G02B 11/08 — расположенными в последовательности LLL

Номер патента: 274418

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пур

МПК: G02B 11/08

Метки: аберраций, интерферометр, оптических, систем

...изображение для осевого пучка лучей. Центр кривизны зеркальной поверхности линзы совмещен с вершиной пучка лучей, вы шедших из контролируемой системы и преломленных зеркальной поверхностью.На фиг. 1 представлена схема предлагаемого интерферометра для контроля оптических систем в параллельном пучке лучей; на 25 фиг, 2 - схема интерферометра для контроля систем с конечного расстояния.Лучи света от монохроматического источника 1, пройдя точечную диафрагму 2, установленную в фокусе объектива 3, и сам объектив, 30 идут далее параллельным пучком. Полупрозрачное зеркало 4 разделяет лучи на два пучка, один цз которых направляется в эталонную ветвь цнтерферометра к плоскому зеркалу 5, после отражения от которого лучи повторяют свой путь...