Рамендик

Номер патента: 695295

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик, Черепин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/34 ...

Метки: анализа, масс-спектрометрического, твердых, тел

...см, так что эплотность мощности, выделяющейсяв поверхностных слоях мишени лежитв диапазоне 10 - 10" Вт/смз.Предлагаемый способ. характеризуется тем, чтов результате мощногоимпульсногб воздействия первичногопучка на образец происходит взрывооб. разное разрушение материала образцана глубину проникновения первичныхионов,в твердое тело (для энергииионов 1"50 кэВ глубина проникновенияменьше 10".ь см) и у поверхности образ"ца образуется облако плазмы с плот- ностью электронов 10 - 1 О см э7 19 -эи температурой электронов 5 эВ, Таким образом ионизация нейтральныхчастиц происходит не. в результатевыбивания отдельных частиц как в ". прототипе, а в плазме по термическому (столкновйтельному) механизму.Это позволяет снизить до одного поряд-.ка...

Номер патента: 550053

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Гущин, Держиев, Рамендик, Чупахин

МПК: H01J 49/18

Метки: ионов, искровой, источник

...энергети"ческого распределения. Поэтому искравые источники ионов применяются толь.ко в сочетании с масс"спектрометра"ми с двойной фокусировкой, котораяимеет следующие недостатки; снижениеинтенсивности ионного тока из-замалого коэффициента использования550053ток конденсатора 5. Этот ток заряжает конденсатор 6, тем самым прекращая разряд, когда потенциалы наэлектродах выравниваются.Длительность разряда при этомуменьшается, Если емкость конденса"тора 6 равна 1.ф 10- Ф, Т 5"1 О 8 с,При этом энергетический разбросснижается до И 50 эв,Энергетицеский разброс ионов можно оценить по формулеЯ 112и = - -- (т)2 шд з 1 где у 1 11 оЭуионов (из 5 10ионов, полученных подобным способом, только один доходит до приемника ионов), громоздкост сложность,...

Номер патента: 957674

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Васюта, Гречишников, Держиев, Иванова, Рамендик

МПК: H01J 27/02

Метки: ионов, искровой, источник

...0 до 500 Гц подаетсячерез конденсаторы 5 и б и согласую 1 О щие сопротивления 7 и 8 на электроды.1 и 2. Изменяя величину согласующихсопротивлений 7 и 8, регулируют амплитуду тока в диапазоне 0,1-100 А,таккакИа15 Макс а "+пл При включении конденсатора С вразрядный контур мощность, выделяющаяся в разрядном контуре, составСЦляет Е- что приводит к обще"Р 2му снижению. выделяемой в разрядномконтуре энергии в отношении С/Со.Одновременно и уменьшается длительность искрового разряда в отношенииС/Со. Таким образом, при использовании конденсатора С в разряднойцепи можно регулировать энергию,выделяющуюся в разрядном контуре,в диапазоне 2,5 10 ф -2,5 10 Дж,а длительность разряда 0,1-3 мкс.Недостатком известного источникаионов является отсутствие...

Номер патента: 692362

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Рамендик

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...: ", :. трическая прочностьпромежутка пони, Недостатком способа является .жаетсЯ до значения0,7-0,8 .кВ/ми.недостаточная точность результатов . ,: Таким образом, импульсом напряженияанализа (не лучше 10-20 относитель- . : 1 5 кВ можно осуществить"электриценых), Это объясняется тем, цто вслед- ЗОский пробой промежутка длиной 2 мм.ствие высокой электрицескои прочно- Увеличивая. пробивное.напряжение дости вакуума велицина межэлектродного . обычного для масс"спектрометрии знапромежутка при знацениях амплитуды ":- цения .10-20 кВ,;можно снизить велиимпульсного электрицеского напряжения ".,чину локального давления до; 1010-20 кВ составляет"малую величину- 10 мм рт.ст."столба или увелйчить500-200 мкм, В процессе анализа .за. . . межэлек 1...

Номер патента: 867219

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Иванов, Комаров, Мищенко, Олейников, Рамендик, Сысоев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...опроса и считывания,а распределитель содержит блок задания ширины каналов по закону Ь Ь 1/й.Структурная электрическая схемапредлагаемого устройства представленана цертеже.Устройство состоит из истоцникаионов 1, включающего разрядные электроды 2, сетку 3 и оптицескую систе"му ч, времяпролетного масс-анализа-тора 5, детектора 6, блока 7 питанияисточников ионов, усилителя-генератора 8, вакуумных насосов 9 и блокарегистрации 10, содержащего распреде.литель 11 с блоком задания шириныканалов, аналого-цифровые преобразо .тели 12, интеграторы 13 и блок 11опроса и считывания, причем сетка 3подключена ко входу усилителя-генератора В и расположена в источникеионов 1 между оптической системой 1и разрядными электродами 2, подключенными к блоку 7...

Номер патента: 1661870

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Грабовский, Еременко, Оксенойд, Пятахин, Рамендик, Сотниченко, Файнберг, Хромов

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, лазерный, масс-спектрометр, масс-спектрометрического

...тока и предыдущим его значением из фиксатора 28 тока, которое определяет величину следующего приращения в регуляторе 32 приращений, полученную в сумматоре 33 приращений и вызывающую перемещение объектива 2 на этувеличину, По мере. приближения к максимальному значению тока разность и, следовательно, величина приращения уменьшаются, при прохождении че 1661870рез максимум тока знаки разности и перемещения сменяются на противоположные,обеспечивая установление максимальногозначения тока. Сигнал окончания поискамаксимума тока вырабатывается компаратором 30 окончания цикла в случае, еслиразность лежит в пределах, вырабатываемых формирователем 34 допустимых пределов изменения тока, исходя изнестабильности тока и числа импульсов усреднения из...

Номер патента: 1628106

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Оксеноид, Рамендик, Сильнов, Сотниченко

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, лазерного, масс-спектрометрического

...чиглд и нов рдзли - ЦЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, ЧТО СттРДжлЕтСЯ В ПО- стоянстве .цдчеций КЧ, ЛГсо(тютя(Р значения ЕГЧ в этой О(ллсти лнигят от эф(Ьетститтности про(Рос он ионизл(цти и ускорения, Этд обллг.ть хлрлктери- ЭУЕтСЯ ЦДИЛУЧШЕй НОС ЦРСЧЦИМСС ТИ) РЕЗУЛЬтдтОВ ДцадцЛ ЦРИ ПОГтЯЦНОй с незлнисимо рдзмерл с 1, Рагс мотргццР различных физическх углов(тй но:дг - ствия излучения цл пробу и рлницлющихся при этом осцовц(,(х процсссов В ПЛдЗМР дОКдЗЫВЛС Т ВЫГСцтРц(й С 1 и с из об.(дс тс . 10 (;кь с. . с .и 108 Вт, см1(5 (т г(т-;(5(5 по - 2, т( - г ВыОн(5 точигт кон(чсг т сццГО анализа пробь цл цримгсСпособ реализонлц цл:лсрцгм маге спектрометре Э)ЛЛ, Испльзовдли стандартный образец состава СИс содержанием тримегей ца уровне 10 2 мас,7, в ц(ироком...

Номер патента: 1305795

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Борискин, Брюханов, Еременко, Лощинин, Рамендик, Скрипченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...пластины28, например 50 мм , вместо первоначального сечения пучка ионов в фокальной плоскости, равного, например, 40 0,03 мм . В результате этого микроканальная пластина 8 способна эффективно без насыщения регистрировать пульсирующие пучки ионов высокой плотности тока, создаваемые импульсным лазерным источником 1 ионов. Попадая в каналы микроканальной пластины 8, вторичные электроны размножаются и по выходу из микроканальной пластины 8 попадают на коллектор 9, где создают 50 регистрируемый сигнал, который поступает на вход интегратора. Поступающий на вход микропроцессора сигнал обрабатывается микропроцессором в реальном масштабе времени: выделяется максимум, определяется момент его наступления и сумма слагающих сигналов...

Номер патента: 1177719

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Рамендик, Файнберг

МПК: G01N 1/44

Метки: анализа, масс-спектрометрического, подготовки, проб, твердых

...1 ОНа чертеже представлена схема устройства, осуществляющего способ,Устройство содержит пробоотбирающую подложку 1, заостренный электрод 2, подведенный к образцу 3 через 15 ось симметрии кольцевого электрода 4; образец 3 установлен на держателе 5, электрически соединенным с кольцевым электродом 4, заостренный электрод 2 соединен с вакуумным сильфо О ном 6 для механического перемещения его внутри вакуумированной камеры 7, имеющей вводы 9 для подведения высоковольтного напряжения к электродам 2 и 4. Перемещение электрода 2 внут ри камеры 7 осуществляется с помощью штанги 9, соединенной с электродом 2 через изолятор 10.Устройство работает следующим образом, ЗООбразец 3 помещают между электрически соединенными кольцевыми электродом Ь и...

Номер патента: 1043763

Опубликовано: 23.09.1983

Авторы: Держиев, Журавлев, Рамендик, Трофимов

МПК: H01J 49/26

Метки: искровом, источнике, масс-спектрометра, пробоя, стабилизации

...ионов, а один из входов исполнительного механизма 35 соединен также с выходом управления бпока зациты от. короткого замыкания электродов искрового источника ионов 3 3.Однако это устройство имеет малую 4 О помехозацищенность и сложность наладки, а использование амплитудного детектора в качестве датчика числа пробоев не позволяет надежно отли,чить единичный пробой от его отсут.- ствия, поэтому работа устройства воз,можна только при больших амплитудах радиоимпульса.Целью изобретения является расширение диапазона амплитуд радио- импульса, обеспечиваюцее возможность 50 работы при одном пробое в импульсе,. повышение устойчивости регулировання и упроцение настройки.Поставленная цель достигается тем, что устройство стабилизации на пряжения...