Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 894349

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Жариков, Катрецкий, Сюткин, Цейслер

МПК: G01B 9/02

Метки: газа, интерферометр, концентрации

...2 Ггде сС - угол между защитным стеклом и окуляром,Одиаметр поля зрения окуляра;- максимальный размер шкалы;фокусное расстояние окуляра.На фиг.1 изображена принципиаль,ная схема описываемого интерферомет 2 О ра; на фиг, 2 - поле зрения окуляраинтерферометра.Интерферометр содержит последовательно расположенные источниксвета, газовоэдушную камеру,объек 25 тив (не показаны), шкалу 1, окуляр2 с защитным стеклом 3,Интерферометр работает следующимобразом,Пучок света из объектива, пройдяЗр шкалу 1 и окуляр 2,попадает на за894349 щитное стекло 3. Вследствие того,что 1защитное стекло 3 установлено относительно окуляра 2 под углом, большим или равным предельному углу, отраженный от нее пучок света образует второе изображение 4...

Номер патента: 894351

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Комраков, Чудакова, Шапочкин

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, параболических, поверхностей

...интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, последовательно расположенные по ходу излучения микрообъектнв 2, светоделитель 3, объектив 4, эталонную плас894351 Формула изобретения Соста Техре актор С. Тараненк Тираж 645 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений 113035, Москва, Ж, РаПодписноемитета СССРоткрытийкая наб., д. 4/5 Заказ 11437/б Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,тину 5 с клиновидностью порядка 5- 60" и со светоделительным покрытием б на одной из граней, с отражаюцим покрытием 7 на одной из половин второй грани и с просветляющим покрытием 8 - на второй половине этой же грани, систему 9 наблюдения интерференционной картины и контролируемую поверхность 10.Интерферометр работает...

Номер патента: 911143

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Зверев, Орлов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, плоских, поверхностей, формы, шлифованных

...из него пучка лучей принимает значение, равное интенсивности зеркальной составляющей (изменение ин-, тенсивности происходит эа счет изменения коэффициентов отражения зеркал отражателя 5, обусловленного изменением углов падения на них пуч ка лучей при повороте отражателя 5).Предлагаемое устройство позволяет также оценить и среднюю высоту микронеровностей 1 Ср контролируемой 20 поверхности 9. Для этого пучок лучей, поступающий в отражатель 5, перекрывают непрозрачным экраном (экран показан пунктиром), а платФорму 7 поворачивают в положение,при 25 котором интенсивность. зеркальной составляющей близка к нуле, Затем измеряют угол 1 о падения пучка лучей на контролируемую поверхность 9, а величину средней высоты иикронеров ностей Ьср...

Номер патента: 911144

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Вячин, Мамонов, Шандин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...его лучей осветительную систему 2, све тоделитель 3, выпукло-вогнутую менисковую линзу 4 и регистратор 5 интерференционной картины, Регистратор 5 оптически сопрягается через свето- делитель 3 с контролируемой поверх з ностью 6, ориентируемой концентрично вогнутой поверхности менисковой линзы 4.Менисковая линза 4 выполнена положительной, а на обе ее поверхности нанесено светоделительное покрытие.Интерферометр работает следующимобразом.Источнйк 1 и осветительная система 2 формируют сферический волновой фронт, который проходит светоделитель 3, преломляется выпуклой поверх. ностью менисковой линзы 4, последовательно отражается от светоделитель- ных, нанесенных на ее вогнутую и выпуклую поверхности, и распространяется по нормалям к...

Номер патента: 911145

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Вячин, Понин, Шандин

МПК: G01B 9/02

Метки: деталях, интерферометр, исследования, неоднородностей, оптических, стекла

...3, полупрозрачное зеркало 4, установленное под углом к оси, например, 45 о, объектив 5, выполненный в виде плосковыпуклой линзы 6, и мениска 7, обращенного вогнутостью к плоской поверхности линзы 6, кювету 8, в которой находятся слои 9 иммерсионной жидкости и слой 1 О ртути использованные в качестве элеменВ30 тов с эталонными поверхностями, окуляр 11, сопряженный с фокальной плоскостью объектива 5. Исследуемая деталь 12 фиксируется в кювете 8 над поверхностью ртути. Показатель преломления слоя 9 иммерсионной жидкости подбирается равным показателю преломления исследуемой детали 2. 45 4 щенного поля. Исследуемая деталь 2 опускается в иммерсионную жидкость ификсируется в кювете 8 над поверхностью ртути, По искажению интерференционной...

Номер патента: 920367

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, сферических

...радиускривизны поверхности линзы определяется из соотношения ьИ) а изоб ния Интерферометр для контроля вогнутых сфе.рических поверхностей, содержащий источник 1% монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения отисточника объектив и светоделитель, на одномвыходе излучения иэ которого установленалинза, на другом - регистратор интерферен.ционной картины, о т л и ч а в щ и й с ятем, чтос целью расширения диапазона конт.ролируемых поверхностей, повышения точности и производительности контроля, линза вы.полнена менисковой неапланатической, вогну.тая поверхность линзы обращена к светодеапелю, радиус кривизны поверхности линзыопределяется из соотношенияоФ -Ф-п 1(й-Е,)Ф с 1 с линзы;ветодели с На...

Номер патента: 932219

Опубликовано: 30.05.1982

Автор: Слободянюк

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр

...на чертеже стрелками) . Этидва луча являются когерентными, поскольку происходят из одного линейно-поляризованного луча, падающегона поляризационный лучерасщепитель 3.Отразившись от отражателей 4 и 5и пройдя через поляризационный лучерасщепитель 3 в обратном направлении, эти два когерентных луча объе" диняются в один, распространяющийся к направленному поляризационному ответвителю 2 луч. Состояние поляризации этого луча однозначно определя" ется величиной оптической разности хода лучей на пути между поляризационным лучерасщепителем 3 и отражателями 4 и 5. Если эта разность хода равна (2 К + 1)Л/2, где А - длина волны света; К - целое число, то в результате сложения возникает.луч с линейной поляризацией, перпендикулярной первоначальной...

Номер патента: 934212

Опубликовано: 07.06.1982

Автор: Старков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещений

...перемещения отражателя 4. Направление измеряемого перемещенияна Фиг.1 указано двойной стрелкойоколо отражателя 4.Входная катетная грань, она жевыходная, обозначена на Фиг.2 соответственно индексамии 8.Сплошной линией со стрелками(фиг.1) показан ход лучей эталонного и рабочего пучков от покрытиядо крыши светоделителя 3.5 93Пунктиром со стрелкой показан ход лучей эталонного и рабочего пучков после отражения их от крыши.Интерферометр работает следующим образом.Пучок света от источника 1 моно- хроматического излучения расширяется телескопической системой 2 и падает на светоделитель 3.На входе светоделителя 3, на его полупрозрачной поверхности, пучок делится по амплитуде на рабочий- отраженный и эталонный - проходящий внутрь стекла....

Номер патента: 935702

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Вячин, Шандин

МПК: G01B 9/02

Метки: деталях, интерферометр, исследования, неоднородностей, оптических, стекла

...следующимобразом,Предварительно производится запись голограммы 9: пучок лучей отмонохроматического источника 1 света собирается микрообъективом 2 наотверстии в диафрагме 3, расположенной в фокальной плоскости объектива 5. Расходящийся пучок проходитчерез полупрозрачную пластинупреобразуется объективом 5 в параллельный пучок, который отражается отплоской поверхности плосковыпуклойлинзы 10 и от плоской поверхностиклиновидной пластины 6. На фотопластинке, помещенной в позицию голограммы 9, записывается иятерференционная картина двух отраженных пучков, После фотопроцесса голограмма 9 устанавливается на прежнее место, что контролируется по иэображениям выходных зрачков, наблюдаемых в окуляр 7. Перед записью голограммы 9 изображения...

Номер патента: 939933

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Мазуренко, Рубинов

МПК: G01B 9/02

Метки: боковым, входом, интерферометр, лучей, многолучевой

...лучей.Интерферометр работает следующим образом,Падающий на пластину 1 луч, попадая на поверхности 2 и 3 внутри плас"тинки,многократно отражается от нихи расщепляется на пучок коллинеар 35ных невзаимодействующих лучей, выходящих из пластинки в сторону частично прозрачной поверхности 2. Длявсего пучка на фиксированной длине40волны излучения разность фаз междулюбой парой соседних луцей одна ита же. Выходящий из пластинки 1 пучоклучей попадает на плоский отражатель4 и, отразившись от него вновь поФ45падает на. пластинку 1. При этом вобратном ходе лучей внутри пластинки после отражения от поверхности 3соседние лучи пучка совмещаются, идальнейшая эволюция пучка определяется фазовыми соотношениями взаимодействующих лучей. При...

Номер патента: 940017

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01N 21/21

Метки: интерферометр, поляризационный

...луча,Р к Г- соответственно амплитудЮ 1 %Хцные коэффициенты отражения и пропускания для сос 25тавляющих линейно поляризованных лучей с азимутом0 и 90 о3- разность фаз между составляющими луча, воэникаю 30щими при отражении,Интенсивность выходного луча послеанализатора при этом равна1Э=К К 1 уи 29 ЧиХ-МибюиХ-Чь 2 Ф)- У35 - солсо) сов хчм ь 1Учитывая, что б представляет собой модулирующий сигнал, и разлагаяуравнение в ряд фурье, находим, чтопри работе на неветной гармонике величина Ь не оказывает влияния ни налинейность компенсатора, ни на пороговую чувствительность.45Кроме того, неравность коэффициентов К) и Ку, что приводит к изменению азимутов интерферирующих лучей,также не оказывает влияния. Выбранная ориентация оптических осей эле...

Номер патента: 945641

Опубликовано: 23.07.1982

Автор: Захаров

МПК: G01B 9/02

Метки: измерений, интерферометр, многолучевой, поляризационных, спектральных

...фазовых пластин, свободныеот отражающих покрытий зеркал, просвеьлены. Параметрыи , фазовых пластин, характеризующие величину их анизотропии, выбраны согласно соотношениям- -61 иФ 1 ийиЧЦ(,где Я - коэффициент отражения первого зеркала 3, в котором метаатическаяпленка с специальными диэлектрическимимногослойниками может быть (с цельюупрощения технологии изготовления) эаме41 6Таким образом, анизотропные лластиы 2 и 4 в сочетании с поляризатором 1 позволяют, управляя поляризацией света, регулировать амплитуды и фазы отраженных лучей всех порядков, включая луч нулевого порядка что расширяет воэ можноети управжния характерисщками интерференционной картины. 5 9456непа на простой диэлектрический многослойник. Зеркало 5 выполнено...

Номер патента: 945642

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Воронина, Горшков, Дягилева, Лазарева, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, сферических, формы

...4, неконтролируемую поверхность 9 линзы 7 и цадает на ееконтролируемую поверхность 8, Отраженная от контролируемой псверхности 8 линзы 7 часть пучка света представляет собой рабочий волновой фрснт, а прошедшаячерез поверхность 8 часть пучка - волот вогнутого сферического зеркала 5волновой фронт сравнения интерферируетс рабочим волновым фронтам на контролируемой поверхности 8 линзы 7 и поступает в регистратор 6 интерференционной картины. Бена ти интерференционнойполосы для данного интерферометра определяется сле дующим выражением Ритм 9 хр Выражение (1), связывающее расстояние 5 от фозуса обьектива 3 до вогнутого сферического зеркала 5 с параметрами линзы 7, получено иэ условия нормального падения лучей света на параксиальную...

Номер патента: 945643

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Андреев, Кравченко, Лебедев, Мазаев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, неплоскостности, оптических, поверхностей

...13, матовый экран 14, микровинт 15 и светоиндика-,торы .16,В 20Пластина 6 с образцовой поверхностью 7 и контролируемая поверхность17 изделия 18 образуют интерференционную пару,Источник 1 света должен быть моюнохроматицным и с малой расходимостьюлуча, например газовый лазер.ФУстройство работает следующим образом,Луч от источника 1 света фокусируется в промежуточном фокусе коллиматора 2 на краю вращающегося матовогодиска 3,Ось вращения матового диска 3 расположена строго под лучом, размерсфокусированного луца мал и не превышает 50 нкм в диаметре, так что,практически, перемещение освещеннойповерхности матового диска происходит по направлению координатной осиХ, Таким образом устраняется нерав - 4 ономерность светового поля источника1...

Номер патента: 945775

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Станкявичюс, Сукацкас

МПК: G01N 29/00

Метки: интерферометр, плотности, ультразвуковой

...выражение дпя скорости С = 2 ЬЮ, где 6 - расстояние Между пьезопреобразоОМ ватеивщ 3 и 4, имеем=7.К 69 По этим показателям определяют искомую величину. Изобретение более простое по выполянению и позвопяет с более высокой точ-.ностью измерять плотность сред. Ультразвуковой интерферометр дпя измерения плотности, содержащий последовательно соединенные бпок настройки частоты, генератор зондируклцнх импульсов, излучающий и приемный пьезопреобразователи, усипитепь и формирователь, блок вычитания и вычислительный блок, вход которого соединен с выходом блока вычитания, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью упрощения устройства и повышений точности, оно снабжено последовательно соединенными первой схемой запоминания, вход которой подключен к...

Номер патента: 947636

Опубликовано: 30.07.1982

Автор: Старков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, перемещения

...из них является выходной, а другого - входной.На чертеже Дана принципиальная схема интерферометра.Интерферометр соде ист1 монохроматического и ения лескопическую систему вето тель 3, диафрагму 4, Ф ием светоделитель 3 выполн вид947636 3 30 Н. Захаренекарь Составитель коактор С, Тараненко Техред Л, П Корректор Г. Решет каз 5613 Тираж 614 ВНИИПИ Государств по делам изобре 035, Москва, Ж, Поомит етаоткрытийя наб.,исноСР нног ений Рауш/5 Филиал ППП Патент, г. ужгорОд, ул, Проектная, 4 блока из прямоугольной усеченной призмы с полупрозрачным отражающим покрытием на гипотенузной грани, причем его выходная гипотенузная грань расположена под углом, близким 45 ф, диафрагму б, фотоприемник 7, 5 аналогичную конструкцию и ориентацию имеет...

Номер патента: 953451

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Комраков, Шапочкин

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, сферических

...половинки 7 концентрического мениска совмещены с фокусом интерферометра.Плоская боковая поверхность половинки 7 концентрического мениска проходит через оптическую ось интерферометра. Центр кривизны контролируемойповерхности 10 смещается перпендикулярно оптической оси интерферомера на величину, большую или равную1/4 диаметра отверстия плоского зер кала 9.Интерферометр работает следующимобразом.Излучение лазера 1 проходит микрообъектив 2, светоделитель 3, объек 50тив 4 и разделяется светоделительнымпокрытием 6 апланатического мениска5 на два пучка. Отраженный от светоделительного покрытия 6 пучок является эталонным, а прошедший - рабочим. Йабочий пучок проходит отверстие в плоском зеркале 9 и попадаетв рабочую ветвь, где отражается...

Номер патента: 958851

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Кравец, Красавин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, динамических, интерферометр, лазерный

...в осевом направлении, два зеркала 7 и 8, закрепленные на торцах измерительных штоков 5 и 6, три зеркала 9 - 11, закрепленных на основании по ходу оптического пучка, образующие рабочее плечо интерферометра, коллиматор 12, диафрагму 13, фотоприемник 14 и подключенную к нему электронную схему 15 обработки.Устройство работает следующим образом, Световой пучок монохроматического излучения от источника 2 направляется на светоделитель 3, где разделяется на две части. Часть излучения направляется на неподвижное зеркало 4, закрепленное на основании 1, которое образует эталонное плечо интерферометра, отражается от него и через коллиматор 12 и диафрагму 13 попадает на фотоприемник 14, где взаимодействует с другой частью излучения, которая...

Номер патента: 962762

Опубликовано: 30.09.1982

Авторы: Бржезинский, Добрего, Цейтлин, Шишигин

МПК: G01B 9/02

Метки: измерений, интерферометр, линейных

...с Фоточувствительным устрой.ством 10 и переключаемой диафрагмой фв3. Измерительный пьеэокерамическийэлемент 5 связан электрически с фазовым детектором 11 центра интерференционной полосы на Фоточувствительном устройстве 1 О и ЗВИ 15, а меха" ффнически - через соединительную муфту 16 с дополнительным, модулируемым напряжением питания от генера 2 4тора 1, и через блок 14 обратнойсвязи по детектированию центра интерФеренционной полосы на втором фоточувствительном устройстве 12 компенсационным пьезокерамическим элементом 8, на котором закреплено дополнительное опорное зеркало 9, связанное оптически через разделительную пластину 2 с указанным фоточувствительным устройством 12 и однойиз поверхностей объекта 18 измерения или установочной базы...

Номер патента: 972252

Опубликовано: 07.11.1982

Автор: Архипов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, фабри-перо

...поверхо ности пластины интерферометра.На чертеже представлена схема интерферометра Фабри-Перо.Схема содержит кпластины 1, 2 с покрыт972252 Формула изобретения Составитель А. Качанов Редактор Н. Кешел я Техред И. Верее Корректор Л Ферепп Заказ 788028 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 45 Филиал ППП сПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4имеющие обратный клин, источник 5 излучения, систему 6 сканирования, приемник 7 излучения, блок 8 регистрации с выходом на ЭВМ.Интерферометр работает следующим образом.Световой поток от источника 5 излучения падает на пластины 1 и 2 интерферометра и интерферирует между ними. Пластины 1 и 2 установлены на...

Номер патента: 972253

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Егорова, Стиденкина

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, широкопольный

...оптическаясхема широкопольного сканирующего интерферометра.Все оптические элементы лежат в однойплоскости, На входе интерференционногоустройства расположен светоделитель 1,состоящий из двух плоскопараллельных пластин равной толщины, На одной из двух внутренних плоскостей нанесено светоделительное покрытие. Плоскопараллельная пластина без покрытия служит для компенсациидлины хода в стекле пучков лучей верхнегоканала. Плоские зеркала 2 - 4 удалены от 15светоделителя таким образом, что длинахода пучков в воздухе от светоделителядо клиньев 5 и 6 одинакова для обоихканалов.Между зеркалами 3 и 4 установлена пара одинаковых клиньев, ориентированныхвершинами в противоположные стороны,Внутренние, обращенные друг к другуграни клиньев...

Номер патента: 974112

Опубликовано: 15.11.1982

Автор: Чехович

МПК: G01B 11/00

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...5, образованная нормальным опорным и двумя .наклонными предметными потокагли. 45За голограммой 5 закреплены плоские зеркала 4 и б, первое иэ которыхнеподнижно, а второе- связано сподвижной кареткой 3, Плоское зеркало б параллельно голограмме 5. Передголограммой 5 на подвижной каретке 3размещены плоские зеркала 7 и 8 иснетоделитель 9. Плоское зеркало 8параллельно светоделителю 9. Плоскоезеркало 7 помещено за светоделителем 9 и находится между ним и Фотоприемником 10,Интерферометр работает следующимобразом.Световой поток от источника 1 когерентного глонохроматического света 60расширяется коллиматором 2 и нормально падает на голограмму 5, установленную на подвижной каретке 3. Заголограммой 5 распространяются двавосстановленных...

Номер патента: 977942

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Горшков, Лавритов, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, крупногабаритных, линз, поверхностей, сферических, формы

...объектив 6, компенсатор 7, основную иммерсионную линзу 8, образованнуюжндкоетью,заполняющей простран Иство между контролируемой линзой 9 н ком-пенсатором 7,и эталонное сферическое зер. кало 10, дополнительную иммерсионную линзу 11, установленную между светоотделительным элементом 4 и компенсатором з . 7 и образованную жидкостью с показателем преломления; отличным от показателя преломления основной иммерсионной линзы 8,линзу 12 и иммерсионную камеру 13, Контролируемая линза 9 устанавливается ) 55 в верхней части иммерсионной камеры 13 таким образом, что ее контролируемая поверхность К концентрична эталонной поверхности Э эталонного сферического, зеркала 10, Линза 3.2 установлена в нижней час 40 ти имерсионной камеры 13 и в месте с...

Номер патента: 979886

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Иванцов, Матвеев

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр

...в виде прецизионной парывинт-гайка. На плитах в котируемыхоправах установлены неполвнжные бо 30 ковые пластины 5 и 7 и ."р".пиля пна -тина 6, обращенные друг к другу поверхности которых имеют полупроэрачные покрытия. Средняя пластина бизготовлена в виде клина и установлена на подвижной плите 1. Устройство может содержать и более трехпластин с полупрозрачными покрытиями, причем возможна установка и парных пластин. Толщины рабочих промежутков между отражающими поверхностями устанавливаются кратными и такими, чтобы ширина спектрального интервала, пропускаемого предыдущимипластинами, не превышала свободнойдисперсионной области последующих.Устройство работает следующим образом,Под действием перемещающего узла 4 происходит...

Номер патента: 983449

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Скворцов, Сойту

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, объекта, поворота, углов

...светоделительной пластине 2 на пути 40 световых лучей 3 и 4 причем на пути отраженнбго луча 3 установлены последовательно зеркала 5 и б, а на пути проходящего луча 4 - зеркала б и 5, концевой отражатель отраженного 45 луча 3, выполненный, например, в виде плоского зеркала 8 и установленный за зеркалом б на выходе отраженного от этого зеркала отраженного луча 3, концевой отражатель проходящего луча 4, выполненный, например, в виде плоского зеркала 9 и установленный за зеркалом 5 на выходе отраженного от этого зеркала проходящего луча 4, и отсчетное устройство 10.Интерферометр работает следующим образом.Световой луч от источника 1 света.направляется на светоделительную пластину 2, которая формирует два световых луча - отраженный 3 и...

Номер патента: 983450

Опубликовано: 23.12.1982

Автор: Старков

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, объекта, перемещений

...4 жестко связаны между собой и с перемещающимся объектом и выполнены в виде прямоугольных параллелепипедов с тремя гладкими оптическими поверхностями а, Ь, с у светоделителя, и а(, Ь(, с у светосоединителя 4 с полупрозрычным отражающим покрытием на поверхностях Ь и Ь, .Полупрозрачные отражающие поверхноСти Ь и Ь( расположены параллельно друг другу и под углом 45 д к направлению перемещения объекта (направление перемещения измеряемого объекта на фиг. 1 указано двойной стрелкой под светоделителем 3) 50 55 60 На фиг. 1 изображена принципиаль- . ная схема интерферометра для измерения перемещений объекта; на фиг. 2 вид А на фиг,1, 35Интерферометр содержит последоваПрямоугольные параллелепипеды,образующие светоделитель 3 и...

Номер патента: 987378

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...(фиг, 3), отражающая поверхность зеркала 5 вогнутая сферическая, при контроле выпуклой гиперболической 50 поверхности (фиг. 2).Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 1 проходит микро- объектив 2, светоделитель 3 и фокусируется объективом 4 в точку на поверхности со светоделительным покрытием центральной эоны зеркала 5. Часть излучения отражается светоделительным покрытием зеркала 5 в обратном направлении и представляет собой волновой фронт сравнения. Другая часть проходит светоделительное покрытие, отражается от контролируемой поверхности 7 и падает на зеркало 5 по нормалям к его отражающей поверхности. Отражающая поверхностьзеркала 5 возвращает излучение вновьна контролируемую поверхность 7, после отраженич...

Номер патента: 987379

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Борисов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных

...выходе описывается полной периодической функцией. Подсчет показателя преломления производится по Формуле показатель преломления исследуемой среды в измеряемой области- дина волны источника света;показатель преломления окружающей среды;перемещение световода наодин период;- целое, кратное числу прохождений рабочего луча черезисследуемую среду. где и Озеркала 3, экран 4 с отверстием, фотоумножитель 5 и световод 6, способный с помощью перемещающегося устройства двигаться вдоль направления рабочего луча через исследуемый объект 7, Луч от когерентного источника 1 света, например лазера, раздваивается с помощью светоделительной пластины 2 на рабочий и опорный лучи. Система зеркал 3 за пределами рабочего пространства вновь сводит лучи вместе,...

Номер патента: 987408

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Архипов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...об- .)азом оСветовые, потоки (контрольных) источников б и 7, один из которых может иметь сплошной спектр, отражаются от 10 светоделителя 10, падают на светоделительный кубик 4 и делятся на два световых потока. Один из них проходит з светоделительный столбик 5, отражается в нем от торца и снова падает на светоделительный слой кубика. Второй поток проходит внутрь пластины ФП 1, частично отражается от наружного ее слоя и снова падает на светоделительный слой кубика 4. Другая часть 20 потока входит внутрь интерферометра ФП между пластинами ФП 1 и 2, Он отражается от пластины 2 и снова входит внутрь пластины 1 и далее соединяется на светоделительном кубике 4-ранее пришедшими световыми потоками. В результате образуются две интерференционные...

Номер патента: 991150

Опубликовано: 23.01.1983

Автор: Кузнецов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, систем

...систему, состоящую из лазера 1, плоских зеркал 2 и3, телескопической системы 4 и микрообъектива 5, светоделительный блок 6, выполненный в виде двух призм 7 и 8 с наклеенными на их грани линзами 9 - 12 и эталонноесферическое зеркало 13 и расположенный вобратном ходе излучения за светоделительным блоком 6 регистратор 14 интерференционной картины,Светоделительная поверхность блока 6образована склеенными гранями призмы 7и 8. На грани, призмы 7 и 8 наклеены линзы 9 - 12 соответственно, Радиусы кривизнылинз выбраны так, что светоделительный блокпредставляет в двух взаимно перпендикулярных направлениях идентичные концентрическиеменисковые линзы, оптическая ось каждойиэ которых составляет угол 45 со светоделительной повсрхностью...