Архив за 1990 год

Страница 636

Устройство для измерения размера и скорости частиц двухфазного потока

Загрузка...

Номер патента: 1562776

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Душкин, Коломенцев

МПК: G01N 15/02

Метки: двухфазного, потока, размера, скорости, частиц

...попарно в смотровыхтрубах 3 перпендикулярно оси смотровых труб 3.Устройство работает следующим ааяйв образом.Перед проведением измерения регулируют расстояние между торцами винтов 5 на выбранный диапазон измерения так, чтобы ширина просвета была1562776 Составитель М. РогачевТехред Л,Олийнык Корректор Т, Малец Редактор Н. Лазаренко Тираж ч 98 Заказ 1058 Подписное ВН 1 П 1 ПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, И, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101 больше предполагаемого размера час." тиц, но не более чем в 10 раз, При размере меньшем размера частиц, не определяется их скорость по длительности прямоугольного импульса затене...

Способ определения дисперсности

Загрузка...

Номер патента: 1562777

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Зибзибадзе, Квашали, Фарбер, Хачатурян, Церуашвили

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсности

...раствора; р - плотность рас" пыляемого раствора; и - число капель; осевших на улавливающую поверхностьпри распылении. ных капель на предварительно взвешенную пластинку (вес Р, из твердого) материала, Подсчитывают количество (и) осевших на пластинку капель и далее пластинку с этими каплями помеща-. ют в осушающую среду, где ее выдерживают до колкого испарения исследуемой жидкости, после чего пластинку вновь взвешивают (вес Р), Взвешивание производят в среде, влажность: которой киже относительной влажности насыщенного раствора добавляемой в исследуемую жидкость соли. Полученные таким образом данные вводят врасчетную Формулу15 б 2777 Р- Рй = 5,7602Суп- средний диаметр капель; - масса. пластинки до распыления;- масса покрытой каплями...

Автоматический анализатор фракционного состава сыпучих и волокнистых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1562778

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Костенко, Смирнов

МПК: G01N 15/02

Метки: автоматический, анализатор, волокнистых, состава, сыпучих, фракционного

...посредством цепной передачи 15 с исполнительным механизмом 14, вступает во взаимодействие снизу вверх по криволинейной траектории с ведомым элементом, например шестерней 12, жестко закрепленным на оси 7 поворота комплекта сит 9, вследствие чего осуществляется поворот комплекта сит 9 на 90 . Одновременноос поворотом комплекта сит 9 ползун 21, который также связан с исполнительным механизмом 14, перемещается по направляющей 20 в крайнее левое положение (фиг.2).При повороте на 90 комплект сит 9 стопорится фиксатором 8, шток 18 толкателя 19 воздействует на рычаг 16 сверху вниз и взаимодействие ведущего 13 и ведомого 12 элементов, например шестерен, прекращается. По достижении ползуном 21крайнего левого положения исполни-.тельный...

Способ определения степени измельчения негидролизующихся материалов

Загрузка...

Номер патента: 1562779

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Кузнецов, Липсон, Саков, Симаков, Топоров, Феденюк

МПК: G01N 15/02

Метки: измельчения, негидролизующихся, степени

...в табл,2,Таблица 2 3 3,5 4 8,31 8,65 8,86 9,21 рН Т аблица 1 6 10 1440 8 дм /г 6,82 7,21 7,54 7,91 П р и м е,р 2. Процессу диспергирования на лабораторной мельнице. подвергают природные монокристаллы кальцита, Так же, как в примере 1, проводят измерения удельной поверхСоставитель М. Рогачев Редактор Н. Лазаренко Техред Л.Олийнык Корркктор Т. ПалийТираж 502 Подписное Заказ 1058 ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 островков лития. Часть лития под дейст- вием электронных потоков, возникающихв трещине при разрушении частиц порош- ка, переходит из ионного в атомарное состояние. Реагируя с...

Устройство для определения концентрации пыли

Загрузка...

Номер патента: 1562780

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Галициян, Мовчан, Мысак, Рогожин

МПК: G01N 15/02

Метки: концентрации, пыли

...элемента 7 задатчик 7), а выход - с первым входомблока 8 деления, второй вход которого соединен с выходом счетчика 9 об дщего расхода газаВыход блока 12деления соединен с первым входом запоминающего устройства 10, с входомизмерительного прибора 11, второйвыход которого соединен с первым клапаном 13, установленным на линии подачи пробы, третий выход,- с вторымклапаном 11, установленным на линиислива подачи раствора, а четвертыйвыход - с третьим клапаном 15, уста 35новленным на линии подачи растворителя, в качестве которого может использоваться вода.Устройство работает следующим об.разом.40В исходном положении в запоминаю щем устройстве хранится и выдается наизмерительный прибор среднее значениеконцентрации пыли за предыдущий...

Автоматический гранулометр сыпучих материалов

Загрузка...

Номер патента: 1562781

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Беркут, Гревнин, Кобзев, Лукьяненко, Силаев, Федько, Хечанов

МПК: G01N 15/02

Метки: автоматический, гранулометр, сыпучих

...первой программы формируется сигнал меньше или62781 Формула 50 55 5 15 равный нулю, цто означает опорожнение весоизмерительного буйкера-питателя 1, то этот сигнал по команде с блока 16 управления проходя через ключ 20, дает команду разрешения на выполнение второй программы блоком 16 управления.По этой программе блок 16 управления подает сигнал на одновременное включение вибраторов 8 и 10. Под действием вибрации происходит транспор" тировка оставшегося материала в грохот 9, где он рассеивается на три фракции: крупную, среднюю и мелкую, После двухминутной работы вибраторов 8 и 10 по команде с Ьлока 16 управления происходит их выключение. Проба исследуемого материала высушена, полностью просеяна и находится в соответствующих Ьункерах:...

Устройство контроля модуля размола зерна

Загрузка...

Номер патента: 1562782

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Лавринченко

МПК: G01N 15/02

Метки: зерна, модуля, размола

...больше й, т.е. с размерами ад и больше д. На остальные грани 5-7 воздействуют частицы размерами больше Ъ, больше с, больше д соответственно с силами, про: порциональными количеству этих цастиц.Каждая грань чувствительного элемента под действием приложенной к ней силы стремится повернуть ось 8 на угол, характеризуемый величиной силы воздействия .В, динамическом режиме под воздей" ствием отклонения цувс 1"вительногоэлемента 1 ось 8 изменяет расположение датчика угла, отклоняя его от горизонтального положения, капля ртути13 занимает при этом положение, однозначно связанное с углом главногомоме нта поворота пира миды, т, е. в ка 50кую бы сторону не отклонялась вершина чувствительного элемента, в том женаправлении будет находиться...

Устройство для седиментационного анализа

Загрузка...

Номер патента: 1562783

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Болотов

МПК: G01N 15/04

Метки: анализа, седиментационного

...к устройству ф посредством разъемов 8. Он включаетв себя генератор 9 синхроимпульсов,генератор 10 видеосигналов, усилитель 11 и индикатор 12, в качестве которого может служить осциллограф, например С 1-55, или потенциометр, например КСИ.1562783 Устройство работает следующим образом.Генератор синхроимпульсов 9 выдает сигнал на генератор 1 О и одновременно запускает временную развертКу осциллографа 12, Электрический сигнал с генератора 10 преобразуется пьезоиэлучателем 4 в ультразвуковой сигнал, который распространяется в звукопроводе 3 и поворачивается с Помощью внешней преломляющей граниоЗвукопровода на 90 и направляется Перпендикулярно направлению движения Частиц дисперсной фазы. Пройдя контролируемую среду,. ультразвуковой луч...

Устройство для исследования процесса заполнения пор

Загрузка...

Номер патента: 1562784

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Наумов, Сурков, Трофимова, Чинарев

МПК: G01N 15/08

Метки: заполнения, исследования, пор, процесса

...13, первую ос вилку 15, второй переходный цили 16, упругий элемент 17, вал 18, вый подшипник 19, первую обойму вторую ось 21, второй подшипник вторую обойму 23, шарнир 24, ра весы 25, первый 26 и второй 27 фдатчики, переменные резисторы 28, ис. точник 29 питания, самописец 30, коромысло 31. На чертеже показаны исследуемый образец 32, а также световой пучок 33.Устройство, работает следующим образом,Исследуемый образец 32 предварительно пропитывают импрегнатом, за тем его быстро переносят в сосуд 2 с ,иммерсионной жидкостью 3 и устанавливают,на первой чашке 4. На вторую чашку 5 помещают разновесы 25. Уравновешивают коромысло 31 и переменными 15 резисторами 28 балансируют мостовую схему, в которую включены первый 26 и второй 27 фотодатчики...

Способ оценки максимальных размеров пор диэлектрических пленок на полупроводниках электронной проводимости

Загрузка...

Номер патента: 1562785

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Грицай, Лещенко

МПК: G01N 15/08

Метки: диэлектрических, максимальных, оценки, пленок, полупроводниках, пор, проводимости, размеров, электронной

...диаметра,. Способ специфичен для полупроводников электронной проводимости, так какв отличие от полупроводников дырочной проводимости полупроводник награнице с окислом обогащается основными носителями и внешнее напряжениеоказывается приложенным к двойному35 слою,Формула 40 Заряд Дд связан с площадью 8:яВ+Я(Б)5 О где В - коэффициент пропорциональности,Период импульсов осцилляцвв при 55неизменной постоянной времени зарядаемкости С , 1= (К. + К) С опредепоры С " - емкость двойного слояф двэлектролита на дне поры; С 8 - емкость двойного слоя электролита на границе с беспористым диэлектриком; К - добавочное сопротивление диэлектРрика на дне поры, обусловленное хвос-. том плотности локализованных состояний; К - ключ, включающий...

Способ измерения распределения пор по радиусам и по капиллярным давлениям в пористом образце

Загрузка...

Номер патента: 1562786

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Вольфкович, Казаринов, Мазин, Сосенкин

МПК: G01N 15/08

Метки: давлениям, капиллярным, образце, пор, пористом, радиусам, распределения

...эталонных образца диаметром 20 мм и толщиной 1 мм изготавливают из анионообменной смолы АВ(75 мас.Ф) и порошка полиэтилена (25 мас.3) в качестве связующего путем горячего прессования при давлении 5 ИПа и температуре 90 С, Адсорбционную таблетку диаметром 20 мм и толщиной 20 мм изготавливают из порошка цеолита ИаХ путем прессования при давлении 150 ИПа, Перед прессова" нием таблеток - эталонных образцов и цеолита в каждой из них помещают с торцевых сторон подве никелевые сет. ки с токоотводами. Перед началом измерений исследуемый и эталонные образцы сушат под вакуумом, взвешивают, а затем пропитывают под вакуумом этиловым спиртом. После этого снова взвешивают и приводят в контакт между собой в прижимном устройстве, корпус которого...

Установка для определения времени капиллярного всасывания

Загрузка...

Номер патента: 1562787

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Грачев, Овечкин

МПК: G01N 15/08

Метки: времени, всасывания, капиллярного

...замыкает их при этом включается вход "Пуск" тайиерапоследний начинает отсчитывать время капиллярного всасывания воды фильтровальной бумагой 1. Далее пятно, увеличиваясь подходит к какой- нибудь части кольца 5, при этом происходит включение логических элементов б и 7. Элеиент И б выдает команду "Стоп" отсчету времени на таймере 4 и одновременно команду "Пуск" второму таймеру 8. Таймер 4 останавливается и на табло высвечивается время капиллярного всасывания, Таймер 8 начинает отсчет дополнительного времени и останавливается только после того, как пятно влаги распространится в фильтровальной бумага 1 и заикнет последнюю часть контактного кольца 5, При этом логический элемент 7 дает сигналСтоп" таймеру 8. На табло останавливается...

Способ определения адсорбционных характеристик

Загрузка...

Номер патента: 1562788

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Аранович, Кепке, Охотников

МПК: G01N 15/08

Метки: адсорбционных, характеристик

...нулированного кремнеземе (Б=10 мф/г) проводилось по опйсанной методике Т77,8 К на газометре в два измерения: первое в диапазоне Р/Р от 0,05 до 0,3, второе " от 0,4 25 до 0,8, т.е. при содержании азота в гелии 5-30 и 40-80 об.л, в частности 15 и 60 об.4Таким образом, определялись вели" чины а, и а при данных хл = Р,/Р 30 и хР/Р. Затем по соотношениям находилось. значение а . Площадка, за" нимаемая молекулой азота в плотном монослое, принималась стандартной 16,2 А. Стандартный калибровочный сиг-З 5 нал получался при доэировании известного количества азота в адсорбер с материалом, имеющим температуру жидкого азота.В табл. 1 приведены данные по пог решности и воспроизводимости измерения количества .адсорбированного азота и удельной...

Способ определения силы трения материалов

Загрузка...

Номер патента: 1562789

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Виноградов, Кошкин, Овчинников

МПК: G01N 19/02

Метки: силы, трения

...р и м е р . Изготавливают элеМент из пористого нежесткого материала кубической формы размерамиВОф 80 ф 80 мм, который приклеивают к Жесткой плите клеем. С противоположной части элемент пропитывают машинным маслом. Полиэтиленовой пленкой Свободно накрывают слой песка (создают подложку) . Относительное переме 1 цение элементов осуществляют с постоянной скоростью при одновременном нагружении усилием 25600 Н. По величине смятия образцов о подложку устанавливают, что сила трения элемента,и ттитеЫтиитетиее тит еет аказ 1059 Тираж 488 ИИПИ Государственного комитета по из113035, Иосква, Ж,пропитанного машинным маслом, на порядок меньше силы трения непропитанного элемента. Способ определения силы трения материалов, заключающийся в...

Способ оценки качества кристаллов кварца

Загрузка...

Номер патента: 1562790

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Погребняк

МПК: G01N 21/35

Метки: качества, кварца, кристаллов, оценки

...коэффициентов поглощения, определяемая по фмуле1 Д т 00) 6 - пропускание дляволновых чисел 38 и 3196 смсоответственно;- толщина образца в2. Для определения тойкости образца его апись спектра проводя 1. Затем определяют. 1 к 1 звоо - 1 я Т,396т тетегде То и Т,6 - пропускание дляволновых чисел 3800 и 3196 см соответственно,- толщина образца, см.тете тт етт тт/ Коэффициент поглощения для пирамиды роста (1120 е) Величина добротности для пьезоэлементов, изготовленных из ма,териала пирамиды (0001) на частоте1 МГц до облучения после облучения т3385 см 3196 см3385 см3196 сме 0,677 0,537 0,408 0,259 0,250 2,7 103,6 10 4,7 10 7,0 10 7,3., 10 0,745 0,657 0,523 0,275 0,328 0,155 0,444 0,290 0,152 0 327 0,137 0,33 0,276 0,130 0,230...

Способ измерения показателя преломления оптически неоднородных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1562791

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Арутюнян, Галоян, Глебов, Евстропьев, Никоноров

МПК: G01N 21/43

Метки: неоднородных, оптически, показателя, преломления

...0,6328 мкм получают значения обыкновенного показателя преломления по = 2,2888 и необыкновенного показателя преломления п = 2,201.Способ определения показателя преломления прост и заключается в измерении резонансных углов возбуждения калиброванного волновода и вычислении неизвестного показателя преломления по формуле (4). В отличие от гониометрического способа, где угловые измерения проводятся с помощью наблюдения совпадения изображения щели с нитью окулярного креста, в способе использование волноводной техники позволяет измерять резонансные углы вол- новодных мод регистрацией интенсивности света с помощью Фотоприемника. Такая техника угловых измерений увеличивает быстродействие исследования дисперсии оптически неоднородных материалов....

Нефелометрический анализатор

Загрузка...

Номер патента: 1562792

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Дараган, Ларченко, Миндюк, Филиппов

МПК: G01N 21/47

Метки: анализатор, нефелометрический

...блоком 9 оЬработки сигнала. Анализатор раЬотает следующимз 1562792 4 оставитель С.ехред М,дидьи ор И. Кучерявая нящаяКор Редактор Н. Лазоренк ж 511 Подписное ета по изобретениям и открытиям а, Ж, Раушская наб., д, 4/5 59 и осударственного ком113035, Иос аказ НИИП НТ СССР здательский комбинат "Патент", г.ужгород,Производстве гарина, 101 Часть светового потока, рассеянного на частицах, регистрируется фотоприемником 2, Электрический сигнал фотоприемника 2, который затем обрабатывается блоком 9, пропорционален концентрации пыли в зоне 8 анализа.Светоловушка 3 совместно с установленным в ней имитатором служит для снижения фоновых засветок, попадающих 1 р на фотоприемник 2., Для периодического контроля градуировки прибора с помощью механизма...

Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения

Загрузка...

Номер патента: 1562793

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Куимов, Лагутин, Левандовская, Малый

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения

...ч вводится в5поток излучения, При этом поток из,лучения, пройдя через светоделитель,поступает на приемник 10, и полученный отсчет А оказывается пропорцио"нальным коэффициенту пропускания это.гр светоделителяА, = ф(1 -Рс).,где- коэффициент зеркального отражения светоделителя, причем предполагается, чтоср + сгде г, -, коэффициент пропускания светоделителя.На третьем этапе зеркало 7 посредством механизма 9 вводится в потокизлучения, отразившись от светоделителя 3 и плоских зеркал 5-7, поступает на приемник 10 излучения. Полученный при этом отсчет А з пропорцио" 25нален пропусканию опорного каналаАэ Ф сдРюМт эгде , 6,ят - коэффициенты зеркаль 1ного отражения зеркал 5, б и 7 соответственно.На четвертом этапе устанавливается исследуемый...

Устройство для измерения коэффициента отражения поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1562794

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Колосанов, Марков

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, отражения, поверхностей

...приэтом свет эффективно рассеивается ичерез прорези в светонепроницаемыхэкранах 8 и 9 попадает внутрь образцов, Велицины световых потоков ЙР иЫ с участков прорези 61 вблизи торцов со стороны истоцника излученияи на расстоянии 1 от этих торцов связаны с величинами световых потоковГ входящих в торцы, и Р, прошедших расстояние 1 вдоль световодов,соотношениями- линейный коэффициент ослабления излучения в ма 5териале световодов;ДБ 6 Б- площади окон прорези вблизи торцов световодов состороны источника излучения и на расстоянии 1 отэтого торца соответственно,Из этих соотношений следует, что в предположении неизменности величины светового потока, выходящего внутрь образцов, по длине световодов имеет место равенство где К ДБе ДБю где Н, и Н...

Способ определения кислорода в газах

Загрузка...

Номер патента: 1562795

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Брюханов, Ибраев, Кецле, Лауринас, Мулдахметов, Регир, Рунов

МПК: G01N 21/64

Метки: газах, кислорода

...раствора эозина с концентра 1 ией, изменяющейся в диапазоне5;10 - 5 -.10 М. Далее поступают,как описано в примере 1, получая сорбенты с содержанием красителя в диапазоне 2,5-10 - 2 10 Мг (поскольку при концентрациях эозина,больших 2 10М, сорбция не количественна,. содержание красителя в фазеО сорбента находят по изменению оптической плотности исходного растворапосле сорбции),Отношение интенсивностей замедленной,флуоресценции эозина, сорбирован ного на кремнеземе, содержащем химически привитые молекулы триметилпропиламмоний хлорида, при концентрацияхкислорода 440 и 0,17 мкг/л (Ь) приведено в таблице.о Содержание эозина, Мг 2,5 10 5 10 5 10 1,5 10 2 10 Ь . 80 140 540 150 50 Значение Ь в известном способе рав 55 но 90,П р и м е р...

Способ определения вращательной температуры молекулярного газа

Загрузка...

Номер патента: 1562796

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Александров, Бородин, Журавлев, Позубенков

МПК: G01N 21/64

Метки: вращательной, газа, молекулярного, температуры

...Ту,у ) почти прямолиней- .на, что очень удобно для измерения,На фиг. 3 показана зависимость относительной ошибки АТ/Т от температуры. Иэ Фиг . 3 видно, что данный способ определения температуры особенноудобен и точен для диапазона высокихтемператур 10000 : 20000 К, где относительная ошибка менее 53.Данный способ поост в поимечениии позволяет определять температуры вдиапазоне до 20000 К, что весьма важно при исследовании мощнь,:х дуговыхплазмотронов, ВЧ-плазмотронсв и других плазменных устройств,П о и м е р . Способ применяютпри исследовании дуги выс 1.,;ого давления в плазмотроне переменного тока.В измерительное устройство входят монохроматор с дифракционной решеткой,ФЭУ и самописец, На фиг, 1 приведеназапись части...

Способ определения мезатона

Загрузка...

Номер патента: 1562797

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Будько, Хабаров

МПК: G01N 21/64

Метки: мезатона

...подобно пробе анализируемого раство" ра, Концентра ция вещества определяет О ся по калибровочному графику. Предла" гаемый способ позволяет определять ,до 0,1 мкг/мл.П р и м е р 2. Воздух с объемным расходом 10 л/мин аспирируют через фильтр АФАВП .10 в течение 15 мин.Фильтр с отобранной .пробой помещают в химический стакан, прибавляют 5 мл изопропилового спирта и извлекают мезатон. 20К 1 мл отобранной пробы прибавляют 1 мл 703"ной гидроокиси калия и О, 1 мл хлороформа,. Раствор кипятят 15 с на спиртовке через 13 мин объем доводят до 10 мл смесью, состоя.25 щей из ЛИФА (80"903) и 103,-ного рас" твора аммиака (20"103), и измеряют интенсивность флуоресценции при длит. не волны флуоресценции 460470 нм, . 703-наяКОН 6 7 8 9 10 11 12 13 40...

Устройство для локального лазерного спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 1562798

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, лазерного, локального, спектрального

...возрастает в 3-5 раз при испарении одного и того же количества исследуемого вещества по срав-нению с известным способом (прототип) возЬуждения спектра при локально-ла" зерном спектральном анализе. Устройство позволяет осуществить загорание двух высоковольтных разрядов в момент поступления исследуемого, вещества в их межэлектродные промежутки, повысить коэффициент использования исследуемого вещества, увеличить время пребывания атомов определяемых элементов в зоне возбуждения, т.е, повысить чувствительность локаль. но-лазерного анализа.Увеличение размеров высокотемпературной зоны способствует не только повышению чувствительности анализа, но и повышает точность анализа, как за счет снижения нижней границы определяемых содержаний, так и за...

Способ анализа высокочистых алкильных соединений металлов п группы

Загрузка...

Номер патента: 1562799

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Гордеев, Гришнова, Моисеев, Салганский, Шишов

МПК: G01N 21/67

Метки: алкильных, анализа, высокочистых, группы, металлов, соединений

...охлаждения. Углеводороды через патрубок 11 удалялись из зоны реакции. Поскольку упру."5 1562799 6 гость пара примесных металлов значи- вестным, следует, что содержа ние алютегьно ниже, чем у цинка, они кон- миния и магния, определяемых предла-". центрировались на графитовом коллек- гаемым способом, в 1 О раз превышает торе 12. После отгонки через деструк- концентрацию тех же примесей, опретор-концентратор 1 г диэтилцинка кон деленных известным способом. Анализ центраты примесей из ампул 1 и 4, по- известным способом дает заниженные лученные в результате двухстадийно- результаты по содержанию примесей го концентрирования, извлекали и ана- алюминия и магния в образце диметиллизировали атомно-эмиссионным мето" кадмия. Пределы обнаружения...

Способ изготовления чувствительного элемента

Загрузка...

Номер патента: 1562800

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Герасименко, Мосенкис, Остапишин, Пилипчук

МПК: G01N 21/76

Метки: чувствительного, элемента

...пористого слоя оксида металлоида и соединения обоих слоев (слоя, поверхность которого покрыта люминофором20и второго слоя), и уменьшение шлифованием толщины второго слоя до величины, при которой выходной сигнал элемента не зависит от влагосодержанияанализируемого газа, обеспечивает новое свойство чувствительного элемента - независимость его чувствительности от влажности анализируемого газа беэ ухудшения динамических свойствэлемента,Соединение двух слоев выполняется,30например, склеиванием прозрачным клеем. В случае выполнения пористогослоя из селикагеля в качестве проз-.рачного клея может использоваться силикатный клей или поливиниловыйспирт..Чувствительный элемент работаетследующим образом.Возбуждающее излучение, частичнопоглащаясь в...

Устройство для исследования биологической среды

Загрузка...

Номер патента: 1562801

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бутенко, Дядюк, Искин, Черкашина

МПК: G01N 22/00

Метки: биологической, исследования, среды

...стержне 3 бегущую волну на частоте Г которая,распространяясь вдоль стержня 3, по"падает в измеритель 2 мощности. Приэтом генератор 6 Фотонного излученияравномерно засвецивает слой 5 фотополупроводника, обеспечивая тем са"мым малые потери мощности в диэлектрическом стержне 3 из-эа высокойпроводимости слоя 5, которая вызвана засветкой слоя 5 фотонным иэлучнием от генератора 6. Проводимостьслоя 5 растет за счет повышения концентрации носителей в полупроводнике при увеличении интенсивности Фотонного излучения, причем небольшаячасть мощности, доли процента, проникает через слой 5 в биологическуюсреду 1, обеспечивая ее облучение.Если частота 1 не является биологически активной частотой, т.е. невлияет на свойства, в том числе...

Способ рентгенотелевизионного контроля автомобильных шин

Загрузка...

Номер патента: 1562802

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Жданов, Сельченков, Твердохлебов, Токарев

МПК: G01N 23/04

Метки: автомобильных, рентгенотелевизионного, шин

...и при ее установке на опорномдиске возможны некоторый разбросПоложения элементов структуры и ихразмеров, а также вибрации шины приее вращении, изображение стандартноцшины обрабатывают в телевизионномтракте ВКУ таким образом, чтобы онобыло расАокусированным ("размытым")в пределах поля допуска. О2 О25 выбранного элемента структуры шины,например, рисунка протектора, Принеобходимости стробоскопическоеиэображение центрируется по меткамна телевизионном экране ВКУ, послечего с блока Я хранения на второйвход ВКУ подается электрическийсигнал, несущий инАормацию об изобраении стандартной шины, выполненнойв обратном контрасте, В этом случае позитивному иэображению элементов структуры контролируемой шинысоответствует негативное...

Способ рентгеноструктурного анализа тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 1562803

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Алавердова, Бабенко, Дудкин, Коваль, Михайлов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, пленок, рентгеноструктурного, тонких

...гониометра, а также угловую ширину пучка в антибрегговском направлении. Затем с помощью щелевой системы Формируют пучок, .имеющий прямоугольную форму сечения, при этом большая сторона прямоугольника параллельна поверхности образца и составляет угол Ы с экваториальной плоскостью,Затем устанавливают в держатель гониометра массивный эталон под углом М к экваториальной плоскости и 40 производят его юстировку, Установив угол падения пучка Ч и произведя серию съемок от эталона при различиой ширине пучка в брегговской плоскости, находят ЬЦ и уста на вли дают угловую ширину пучка в брегговской плоскости для съемок тонкопленочного образца, который затем помещают в держатель, после чего приступают к съемке.П р и м е р. Производится анализ...

Способ рентгеновской топографии кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1562804

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Асланян, Безирганян, Мартиросян, Симонян

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, рентгеновской, топографии

...9 овЫ 9 лАгде 8, и В - углы наклонов левойи боковой поверхностейОА и О+Псоответственно. При одинаковых наклонах боковые поверхности Ь, и Дравны. Этот способ позволяет получить маят" никовые полосы от достаточно толстых клиновидных кристаллов, от которых можно получить и эффект Бормана.Когда в толстых кристаллах (фиг.8) первичная волна падает ближе к боковой поверхности, из верхней части кристалла в направлении отражения выходят ворны с волновыми векторами Ки К ь и образуют маятниковые по"Илосы, а от основания в результате эффекта Боомана выходят волны второФ, Уго поля К и К. На Фиг. 9 привеР 2.дена схема распределения интенсивности в зависимости от расстояния линии падения первичной волны до боковой поверхности призмы, показанной на...

Кювета для рентгеноструктурного анализа жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1562805

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Киселев, Нигметова, Швецов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, жидкостей, кювета, рентгеноструктурного

...возможность герметизации первой полости спомощью прижимного кольца 9 и резино- З 0вого уплотнения 10,Кювету используют следующим образом.При исследовании жидкой ртути полость 2 заполняют (примерно на 903от ее объема) ртутью, закрывают крышкой 4, выполненной из вакуумплотнойбериллиевой пластинки, и герметизируют с помощью уплотнительной прокладки 10 и прижимного кольца 9. Кюветуустанавливают в вертикальном положе- ,нии (т.е так, чтобы облучаемая черезкрышку поверхность ртути лежала ввертикальной плоскости) на предварительно отъюстированный гониометрГУРс помощью отъюстированной приставки ГП. При этом ось гониометраоказывается в плоскости, разделяющейисследуемую жидкость (ртуть) и бериллиевую крышку кюветы.5 ОПри установившейся...