Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 1475305

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мартиросов, Мищенко, Петухов, Ринкевичюс

МПК: G01B 21/00

Метки: изменений, интерференции, интерферометр, порядка, реализации, регистрации

1. Способ регистрации изменений порядка интерференции, заключающийся в том, что осуществляют периодическую модуляцию порядка интерференции с периодом Tм в монохроматическом свете, измеряют значение дробной части порядка интерференции в монохроматическом свете м для каждого периода модуляции, условно разбивают интерференционную полосу на первую, вторую и третью зоны, определяют на каждом периоде модуляции соответствия дробной части порядка интерференции в монохроматическом свете м первой, второй или третьей зоне интерференционной полосы, регистрируют изменения этих соответствий...

Номер патента: 786471

Опубликовано: 27.05.1996

Авторы: Губель, Духопел, Ефимов, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, лучей, обратно-круговым, оптических, поверхностей, сферических, формы, ходом

Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, включающую лазер и коллиматорный объектив, призменную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона радиусов кривизны контролируемых поверхностей, призменная система выполнена в виде последовательно расположенных светоделительного кубика, плоского и двугранного зеркал и установленного между этими зеркалами высокоапертурного симметричного объектива, а коллиматорный объектив выполнен с возможностью осевого перемещения.

Номер патента: 1383969

Опубликовано: 20.07.1997

Авторы: Долик, Духопел, Ельницкая, Ефимов, Жданова, Константиновская, Серегин, Сидоров, Тульева, Федина

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, лучей, обратнокруговым, ходом

Интерферометр с обратнокруговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий лазерный источник поляризованного света, последовательно расположенные по ходу потока излучения коллиматорный объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль направления излучения, образующие зеркально-призменную систему светоделитель, выполненный в виде призмы-куба, плоское зеркало, симметричный высокоапертурный объектив и двугранное зеркало и наблюдательную систему, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля, лазерный источник поляризованного света выполнен двухчастотным с взаимно перпендикулярной поляризацией частотных компонент излучения в одном...

Номер патента: 1279337

Опубликовано: 27.06.2002

Авторы: Городецкий, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, оптических, поверхности, формы

Интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей, содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света, светоделитель и образцовый оптический элемент, имеющий одну поверхность эталонную, другую - плоскую и установленный плоской поверхностью к источнику света, и регистрирующий блок, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен пропускающей осевой голограммой, расположенной на плоской поверхности образующего элемента так, что ось голограммы проходит через центр кривизны эталонной поверхности, а распределение радиусов колец голограммы определено выражением