G01B 9/025 — устройств с двукратной экспозицией
Способ определения перемещений в плоскости объекта методом голографической интерферометрии
Номер патента: 715932
Опубликовано: 15.02.1980
Авторы: Глухов, Кудрин, Лисин, Нетребко, Полухин
МПК: G01B 11/16, G01B 11/24, G01B 9/025 ...
Метки: голографической, интерферометрии, методом, объекта, перемещений, плоскости
...муаро.объекта, Выбирают два освещенных участка на алых полос, рассчитываемая по формуле, гдеголограмме так, чтобы прямая, соединяющая О а - измененное расстояние между освещенны их центры, была параллельна искомой компо- ми участками. В ряде задач механически доста.ненте перемещения, Восстанавливая действитель точно определить только одну компоненту перепое изображение объекта освещением голограм мещения.мы одновременно через оба участка, получают Таким образом, использование способа пози регистрируют картину, муаровыхполос. Затем 1 Б воляет рассчитывать каждую компоненту пере.для исследуемой точки объекта определяют по- мещения в плоскости объекта по одной картирядок муаровой полосы, которыйоднозначно не полос, а не по трем, как в...
Голографический способ обнаружения трещины
Номер патента: 1054675
Опубликовано: 15.11.1983
Автор: Заруцкий
МПК: G01B 9/025
Метки: голографический, обнаружения, трещины
...цто в случае коллимированного освещения и наблюдения векторразности К не меняет своей ориентации от точки к точке и имеет одно ито же направление для всей поверхности контролируемой лопатки. При неколлимированном освещении и наблюдениив описанной схеме интерферометраориентация вектора разности К длякрайних точек контролируемой поверхности меняется незнацительно 1,в пределах 5-10 о 1. В этом случае направление вектора разности М определяется по его ориентации для геометрического центра лопатки или отдельногоее участка, для которого вероятностьпоявления дефекта максимальна (еслитакой участок заранее известен ). После этого регистрируют голограмму исходного состояния контролируемой лопатки. Затем снацала деформируют де"таль в плоскости,...
Способ исследования диффузии одного вещества в другом
Номер патента: 1060995
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Белогородский, Маринский, Николаев, Старобинец, Стефанов, Чалых
МПК: G01B 9/025, G01N 13/00
Метки: вещества, диффузии, другом, исследования, одного
...в ультразвуковом диапазо" не, достаточно точное определение области диффузии воды. через герметизирующее покрытие затруднено. Кроме того, учитывая, что для определенных диапазонов частот применя" ются свои соответствующие полимерные покрытия, номенклатура исследуемых на диффузию материалов будет с точ-ки зрения требуемой точности установления границ диффузии сужена. В результате известный способ позволяет точйо установить границы диффузии для сравнительно небольшого класса полимерных покрытий.Другим недостатком известного способа является его сравнительная сложность..Она заключается в том, что для проведения исследования диффузии через герметизирующую оболочку необходимо определять резонансную частоту преобразователя, а затем...
Голографический способ дефектоскопии
Номер патента: 1073566
Опубликовано: 15.02.1984
Автор: Заруцкий
МПК: G01B 9/025
Метки: голографический, дефектоскопии
...и возможность увеличения разрешающей способности метода при обнаружении дефектов. Кроме того, в силу гауссова распределения интенсивности света 1 в указанном диафракционном пятне при перемещении точечной диафрагмы происходит резкое падение интенсивности предметного светового пучка от 1 ггг, до 1. Это вызывает соответствующее падение контраста наблюдаемых интерференционных полос, что существенно уменьшает видность аномальных нарушений интерференционной картины в зоне дефекта и, как следствие, дополнительно снижает разрешающую способность метода, а также может послужить причиной пропуска имеющихся дефектов,Цель изобретения - повышение разрешающей способности способа.Поставленная цель достигается тем, что согласно известному...
Голографический способ контроля волокнистых композиционных материалов
Номер патента: 1116307
Опубликовано: 30.09.1984
Авторы: Гуревич, Заруцкий, Приклонский
МПК: G01B 9/025
Метки: волокнистых, голографический, композиционных
...способа используют голографический интерферометр с лазером непрерывно го действия тина ЛГ-Э 8, Предпочтительно оптическую схему строить так, чтобы направления освещения и наблюдения совпадали или составляли малый угол (О) с нормалью к недеформированной поверхности контролируемого материала. Используют нагружающее устройство, обеспечивающееидентичные граничные условия. Нагрузку по величине выбирают с помощью 55 эталонного образца так, чтобы вызванные ею деформации лежали в упругой зоне. Последовательность операций при использовании способа следующая.Регистрируют голограмму исходного состояния эталонного композиционного материала, после чего деформируют его так, чтобы на деформированной поверхности появилось не менее одной...
Способ голографической двухэкспозиционной интерферометрии
Номер патента: 1120160
Опубликовано: 23.10.1984
Авторы: Левина, Сарычев, Шкорупило
МПК: G01B 9/025
Метки: голографической, двухэкспозиционной, интерферометрии
...и наблюдать полосы на поверхности объекта невозможно.Цепью изобретения является повышение точности измерений путем повышения контрастности интерференционных полос.Для достижения поставленной цели согласно способу голографической двухпозиционной интерферометрии, заклщчающемуся в регистрации двух голограмм объекта на одной фотопластине, причем перед регистрацией второй голограммы изменяют угол падения в одном из интерферирующих пучков с помощью зеркала, и получении голографической интерферограммй, перед изменением угла падения пучка сдвигают поступательно фотоматериал в его плоскости на величийу Е =Рг где А - расстояние между центрамиобъекта и фотопластины;Л - длина волны света;Р - требуемая пространственнаячастота несущих...
Способ регистрации двухэкспозиционной голографической интерферограммы
Номер патента: 1157348
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Бурмистров, Островой
МПК: G01B 9/025
Метки: голографической, двухэкспозиционной, интерферограммы, регистрации
...дифракдионной40эффективности обеих голограмм.Цель изобретения - увеличение. контраста интерференционных полос.1Указанная цель обеспечивается тем,что согласно способу регистрации 45 двухэкспозиционной голографической интерферограммы .путем последовательной записи двух голограмм на фототер" мопластическом носителе при одновременном экспонировании,действии ко ронны и температуры с последующей фиксацией голограммы, восстановления изображений объекта, соответствующих различным состояниям, и формирования голографической интерферограммы, пе ред вторым экспонированием стирают поверхностный рельеф при постоянно действующей температуре стирания 858 290"С, причем фиксирование второй голограммы производят по достижении дифракционной...
Способ интерференционных измерений
Номер патента: 1182255
Опубликовано: 30.09.1985
Авторы: Власов, Мацонашвили
МПК: G01B 9/025
Метки: измерений, интерференционных
...входную и выходную плоскости линии задержки, Объективом 12 фокусируют изображение исследуемого объекта на светочувствительную среду 13, предназначенную для регистра- .ции интерференционной картины, Кроме волновых полей, оптические путикоторых выровнены, на регистрирующую среду попадают также еще дваволновых поля, одно иэ которых ниразу не прошло оптическую линию задержки, а другое прошло ее дважды,Для повышения контраста интерференционной картины двум последним волновым полям необходимо прекратитьдоступ к светочувствительной среде,что можно осуществить, применяя,например, развязку по поляризации,Цля этого в оптическую линию задержки вводят тонкую полуволновуюпластинку 9, изменяющую поляризациюпрошедшего через нее излучения...
Способ голографической дефектоскопии слоистых материалов
Номер патента: 1247648
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Бахтин, Зускович, Корнеев, Королев-Коротков, Кудрин, Полухин, Ренне
МПК: G01B 9/025
Метки: голографической, дефектоскопии, слоистых
...частоты вращения объекта, производит малые смещения поверхности в местах отсутствия соединения (0,05 мкм и вьппе), а эти смещения мо" гут быть определены по всему полю исследуемого объекта с помощью голо" графической интерферометрии. Другие методы измерения малых смещений или не позволяют определить смещения по всему полю поверхности объекта или сложны в использовании. Кроме того, в большинстве своем эти методы требуют непосредственного контакта с поверхностью объекта, что может мешать обнаружению аномальных смещений.Голографическая интерферометрия наиболее удобна для измерения малых смещений по всему полю объекта, а в совокупности с изменением частоты вращения объекта вокруг оси параллельной плоскости регистрации голограммы...
Способ контроля отклонения формы и расположения поверхностей
Номер патента: 1370454
Опубликовано: 30.01.1988
Авторы: Артеменко, Козлов, Островский, Речкалов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/50 ...
Метки: отклонения, поверхностей, расположения, формы
...осуществляется контроль.Оптическая схема регистрации спек лограмм содержит рабочую кювету 1 с иммерсионной жидкостью, в которой помещены контролируемая 2 и эталонная 3 детали, компенсационную кювету 4, расположенную по ходу отраженных ст деталей 2 и 3 световых пучков и имеющую толщину, равную расстоянию от окна рабочей кюветы 1 до контролируемых участков поверхности деталей 2 и 3, оптическую систему совме- З 0 щения отраженных пучков, состоящую из линз 5 и 6, зеркала 7 и оборачивающей системы 8, и фоторегистрирующий слой 9.Способ осуществляют следующим 35 образом.Помещают контролируемую 2 и эталонную 3 детали в рабочую кювету 1 с иммерсионной жидкостью, имеющей показатель п, преломления, и освещают их 40 когерентным излучением....
Голографический способ определения контурной карты градиента рельефа поверхности объекта
Номер патента: 1404814
Опубликовано: 23.06.1988
Авторы: Луис, Островский, Рейнганд
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/50 ...
Метки: голографический, градиента, карты, контурной, объекта, поверхности, рельефа
...4 кюветы 3); Лх - сдвиг объекта 6 параллельно плоскости окна 4 кюветы 3, 20Способ осуществляется следующим образом,Изготавливают (например, снятием контактного отпечатка) окно 4 кюветы 3 с рельефом на внутренней поверхности, обратным 25 рельефу объекта 6. Объект 6 помещают в кювету 3, заполняют кювету 3 иммерсионной средой, смешают объект 6 относительно окна 4 кюветы 3 параллельно его наружной поверхности, экспонируют голограмму объекта 7, используя фотопластинку 2, изменяют 30 показатель преломления иммерсионной среды, вторично экспонируют голограмму и получают контурную карту градиента рельефа поверхности объекта 6 путем освещения голограммы. Разность фаз волн Лгр, рассеянных одной и той же точкой объекта 6 во время первой и второй...
Способ определения формы поверхности объекта
Номер патента: 1562687
Опубликовано: 07.05.1990
Автор: Клева
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/52 ...
Метки: объекта, поверхности, формы
...схема, реализующая способ определения формы поверхности. Схема содержит кювету 1 с плоской стеклянной стенкой 2, помещенные в кювету 1 исследуемый объект 3 и контрольный объект 4, светоделитель 5, формирующий из коллимированного пучка 6 копучки, зеркалои фотоаппарат 9ерферограммы.об осуществляется следующимметодом двух экспозиций, заполняя кювету перед первой и второй экспозициями жидкостями с различным коэффициентом преломления. 511 осле фотохимической обработки фотопластинку 8 с записанным голографическим изображением устанавливают на прежнее место в оптической схеме, убирают светоделитель 5 и Фотоаппара том 9 регистрируют интерферограмму одовременно для поверхностей исследуеМого 3 и контрольного 4 объектов. ПоЛучают фотографию...
Способ регистрации двухэкспозиционной голографической интерферограммы
Номер патента: 1636686
Опубликовано: 23.03.1991
МПК: G01B 9/025, G03H 1/18
Метки: голографической, двухэкспозиционной, интерферограммы, регистрации
...нагрева фототермопластического материала и окончательноготеплового проявления, блок управления временными характеристиками процесса записи и фотоприемное устройство, расположенное на пути распространения отклоненного фототермопластическим материалом излучения.В качестве источника когерентногоэлектромагнитного излучения используют аргоновый лазер ЛГН. Регистрация голографических интерферограммосуществляют на фототермопластическом материале ФТПН-Л. Зарядку фототермопластического материала при действии короны осуществляют с помощьюисточника высокого напряжения 3-12 кВ,которое подают на коронирующую нить,Блок нагрева фототермопластическогоматериала и окончательного тепловогопроявления представляет собой стабилизатор напряжения 30-100 В с...
Способ контроля волнового фронта
Номер патента: 1670378
Опубликовано: 15.08.1991
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...
...ил,3, фотопластинку 5 и блок 6 формирования опорного пучкаСпособ реализуется следующим образом,Излучение с контролируемым волновым фронтом из блока 1 его формирования направляется на матовое стекло 2 На фотопластинке 5 с помощью объектива 4 с апертурной диафрагмой 3, предназначенной для исключения волновых аберраций объектива 4, с внеосевой плоской опорной волной, сформированной в блоке 6, записывается голограмма сфокусированного изображения матового стекла 2 эа время первой экспозиции. Перед второй экспозицией, например, с помощью поворота зеркал, находящихся в блоках 1, 6, изменяется угол освещения матового стекла 2 и угол1670378 зпа =,и(зп 01 - зп%). 25 Составитель В,Бахтинэктор С.Никитина Техред М,Моргентал Корректор М.Демчик...
Стробоголографический способ определения форм колебаний вращающихся объектов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1672203
Опубликовано: 23.08.1991
Авторы: Богусонова, Гуревич, Гусев, Приклонский
МПК: G01B 9/025
Метки: вращающихся, колебаний, объектов, стробоголографический, форм
...излучеия имульсоо в раэли 4 ых фазах, и (э гологра;. в будут дкапливд ться иэобрдженил об,ек)д о различных состояниях, При О стано,(еии такой интерерогрдлмы бу- ))0( д;тС; с-:,дВЛИОдтЬСя ОдНООрЕМЕНО ИЗО,:рд 5 к(и, с,оотоетстоующие каждолуу/й 1е 5,ферещиоенсэя кар(1;), Об)(эзогЕ ЛЯ ПРИ НаЛОжЕНИИ ВСЕХ ООССтаНОВЛЕН 1 Р( ных иэображений в рассматриваемомлуч, е, будет и(лет ь следуощее распределе 1 а интенсионос) и с точностью до постоянного множителя:,1 г,1=-1 , (КД) Мп с (пл/К) ХС (Е и 2" 4( ) 12гдс К - вектор чувствительности гологрдфиескоо интерферометрд;А - дмлитуда колебаний обьекта;К - сквдскость стРобиРУК)о(41 х илпУ ьсов по отис)сению к частоте коебдни сбьектэ 1;1 = 0,1,2 - 1)орядковый нолер стробирующесо импульса;Л 2203 0 1 1 Лс,пп...
Способ получения интерферограммы для контроля качества линз и объективов
Номер патента: 1712779
Опубликовано: 15.02.1992
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...
Метки: интерферограммы, качества, линз, объективов
...объекта.со значением 1 фокусного расстояния голограмму Фурье рассеивателя с помощью коллимированного опорного пучка, осуществляют смещение рассеивателя в его плоскости и изменение угла падения опорного пучка, вновь записывают голограмму Фурье рассеивателя и проводят фильтрацию полученной двухэкспозиционной голограммы до получения интерферограммы контроля.- В отличие от известного способа освещение рассеивателя осуществляют расходящейся сферической волной с радиусом В кривизны фронта в плоскости рассеивателя Й = 1 /( - 1), где- расстояние от главной плоскости контролируемого объекта до регистрирующей среды,В предлагаемом способе возможность достижения положительного эффекта с физической точки зрения обеспечивается созданием...
Способ контроля качества склейки в обрезиненном валке
Номер патента: 1746212
Опубликовано: 07.07.1992
Авторы: Крылов, Пилипенко, Сохач
МПК: G01B 9/025
Метки: валке, качества, обрезиненном, склейки
...сущности к предлагаемому является способ, состоящий в том, что регистрируют двухэкспозиционную интерферограмму поверхности резины, причем перед первой экспозицией валок приводят во вращение вокруг своей оси, а после первой экспозиции меняют частоту вращения и осуществляют вторую экспозицию,Данный способ расширяет возможности аналога, позволяя обнаруживать отслоения, сообщающиеся с атмосферой.Недостаток известного способа состоит в том, что он не позволяет обнаружить те)рОВВНИЯ, 110 ХКл)0 ,г 1"-;"Л ПСВЯЗИ И ОГ 1 рвдЕЛ; . -. П,г Г ГЗЛК,уСИЛИй ОтГ)ЫВВ рЕЗ 1.1 Ы С,г 1 З Г "ПЛВ, б ЬН),едИНИЦЫ, За СЧЕ; ;гти "О," Г;С,; .; 1, С;1 Н:Гя,ХОЦИМО ОбЕСПЕ)гх г; гче, . г):,-г)лгглПт, - . ,ВращенИЯ Вг)1-.1; ;,- 11", 1 лПрСВЫШат" Г 1:Г)Г)1 "С...
Голографический интерферометр
Номер патента: 1749701
Опубликовано: 23.07.1992
Автор: Махмутов
МПК: G01B 9/025, G03H 1/04
Метки: голографический, интерферометр
...изображений, ду 5 смещают между экспозициями в ееНа фиг,1 изображена схема устройства; плоскости, интерференционные полосы в на фиг.2 - элементы, формирующие точеч- восстановленной интерферограмме периый диффузныи рассеиват. л, 5 пендикулярны направлению смещения, ИнГолографический интерферометр со- терферограмма в полосах конечной ширины держит лазер, си т1, систему 2 очистки, расши- образуется при восстановлении голограмрения и коллимации лазерного пучка, мы пространственно когерентным источни-, фазовый объект 3, фокусирующую систему ком света, в полосах бесконечной ширины - 4, регистрирующую среду 5, положительную 10 некогерентным,Преимущество изобретения заключаПервая экспозиция среды 5 произво- ется в простоте реализации, что...
Способ регистрации двухэкспозиционной голографической интерферограммы
Номер патента: 1762295
Опубликовано: 15.09.1992
Авторы: Ковалев, Окушко, Тюшкевич
МПК: G01B 9/025, G03H 1/18
Метки: голографической, двухэкспозиционной, интерферограммы, регистрации
...действия второй зарядки при записи второй голограммы определяют из условия равенства дифракционных эффективностей обеих голограмм, при этом нагрев фототермопластического носителя для проявления обеих голограмм осуществляют одновременно.Цель достигается за счет того, что при предлагаемом способе регистрации первая голограмма не проявляется, при этом при изменении временного интервала между экспозициями не требуется изменения рабочей температуры ФТПК, снижающего оперативность процесса записи; не требуются проявление и стирание первой голограммы, ограничивающие временной интервал между экспозициями. визуализация обеих голограмм осуществляется одновременно и не буде приводить к различию дифракционных эффективностей голограмм первой и...
Способ записи интерферограмм объектов в виде линз и объективов
Номер патента: 1824518
Опубликовано: 30.06.1993
Автор: Гусев
МПК: G01B 9/025, G01M 11/02
Метки: виде, записи, интерферограмм, линз, объективов, объектов
...в сходящуюся сферическую волну освещения матового стекла 4 с радиусом кривизны в его плоскости й "11 /(11+12), где 11, 12- соответственно рассто 2яния от главной плоскости контролируемой линзы в узле крепления бдо матового стекла 4 и фотопластинки 8, в плоскосткоторой строится изображение матового стекла 4.1824518 Составитель В.Гусев Техред М.Моргентал Редактор Корректор В,Петраш Заказ 2220 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при 1 КНТ СГСР113035. Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород ул Г,н;ии, 101 3На фотопластинке 8 проводится запись спеклограммы за время первой экспозиции, Перед второй экспозицией с помощью механизмов перемещения 5, 7...
Способ контроля багажа
Номер патента: 1839847
Опубликовано: 20.06.2006
Авторы: Бекешко, Воронин, Ковалев
МПК: G01B 9/025
Метки: багажа
Способ контроля багажа, заключающийся в облучении объекта проникающим излучением и регистрации радиационного изображения объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и надежности контроля, объект нагревают до температуры Т 1, регистрируют голограмму исходного объекта, изменяют температуру объекта, причем изменения температуры не должны превышать собственную температуру объекта более чем на 6-13°С, регистрируют вторую голограмму, формируют голографическую интерферограмму и сопоставляя ее с радиационными изображениями в различных плоскостях судят о наличии вложений, обладающих различной теплопроводностью.