G01R 31/3181 — функциональные испытания

Выходное устройство для систем функционального контроля

Загрузка...

Номер патента: 444138

Опубликовано: 25.09.1974

Авторы: Андрюшин, Зотов, Морозов, Трофимов, Холодков

МПК: G01R 31/3181

Метки: выходное, систем, функционального

...с ними диодов падение напряжения в режиме контроля на шине питаниялампочек не равняется нулю, что снижаетнадежность устройства,Предлагаемое. устройствфункционального контроля 1 звестного тем, что оно содержит последовательно соединенные электромагнитное реле и конденсатор, подключенные к дросселю, причем замыкающий контакт электро магнитного реле подключен к одному извыводов обмотки дросселя и положительно5 му полюсу истОчника питания,Это позволяет повысить надежностьработы устройства.На чертеже приведена принципиальнаясхема предлагаемого устройства.10 Входное устройство содержит дроссель1, конденсатор 2, электромагнитное реле3, лампочки накаливания 4, разделительные диоды 5 резисторы 6 и 7, диодысборки 8, конденсатор 9,...

Устройство функционального контроля системы автоматизированного управления

Загрузка...

Номер патента: 470795

Опубликовано: 15.05.1975

Авторы: Бобров, Киселев, Смородинов, Фишман, Штавассер

МПК: G01R 31/3181, G05B 23/02

Метки: автоматизированного, системы, функционального

...19. Выход 56 элемента И 36 и выход 57 элементы Запрет 47 соединены соответственно со входами 58 и 59 элемента ИЛИ 42, выход 60 которого подключен ко входу 61 блока логики 11. Выход 62 блока 11 через цепочку 15, 20, 30, 25, И 37, Запрет 48, ИЛИ 43 связан с табло (лампой) Л, индикации окончания программы блока логики 11, входом 63 блока логики 12, выполняющего следующую группу функционально связанных с ним операций, и выходом 64 логической схемы И 41 формирования сигнала Система исправна.Принцип работы устройства заключается в следующем.В положении работа переключателя 3, что соответствует подготовке к работе системы автоматизированного управления по прямому назначению, н прп замыкании контактов командоаппарата 10 рабочее...

Устройство для функционально-параметрического контроля логических элементов

Загрузка...

Номер патента: 1140065

Опубликовано: 15.02.1985

Автор: Поутанен

МПК: G01R 31/3181

Метки: логических, функционально-параметрического, элементов

...23, элемент 24 "ИЛИ" и контролируемый логический элемент 25.Устройство работает следующим образом.Перед началом работы с помощью элементов коммутации, например перемычек на сменном коммутаторе 7 и кнопочных переключателей, входящих в блок 13, задаются необходимые дляконтроля данного типа логических элементов соединения блоков устройства, эталонная сигнатура, поступающая на вторые информационные входы анализатора 9, и граничное значение задержки распространения сигнала, ГСовместимые входы контролируемого логического, элемента 25 подключаются на коммутаторе 7 через формирователи 5 непосредственно к выходамс счетчика 3, несовместимые входы (т,е. такая группа входов, на которые, например, недопустимо подавать одновременно нуль), если...

Устройство для контроля больших интегральных схем памяти

Загрузка...

Номер патента: 1179375

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Данилин, Моисеев, Попель, Простаков, Тамонин

МПК: G01R 31/3181, G06F 11/26

Метки: больших, интегральных, памяти, схем

...максимальные значения, которых могут достигать адреса Х и У, в регистры 32 и 33.После команд загрузки в программе следуют управляющие команды, соответствующие поля которых поступают на управляющие входы мультиплексоров 29, 30, 31 и тем самым коммутируют необходимые информационные входы вышеназванных мультиплексоров на вхО- ды соответствующих регистров, информация в которые записывается по тактовомч импульсу.В регистр 28 информация записывается непосредственно из памяти 27, Таким образом, регистр 48 и регистр 46 могут переписывать в себя информацию из соответствующих регистров установки или увеличивать свое содержимое на единицу или сохранять неизменную информацию. В регистр 48 информация записывается из регистра 34 или...

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1337838

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Данилов, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем, функционального, цифровых

...частотой контроля (фиг, 2 а), В блоке 1 . аналоговых компараторон происходит сравнение выходных сигналов микросхемь 1 с логическими уровнями 1 и 0 з ада н аемыми источниками 1 9 и 2 О опорных напряжений , Н а управляющий вход 1 6 и , следов атель но , н а первый вход триггера 7 поступает сигнал эталонной и цфо рма цни ( фи г, 2 г ) , ц а управляющий вход 1 7 постоянно поступает сигнал разрешения контроля , упр анляюший р а- ботой выходного триггера 6 , Н а управляющийй вход 2 3 подается сигнал уп р анле ния работой второго комму т а т ор а 2 2 , Этот сигнал управляет р аб о т ой второг о блока к омму т а тор а 2 2 таким о б р аз ом , что ц а е г о выход проходит строб- импульс либо непосредственно с входной клеммы 1 5 ( Фиг . 2 д ,...

Устройство функционального контроля логических блоков

Загрузка...

Номер патента: 1377784

Опубликовано: 28.02.1988

Автор: Козелов

МПК: G01R 31/3181

Метки: блоков, логических, функционального

...ИЛИ 20, поступаетна управляющий вход регистра кода откликов,блокируяизменение информациив последнем. Сигнал с выхода триггера19, установленного импульсом с дискриминатора в единичное состояние,обеспечивает сохранение блокирующ. госигнала на выходе элемента ИЛИ 20 до45момента выдачи второго слова стимулирующего кода, когда названный триггер будет сброшен в "О" (фиг,2 э) .С приходом фронта тактового импульса генератора блок 2 управлениявырабатывает импульс записи кода откликов, поступающий на управляющийвход запоминающего блока 11 (фиг,2 и),Информация об откликах, включая непредусмотренные, асинхронным способом зафиксированная в регистре 9,заносится в память, причем по томуже адресу, по которому в запоминающем блоке 3 хранится...

Устройство для контроля цифровых узлов

Загрузка...

Номер патента: 1377786

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Лазарчук, Ткаченко

МПК: G01R 31/3181

Метки: узлов, цифровых

...приемопередатчиков эаписыва 5ются в эталонный блок 2 и контролируемый узел, а в цикле считыванияданные из эталонного 2 блока черезприемопередатчики 7.Я+1 и 8,Я+1 поступают через связующий канал 11 вмикроЭВМ, а также через первые приемопередатчики 7,1-7.Я на первыевходы элементов 4,1-4.Я сравнения.В это же время данные из Я контролируемых узлов через приемопередатчики 8.1-8.Я поступают на вторые входы элементов 4.1-4,Я сравнения ипроисходит сравнение сигналов попарно. Если данные, считанные из эталон.ного блока 2 и контролируемых цифровых узлов, совпали, то на выходахЯ элементов 4.1-4,Я сравнения появляются логические единицы, которыепоступают на входы элементов И 5.15,Я, на выходе которых появляетсятакже логическая единица,...

Устройство для автоматического контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1401418

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Белогуб, Бровко, Номировский

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем

...измерительный резистор 5 при этом протекает суммарный ток, равный сумме токов утечки в измерительной линии, коммутаторе 6, цепях обратной связи, повторителе 4 и входного тока объекта 13 контроля, Падение напряжения на измерительном резисторе 5, пропорциональное сумме этих токов, выделяется сумматором 10. При этом на 10 первый вход сумматора 10 поступает напряжение с выхода повторителя 4 через инвертор 9, выполненный на базе усилителя 32 с единичным коэффициентом усиления, определяемым резистора ми 33 и 34На второй вход сумматора 10 поступает напряжение с выхода программируемого источника 3 напряжений, Коэффициент передачи сумматора 10 определяется резистором 36 обратной связи. Выделенное напряжение с выхода сумматора 10 поступает на...

Способ контроля качества мдп интегральных схем с тестовыми транзисторами

Загрузка...

Номер патента: 1408393

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Латышев, Лисовский, Ломако

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, качества, мдп, схем, тестовыми, транзисторами

...без ошибок. При этих же лозах измеряют значения пороговых напряжений тестовых и- и р-канальных транзисторов. Циклы облучения - измерения параметров проводят до тех пор, пока це будет достИГНУто ЭНДЧЕНИЕ Я = Со. ЗДВИСИМОСтИ Г и П от лозы облучения (Р) испольгрЗУются Д 5151 пос ГРО ения ФУцк дни Го (11 с ) которая позволяет оценить качество схемотехпичес 1 со 1 о п 11 ое 1 стд. Нд фиг, 1-3 приведецы графики, логясцяющие предлагаемый способ.На фиг.1 показаны зависимости пороговых напряжений тестовых р-канальных транзисторов от дозы облучениядля схем 1 и 11. Указаны точки перехода линейной зависимости 1), (Р) кнелинейной, которые в нашем случаесоответствуют дозе = 10 Р. Видно,что изменение Б,р (Р) для схемы 11вьш 1 е, чем для схемы 1....

Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Загрузка...

Номер патента: 1420558

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Воинов, Кругликов, Ледовской

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, микросхем, нестабильных, отбраковки, потенциально, цифровых

...однократное интегрирование в течение промежутка времени, длительность которого определяется видом контроля. Так, для проведения интегральной диагностики микросхемы устанавливается время интегрирования, равное времени действия заданной тек стовой последовательности, а для обнаружения неисправной цепи минимально устанавливаемое время интегрирования равно сумме времени действия одного входного воздействия и длительности переходного процесса выключения элементов микросхемы.Кроме того, производить контроль надежности микросхем можно параллельно с функциональным контролем, что уменьшает количество необходимых операций и повышает оперативность способа.25 На чертеже представлена схема устройства для реализации предлагаемого...

Устройство для функционального контроля цифровых интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1430915

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Данилов, Лобанов, Пункевич

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем, функционального, цифровых

...9задержки - на микросхемах серии 500(например 500 ЛП 116), элемент И-НЕ 26 -на микросхеме 500 ЛМ 105.Устройство при контроле ИС по одному выводу работает следующим образом.На входную клемму 14 устройства поступает выходной сигнал с испытуемойИС с заданной частотой контроля(фиг,2 а). В блоке 1 аналоговых компараторов выходные сигналы ИС сравниваются с уровнями "1" и "0", задаваемыми источниками 19 и 20 опорных напряжений. На входную клемму 16 и,следовательно, на первый вход триггера21 поступает сигнал эталонной информа 1430915ции (фиг. 2 б), на входную клемму 17 (первый вход триггера 22) постоянно поступает сигнал разрешения контроля, разрешающий работу выходного тригге 5 ра 6. По достижении контролируемым сигналом уровня "0" (фиг.2 а,...

Устройство для функционального контроля цифровых узлов

Загрузка...

Номер патента: 1465836

Опубликовано: 15.03.1989

Автор: Химич

МПК: G01R 31/3181

Метки: узлов, функционального, цифровых

...и сохраняет весь массив логическихсостояний входов и выходов БИС или 1 КУза цикл обмена, что дает возможностьрегистрировать ошибку по обобщенномусигналу, а производить ее анализ нетолько по соотнетствующему отклику,но и по его "предистории". Буфер 10маски обеспечивает возможность снятия контроля на любом канале ЦУ ина любой период, что необходимо,когда инФормация неопределенна иликонтролируется не по хранимой характеристике.Устройство работает следующимобразом,Из накопителя 2 при помощи ЭВМ 1,блока 3 управления и блока 4 управления памятью производится заполнение блока 6 памяти циклограмм и блока 7 памяти команд информацией, описывающей цикл временных соотношенийсигалов ЦУ, а олока 5 памяти наборов - значениями логических уровнейна...

Устройство контроля интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 1479899

Опубликовано: 15.05.1989

Автор: Гаврилов

МПК: G01R 31/28, G01R 31/3181

Метки: интегральных, схем

...19образуется остаток от деления двухполиномов, Один полином - это входнаяинформация на полусумматоре 18, а второй определяется наличием связей с выходов соответствующих разрядов сдвигающего регистра 19 на входы полусумматора 18. После окончания определения наличия контактов с выводами объекта 15 контроля происходит определение его выходов, В этом случае отличие входа от выхода определяется путем подачи тока противоположного по знаку к предыдущей проверке, В отличие от первой проверки при второй проверке ток протекает через выходной буфер объекта 15 контроля, а через входной буфер ток практически не проходит (сопротивление входа по сравнению с выходом больше во много раз). Отсюда перекапряжение на измерительном входе измерителя 7...