Патенты с меткой «интерферометр»
Интерферометр для контроля прогибов кваз плоских поверхностей деталей
Номер патента: 578562
Опубликовано: 30.10.1977
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, кваз, плоских, поверхностей, прогибов
...функции формирователя наклонного освещения детали, свстоделителя, совместителя интерферирующих световых лучей и держателя детали.Предлагаемый интсрферомстр работает следующим образом.Деталь 5 располагается на гипотенузной грани призмы 4 контролируемой поверхностью вниз. Катетная грань призмы освещается плоской свстовой волной, причем угол падения О на эту грань выбирается с помощью зеркала 3 таким образом, что на гипотенузную грань призмы световая волна падает под углом, близким к углу полного внутреннего отражения. На гппотенузной грани призмы срормпруотся два световых луча: один отражается от границы раздела стскло-воздух вФормула изобретения 2 Составитель В, Лобзова Техред И, Михайлова Рсдактор Т. Морозова Корректор Л. Котова...
Четырехлучевой поляризационный интерферометр
Номер патента: 558579
Опубликовано: 25.12.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: интерферометр, поляризационный, четырехлучевой
...3 и 4, исследуемый объем 5,фотопрцемник 6, усилитель 7, регцсчируюшее устройство 8, Первый светоделительный элемент 3 выполнен в виде склеенныхмежду собой прямоугольной призмы 9 иромба 10 с полупрозрачным внутреннимзеркалом 11 и внешним глухим зеркалом12, Второй светоделительный элемент 4 55выполнен в виде склеенных между собойравнобедренной призмы 13 и ромба 14 сполупрозрачным внутренним зеркалом 15ц пвхл 1 я глухими внешними зеркалами 16,17, Второй светоделительный элемент рас положен над четвертьволновой фазовой пластинкой 18 с глухим зеркалом 19 на внешней стороне, Между вторым светоделительным элементом 4 и фазовой пластинкой 18на пути опной пары лучей О и а установлены две фазовые пластинки 20 и 21, поворачиваюшие...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 516303
Опубликовано: 25.12.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: интерферометр, поляризационный
...и регистрируПринцип работы его опубликования описания 18.01.7 ттится с помощью двоякопреы на обыкновенный и нечи, которые благодаря глухосды проходят соответственно й и этапонныж объекты, происходит с помощью линзы атем суммарный луч пролятор, роль которого выаяся чэтвертьвопновая фаэобжаший лазер, модулятор, компенсатор, оптическую систему, включают.ую в себя светоделительный элемент и двв глухих концевых зеркала, фотоприемник,узкополосный усилитель и регистрирующее устройство, о тпиЧаюшийся тем,что, сцельюповышения точности измерения, в него введены полуволноввя фазовая пластинка, установленная на пути одного из лучей, идущих от свето- делителя, и четыре четвертьволновые фвэовые пластинки, расположенные перед глухими концевыми...
Двухлучевой интерферометр для измерения перемещений объекта
Номер патента: 587320
Опубликовано: 05.01.1978
Авторы: Голод, Любомудров, Скворцов, Сойту, Ясицкий
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевой, интерферометр, объекта, перемещений
...двух одинаковых587320 Составитель Л. Лобзова Техред В. Рыбакова Корректор Е. Осипова Редактор Е. Месропова Заказ 2352/17 Изд.600 Тираж 681 ПодписиоеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, 7 К, Раушская иаб., д, 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 противоположно ориентированных линзовых объективов и двояковогнутой линзы с отражающими поверхностями и радиусами, равными по величине фокусным расстояниям объективов, а призменный блок выполнен с нечетным числом отражений,На чертеже приведена принципиальная оптическая схема предлагаемого интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 све та, например лазер, светоделитель 2, призменный блок 3, имеющий нечетное число отражений, подвижный оптический...
Голографический интерферометр
Номер патента: 532279
Опубликовано: 05.02.1978
Авторы: Белозеров, Зейликович, Спорник
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...расположенного в одном из каналов системы для разделения пучка, состоит в том, что он формирует рассеянную опорную волну, спектр пространственных частот которой значительно шире спектра пространственных частот объекта. Засчет этого, используя метод двойнойэкспозиции, удается получать интерферограммы высокого качества безсдвига волновых Фронтов.Возможен вариант:выполнения диффузного рассеивателя, в котором поверхность одного из оптических .элементов в одном из каналов системы дляразделения пучка может быть рассеивающей,На фиг. 1 приведен вариант оптической схемы предложенного устройства; на фиг, 2 показан другой вариант, при котором стеклянная диффузнорассеивающая пластина в схеме отсутствует, но, например, вместо зеркалаустановлена...
Голографический интерферометр для исследования трехмерных фазовых объектов
Номер патента: 503429
Опубликовано: 05.03.1978
МПК: G01B 9/02
Метки: голографический, интерферометр, исследования, объектов, трехмерных, фазовых
...пленки 19,ф когерентное излучение лазера 1 прнпомощи светодепительной пластины 2 делится на два ауока, один из которыхЖс выполняет роль сигнального, второй чо является опорным пучком.йрнф помощи систем плоских зеркал 3-5 н6-10 пучки %с и Фо направляютсяна регистрирующую среду 15 под углоооЭ друг к другу, Отрицательные линзы 11 и 12 Формируют расходящиеся световые пучки Ма н Фс . Пучок %Онепосредственно освещает регистрирующую среду 15, Пучок ЧЧс, освещает диффузный .рассеиватель 13. Диффузный рассеиватель 13 выполнен в виде поверхности вращения второго порядка, 5 например в форме полуцилиндра, полусФеры и т.д., вогнутостью обращенной к объекту, и позволяет формировать световые лучи в диапазоне углов 0-180, поскольку...
Голографический интерферометр
Номер патента: 444473
Опубликовано: 25.03.1978
МПК: G01B 9/02
Метки: голографический, интерферометр
...зеркала 4,5, регистрирующее устройстно б, плоские зеркала 7,8, возвращающие волны на регистрирующую среду, фазовый объект 9, установленный в одной из ветвей инзерферометра послд регистрирующей среды.Световой пучок от ОКГ 1 коллимирув ся оптической системой 2, разделяется снетоделительной пластиной 3 на два пучка, которые с помощью зеркал 4 и 5 направляются на регистрирующее устройство б и записывают голограмму опорного пучка. Пройдя сквозь регистрирующее устройство б, световые пучки с помощьюзеркал 7 и 8 возвращаются в регистрирую щее устройство. Один из пучков проходичскноэь исследуемый .фазовый обьект 9. Другой пучок используется н качествеформула изобретения ШИ Заказ 1450 аж 5 б 4 Подписное опорного. При интерференции этих пучков,в...
Интерферометр
Номер патента: 603840
Опубликовано: 25.04.1978
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...ввиде прямоугольных призм 6, 7 и скпеенойс одним иэ них плосковьшуклой линзы 8, которая образует эталонный блок, телескопическую систему 9, дополнительныи светоделительный элемент 10, окуляр 11, а такжеплоское эеркапо 12, которое устанавливаютвместо допопнительного светоделительног оэлемента 10 при работе интерферометра,Работает интерферометр следующимобразом, 25Пучок света от монохроматического исзэчника 1 излучения после отражения от концевых плоских зеркал 2, 3 преобразуетсяотражательной линзой 4 в расходящийсяисходящий из задней предметной точки мик- ЗО.рообъектива 5, Микрообъектив создаетфточечноеизображение О источника светав. передней предметной точке, откуда лучипо нормалям падают на выпуклую поверхностьплоско выпуклой линзы...
Двухлучевой интерферометр
Номер патента: 607098
Опубликовано: 15.05.1978
Автор: Хрипунов
МПК: G01B 3/02
Метки: двухлучевой, интерферометр
...покрыЦель изобретения - упрощение устройства, тие, Луч 08, отразившись от поверхности АВ Цель достигается тем, что в предлагаемом под углом е, йадает на зеркальную поверх. интерферометре каждая из пластин выполне-ность А,В,. Пройдя в пластине 11 ту же опна со скошенными торцами, и обе пластины 1 ф тическую длину нуги, что и в пластине 1, луч установлены так,. что вошедшие в них лучи ннтерфернрует с лучом, отраженным от поверх- претерпевают до своего выхода многократное ности ДС, в направлении ОЯполное внутреннее отражение.На чертеже изображена схема предлагаемо- двухлучщвой интерферометр позволяет прн го двухлучевого интерферометрафв одинаковой с известным интерферометром ЖаЛуч МО падает на торцовую поверхность лина величине...
Голографический интерферометр
Номер патента: 575910
Опубликовано: 05.06.1978
Авторы: Бабаева, Кутикова, Мустафина
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...дифракционную решетку 10, объектив 11,пространственный фильтр 12, объектив 13, форми.рующий изображение объекта в плоскости регист:цирующей системы 14,575910 ель Е, Халатов , Чужик Коррект ехред а Подписноеета Министров СССытийнаб., д, 4/5 Тираж 872 ПИ Государственного комитете по делам изобретений 113035, Москва, Ж, Раушаказ 2 сная ал ППП "Патент, г, Ужгород, ул, Проектн Ингерферометр работает следующим образом.Световой пучок от лазера расширяется лин эой, коллимируется объективом и направляется на частично отражаюгцие зеркала 4, 5 и исследуе. мую неоднородность б, световые пучки разной 5 кратности просвечивания фокусируются объективом 7 и далее один из пучков вьщеляется диафрагмой 8. Световой пучок, коллимированный объективом 9,...
Поляризационный интерферометр переменного сдвига
Номер патента: 619787
Опубликовано: 15.08.1978
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, переменного, поляризационный, сдвига
...на 90 относительно двух других и установлена в плоскости промежуточного иэоб.ражения объекта.В такой схеме величина сдвига изображений определяется параметрами и разностью расстояний первыхпризм от плоскости промежуточиэображения, а ширина полос619787 Формула изобретения оставитель Л. ехред З.Чужию оваКорректор С. ГПодписноеИинистров СССРй Редактор И. МарголисЗаказ 4491/37ЦНИИПИ Государспо д113035 Иоск асиня Тираж 872твенного комитета Совеелам изобретений и отква ЖРаушская наб ы ПП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Филиал параметрами призмы, расположеннойв этой плоскости,На чертеже изображена принципиальная схема описываемого интерФерометра.Интерферометр содержит источник 1света, коллиматор 2, полупрозрачную 8пластину Э,...
Интерферометр для исследования качества оптических элементов и прозрачных неоднородностей
Номер патента: 625132
Опубликовано: 25.09.1978
Авторы: Ермакова, Зверев, Королько, Родионов, Сокольский
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, исследования, качества, неоднородностей, оптических, прозрачных, элементов
...тием, в котором под углом 90 д к поверхности светоделителя помещеноплоское зеркало 4, блок фокусировки,выполненный в виде отражающего компонента 5 с положительной оптическойсилой, блок 6 наблюдения с регистратором (на Фиг. не показан) .Интерферометр работает совместнос исследуемой системой 7 и устанавливается(в зависимости от контролируемого объекта) либо в центре кривизны сферического зеркала, либо вФокусе исследуемого, объекта, установленного перед автоколлимационнойотражающей поверхностью,Принцип действия прибора представлен на примере исследования сферического зеркала. Свет от источника 1 16монохроматического света направляется на осветительную систему 2. Послевыхода из нее пучок светоделительной.пластийой 3 делится на дваопорный и...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 635395
Опубликовано: 30.11.1978
Автор: Комиссарук
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, поляризационный
...значительные углы наклона и45 тем самым расширяются возможности настройки интерферометра. Действие кристаллических пластпнск не зависит от величи 1 нысдвига, которая спределяется Основны 1 исветоделителями. Изготовление таких плас 50 тинок,гораздо проще, нежели изготовление1 пслярископа Савара илц призм . Волластона. 1 хогда пластинки 2 и 8 нормальны к гес. метрической оси пучка и призмы,3 и 7 занимают оптически сопряженные положения, в поле интерференции наолюдается нечно широкая полоса. Наклон пластинц 2 в результате поворота се на некоторь.: у-.ол вокруг оси, перпендикулярной ребрам х 11- ньев пр;зм З,и 7, вызывает двоснце пзсорэженля источника света в направлении ре. бер клиньев. Оптическая система 4 - 5 стра. ит два...
Ультразвуковой интерферометр
Номер патента: 649999
Опубликовано: 28.02.1979
Автор: Сукацкас
МПК: G01N 29/00
Метки: интерферометр, ультразвуковой
...усилителем 6. С началом измерения посредством подвижного держателя 5 начинают изменение расстояния между пьезопреобразователями 2 и 4. Когда в исследуемой среде между пьезоизлучателем 2 и пьезоприемником 4 располагается целое число полуволн, образуются стоячие ультразвуковые волны, и модуль напряжения на пьезоприемнике 4 резко возрастает. Это возрастание напряжения (резонансный пик) после усиления и детекции формируется вусилителе-формирователе 6 в электрический импульс, поступающий на входы счетчика 8 полуволн и триггера 9 основного селектора, Триггер 9 перебрасывается и при д д 20 25 30 35 40 4 д 50 55 60 65 включении ключа 10 разрешает поступление мсгок перемещения, вырабатываемых блоком 7, на вход реверсивного счетчика 12,...
Голографический интерферометр
Номер патента: 607460
Опубликовано: 28.02.1979
МПК: G01B 9/021
Метки: голографический, интерферометр
...линзы 1 о формируется расходящиися пучок, освещающии голограмму под некоторым углом а относительно нормали к ее поверхности.1 ологр амму регистрируют по методу двух экспозиции. 11 ри первои экспозиции в раоочей зоне б присутствует исследуемыи объект. 11 еред второи экспозициеи голограмму 7 смещают в собственной плоскости вдоль одной из координатных осеи, например Л, на величину Ьх. Вторую экспозицию проьодят в отсутствии ооъекта.11 осле соответствуюшей фотообработки, голограмму устанавливают на прежнее место и освещают пучком В. 1 олограмма реконструирует две совокупности точечных источников света, расположенных в плоскости диффузного рассеивается, смещенных друг относительно друга на величину Л.Световые лучи, исходящие от...
Ультразвуковой цифровой интерферометр
Номер патента: 654892
Опубликовано: 30.03.1979
Автор: Сукацкас
МПК: G01N 29/04
Метки: интерферометр, ультразвуковой, цифровой
...4, на другой вход которого поступают импульсы с преобразователя 3, Благодаря наличию цепи обратной связи через преобразователь 3 изменяется частота генератора 5 по линейному закону (см. фиг. 4 а),15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 В момент времени 1, наступает акустический резонанс (см. фиг. 4 б) преобразователей 7 и 8 камеры 6, характеризующийся увеличением выходного напряжения усилителя 12, Импульсом блока 13 формирования запускается селектор 14. Он разрешает поступление импульсов генератора 30 на счетчик 31, а также переключает переключатели 16, 19, 24. Напряжения на выходах интеграторов 17 и 25 изменяются по линейному закону (см. фиг. 4 в, г), так как к их входам подключено постоянное напряжение, а напряжение на выходе интегратора...
Ультразвуковой интерферометр
Номер патента: 657331
Опубликовано: 15.04.1979
Автор: Сукацкас
МПК: G01N 29/00
Метки: интерферометр, ультразвуковой
...(графики 19, 20)по прямолинейному закону. Процесспротекает до возникновения акустического резонанса системы исследунмое вещество - преобразователи,Выходное напряжение усилителя-детектора 5 увеличивается и н момент акустического резонанса становится максимальным. В этот момент временисрабатывает формирователь 10 (график 21). Импульс формирователя 10поступает на вход блока настройки16, который с этого момента начинаетизменять частоту генератора 1 н противоположном направлении. Одновременно импульс формирователя 10 поступает на счетный вход триггера 12,"перебрасывая его (график 22), запускает генератор 11 импульсов стабильнойдлительности и частоты. Частота генератора 1 уменьшается до достиженияакустического резонанса и,...
Интерферометр для контроля формы астрономических зеркал
Номер патента: 662795
Опубликовано: 15.05.1979
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 3/02 ...
Метки: астрономических, зеркал, интерферометр, формы
...Зеркало 4 исключают из хода лучей. Затем фотографируют интерференционную картину и сравнивают форму интерференционных колец с их теоретическим видом, на основе чего и делают заключение о погрешностях формы контролируемой поверхности в данкой зоне. Сопостав.ляя результаты контроля различных зон контролируемой поверхности (астрономического зеркала) делают общее заключение о правильности ее формы, т. е.о соответствии ф . действительной формы зеркала теоретической.Формула изобретения еломлен я линзы де и - показатель пр ид - ее толщина;К - абсолютное значение радиуса элоццой сферической поверхности;г - абсолютное значение вершинногорадиуса гиперболической поверхности линзы.11 а фиг, 1 изображена принципиальнаяоптическая схема предлагаемого ....
Интерферометр сдвига
Номер патента: 673839
Опубликовано: 15.07.1979
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
...интерферометр15 и с помощью поляризационных элементовосуществлять выделение интерференционнойкартины, не зависящей от размеров источника света,Принципиальная схема интерферометрасдвига приведена на чертеже.Интерферометр содержит источник 1 света, линзу 2, поляризатор 3, полупрозрачныезеркала 4 и 5, отражательные зеркала 6 и 7,полуволновую новую пластину 8, сферичес. . 673839 Формула изобретения Составитель А. Медведев Техред О. Луговая Корректор Г. Назарова Тираж 865 Подписное ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб д. 4(5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор И. ШубинаЗаказ 4056(35 кое зеркало 9, объективы 10, 11, анализатор 12 и исследуемую...
Интерферометр для контроля качества оптических деталей
Номер патента: 684296
Опубликовано: 05.09.1979
Автор: Кузнецов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических
...4 установлен смеццый свстодслитсль 9 и 1 остироВочняя НР 0.1 юлятсгьцяя систсля 10 с пс.рс. крсстием.Прсллягясчый ицтс рферочетр работает сг 1 сдчк)псич Обря:50 м.1 л чок свстс) От моцох 170 ыятичсского источцикя 1 излучения после отракения от плоских зеркал 2 и 3 расширяется телескопической спстечой 4, затем микрообъектив 5 преобразует его в схолящийся пучок, лучи которого по нормалям прохолят одну половицу сферической поверхцости свстоделитсльного блока 6 и собираются в центре кривизны эталонной поверхности а, образуя црслметцую светящукся точку О. От поверхности а свет частично отражается и, возвращаясь по нормалям, создает волновой фронт сравнения с цецтроч в точке О. Другая часть света без преломления проходит поверхность а и падает...
Интерферометр фабри-перо
Номер патента: 684336
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Абрамов, Томашевский
МПК: G01J 3/26
Метки: интерферометр, фабри-перо
...смазаны и притерты друг к другу. Эти поверхности выполнены шлифованными и притерты другк другу до зеркального отражения принормальном падении лучей, При этом 25смазка концентрируется в основном в углублениях, а контакт поверхностей линзпроисходит на полированных участках. Врезультате уменьшается слой смазки,Слой смазки допускает сдвиги и препят- ЗОствует отрыву линЗ друг от друга.Юстировку интерферометра производятсдвигами линз относительно друг друга,Сначала производят грубую юстировку,компенсаторами с цилиндрическими поверхностями, составленными из линз 7,9 и 5, 7, вращением линз относительноосей их цилиндрических. поверхностей,Для регулировки апертуры линзы сдвигают вдоль этих осей. Тонкая юстировка 4 Опроизводится линзовым...
Интерферометр миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн
Номер патента: 684412
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Андренко, Беляев, Провалов, Сидоренко, Шевтопалов
МПК: G01N 23/24
Метки: волн, диапазонов, длин, интерферометр, миллиметрового, субмиллиметрового
...пучка 7 или 8, угла 6(лпод которым гармоника с номером и уходит от дифракционной решетки 4,периода Р дифракционной решетки 4 и длины 5 Я волны падающего поля определяется следующим соотцошениемгде Жф - безразмерный параметрдифракциоцной решетки,При условии Х "-)И - К 1 д / ф А,является чисто мнимой величиной. Соответствующая гармоника в этом случае - неоднородная плоская волна, экспоненциально убывающая с удалением от плоскости дифракционцой решетки. Фаэовая скорость . в направлении, перпендикулярном линиям штрихов периодической структуры дифракционной решетки 4, у такой волны .пнискорости С света и определяется соотношением =С в - в , д 25В интерферометре, основанном на дифракции волновых пучков 7 и 8 ца дифракциоццой решетке 4,...
Ультразвуковой интерферометр постоянной длины
Номер патента: 684435
Опубликовано: 05.09.1979
Автор: Сукацкас
МПК: G01N 29/00
Метки: длины, интерферометр, постоянной, ультразвуковой
...помощью блока 6 управления настраивается насамый близкий к частоте У акустическийреаонанс с частотойуи количеством полуволн в камере ру (частота Лв зависимости от исследуемой среды либо резонансная частота преобразователя,либо половина ее). После настройки блоком я6 запускается генератор-делитель 14 меток,Выходной импульс делителя 16, пропускающего первый (после настройки) и р-ый(р-емкость делителя) импульсы блока 14поступает в момент на частотомер 8 иаамыкает ключ 9. Периоды напряжения генератора 1 подсчитываются частотомером 8, поставленным в режим измерения отношения частот, Это напряжение поступаеттакже на частотный демодулятор 10 с частотой настройки А и выделяется на выходе его в виде постоянного напряжения(фиг, 2 а,б,в,е). С...
Цифровой ультразвуковой интерферометр
Номер патента: 684437
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Кундротас, Сукацкас, Яронис
МПК: G01N 29/00
Метки: интерферометр, ультразвуковой, цифровой
...частота генератора 1 от сигнала, подаваемого с блока 6, увеличивается и достигает40аначения, соответствующего акустическому резонансу в камере 3. В момент резонанса на выходе пьезоприемника 4 тракт5 усиления и формирования вырабатываетсигнал, воздействуюший на блок 6, Посигналу с блока 6 в этот момент начинается перестройка частоты до возникновения в камере 3 акустического резонанса с частотой, меньшей ее исходного значения. С этого момента частота генератора 1 опять увели ивается, В результате,частота генератора 1 качается между дву.мя соседними резонансами камеры 3, чтоприводит к появлению сигнала на выходеизмерителя 8 девиации частоты, По сигналу с блока управления и настройки запускается дискретный иэл еритель 9, осуШествляюший...
Интерферометр типа майкельсона
Номер патента: 688821
Опубликовано: 30.09.1979
Авторы: Островский, Чащин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, майкельсона, типа
...на два равных пучка, распространяющихся вдоль оптических осей 8 ц 10, которые перпендикулярны к поверхностям зеркал 3 ц 4 интерферометра. Поле отражения от этих зеркал пучки проходят прежние оптические пут" ц выходят в направлении 11. При равенстве оптических путей в направлениях осей 8 и 10 интерферометр скомпенсирован, т. е. оптическая разность хода между двумя пучками равна нулю.При измерении, например, показателя преломления вещества, которое помешают между неподвижным зеркалом 3 и компенсирующей пластиной 2, происходит изменение величины оптического пути, а следовательно, и оптической разности хода688821 т = - . - =о 2 оза Поиск Заказ 855/10 1 зд Аа Тираж 866 Подписное ип, Харьк. Фил. пред. Патент между пучками света, идущими в...
Цифровой интерферометр для измерения скорости ультразвука
Номер патента: 697834
Опубликовано: 15.11.1979
МПК: G01H 5/00
Метки: интерферометр, скорости, ультразвука, цифровой
...цена одной метки перемещения блока 6 в единицах длины; 40М - количество меток перемещения, соответствующее изменению расстояния Ь 1Для цифрового измерения, т, е. для того,чтобы количество меток К равнялось цифровому значению скорости С в определенных 44 эединицах, необходимо выполнение условия211 = и 10, (2)где р - целое положительное или отрицательное число.Для определения неизвестного в форму- олах (1) и (2) количества полуволн и соединяют входы частотомера 7 переключателем 9 - 10 с выходом генератора 1 и с выходом генератора 8 со стабильным периодом повторения. В счетчик предварительного выбора частотомера 7 заносят такое число, чтобы произведение емкости счетчикапредварительного выбора частотомера 7 на период повторения...
Интерферометр для измерения неплоскостности оптических поверхностей
Номер патента: 700778
Опубликовано: 30.11.1979
Авторы: Андреев, Кравченко, Смирнова
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, неплоскостности, оптических, поверхностей
...6, измерительный столик 7, контрольную сетку8, выполненную в виде двух прямыхвзаимно параллельных прозрачныхштрихов 9 (см,фиг.2) на зеркальномпокрытии, Фотоприемники 10; матовыйэкран 11, микровинт 12, электронныйбдок 13 обработки и светОиндикаторы 14.Пластина 4 с образцовой поверхностью 5 и контролируемая поверхность1 5 с изделием 1 б образуют интерференционную пару. Фотоприемники 10 установлены под штрихами 9 сетки 8 наизмерительном столике 7, стоят одинпротив другого под разными штрихамии попарно соединены по дифференциаль.ной схеме в электронном блоке 13обработки,Источник света должен быть монохроматичным и с малой расходимостьюлуча, например газовый лазер.Работает интерферометр следующим .образом.Луч источника света,...
Интерферометр для контроля качества высокоапертурных вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 706689
Опубликовано: 30.12.1979
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: вогнутых, высокоапертурных, интерферометр, качества, поверхностей, сферических
...А,совмещенной с центром кривизны С выпуклой 20поверхности линзы 4. Поэтому лучи света падают нормально на выпуклую поверхность линзы4, частично отражаются от нее, а частично направляются к контролируемой поверхности 9, отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, отраженные от выпуклой поверхности линзы 4, создают эталонныйволновой фронт сравнения, а лучи, отраженныеот контролируемой поверхности 9 - анализируемый волновой фронт, При настройке интер- З 0ферометра линза б, объектив 7 и фотопленка 8выключаются из хода лучей, а глаз наблюдателярасполагается непосредственно за окуляром 5.Апланатическую линзу 4 смещают в направлении4 Гперпендикулярном к оптической оси О - О, Так З 5как величина смещения очень...
Интерферометр
Номер патента: 712654
Опубликовано: 30.01.1980
Авторы: Невский, Норченко, Шварцман
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...этих пластин.На фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра в случае измерения смещения контролируемой поверхности объекта относительно опорной поверхности; на фиг. 2 - то же, в случае измерения изменения показателя преломления прозрачного объекта; па фиг. 3 - то жс, в случае измерения изменения длины объекта.Интерферометр содержит источник 1 света, одинаковые плоскопараллельные про712654 г,Составитель Л, Лобзовахред А, Камышникова роекторы: А, Галахова и О. Данишева актор Т. Морозова Изд.124рственного комитета СССР3035, Москва, Ж, Раушск Заказ 2790/16НПО Поиск Гос ипография, пр. Сапунова зрачные пластины 2 и 3, установленные под углом 90 одна к другой, опорное зеркало 4, расположенное так, что его отражающая поверхность...
Рентгеновский интерферометр
Номер патента: 720350
Опубликовано: 05.03.1980
Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян
МПК: G01N 23/20
Метки: интерферометр, рентгеновский
...и трехкристзльная системы, с помощью которых получают муаровые картины.Узкий пучок рентгеновских лучей, проходя через коллиматор с диаграммой, падает на двухблочную систему из кристаллов 1 и 2. Дифрагированный лучок падает на идеальныи толстый кристалл 3, находягднйся в лоложенни отражения, а проходящий пучок задерживает ся экраном 4. Дифрагированный пучок, содержащий муаровые картины, проходит чсреэ кристалл 3 который, не меняя характера муара, увеличивает эту муаровую картину.илиал ППП Патент"ЖГО 1 эОд, ул. рай:.сэ па 5 Снимок может быть получен ца фотоВ)с 1- ке 5, помещенной между вторьм и третьим бпоками или на фотопленке б, расцогн)женцоп после третьего блока.Аналогичный эффект (увеличение) цоту )- ется при использовации...