поступает во входной волновод 2, половина его мощности ответвляется направленным ответвителем 6 в плечо 4, оставшаяся ччсть мощности ответвляется направленным ответвителем 7 в плечо 5. Затем через ответвители 8 и 9 излучение поступает в выходной волновод 3, где происуодит его интерФеренция. Если разность Фаз волн обоих плеч интерФерометра равна нулю (модулирующий сигнал отсутствует), на выходе интенсивность излучения максимальна. Если же разность фаэ равна Й радиан (модулирующий сигнал максимален) в интенсивнос оптического излучения минимальна. Изменение величины модулирующего электрическогосигнала приводит к модуляции интенсивности оптического...
Интерферометр для контроля формы сферических поверхностей
Номер патента: 1343242
Опубликовано: 07.10.1987
Авторы: Волков, Комраков, Савельев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01B 9/08 ...
Метки: интерферометр, поверхностей, сферических, формы
...в точку Р задний фокус эонной пластины, который совмещен с передним фокусом Р, первого объектива 7. На второй объектив 8 падает плоская волна 0-го порядка от зонной пластины 6 (рабочая волна) и плоская волна, выходящая из первого объектива 7, используемая как опорная волна сравнения. Объектив 8 фокусирует обе волны в1свой задний фокус Г 1, который совмещен с центром С, кривизны контролируемой сферической поверхности 10 детали 11, и поэтому на контролируемую поверхность 10 обеспечивается падение световых лучей вдоль нормалей.55 менять одну контролируемую деталь надругую. Небольшие смещения вдольустановленной детали не вносят заметных искажений в интерференционнуюкартину. Это позволяет применять инАпертура объектива 8...
Многолучевой интерферометр для спектральных и поляризационных измерений
Номер патента: 1346955
Опубликовано: 23.10.1987
МПК: G01J 9/02
Метки: измерений, интерферометр, многолучевой, поляризационных, спектральных
...поляризации на угол 45 , ао анизотропные пластины 4 и 6 - в виде четвертьволновых линейных фазовыхЗБ пластин, Пластины 4 и 6 установлены так, что их оптические оси перпендикулярны оси интерферометра и образуют с осью перепускання поляризатора 1 углы 45 и 90 соответственно. Зеркало 7 имеет коэффициент отражен ния, близкий к единице, а зеркала 3 и 5 выполнены частично пропускающими,График аппаратной Функции интерФерометра (фиг.2) дан для случая, когда поляризатор является идеальным, энергетические коэффициенты отражения зеркал 3 и 5 равны 0,8, а оптическая длина отрезка между зеркалами 5 и 7 составляет 1/14 часть оптической дли-.Щ ны отрезка между зеркалами 3 и 7.Интерферометр работает следующим образом.Линейно поляризованное излучение...
Интерферометр сдвига
Номер патента: 1352196
Опубликовано: 15.11.1987
Авторы: Артеменко, Козлов, Пызин, Ушаков
МПК: G01B 9/021
Метки: интерферометр, сдвига
...проведения одноступенцатого процесса непосредственных интерференционных измерений вторых пространственных производных гт функции перемещений. 10На чертеже представлена принципиальная оптическая схема интерферометра сдвига. Интерферомстр сдвига содержит источник когерентного излучения 1 на чертеже не15 пгказан), каналосвещения, опорную ветвь 2. Канал освещения образован расши. рителсм пучка, коллимируюрцей линзой и преобразователем волнового фронта, оптицески сопряженным через полупрозрацное 20 зеркало 3 с объектом 4 и сдвинутым по пространственным координатам в своей плоскости 1 а велицинУ ЛьКроме того, устройство содержит билинзу 5, фотопластинку 6 для записи голограммы, блск оптическои постранс гвенной фильтрации, образованньй...
Интерферометр для измерения углов поворота объекта вокруг оси
Номер патента: 1355863
Опубликовано: 30.11.1987
Автор: Аноховский
МПК: G01B 9/02
Метки: вокруг, интерферометр, объекта, оси, поворота, углов
...зеркалам 6 и 7 и образующие с ребрами двухграннь я углов, составляемых зеркалами 6 и 7 с зеркалом 5, острые углы 7 , и блок 10 регистрации. Светоделительная поверхность пластины 2 лежит в плоскости, являющейся биссектрисой двухгранного угла, образованного зеркалами 6 и 7. Лазер 1 ориентирован таким 40 образом, что пучки 3 и 4 направлены внутрь двухгранных углов, образуемых зеркалами 6 и 5 7 и 5 соответственоно, под углами 1 = 90 - и(п - нечетное число) к их ребрам и параллельно.зеркалам 6 и 7.Интерферометр работает следующим образом.Пучок лазера 1 разделяется пластиной 2 на два пучка 3 и 4. Многократно отразившись от зеркал 5, 6, 8 и 5, 7, 9 соответственно, зти пучки возвращаются на светоделительную ппастину 2, совмещаются ею и...
Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей
Номер патента: 1359663
Опубликовано: 15.12.1987
Авторы: Бубис, Кузнецов, Хорошкеев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических
...цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины. 25Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрической телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое, Далее нучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндри 2ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 располочжена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой...
Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей
Номер патента: 1359669
Опубликовано: 15.12.1987
Авторы: Бубис, Канатов, Кузинков
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...контроля формы коническихоптических поверхностей.Цель изобретения " возможностькентроля формы конических поверхностей.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроляформы оптических поверхностей.Интерферометр содержит последовательно установленные монохроматический источник 1 излучения, напримерлазер, интерференционный блок 2, конус 3 с образцовой поверхностью, плоское автоколлимационное зеркало 4 инаблюдательную систему 5,Интерферометр работает следующимобразом,Излучение монохроматического источника 1 выходит из интерференционного блока 2, который формирует цилиндрические волновые фронты - рабочий и сравнения. Рабочий фронт падаетна конус 3 с образцовой. поверхностью,ось которой совмещена с осью...
Интерферометр для контроля формы вогнутых оптических асферических поверхностей
Номер патента: 1368623
Опубликовано: 23.01.1988
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...процесса установки объектива в заданное положение при на гблюдении сплошной юстировочной интерференционной картины и уменьшениявлияния децентрировок элементов рабочей ветви на результаты контроля.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра и ход лучейв нем.Интерферометр содержит источник 1монохроматического излучения, телескопическую систему для создания параллельного пучка лучей, состоящуюиз линз 2 и 3, светоделитель 4 дляразделения излучения на две ветви,плоское зеркало 5, установленное водной ветви, объектив 6, установленный в другой рабочей ветви, и регистратор 7 интерференционной картины,Объектив 6 рабочей ветви выполненв виде плосковогнутой и двояковыпуклой линз, установленных так, что35плоская поверхность...
Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали
Номер патента: 1368626
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Волков, Горшков, Корнеев, Леонтьев, Фомин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: детали, интерферометр, оптической, плоской, поверхности, формы
...полос)Виброопоры 16 предназначены для З 5 виброизоляции емкости 8 с вязкойжидкостью 9. Р качестве вязкой жид1368626 кости 9 используется техническоемасло типа турбинного, вазелинового,веретенного и т,п., свободная поверхность которого является эталоннойплоской поверхностью 17.Ориентация базировочного приспособления 7 в двух фиксированных положениях обеспечивается направляющими 18,Интерферометр работает следующимобразом. Осветитель 2 формирует точечный источник А монохроматического излучения в фокусе Г гиперболической поверхности 4 оптического элемента 3.Гиперболическая поверхность 4 преобразует сферический волновой Фронт от точечного источника А в плоский волновой фронт, распространяющийся в 20 направлении нормалей к...
Интерферометр для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1384936
Опубликовано: 30.03.1988
Авторы: Бараш, Пресняков, Резников
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, перемещений
...к измерительной технике, в частности к измерениям перемещений при вибрации,Цель изобретения - повышение чувствительности интерферометра.На чертеже изображена схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 излучения, светоделитель 2 для разделения излучения на два потока, в одном из потоков последовательно установлены два трехгранных уголковых отражателя 3 и 4, ориентированных основаниями навстречу друг к другу, вершина 5 отражателя 4 усечена плоскостью, параллельной основанию, в потоке излучения, проходящего через светоделитель 2, также два трехгранных уголковых отражателя 6 и 7, вершина 8 третьего отражателя 7 усечена плоскостью, параллельной основанию, и во втором потоке от светоделителя 2 - фотоприемник 9....