Способ электротермотренировки интегральных микросхем

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛ ИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИК 119) 1111 1 К 3/ 2 8 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Р 1 А.И 8 нать овия 6 КО4 я 6 КО 347 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(57) Изобретение относится к радиоэлектронной промышленности, в частности к способам контроля интегральных схем. Цель. изобретения - повышение эффективности электротермотренировки интегральных схем. Входы микросхем через ограничивающие резисторы 5 подключают к генератору 3 псевдослучайного кода. Выводы питения подключают к блоку 1 питания через контакты коммутатора 2 Выходы микросхем через ограничивающие резисторыподключают к половине напряжения питания через контакты коммутатора 2.Тактовая частота следования импульсов выбирается высокой, например1 11 Гц. Коммутатор подключает все выводы интегральной схемы к генератору3 псевдослучайного кода и блоку 1 питания с частотой 1-50 Гц. При этомобеспечивается тренировка в режимепереходных процессов, Полная тренировка выходных каскадов обеспечивается подключением к выходам микросхемы половинного напряжения питания. 1 з.пф-лы, 1 ил.Изобретение относится к радиоэлектронной промышленности и может быть использовано как на предприятиях-изготовителях интегральных микросхем, так и на предприятиях, использующих микросхемы в разнообразной аппаратуре повышенной надежности.Цель изобретения - повышение эффективности электротермотренировки 1 О интегральных микросхем.Поставленная цель достигается тем, что электротермотренировка цифровых интегральных микросхем проводится в режиме, близком к реальным условиям 15 эксплуатации (включая переходные процессы при коммутации цепей питания), обеспечивается тренировка практически всех р-а переходов схемы, причем не требуется разработки и изготовле ния специализированных генераторов входных импульсов и сменных нагрузок,На чертеже приведена схема устройства, реализующего способ (пример для микросхемы 563 РЕ 1). 25Устройство содержит блок 1 питания соединенный с коммутатором 2, генератор 3 псевдослучайного кода, также соединенный с коммутатором 2, выходы которого подключены к вводу питания испытуемой микросхемы 4 непосредственно, а к входам и выходам через группы резисторов 5 (К,) и 6 (Ка)Способ заклюЧается в следующем.Входы микросхем через ограничиваю- щие резисторы 5 подключают к генератору 3 псевдослучайного кода, Выводы питания подключают к блоку 1 питания (источнику постоянного тока) через 4 О контакты коммутатора 2. Выходы микросхем через ограничивающие резисторы13 ацтподключают к напряжению - 2 (получаемому от того же источника пита 45 ния) также через контакты коммутатора 2.щСлучайная последовательность импульсов на входах микросхемы обеспе" чивает тренировку практически всех переходов. Тактовая частота следования импульсов 1 МГц. Коммутатор подключает все выводы схемы к генератору 3, блоку 1 питания и нагрузке с частотой 1-50 Гц. Нрв этом обеспечивается тренировка схемы в режиме пе" реходных процессов, соответствующих реальным при эксплуатации схемы. Полная тренировка выходных каскадовобеспечивается подключением к выхо 1 питдам микросхемы напряжения .2Выбор частоты 1-50 Гц коммутации постоянного тока в цепи питания генератора и испытуемой микросхемы основан на простоте электронной схемы проектируемого генератора, так как позволяет использовать частоту переменного тока промышленной сети.Выбор же конкретного значения осуществляется с учетом Физических свойств испытуемых микросхем, технологии их изготовления и требований надежности изготовляемой аппаратуры.Так для микросхем высокой степени рассеиваемой мощности эна.ение частоты коммутации составляе. единицы секунд. В этом случае эф 1 кт тренировки повышается за счет аботы механизма неоднородного коэффициента расширения компонентов микросхемы,Напряжение Б /2,подаваемое на выходы микросхемы, обеспечивает тренировку выходных каскадов микросхем как вытекающиьщ, так и втекающими токами (при логических "1" и "0" соответственно).Ф о р м у л а изобретения1. Способ электротермотренировки интегральных микросхем, заключающийся в том, что помещают испытуемые микросхемы в условия повышенной температуры окружающей среды, подают на все входные выводы микросхем импульсное испытательное воздействие, а на выводы питания - номинальное напряжение, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьшения эФФективности электротермотренировки интегральных микросхем за счет создания режима испытаний, имитирующего режим работы, в качестве импульсного испытательного воздействия используют случайные последовательности электрических импульсов, на выходные выводы подают через ограничители тока напряжение, меньшее напряжения питания интегральных микросхем, а цепи подключения импульсного испытательного воздействия, напряжения питания и соединения выходных выводов интегральных микросхем замыкают и размыкают с частотой, меньшей средней частоты импульсного испытательного воздействия.14499502. Способ по и.1, о т л и ч а ю" ности, на выходные выводы микросхем щ и й с я тем, что, с целью увеличе- через ограничители тока подают напряния эффективности электротермотрени" жение, равное половине напряжения ровки интегральных микросхем эа счетпитания.увеличения средней рассеиваемой мощСоставитель В.СтепанкинТехред А. Кравчук КорректорЛ.ПатайРедактор Е.ПаппЗаказ 6964/46 Тираж 772 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4