H01J 49/34 — динамические спектрометры

Номер патента: 205362

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Блюмкин, Виноградов, Ивановский, Линник, Меньшиков, Тамаркин, Тибоков, Цицарин

МПК: H01J 49/34

Метки: динамический, масс-спектрометр, панорамный

...напряжений, индуцированных колеблющимися ионами на сигнальном электроде б, При совпадении резонансной частоты приемного тракта с частотой колебаний ионов определенной удельной массы происходит регистрация переменного сигнального напряжения, соответствующего этой массе, Сигналы, индуцируемые при этом другими массами не регистрируются, так как их частоты в каждый фиксированный момент времени лежат вне полосы пропускания приемного тракта, настроенного в этот момент на частоту регистрируемой массы. При изменении резонансной частоты приемного тракта в диапазоне 1,7 - 0,1 лсгц, охватывающем частоты колебаний масс регистрируемого диапазона, происходит последовательный анализ всех масс.Для повышения чувствительности прибора осуществляется...

Номер патента: 205363

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Блюмкик, Линник, Цицарин

МПК: H01J 49/34

Метки: динамический, масс-спектрометр, панорамный

...включенного на вход задающего мультивибратора, выход которого соединен с формиру 1 ощей цепочкой, состоящей иземкостей и сопротивлений, а выход формирующей цспочки через регулирующие потенциометры соединен с параметрическими диодамив резонансном контуре гетеродина, выход которого подклкчсе 1 е фильтр нижних частот,соединенному с усилителем выходного спгнзЛ 11.2, Масс-сГсктрост 1 по и. 1, Отличаюп(ийст 2тем, что между катодом и анодом ионного источника расположен электрод, соединенный свыходом генератора.3, Масс-спектрометр по п, 1, Отличаощийсятем, что сигнальный электрод датчика соединен со входом измерительного тракта черезразделительную емкость,сквозь модулирующий электрод 2 и, в силувыбранного распределения потенциалов,...

Номер патента: 855788

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Базылев, Коротченко

МПК: H01J 49/34

Метки: анализа, диоде, масс, спектра, электровакуумном

...диод3 с катодом 4 и анодом 5, генераторб малого гармонического сигнала низкой частоты, осуществляющий разверткуспектра масс.35При изменении частоты напряжениягенератора б малого гармоническогосигнала изменяется величина среднеготока диода 3, протекающего под действием генератора 2 высокой частоты, 40Измерение тока производится схемой 1измерения среднего тока. По зависимости среднего тока диода от частотымалого гармонического сигнала производится оценка состава атмосферы остаточных газов в диоде. При действиина диодный промежуток высокочастотного гармонического напряжения с амплитудой, достаточной для ионизациигазовых молекул, когда в положительную полуволну напряжения потенциалэлектрического поля н промежутке пропорционален...

Номер патента: 1256107

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Алиев, Исмаилов, Нуриев, Олейников, Сысоев, Татур

МПК: H01J 49/34

Метки: масс-спектрометр

...14. После прохождения плоскости диафграмы, в которой установлены кити 12, пакет практически также не подвергается воздействию краевого по" ля, так как краевое поле проникает 55 внутрь электростатического анализатора только на расстояние, примерно равное расстоянию между нитями в плос 07 2кости окна, а оно выбирается равным1-1,5 мм. Это позволяет уменьшитьрасстояние, на кгтором может влиятькраевой эффект в 10-50 раз, В силутого, что переходная область краевого поля локализована практически впределах толщины диафрагмы 2-4 мм,действие линзового эффекта пренебрежимо мало, так как, с одной стороны,потенциалы вблизи средней окружностианализатора малы по сравнению с ускоряющим потенциалом, а с другой стороны, протяженность краевого...

Номер патента: 1190849

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Манагадзе, Сагдеев

МПК: H01J 49/34

Метки: зонд, космический, масс-спектрометрический

...5.Устройство работает следующим образом (рассматривается пример, когда 35воздействие на исследуемый образецпроводится с помощью пучка ионов, компенсируемых потоком электронов)Зонд с устройством на борту подлетает к.исследуемому объекту на расстояние несколько десятков метров идвигается с небольшой относительнойскоростью. На исследуемый объект направляется пучок ускоренных.до 2 кэВионов током . 1 мА с помощью источника 2. Высаживание на коллекторемасс-анализатора 5 вторичных ионовприводит к появлению потенциала назонде, который смещает энергетическое распределение вторичных ионов. 50Измеритель 3 потенциала, опреде.лив величину потенциала зонда, управляет источником напряжения 4, который, в свою очередь, смещает на...

Номер патента: 1316060

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Аверина, Маишев, Митрофанов

МПК: H01J 49/34

Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре

...подается ца полеобразующие электроды 5 фильтра масс, от источника 13 питания ступенчато подают дополнительное тормозящее напряжение У , причем время, в течение которого тормозящее напряжение поддерживают пос- тояцным мин13 о м = сопяс с К .о 5 131 бОо. - частота ВЧ-напряжения,рад/с;Т - время, с;регистрируют зависимость ионного тока от времени,определяют ио графику зависимости ионного тока от времени время развертки одного цикла группы ионов с одним массовым числом 7 м время полного цикла развертки То , диапазон массовых чисел устройства и исследуемого потока ионов, кроме того, определяют наличие фона. Если фон есть, значит есть ионы с энергиями более энергии отклоняющего поля фильтра масс 15 бО бинтервал изменений величины...

Номер патента: 1552254

Опубликовано: 23.03.1990

Автор: Строкин

МПК: H01J 49/34

Метки: атомных, частиц, энергоанализатор

...длячастиц всех энергий.На чертеже приведена принципиальная схема энергоанализатора атомныхчастиц,Энергоанализатор содержит источник 1 атомов, камеру 2, энергоанализатор 3 ионов, камеру 4 ионизации, камеру 5 компенсации, ловушку 6, конденсатор 7 очистки, делитель 8 напряжения и входное окно 9 для атомных частиц. Устройство работает следующим образом,Атомы, испущенные источником 1атомов, пройдя камеру 2, через входное окно 9 в анализирующей пластинепопадают в энергоанализатор 3 ионов,Выходят атомы из знергоанализатора 3 Возвращаясь, ионы проходят камеру4 ионизации и попадают в энергоанализатор 3 ионов.5В соответствии со своей начальнойэнергией, они регистрируются детектором энергоанализатора 3 ионов.Повышение достоверности...

Номер патента: 695295

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел

...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...

Номер патента: 1780132

Опубликовано: 07.12.1992

Автор: Мамырин

МПК: H01J 49/34

Метки: магнитный, масс-спектрометр, резонансный

...сторону от входной щели по сравнению с модулятором, т.к.в противном случае ионный пучок подойдет 5 не под прямым углом к линии щелей, как этонеобходимо для правильной работы магнитного резонансного прибора, а под острым, при этом на 180 от входной щели (где расположены щели модулятора) пучок ионов не 10 30 35 40 45 50 55 15 20 25 будет сфокусирован. Таким образом, каждый признак в предлагаемой конструкции необходим, а все вместе они достаточны для достижения целей изобретения.Автору неизвестна заявленная совокупность существенных признаков. Взаимовлияние всех отличительных признаков приводит к появлению новых возможностей: уменьшению зазора магнита и использованию в приборе внешних источников ионов с повышенным давлением...