Патенты с меткой «интерферометр»
Интерферометр типа майкельсона для измерения больших перемещений
Номер патента: 1392364
Опубликовано: 30.04.1988
МПК: G01B 21/00
Метки: больших, интерферометр, майкельсона, перемещений, типа
...интерференционных полос.Интерферометр типа Майкельсонадля измерения больших перемещенийработает следующим образом.Измерение перемещения проиэводит 40ся следующим образом,При перемещении отражателя 5 вдольот светового пучка из-за измененияразности оптической длины плеч интерфербметра изменяется интенсивностьвыходного светового пучка) фотоэлек 45трический преобразователь .6 преобразовывает изменение интенсивностисвета в напряжение, которое поступает на вход усилителя 8 отрицательнойобратной связи через управляемый коммутатор 7,Выходным напряжением с усилителя 8 управляется пьеэопривод 4, который перемещает отражатель 3 на величину, соответствующую перемещению 55отражателя 5, Таким образом, происходит компенсация изменения...
Ультразвуковой интерферометр переменной длины
Номер патента: 1392388
Опубликовано: 30.04.1988
Авторы: Армошка, Волейшис, Станкявичюс, Сукацкас
МПК: G01H 5/00
Метки: длины, интерферометр, переменной, ультразвуковой
...с одним1поршнем гидравлической системы (начертеже не показано), а опускаетсядействием веса на второй поршень.Замыканием верхнего контакта блока19 концевых выключателей логическийуровень единицы поступает на другойвход триггера 22, он перебрасывает 2 И 1 2 Ы 1 п с--И Н 30 35 40 45 50 ся, включая режим чтения ЗУ 14, режим уменьшения адреса регистра 15 адреса и соединяет регулирующий вход усилителя 6 с выходом функционального преобразователя 17 через переключатель 18, Далее пьезопреобразователь 4 плавно опускается вниз и начинается собственно измерение.Преобразователь 17 преобразует входной сигнал по закону, обеспечи" вакицему меньшее усиление для большего сигнала и наоборот. Закон этот может быть снят экспериментально при исследовании...
Интерферометр для измерения линейных величин и показателя преломления
Номер патента: 1397718
Опубликовано: 23.05.1988
МПК: G01B 11/02, G01B 9/02
Метки: величин, интерферометр, линейных, показателя, преломления
...которой требуется определить(фиг,1), либо на объекте 8, изменениедлины которого требуется определить(фиг,З), либо закреплено неподвижно45при измерении показателя преломленияпрозрачного тела 9 или измерения изменения показателя преломления прозрачного тела 9 (фиг.2) таким обра зом, что предметный луч после прохождения через светоделитель 4 попадаетна регистрирующий узел 6.Интерферометр работает следующимобразом.Луч света от источника 1 света сдлиной волны Ъ, и луч света от дополнительного источника 2 света сдлиной волны % падают на полупрозрачное зеркало 3, после которого их оптические оси оказываются совмещенными в пространстве, и дальше они распространяются в виде единого луча, содержащего оптическое излучение двух неравных между собой...
Интерферометр для измерения углов
Номер патента: 1401271
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Веселев, Копытов, Лизунов
МПК: G01B 11/26
Метки: интерферометр, углов
...шкивом 13 с помощью гибких кольцевых лент 16 и 17 соответственно. Оси всех шкивов 13 - 15 лежат на одной прямой. Две триппель-призмы 18 и 19 установлены соответственно на втором 14 и третьем 15 шкивах так, что их вершины совпадают с осями поворота шкивов 14 и 15. Платформу 12 скрепляют с объектом измерения (не показан).Устройство работает следующим образом.При повороте платформы триппель-призмы 18 и 19 смещаются параллельно на некоторое расстояние, так как они установлены на шкивах 14 и 15, которые при повороте платформы на угол к поворачиваются в противоположную сторону на такой же угол.Триппель-призмы 18 и 19 смещаются по двум взаимно перпендикулярным осям: по оси, параллельной оптической оси измерителя 2 перемещений - друг к другу,...
Неравноплечий лазерный интерферометр
Номер патента: 1404810
Опубликовано: 23.06.1988
Авторы: Гербрандт, Жолудев, Лукин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, лазерный, неравноплечий
...объектив 6 и испытав амплитудное деление на светоделителе 7, пучки формируют четкую интерференционную картину в плоскостях диафрагмы 8 и держателяфотоматериала. Диаметр регулируемой диафрагмы 8 выбирается не более ширины интерференционной полосы. Снимаемый с фотоприемника 9 электрический сигнал подается на усилитель 10 постоянного тока, откуда он поступает в блок 11 определенияконтраста интерференционных полос. Далеесигнал, пропорциональный значению конт 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 раста полос, попадает в формирователь 12 управляющего импульса, который, в случае превышения вычисленного значения контраста над заранее заданным, выдает управляющий импульс на привод спуска фотозатвора 14. Происходит экспонирование...
Стабилизированный интерферометр
Номер патента: 1404811
Опубликовано: 23.06.1988
Авторы: Воронцов, Думаревский, Колобков, Малов, Наумов, Шмальгаузен
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, стабилизированный
...5. По ходу предметного пучка последовательно расположены коллимирующая линза 6 и исследуемый объект 7. По ходу опорного пучка расположено сферическое зеркало 8. По ходу совмещенных после интерференции на кубике 4 пучков размещена диафрагма 9 и фотоэлектронный умножитель 10. Выход фотоэлектронного умножителя 10 соединен с входом резонансного усилителя 11, выход которого соединен с входом фазового детектора 12. Генератор 13 через фазовращатель 14 связан с вторым входом детектора 12, Фазовый детектор 12 через интегратор 15 соединен с блоком 16 управления жидкокристаллической ячейкой 5, Выход генератора 13 связан с вторым входом блока 16, выход которого соединен с ячейкой 5.Интерферометр работает следующим образом.Световой пучок лазера 1...
Интерферометр для измерения перемещений объектов
Номер патента: 1416860
Опубликовано: 15.08.1988
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, объектов, перемещений
...диафрагмы 14 и 15 и детекторы 16 и 17.Интегратор работает следующим образом.Пучок излучения от лазера 1 расширяется телескопической системой 2 и попадает на светоделитель 3, где делится на измерительный и опорный. Измерительный пучок, отразившись от зеркала 4, падает на отражатель 6, отражается им обратно параллельно самому себе, проходит оборачивающую призму 13 и возвращается вновь на светоделитель 3.Опорный пучок проходит ромбическуюпризму 11, смещается ею перпендикулярно пучку на величину его диаметра аа и падает на первый неподвижный отражатель 8 и, отразившись от него, идет обратно параллельно самому себе через призму 13 на светоделитель 3.Оба пучка вторично делятся светоделителем 3, интерферируют и, создав две картины...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1416861
Опубликовано: 15.08.1988
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений
...Грани выполнен прозрачным длялуча света и имеет длину, равнуюребру, и ширину, определяемю поФормуле45= -Д(2-ьд)Для того,чтобы не внести искажений вход луча света в световозвращающей системе, ширина зеркал 22 (23)и 24 (25) не должна превышать четырех расстояний 3,Фотоэлектронный блок 14 фиг. 4)содержит фотоприемники 26 и 27, входы которых оптически связаны соответственно с поляроидами 10 и 11,а выходы электрически связаны с входом блока 28 определения направления перемещения, а выход фотоприемника 26 также связан с одним из вхоцов реверсивного счетчика 29, второйзвход которого связан с выходом блока 28. Выход реверсивного счетчика 29 является выходом интерферометра,Интерферометр работает следующим образом.Луч от источника, 1...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1425434
Опубликовано: 23.09.1988
Авторы: Бараш, Пресняков, Резников
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений
...5, состоящий из последовательно установленных плоского зеркала 6, четвертьволновой пластины 7, двоякопреломляющего кристал ,ца 8 и ориентированных параллельнд друг другу и основанию трехгранного уголкового отражателя 3, отражатель 5 установлен с возможностью перемещения в одном из потоков от 25 светоделителя 2 со смещением относительно трехгранного уголкового отражателя 3 и фотоприемник 9, установленный в другом потоке бт светоделитля 2. ЗОИнтерферометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 диагональной гранью светоделителя 2 разд 6 ляется на два потока, один иэ кото 35 рых направляют на отражающее покрытие светоделителя 2, а другой - на трехгранный уголковый отражатель 3. После отражения от его боковой грани пбтока...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1425435
Опубликовано: 23.09.1988
Авторы: Бараш, Пресняков, Резников, Фокин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений
...потокнаправляют на вторую четвертьволно вую пластину 6, которая сообщает ему циркулярную поляризацию. После выхода из второй четвертьволновой 40 пластины 6 излучение направляют на второе плоское зеркало 7, скрепляемое с объектом (на чертеже не показан), которое и возвращает излучение на вторую четвертьволновую пластину 6, в которой циркулярно поляризованному излучению сообщают линейную ортогональную поляризацию, в связи с чем плоский поляризатор 5 отклоняет иэлуочение на угол 90 - с(9 где аС - угол преломления луча в поляризаторе, Навыходе из плоского поляризатора 5излучение направляют на первую чет"вертьволновую пластину 4, котораясообщает ему линейную ортогональнуюполяризацию. Последний проход излучения направляют на первое...
Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов
Номер патента: 1425437
Опубликовано: 23.09.1988
Авторы: Алипов, Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, параболоидов
...фокусирующую оптическую снстему 2, диафрагму 3, объектив 4, светоделитель 5, двойное плоское зеркало 6, второй светоделитель 10, входной объектив 9 системы регистрации интерФеренционной картины, экран 11, афокальную систему, состоящую иэ линзовых компонентов 7 и 81 ил. плоских зеркал, расположенных под. 1углом 90 друг к другу, оптическую систему, выполненную афокальной и состоящую из двух положительных линзовых компонентов 7 и 8, расположенных по разные стороны светодетителя 5, систему (не чертеже не показана) регистрации интерференционной картины, включающую входной объектив 9, второй светоцелитель 10, экран 11.Интерферометр работает следующим образомСвет от источника 1 монохроматического излучения фокусирующей опти ческой...
Интерферометр
Номер патента: 1427168
Опубликовано: 30.09.1988
Авторы: Вахрамеев, Горнов, Людаговский
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр
...следующим образом.Луч от источника 1 монохроматического света с помощью коллиматора 2преобразуют в узкий параллельный пучок света и подают на светоделитель 3.оЗатем луч отражается под углом 90и попадает на светоделитель 4, который образует два луча. Один луч проходит светоделитель 4 и уголковыйотражатель 5, попадает на отражающийзеркальный слой 9 светоделителя 4,возвращается прежним путем и совместно с вторым лучом, отраженным от светоделителя 4, попадает на светоделитель 3. Затем оба луча, отражаясьот светоделителя 3, направляются нарасширяющую линзу 6 и в плоскостифотоприемника 7 создают интерференционную картину,Испытуемый образец 8 располагаютна обеих половинах поверхности светоделителя 4 так, что осевые линии образца 8 и...
Интерферометр типа майкельсона для измерения перемещений
Номер патента: 1439389
Опубликовано: 23.11.1988
Авторы: Балицкас, Бунькин, Гульбинас, Жиленис, Магаршак, Малдутис, Сакалаускас
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, майкельсона, перемещений, типа
...лазера 1 иосью РПосле прохождения прямоугольной призмы 3 между компонентами луча с поляризацией вдоль Б- и Р-осей появляется разность фаз и - показатель преломления мариала прямоугольной призмы.На выходе интерферометра, послепрохождения опорного плеча, получаюциркулярно поляризованный луч, еслиудовлетворяются условия После подстанов (2) в (5) получаютзателя преломления 5 моугольной призмы птическои осью полята лазера и плоскоа на светоделитель Ход лучеи в измерительном плеинтерферометра следующий.1439389 где р - угол поворота плоскости поляризации после отражения от уголкового отражателя. Далее, пройдя ослабнтель 5, интен,сивности компонент луча равны(9) Компоненты интенсивности луча, отразившегося от ветоделителя 2, т.епрошедшие все...
Ультразвуковой интерферометр
Номер патента: 1446553
Опубликовано: 23.12.1988
Авторы: Кундротас, Пилецкас, Сукацкас, Сяурусайтис
МПК: G01N 29/00, G01N 29/02
Метки: интерферометр, ультразвуковой
...к выходу генератора последовательно соединенные измерительный блок и индикатор, снабжен п акус" тическими блоками, последовательно соединенными с дешифратором номера акустического блока, запоминающим устройством и блоком перемножения, подключенным соответственно к входу и выходу измерительного блока, и коммутатором, предназначенным для подключения генератора к излучателю соответствующего акустического блока, а последнего - к дешифратору номера акустического блока.На чертеже изображена структурная схема интерферометра.Генератор 1 через коммутатор 2 подключен к пьезоизлучателю 3, вмонтированному в измерительную камеру 4 акустического блока. На противоположном конце ее параллельно вмонтирован пьезоприемник 5, Устройство снабжено и...
Поляризационный интерферометр для измерения линейных перемещений объекта
Номер патента: 1455232
Опубликовано: 30.01.1989
Авторы: Аксенкин, Кабаев, Ковалев, Тюшкевич
МПК: G01B 11/02, G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений, поляризационный
...Фиксируемое регистрирующим блоком 4, однознач. но определяется разностью показателей преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей в анизотропномаэлементе, из которого выполнен делитель 2 светового пучка, и его оптической толщины в месте прохождения луча, Разность показателей преломления обыкновенного и необыкновенного лучей определяется ориентацией оптических осей анизотропного элемента бтносительно направления луча источника 1 света, Нри перемещении анизотроаного элемента вверх (либо вниз) под воздействием исследуемого объекта оптическая толщина его в месте прохождения светового пучка будет увеличиваться (либо уменьшаться), что приведет к изменению разности Фаз между обыкновенным и необыкновенным лучами. Это в свою очередь...
Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых сферических деталей
Номер патента: 1067909
Опубликовано: 30.01.1989
Автор: Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, поверхности, сферических, формы
...кривизны ее входной сферической эталонной поверхности - с задним фокусом четвертого объектива.Кроме того, линзовая система выполнена в виде двух положительных менисковых линз и двух расположенных между ними плосковыпуклых линз, а 60 выпуклые поверхности менисковых линзобращены к плоским поверхностям плосковыпуклых линз.Кроме того, линзовая система выполнена в виде двух положительных менисковых линз и расположенной между ними двояковыпуклой линзы, Кроме того, линзовая система выполнена в виде двух положительных менисковых Недостатком известного интерферометра является ограниченность диапа" зона его применения, так как он пригоден только для .контроля поверхностей в проходящем светеКроме того, для каждой поверхности необходим компенсатор...
Адаптивный интерферометр
Номер патента: 1456772
Опубликовано: 07.02.1989
Авторы: Горлов, Лахин, Николаева, Трусов
МПК: G01B 9/02
Метки: адаптивный, интерферометр
...Я и по падает на зеркало 8, поверхность которого необходимо измерить, установленное в фокальной плоскости объектива 7, отразившись от зеркала 8 в обратном направлении, отражается отсветоделительного кубика 6 и черезсветосоединитель 9 попадает на первый фотоприемник 10, образуя измерительное плечо интерферометра. Второйсветовой по ок, отраженный от кубика 6, а затем через светосоединитель11 попадает на второй фотоприемник12, образуя эталонное плечо интерферометр а. Световой поток, продифр агированннй в первом акустооптическом модуляторе 2 и имеющий частоту Гг ++ й попадает на светоделитель 13,разделяется на два, один из них,пройдя через светосоединитель 9,интерферирует с измерительным световым потоком в измерительном плече иобразует...
Интерферометр для измерения радиусов кривизны отражающих поверхностей
Номер патента: 1460598
Опубликовано: 23.02.1989
МПК: G01B 11/27, G01B 9/02
Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов
...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...
Дифференциальный интерферометр для изменения угловых перемещений
Номер патента: 1462098
Опубликовано: 28.02.1989
Авторы: Матяш, Носов, Переходько, Стеблин
МПК: G01B 9/02
Метки: дифференциальный, изменения, интерферометр, перемещений, угловых
...образом.Пучки лучей лазера 1 проходят светоделитель 3 и разделяются светоделителем 2 на два пучка лучей, один из которых проходит через призменный отражатель 13, отражается от зеркала 5 и возвращается на светоделитель 2. Второй пучок лучей отражается от зеркала 4, проходит через приэменный отражатель 14, отражается. от зеркала 6 и возвращается на светоделитель 2,5 фовмула изобретения Составитель А,ЗаболотскийТехред А.Кравчук Корректор В.Гирняк Редактор М.Андрушенко Заказ 661/37 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ЮеПроизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 31462Возникающая интерференционная картина...
Многоходовой интерферометр для контроля плоской поверхности объекта
Номер патента: 1469343
Опубликовано: 30.03.1989
Авторы: Алексеев, Бубис, Вересова, Духопел, Еськов, Мартынова, Медведев, Муретов, Прохорова, Серегин, Трегуб, Шидловский
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, многоходовой, объекта, плоской, поверхности
...направленная светоделителем 3 в опорный канал, преобразуется третьим коллиматором 10 в узкий слабо сходящийся опорный пучок диаметром Й и через четырехзер кальный узел 11 направляется в многоходовой узел, в котором совершает многократные прохождения между отражателем 6 и вторым светоделителем 4, совершая при каждом прохождении отЗО ражения от контролируемой поверхности детали. Диаметр опорного пучка мал, поэтому его отражения от поверхностей элементов многоходового узла происходят на малых участках.Благодаря этому снижается влияние 35 ошибок указанных поверхностей на точность контроля. Деформация волнового фронта за счет неплоскостности участка поверхности контролируемого объекта пренебрежимо мала. Часть излучения, направленная...
Сканирующий интерферометр типа маха-цендера
Номер патента: 1469364
Опубликовано: 30.03.1989
Автор: Тынниссон
МПК: G01J 9/02
Метки: интерферометр, маха-цендера, сканирующий, типа
...являетсяповышение вибростойкости устройстваУказанная цель достигается тем, чтосканирующий элемент, установленныйв одно из плеч интерферометра, выполнен в виде призмы с возможностьюее поступательного перемещения. Этопозволяет использовать устройство вусловиях повышенной вибрации. 1 ил. после чего пучки соединяются на светоделителе 2. При перемещении призмы 5 по направлению, указанному стрелкой, вследствие изменения оптической длины пути в призме 5 происходит ска нирование интерферограммы,Так как призма 6 идентична призме 5, происходит компенсация аберрации, возникающей вследствие клиновидности сканирующего элемента. Призма 5 устанавлива мещается таким образом, сканировании пучок не и пространстве, призма 6 ся идентично призме 5,...
Интерферометр сдвига
Номер патента: 1474453
Опубликовано: 23.04.1989
Авторы: Кузнецов, Петровский, Спорник, Яничкин
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, сдвига
...1 излучения и коллиматор 2, и приемную систему, содержащую объектив 3, светоделительныйэлемент 4, выполненный в виде и пардифракционных решеток, имеющих разный период в паре и установленныхтак, что штрихи решеток в каждой паре пересекаются под разными углами,диафрагму 5, имеющую и радиальныхщелей, и плоскости б регистрации, 30Интерферометр работает следующимобразом,Коллиматор 2 формирует от источника 1 параллельный пучок, в которыйпомещается объект 7. Объектив 3 направляет пучок на светоделительныйэлемент 4, размещенный перед Фокальной плоскостью объектива 3. На каждойиз решеток, записанных нелинейно дляповышения дифракционной эффективности, возникает большое число дифракционных максимумов различных порядков, Диафрагма 5...
Интерферометр для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 1497451
Опубликовано: 30.07.1989
Авторы: Карашоков, Нескородов
МПК: G01B 11/02, G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений
...5 на поверхность вибратора 6,отражается от нее, вновь восстанавливается линзой 5 и также возвращается на светоделитель 2 таким образом,что оба луча создают на поверхностифотоприемника 7 интерференционнуюкартину, смещающуюся при смещенииподвижного отражателя 3,При подаче модулирующего напряжения от генератора 9 на пьезокерамический вибратор 6 последний вибрируети вызывает изменение Фазы опорного светового луча с частотойравной частоте модуляции, что всвою очередь вызывает вибрацию интер-"Ференционной картины с той же частотой. Смещение интерференционной картины регистрируется Фотоприемником7 в виде электрического сигнала Мх 4 УЙ . 2% ЙБ = Б + Б зхп( -+ -зп ".).Фп о 1Л постоянная составляющая выходного напряжения фотоприемника...
Интерферометр для контроля качества поверхностей вращения
Номер патента: 1499108
Опубликовано: 07.08.1989
МПК: G01B 9/02
Метки: вращения, интерферометр, качества, поверхностей
...из лицэ 2 и 3, котораяуменьшает расходимость пучка и расширение диапазона апертур круемых поверхностей. Это дся за счет реализации принципа разделения волнового Фронта на рабочийи эталонный по полю, Для этогообъектив расположен так, что перекрывает часть пучка излучения, формируемого телескопической системой,При этом задний фокус объектива совпадает с задним фокусом зеркальнойсистемы, образованной исследуемойповерхностью вращения и последнейпо ходу лучей поверхностью объектива,являющейся средством совмещения рабочего и эталонного волновых фронширяет его диаметр, Центральная часть пучка направляется в объектив 4, который формирует эталонный волновой фронт. Периферийная часть этого же пучка направляется на контролируемую поверхность 5,...
Интерферометр радиального сдвига для контроля формы волнового фронта оптического излучения
Номер патента: 1504516
Опубликовано: 30.08.1989
Авторы: Араев, Бондаренко, Горшков, Фомин
МПК: G01B 21/02, G01B 9/02
Метки: волнового, излучения, интерферометр, оптического, радиального, сдвига, формы, фронта
...компенсатора;п - показатель преломления материала светоделителя;6, ), Г, п - 0,5 - толщина компенсатора;Рй , т- Ги - 0,5 - толщинао 2светоделителя, Р/Г,б - относительное отверстиеобъектива;Г - Фокусное расстояние объекобтива.Регистратор 2 выполнен в виде светочувствительного устройства, обеспечивающего регистрацию интерференционной картины, например в виде Фотокамеры,Интерферометр работает следующимобразом,Объектив 1 преобразует сходящийся контролируемый волновой фронт вплоский и направляет его на светоделитель 3. Светоделитель 3 разделяетпадающий на него волновой Фронт по,.мплитуе на два волновых Фронта,один из которых распространяется внаправлении сферического зеркала 4,а другой проходит компенсатор 6 ираспространяется в...
Интерферометр для измерения углового и линейного положения объекта
Номер патента: 1506269
Опубликовано: 07.09.1989
Авторы: Михайловский, Рачков, Смирнов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, линейного, объекта, положения, углового
...вдоль оптической оси источникамонохроматического излучения и образуют подвижное звено,Одна иэ отражающих поверхностейтретьего отражателя 5 находится водной плоскости со светоделительнойповерхностью светоделителя 2.Интерферометр работает следующимобразом62691 О1520253040 зеркало 7. Отраженный зеркалом 7 световой поток распространяется в обратном направлении, возвращаясь к светоделителю 2.Второй луч, образованный светоделителем 2, проходит к отражателям 4 и 6, В этой паре отражателей 4 и 6обеспечивается распространение светового потока, аналогичное распространению в паре отражателей 3 и 5.В светоделителе 2 происходит наложение интерференционных, лучей. Результирующий световой поток попадаетна светочувствительную площадку фотоприемника 9,...
Многолучевой интерферометр для спектральных и поляризационных измерений
Номер патента: 1506270
Опубликовано: 07.09.1989
Автор: Захаров
МПК: G01B 9/02
Метки: измерений, интерферометр, многолучевой, поляризационных, спектральных
...ние амплитуд которых зависит от угла с(, подают на анизотропную пластину 4, расположенную между зеркалами 3 и 5, и они, независимо друг от друга, испытывают многолучевую интерференцию в результате отражений от зеркал 3 и 5 с анизотропной пластиной 4 между ними, а затем, пройдя в обратном направлении через дополнительную анизотропную пластину 2 интер) ферируют друг с другом, В результате формируется суммарная отраженная волна, зависимость поляризации от частоты и амплитудно-частотные характеристики которой зависят от угла от коэффициентов отражения К и К зеркал 3 и 5 и от коэффициента пропускания Т анизотропной пластины 4, Поляризатор 1, преобразуя изменение поляризации в изменение интенсивности, позволяет получить...
Интерферометр для контроля параметров оптических криволинейных вогнутых поверхностей
Номер патента: 1516768
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Матяш, Переходько
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутых, интерферометр, криволинейных, оптических, параметров, поверхностей
...полос и блока 13регистрации перемещений.Интерферометр работает следующимобразом,Излучение источника 1 монохроматического излучения поступает в телескопическую систему 2, состоящуюиз линзы 14, объектива 15 и диафрагмы 16, расположенной одновременно вфокусе линзы 14 и в фокусе объектива 15. Эти элементы преобразуют неразведенный пучок излучения в коллимированный, который попадает на светоделитель 6. Светоделитель 6 делитизлучение на два параллельных лучаа и Ь, имеющих примерно равную интенсивностьЛуч Ь идет на центральнуючастьсветоделительной пластины 3,где делится на два луча Ьи Ь .Луч Ь проходит оптический элемент 8,выполненный в виде триппель-призмыс прозрачной полированной Фаской навершине, расположенный в опорном канале между...
Интерферометр для диагностики плазмы
Номер патента: 1351388
Опубликовано: 23.10.1989
МПК: G01N 22/00
Метки: диагностики, интерферометр, плазмы
...к осциллографу 16.Интерферометр для диагностикиплазмы работает следующим образом, 40СВ 1-сигнал с частотой Г, генерируемой СВЧ-генератором 1, делитсяделителями 2 и 3 сигнала яа измерительный, опорный и гетеродинный сигналы. Измерительный сигнал с частотой 45Г излучается передающим вводом 7 вплазменную камеру 8, принимается приемным вводом 6 и поступает на первыйвход первого смесителя 4 сигнала,Опорный сигнал с частотой й поступает на первый вход второго смесителя5 сигнала. На вторые входы смесителей4 и 5 сигнала поступает гетеродинныйсигнал, прошедший через сдвигатель10 частоты и имеющий частоту Е =Г+Р,г55где Р - частота сдвига, Пройдя черезпервый 4 и второй 5 смесители сигнала; укаэанные сигналы поступают насмесительные...
Интерферометр для измерения поперечных перемещений
Номер патента: 1518663
Опубликовано: 30.10.1989
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, перемещений, поперечных
...который делит световойпоток на два, образуя плечи интерферометра, Один из лучей, отражаясьот зеркала 5, направляется параллельно второму световому потоку на прямоугольную равнобедренную призму 6, Затем отраженные от катетных граней прямоугольной равнобедренной призмы 6оба световых потока попадают на дифракционные решетки 7 и 8, каждаяиз которых установлена под автоколлимационным углом к световым потокам,После отражения от дифракционныхрешеток световые потоки возвращаютсяпо тому же оптическому пути на светоделитель 4, где световые потоки интерферируют и образуют на фотопри 55емнике 9 интерференционную картину,При поперечном перемещеныи объекта сустановленной на нем прямоугольнойравнобедренной призмой 6 световые лучи перемещаются по...