Способ оценки качества кристаллов кварца

ООЗ СОВЕТСКИХ ОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 27 01 И 21/ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГННТ СССР АНИЕ ИЗОБРЕТЕН кварцевых резонато изобретения - повы ти, чувствительнос пазона измерений д лов кварца. Кристал ма-оЬлучению дозой и оценку его кацести коэффициенто е, наиболее чув ционному воздейс для контроля, и в б 3800 см. По приве ределяют доЬротност 1 з.п, ф-лы, 1 табл нос лос диа Изобретение относится к определе" нию кацества кристаллов кварца, применяющихся для изготовления кварце-. вых резонаторов и фильтров.Цель изобретения - повышение достоверности, чувствительности и расширения диапазона измерений добротности кристаллов кварца.П р и м е р 1 , Из кристалла кварца изготавливается образец у-сре. за по принятой технологии. После полировки толщина пластины составляет 10 мм, Пластина облуцается-излу 60 цением дозой 2 10 Р от изотопа Со С помощью спетрофотометра записывают спектр поглощения в области волновых чисел 3900-3000 см- для пирамиды роста (1120) .По спектру определяют пропускание для волновых чисел 3800 и 3 196 см рассчитывают разность коэффициентов поглощения и определяют добротность материа формуле где Ч(21) (22) (46) (72) (53) (56) 1) 14А76 (54) ЛОВ (57) 14395535/24-252501.8807.05.90. Бюл, И 17А.П. Погребняк543.422,4(088.8)Авторское свидетельство СССР 2984, кл, С 01 И 21/33, 1987. торское свидетельство СССР 415, кл, С 01 Ь 21/17, 1980. СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА КРИСТАЛВАРЦАИзобретение относится к области еления качества кристаллов кваррименяющихся для изготовления ов и фильтров. Цель ение достоверноси и расширение диабротности кристалл подвергают гамне менее 210 Р ва проводят по разпоглощения в потвительной к ратвию и выбранной азовой полосе денной формуле опь кристаллов. амиды роста (0001) по 10542 0 С +0,0136добротность кварца для пирмиды (0001) на частотеИразность коэффициентов поглощения, определяемая по фмуле1 Д т 00) 6 - пропускание дляволновых чисел 38 и 3196 смсоответственно;- толщина образца в2. Для определения тойкости образца его апись спектра проводя 1. Затем определяют. 1 к 1 звоо - 1 я Т,396т тетегде То и Т,6 - пропускание дляволновых чисел 3800 и 3196 см соответственно,- толщина образца, см.тете тт етт тт/ Коэффициент поглощения для пирамиды роста (1120 е) Величина добротности для пьезоэлементов, изготовленных из ма,териала пирамиды (0001) на частоте1 МГц до облучения после облучения т3385 см 3196 см3385 см3196 сме 0,677 0,537 0,408 0,259 0,250 2,7 103,6 10 4,7 10 7,0 10 7,3., 10 0,745 0,657 0,523 0,275 0,328 0,155 0,444 0,290 0,152 0 327 0,137 0,33 0,276 0,130 0,230 Составитель Е; ПетросянРедактор Н, Лазоренко Техред М.дидык Корректор Т, Малец Ф 4 Заказ 1059 Тираж 508 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская .наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул,Гагарина, 101 разность коэффициентов йоглощения при волновых числах 3800 и 3385 см , Ес" ли разность коэффициентов поглощения меньше 0,3 см , изменение частоты будет не более 1,5, 1 ОГц.В таблице приведены зависимости . коэффициентов поглощения в полосах 3385 и 3196 смдля пирамиды (1120) в образцах различной добротности ч до и после.-облучения дозой 210 Р.Обе полосы 3196 и 3385 см- чувсте вительны к радиационному воздействию, Однакопри оценке добротности нерадиационностойких сортов кварца погло щение в полосе 3385 см- может достигать 100, поэтому для оценки доброт. ности целесообразно выбирать полосу 3196 см 20формула изобретения. 1. СпЬсоб оценки качества кристал;лов кварца в основной пирамиде роста пинакоида (0001), заключающийся в 25 том, что измеряют коэффициент поглощения электромагнитного излучения в кристаллах кварца в неосновной пирамиде роста, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности, чувствительности и расширения диапазона измерений добротности, предварительно кристалл подвергаюттоблучению дозой не менее 2 10" рентген, а оценку качества кристалла производят по разности коэффициентов поглощения К в полосе, наиболее чувствительной к радиационному воздействию, и в базовой полосе 3800 см2. Способ по и. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что измеряют коэффициенты поглощения электромагнитного излучения в пирамиде роста (1120) в полосе 3196 сми в базовой полосе 3800 см , а добротность кварца в основной пирамиде роста для частоты 1 МГц определяют по формуле100,542 о +0,0136 ф