Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1562793
Авторы: Куимов, Лагутин, Левандовская, Малый
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1)5 С 01 И 21/55 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР 3.:БИ ИТЕПЙ 1 Б "ЬЙИ ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ЕТЕЛЬСТВУ ВТОРСКОМУ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЗЕЖЕНИЯ(57) ИзоЬретение отноптического приборосдании приборов для иных значений коэффицного отражения; Цель ЗНЕРЕНИЯ АБСОЛЮКАЛЬНОГО ОТРАк областипри созя абсолют- зеркальтения -,итс роени мерен ентов изобр оптическороению ии соз ании ктурная ИзоЬретение относится кму спектральному приборостможет Ьыть использовано прспектрорефлектометров илидля спектрофотометров, преных для измерения аЬсолютнспектральных коэффициентовго отражения под углом 0при создании фотометрическдля измерения абсолютных ктов зеркального отраженияматериалов под углом 0Целью изобретения являение точности измерений абсэффициентов зеркального отуглом ОНа чертеже изоЬражена ссхема устройства. дустройств дназначенх значений зеркально- а также х приборов оэффициенсследуемых тся повышеолютных коражения под Я 01 562793 2повышение точности измерений абсолного коэффициента зеркального отражения, Для этого в устройстве, соджащем источник излучения, оптическэлементы для формирования опорно-имерительного канала, светоделительтановлен с возможностью поворота но90 для направления излучения на оразец и в опорно-измерительный кани ввода-вывода из потока излучениядва зеркала опорно-измерительногонала расположены с воэможностью одвременного параллельного перемещенвдоль оптической оси в сторону обрца на расстояние, равное расстояниот образца до светоделителя, а трезеркало установлено с возможностьюввода-вывода из потока излучения.1 ил. Устройство состоит из источника 1 СЛ излучения в виде выходной щели моно- Ф хроматора, держателя 2 образца, систе Я мы зеркал, состоящей из светоделите- ф ля 3 в держателе, снабженном механиз-мом 4 поворота и перемещения, трех.(р плоских зеркал 5-7, снабженных механизмами 8 и 9 перемещения и приемника 10 излучения.Устройство работает, следующим образом.Процесс измерения коэффициентазеркального отражения исследуемого 1"ообразца под углом 0 разбивается на четыре этапа.На первом этапе светоделитель 3и плоское зеркало 7 выводятся из потока излуцения и весь поток ф поступает на фотокатод приемника О излучения. Получаем отсчет А, пропорциональный этому потоку А,ф.На втором этапе светоделитель 3посредством механизма ч вводится в5поток излучения, При этом поток из,лучения, пройдя через светоделитель,поступает на приемник 10, и полученный отсчет А оказывается пропорцио"нальным коэффициенту пропускания это.гр светоделителяА, = ф(1 -Рс).,где- коэффициент зеркального отражения светоделителя, причем предполагается, чтоср + сгде г, -, коэффициент пропускания светоделителя.На третьем этапе зеркало 7 посредством механизма 9 вводится в потокизлучения, отразившись от светоделителя 3 и плоских зеркал 5-7, поступает на приемник 10 излучения. Полученный при этом отсчет А з пропорцио" 25нален пропусканию опорного каналаАэ Ф сдРюМт эгде , 6,ят - коэффициенты зеркаль 1ного отражения зеркал 5, б и 7 соответственно.На четвертом этапе устанавливается исследуемый образец 2, а светоделитель 3 поворачивается на 90 , на.правляя поток излучения нормальнона образец. Зеркала 5 и 6 посредствомМеханизма 8 перемещается вдоль оптической оси в сторону образца на расСтояние, равное расстоянию от свето.делителя до образца, для выравниваниядлины оптического пути в измерениях40на третьем и четвертом этапе.Поток, отразившись от образца 2,проходит через светоделитель 3 и, отразившись от зеркал 5-7, поступаетна фотоприемник. Полученный отсчет А45пропорционален значению абсолютногокоэффициента зеркального отраженияисследуемого образцаА 4 ф С( С)5 6 7 Т аким образом,А 1 АФ Аз В результате проведенных операций полученное значение абсолютного коэффициента зеркального отражения исследуемого образца не зависит от разброса значений параметров элементов оптической схемы, ни от их временных измерений, т.е. в данном приспособлении влияние всех оптических элементов на результаты измерения исключе-но.Технико-экономическое преимущест во изобретения заключается в том, что повышается точность измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения под углом 0 за счетополного исключения влияния параметров оптических элементов устройства на результаты измерений.Формула изобретенияУстройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения, содержащее источник излучения, установленные последовательно по ходу излучения систему для формирования опорно-измерительного канала, содержащую светоделитель и зеркала, расположенные под одним и тем же углом к оптической оси и образующие вместе с исследуемым образцом, автоколлимационную систему, и приемник.излучения, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности измерений, светоделитель снабжен механизмом поворота его на 90 и механизмом для ввода-вывода из потока излучения, два зеркала, расположенные за светоделителем, снабжены механизмом одновременного параллельного перемещения вдоЛь оптической оси в сторону образца на расстояние, равное расстоянию от образца до светоделителя, а третье зеркало снабжено механизмом ввода-вывода из потока излучения.1562793 Составитель А. Тереховедактор Н, Лазоренко Техред М,дцдцк Корректо ксимицинец .,дательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул.Гагарина., 1 Производстве Заказ 1059 Тираж 511 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГК 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
4443176, 12.05.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1705
КУИМОВ ОЛЕГ АНАТОЛЬЕВИЧ, ЛАГУТИН ВЛАДИМИР ИГОРЕВИЧ, ЛЕВАНДОВСКАЯ ЛАРИСА ЕВГЕНЬЕВНА, МАЛЫЙ АНАТОЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
Опубликовано: 07.05.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1562793-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-absolyutnykh-koehfficientov-zerkalnogo-otrazheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения</a>
Предыдущий патент: Нефелометрический анализатор
Следующий патент: Устройство для измерения коэффициента отражения поверхностей
Случайный патент: Прокатный вал