Патенты с меткой «интерферометр»

Номер патента: 991151

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Ермакова, Лапо, Орлов, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, радиального, сдвига

...4 и 5 образуют телескопическую систему Галилея, афокусное расстояние отрицательного объектива 5 по абсолютной величине близко кфокусному расстоянию положительного объектива 4,Показаны также коллиматор 6, вспомогательный объектив 7, регистратор 8 интерференционной картины и контролируемая опти- э 5ческая система 9.Интерферометр работает следующим образом.Контролируемый волновой фронт падаетпа светоделительную пластину 1, которая делит его на два волновых фронта. Один изних направляется зеркалом 2 в положительный объектив 4, а второй - зеркалом 3в отрицательный объектив 5. Оба волновыхфронта проходят телескопическую системуГалилея, образованную объективами 4 и 535во встречных направлениях, отражаются оттглоских зеркал 2 и 3 соответственно,...

Номер патента: 991152

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Зайцев, Зайцева, Зацман

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, перемещений

...излучениеобоих пучков по фазе.Один из пучков падает на стражатель 3, другой - на отражатель 4,после отражения от которых оба пуч"ка направляются в опорный и рабочийканалы, интерферируют друг с другоми поступают на чувствительные плошад ки фотоприемников 9 и 10фотоприемник 9 Формирует на своемвыходе электрический сигнал, частота которого зависит только от величинысдвига частот излучений пучков, выходящих из модуляторв 2, и являетсяопорной.фотоприемник 10 формирует на своем выходе электрический сигнал,частота которого зависит как от величины сдвига частот излучений пуч Зков, выходящих из модулятора 2,так иот скорости перемецения уголкового отражателя 7,устанавливаемого на измеряемом объекте.В результате этого частота сигнала на...

Номер патента: 993011

Опубликовано: 30.01.1983

Автор: Голубев

МПК: G01B 9/02

Метки: больших, интерферометр, перемещений

...полос прекращают (не выключая счетчика 8, чтобы сохранить сосчитанное число полос, а преградив путь световому потоку) и передвигают .камеру 4 вдоль линии измерения при неподвижном положении подвижного уголкового отражателя б до тех пор, пока он снова не займет исходное положение в камере 4. Затемопять перемещают подвижный уголковый отражатель б в неподвижной камере, возобновляя при этом счет полос тех пор, пока подвижный уголковыйотражатель б не пройдет всю измеряемую ди ст а н цию. На фиг. 1 изображена схема интерферометра для измерения больших перемещений, ца фиг. 2 - вариант конструк 40 ции вакуумной камеры с помещенным в цей подвижным уголковым отражателем.Ицтерферометр содержит ( фиг. 1) источик 1 света, светоделитель 2 для...

Номер патента: 996857

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Ибрагимов, Ларионов, Лукин, Мустафин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...13 с плоскостью голограммного компенсатора 9,Иитерферометр работает следующимобразом.Излучение лазера 1 расширяется телескопической системой 2, проходит светоделитель 3 и зеркалами 10 и 11 направляется на голограммный компенсатор 9. 66Часть излучения восстанавливает с компенсатора 9 волну а 1 сравнения, а другая часть возвращается плоским зеркалом 12 вновь на компенсатор 9 и восстанавливает волну, идентичную 65 волне а, но распространяющуюся впротивоположном ей направлении.Волна, идентичная волне а, проходит проекционный объектив 8, положительную оптическую систему 7 ипадает на контролируемую поверхность13 по нормалям к ней,Отразившись от поверхности 13,волна проходит элементы 7 и 8 рабо-чей ветви интерферометра, а...

Номер патента: 996860

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Едигарян, Исраелян, Марданян

МПК: G01B 11/00

Метки: интерферометр, линейных, объекта, оптический, перемещений

...элемент установлен с возможностью вращения 25вокруг этой оси.Шаг винтовой поверхности определен из соотношенияЛьх где.п - показатель преломления клиновидных элементов и - показатепь преломпения среодыртребуемая разность хода;угол между проекциями образующих, ограничивающих рабочий участок винтовой по" ф 0 верхности в плоскости, перпендикулярной оси винтовой поверхности.На фиг, 1 изображен оптическийинтерферометр для контроля линейныхперемещений объекта, общий вид; нафиг. 2 - то же, вид сверху; на фиг.3 то же, вид слева,Интерферометр содержит последовательно расположенные источник 1 излучения и светоделитель 2, делящий,световой поток на две ветви, установленное в одной ветви зеркало 3, установленные в другой ветви зеркало 4и компенсатор...

Номер патента: 1000745

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Духопел, Рассудова, Симоненко, Федина

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...число штрихов может достигать одной 45 с от ни или более .Наблюдательная система состоит иэ цилиндрической линзы 7 и объектива 8.Интерферометр работает следующим образом.Расширенный телескопической труб(кой 2 пучок от лаз ерного источ ника 1 света попадает на цилиндрическую линзу 3 и собирается ею в линию на узкой зеркальной полоске, нанесенной на первой поверхности плоско- параллельной пластины 4. После отражения от зеркальной полоски све товой пучок попадает на дополнительную цилиндрическую линзу 5, которая 6 О через интерференционную систему б направляет его в сторону контролируемой детали 9. При подготовке к проведению контроля деталь 9 устанавливаетя так, чтобы геометрическое 65 место центров кривизны проверяемойцилиндрической...

Номер патента: 1000746

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Милосердин, Ремизов, Сизов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, объектов, перемещений

...перемецений объектов; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.Двухлучевой интерферометр для . измерения перемещений объектов со держит монохроматический источник 1 света, узел разделения и рекомбинации опорного и основного пучков лучей, состоящий из плоских отклоняющих зеркал 2, 3, 4 и светоделительных пластин 5, б, 7, ближнюю к узлу разделения и рекомбинации двух пучков лучей систему неплоских отражателей с параллельным ходом лучей, состоящую из центрапьного зеркала 8 и главного вогнутого зеркала 9, выполненного в виде сегмента, симметричного относительно его диаметра, и дальнюю систему неплоаких отражателей, состояцую из главного вогнутого зеркала 10 и цент рального зеркала 11, Фотоприемники 12 для реверсивного счета интерференционных...

Номер патента: 1000747

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Сергеев, Солодов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, расстояний

...часть света от лазера 1,выходящая в сторону противоположнуюизмеряемому расстоянию, отражаетсяот граней лазера и плоского зеркала11, выходит через грань лазера,обращенную в сторону измеряемогорасстояния, коллимируется коллимирующей оптической системой 2,"отражается от светоделителя 3 и поступает вветвь сраннейия интерферометра. Отражатель 5 возвращает падающий нанего пучок в обратном направлении, 40затем этот пучок проходит через снетоделитель 3 и поступает на регистратор 7 интерференционной картины. Примногократных прохождениях этого пучка между гранями лазера 1 и плоскимзеркалом 11 он последовательно коллимируется и фокусируется дополнительной коллимирующей системой 8 и получает дополнительную оптическую раз -ность хода в...

Номер патента: 1010457

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Кандель, Лотоцкая, Синельников

МПК: G01B 11/00

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...объекта.Поставленная цель достигается тем, что в интерферометре для измерения линейных перемещений объекта, содержащем неподвижную часть, включающую осветитель, блок фотоприемников с двумя диафрагмами и блок обработки сигналов с фотоприемников, подвижную часть, связываемую с объектом и включающую интерференционныезеркала, оптический шарнир, связывающий неподвижную и подвижную части, по крайней мере одно из интерференционных зеркал выполнено сферическим, отверстие одной диафрагмы имеет фррму круга, а отверстие другой - форму кольца.На фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра для измерения линейных перемещений объекта; на фиг. 2 - диафрагмы,Интерферометр содержит неподвижную часть, включающую осветитель 1,...

Номер патента: 1019233

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Бондарев, Бржозовский, Игнатьев, Мартынов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухкоординатный, интерферометр, линейных, перемещений

...Первыйблокопорный ) включает в себя опти"чески 1 связанные источник излучениямногомодовый лазер 1, модулятор 2,выполненный на основе вращающейсядифракционной решетки, отражатель 3,светоделительные пластины 1-6, призму 7, плоский отражатель 8, светоделительную пластину 9, фотоприемник 10, плоский отражатель 11, светоделительную пластину 12, Фотоприемник 13.Второй блок измерительный )оптически и электрически связанный с первымопорным ), включает светоделительные пластины 1 ч и 15, уголковые отражатели 16 и 17, Фотоприемник 18.Предлагаемый интерферометр работает следующим образом,Луч света от источника излучениямногомодового лазера 1 - проходитчерез модулятор 2, на выходе которо"го образуются лучи с различными час" тотами ы и щ -Я, где ы -...

Номер патента: 1026001

Опубликовано: 30.06.1983

Авторы: Осипов, Умбетов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный

...между собой и расположены под углом 45 о кэ 60ппоскостн склейки, и расположен подуглом 60 о к оптической оси интерферометра,На Фиг, 1 представлена схема поля.уизационного интерферометра; на , 6 фиг. 2 - схема оптического поляризационного блока.Поляризационыый интерферометр содержит последовательно установленные источник 1 монохроматического излучения, светоделитель 2, оптический поляриэационный блок 3 (фиг. 2), выполненный в виде двух призм Дове из аниэотропного материала, склеенных основаниями таким образом, что их оптические оси параллельны между собой и расположены под углом 45 о к, плоскости склейки, расположенный под углом 60 о к оптической оси интерферометра, и оптически с ним сряэанный регистрирующий блок, выполненный в...

Номер патента: 1026002

Опубликовано: 30.06.1983

Автор: Пуряев

МПК: G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...гиперболическими с эксцентриситетами; равными показателю преломления материала двояковыпуклойлинзы, линза с эталонной поверхностьювыполнена так, что ее поверхность,обращенная к двояковыпуклой линзе,.имеет радиус кривизны, обеспечинающий минимальную сферическую аберрацию для осевого пучка лучей, аформа другой ее поверхности выполняется в соответствии с геометрической формой контролируемой поверхности,На чертеже представлена оптическаясхема интерферометра.Интерферометр для контроля формывыпуклых сферических поверхностейсодержит источник 1 монохроматического излучения и последовательнорасположенные по ходу лучей конденсор 2, светоделитель 3, объектив 4,двояковыпуклую линзу 5, обе поверхности которой выполнены гиперболи,ческимис...

Номер патента: 1046606

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Касаткин, Лысенко, Скворцов, Сойту

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, неплоскостности, непрямолинейности, поверхностей

...с воэможностью наклона к оптической оси.Кроме того, оптический блок отклонения светового пучка выполнен в виде плоского зеркала, жестко связанного с Формирователем и установленного под углом 45 ф к оптической оси.Кроме того, оптический блок отклонения светового пучка вйполнен в виде двух вращающихся друг относительно друга оптических клиньев.На Фиг. 1 изображена принципиальная схема интерферометра для измере" ния неплоскостности и непрямолинейности поверхностей; на Фиг, 2 - принципиальная схема интерферометра в случае выполнения оптического блока отклонения светового пучка в виде плоского зеркала, жестко связанного с Формирователем, вид сверху.Интерферометр (Фиг. 1) содержит монохроматический источник света, напрмер лазер 1,...

Номер патента: 1048306

Опубликовано: 15.10.1983

Автор: Кладов

МПК: G01B 9/02

Метки: бокового, интерферометр, качества, оптических, поверхностей, сдвига

...оптический ромб 10 наклоняют.Чтобы определить положение оптического ромба 10, обеспечивающее заданныйбоковой сдвиг, рассмотрим работу интерм.ферометра 6 бокового сдвига,Обозначим матрицу отражения от зеркала 8 интерферометра Т матрицуотражения от зеркала 9 интерферометра ействи с=о,о, - вектор сдв ба 1 - заданный га фронтоко а гд ового сдви 1 104Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в интерференционных устройствах для контроля качества поверхностей оптических деталей,Известен .интерферометр бокового сдвига, предназначенный для контроля качества оптических поверхностей, содеркащий два светоделителя, два зеркала, плоскопараллельную пластину и клиновой компенсатор. Боковой сдвиг получают поворотом одного из...

Номер патента: 1052852

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Милосердин, Ремизов, Сизов

МПК: G01B 9/02

Метки: двухлучевой, диаметра, интерферометр, малого, объектов, перемещений, трубах

...- повышение точности измерения.Поставленная цель достигаетсятем, что в двухлучевом интерферометре для измерения перемещений объектов в трубах малого диаметра, содержащий монохроматический источниксвета узел разделения и рекомбинации основного и опорного пучков лучей, дна фотоприемника для реверсивного счета интерференционных полос,узел отражателей опорного и основно-,го пучков лучей, включающий дваглавных вогнутых и центральное неркала, главные вогнутые зеркала выполнены кольцеобраэной и круглой формыс общим Фокусом, расположены в одном поперечном сечении трубы, центральное зеркало установлено в указанном общем фокусе, одно иэ главных вогнутых зеркал жестко связанос центральным зеркалом, а другоесвязано с центральным зеркалом...

Номер патента: 1059418

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Горшков, Лихачев, Лозбенев, Мамонов, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, формы

...линзу, предназначенную для заполнения пространства между момпенсатором и неконтролируемой поверхностью линзы, и регистратор интерференционной картины, оптически.сопряженный с осветителем, снабжен оптичес.ким элементом, выполненным в виде двояковогнутой линзы с эталонными поверхностями,радиусы кривизны которых не равны друг дру.гу, компенсатор выполнен в виде двояковогнутой линзы, на одну иэ поверхностей которойнанесено отражающее покрытие, осветитель устанавливается со стороны контролируемой поверхности линзы, оптический элемент размещается между осветителем и контролируемой поверхностью линзы саосно линзе.с возможностью переворота на 180 в плоскости, проходящей через оптическую ось линзы, и ориентируется так, что обращенные друг к...

Номер патента: 1060939

Опубликовано: 15.12.1983

Автор: Рокос

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, многолучевой

...а также оптические оси анизотропных элементов, нумерация которыхсвидетельствует нумерации, приведенной на фиг. 1; на фиг. Э - зависимость выходного сигнала узкополосно 20 го усилителя О от Фазового смещения Ф; на фиг. 4 - функции Эйридля лучей, поляризованных соответственно в плоскостях о = (110) ир = (110 1, а также аппаратная функ 25 ция устройства 0 = Е (сР)Устройство состоит из источникамонохроматического излучения 1, поляризатора 2, зеркал интерферометрафабри-Перо 3 и 4, Фазовой пластинки 30 5, гониометра б, на столике которого установлена исследуемая пластина 7, поляризационнйй комйенсатор,например компенсатор Бабине 8,элект.рооптического модулятора 9, анализа тора 10 диаФрагмы 11, фотоэлектронного умножителя 12,...

Номер патента: 1060940

Опубликовано: 15.12.1983

Автор: Архипов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...регистратор с фотоприемником на выходе интерферометра, до" полнительно введены второй регистратор с отклоняющим зеркалом и зеркальный модулятор с уголковым 55 отражателем, при этом отклоняющее ; : зеркало установлено по ходу луча на входе интерферометра, модулятор установлен под углом 45 ф к оптичес-. кой оси интерферометра перед первым регистратором, а выходы регистраторов подключены к ЭВМ.На чертеже показана функциональная схема сканирующего интерферометра Фабри Дефо. Интерферометр содержит входнойобъектив 1, клиновидные пластины сзеркально отражающими поверхностями2 и 3, подключенную к ним системусканирования 4, выходной объектив5, установленный под углом 45" коптической оси, зеркальный модуляторб с уголковым отражателем 7,...

Номер патента: 1062513

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Иванова, Кирилловский, Маларев

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерферометр, оптических, систем

...- в виде осветителя и щелевой диафрагмы, ориентированной параллельно.штрихам решетки.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра для измерения децентрировки оптических систем,Интерферометр содержит источник 1 излучения, держатель 2, расщепитель 3 излучения, регистратор 4 интерференционной картины и привод 5. Измеряемая оптическая система б закрепляется в держателе 2, Источник 1 излучения может быть выполнен, например, в виде осветителей и целевой диафрагмы, а расцепитель 3 излучения - в виде дифракционнорешетки. Привод 5 механически связан с держателем 2 и предназначен дляпроворота держателя 2 вокруг оптической оси интерферометра.Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1 проходит измеряемую оптическую...

Номер патента: 1062519

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Араев, Воронина, Галиулин, Горлов, Горшков, Гузман, Загуляев, Кряхтунов, Кузнецов, Лозбенев, Пушечников, Фомин

МПК: G01B 21/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхности, формы, фотоэлектрический

...Формы поверхнос.-, ти оптических деталей..Интерферометр содержит лазерный источник 1 света, телескопическуюсистему 2, светоделитель З,.выполненный в видеплоскопараллельнойпластины, объектив 4, светодели -тель 5,выполненный в виде куб-призмы, узел сдвига, выполненный в виде двух сФерических зеркал б и 7, 5проекционный объектив 8, светоделитель 9, выполненный в виде куб-приз:мы, фотоприемники 10 и 11, выполненные в виде двух идентичных фотодиодных матриц, и электронную систему, 0состоящую из модулятора, выполненного в вИде двух идентичных пьезокерамических элементов 12 и 13, генера- .тора 14 опорного напряжения, амплитудного ограничителя 15, блока 16опроса и блока 17 обработки сигналов.Интерферометр ориентируется так,что центр...

Номер патента: 1065682

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Остроуменко, Шмалько

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, микроволноводный, оптический

...и полосками, образующими плечи интерферометра,нанесена на планарный микроволноводпленка металла.На фиг.1 изображена схема оптического микроволноводного интерферометра; на фиг.2 - поперечное сечение интерферометра.50Оптический микроволноводный имтерферометр, содержащий входной ивыходной микроволноводы, выполненныев виде единого канального микроволновода (не показан 7 с наложенной на планарный микронолновод 1 полоской 2, подложку 3, образующиеплечи интерферометра два идентичныхмикроволновода, выполненные в видеканальных микроволноводов (не показаны) с наложенными на планарный 60микроволновод 1 полосками 4 и 5 симметрично единому микроволноводы ипараллельно ему, элемент связи,выполненный в виде направленных ответнителей 6 и 7, второй...

Номер патента: 1065684

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Бубис, Ган, Кузнецов, Робачевская, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/54 ...

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей

...бинарную фазавуюсинтезированную голограмму б, рас-.положенную перед светоделителем 5в другой ветви, наблюдательную систему, включающую объектив 7 с пере"менным фокусном расстоянием,объектив 8 и окуляр 9, прямалиней"нцй ножфуко, установленныйс возможностью йрадольпого и поперечного перемещения относительноосн наблюдательной системц..Иитерферометр работает следующим образом.Пучок света ат манохроматического 1 источника света, собираетсяв.:точкулинзой.2 в плоскости однойиз сменнцх диафрагм набора 4. Лнн"эой 3 формируется точечный источ них света в виде точки О в центрекривиэнц поверхности а светоделителя 5, выполненного в виде при; М змеина-линзового блока. Поверхностьа является эталонной поверхностью интерферометра. На поверхности а...

Номер патента: 1065695

Опубликовано: 07.01.1984

Автор: Химунин

МПК: G01H 5/00

Метки: интерферометр, ультразвуковой

...модуль акустического импеданса интер.ферометра в рабочих максимумах кривой реакции.На фиг. 1 приведена принципиальная схема ультразвукового интерферометра; на фиг. 2 - характерныеогибающие максимумов и минимумовмодуля импеданса.Ультразвуковой интерферометр со"держит измерительную камеру 1 1 фиг.1,:)заполняемую исследуемой жидкостью,и включающую излучатель 2 и рефлектор 3., включенный параллельно излучателю 2 высокоомный блок 4 регистрации, и компенсирующий резонатор 5,конденсатор б связи, кварцевый генератор 7, собранный по схеме ПирсаИиллера, потенциальный электрод компенсирующего резонатора 5 через конденсатор б связи соединен с резонатором 8 кварцевого генератора 7.10 Для установки .частоты генератора7, близкой к частоте резонанса...

Номер патента: 1068699

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линз, поверхностей, сферических, формы

...диапазона параметров конт-, ролируемых поверхностей и повышение точности контроля.Поставленная цель достигается тем что интерферометр для контроля Формы сферических поверхностей линз,содержащий последовательно расположенные источник монохроматическогосвета, фаэовую четвертьволновую пластинку, телескопическую систему и Фокусирующий объектив, образующие осветительную ветвь, компенсатор иэталонное сферическое зеркало, образующие рабочую ветвь, и наблюдательную систему, снабжен расположенной между фокусирующим объективоми компенсатором линзой, поверхностькоторой, обращенная к компенсатору,выполнена плоской, а другая поверхность - выпуклой апланатической,линза установлена так, что нормальк плоской поверхности линзы составляет с...

Номер патента: 1084597

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Бубис, Кузнецов, Плошкин, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, эллипсоидов

...что интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, содержащий монохроматический источник света, оптическую систему, формирующую точечное изображение источника света, и светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную систему, снабжен последовательно расположенными за оптической системой диафрагмой, установленной в плоскости точечного изображения источника света,и выпуклым сферическим зеркалом с центральным отверстием, сферическое зеркало установлено так, что центр его кривизны и диафрагма находятся с одной стороны. относительно выпуклой поверхности этого зеркала.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроля вогнутых...

Номер патента: 1095033

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Осипов, Умбетов, Фирсов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поляризационный, сдвига

...колебаний лазерного излучения, столик 6, на котооом чкоеплен контролируемый объект 7 (например, объектив), формирующий сходящийся лазерный пучок, бифокальную линзу (БЛ) 8 в качестве сдвигающего элемента, укрепленную на прецизионном столи ке 9, обеспечивающем управление перемещением БЛ в продольном (вдоль оси Е ) и в поперечном (вдоль осей Х и) направлениях, анализатор 10, установленный под углом 45 опо отношению к оптическим осям БЛ, и экран 11 для визуализации формируемой интерференционной картины.БЛ 8 состоит.из двух склеенных сфе. рическими поверхностями линз из двупреломляющего кристалла (например, СаСО или % 0):плоско-вогнутой линзы 12 и плоско-выпуклой линзы 13, имеющих ортогональную ориентациюоптических осей (О, и О ).Угол между...

Номер патента: 1099097

Опубликовано: 23.06.1984

Автор: Матвеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, сканирующий

...по ходу светового пучка пары сканирующих подвижных и неподвижных полупрозрачных зеркал, Формирующих интерференционные максимумы пропускания в промежутках, образованных рабочими плоскостями зеркал, и выходную диафрагму, между парами полупрозрачных черкал установлена система отклонения световых пучков, расположенная такг что входящий в нее и выходящий иэ нее световые пучки перпендикулярны рабочим плоскостям зеркал, а центр выходной диафрагмы установлен в центре интерференционной картины,При этом система отклонения световых пучков может быть выполнена в виде последовательно установленных по ходу светового пучка призм или призмы и зеркала.На фиг. приведена схема интерферометра с отклоняющей системой, выполненной в виде двух...

Номер патента: 1100495

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Воробьев, Кудинов, Поздняков, Сергеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений, угловых

...и транспоранта, расположенного в общей фокальной плоскости 55 объективов, а транспорант выполнен в виде пластины произвольной формы с заданным законом пропускания. На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для измерений линейных и угловых перемещений объекта.Интерферометр содержит лазер 1, телескопическую систему 2, светоделительный элемент 3, опорный 4 измерительный 5 отражатели, оптический фильтр 6 пространственных частот, состоящий из двух объективов 7 и 8 помещенного между ними транспоранта 9,фотопреобразователи 10 и электронную схему 11 счета полос.Интерферометр работает следующим образом.Луч света Зо, излучаемый лазером 1, расширяется телескопической системой 2 и разделяется .светоделительным элементом 3 на...

Номер патента: 1103070

Опубликовано: 15.07.1984

Автор: Архипов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, многолучевой

...интерферомет" ра.Интерферометр содержит входной коллиматорс источником света, выходной коллиматор 2, пластинку 3 с .Отражающим покрытием, дифракционнуюрешетку 4 с симметричным профилем штрихов и систему сканирования 5.Устройство работает следующим об разом.Исследуемый световой поток, выходящий из входного когцтиматора 1 падает под углом 1 на пластинку 3. После прохождения отражательного слоя пластинки 3 световые лучи падают по нормали на левые грани штрихов дифракционной решетки 4, от которых они отражаются обратно в сторону пластинки 3. После отражения от слоя пластинки 3 световой поток падает по нормали на правую грань штриха, отражаясь от которого частично выходит через отражающий слой пластинки 3 в сторону выходного...

Номер патента: 1104362

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Вячин, Мамонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...от контролируемой поверхности. На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для контролякачества оптических поверхностей.Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель3, делящий световой поток на двеветви, микрообъектив 4, прямоугольнуюпризму 5, объектив 6, сферическоезеркало 7, установленное так, чтоцентр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива6, опорный оптический элемент 8,плоское зеркало 9, голограмму 10,объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.Объектив 6 может быть выполненв виде двояковыпуклой линзы 14 имениска 15, обращенного вогнутостьюк двояковыпуклой линзе 14,Описываемый интерферометр работает следующим образом.Предварительно производят...