Способ исследования микроструктуры образца

(и), 3. п 1 587332 А 1 1 В 11 3 1)5 ЗОБРЕТЕН ОП ИСА ВТОРСКО ИДЕТЕЛ ЬСТВ(71) Научно-исследовательский физико-технический институт при Дальневосточном государственном университете(56) Избранные методы исследования в металлографии / Под редакцией Т.Й.Хунчера,Перевод с немецкого, - М.: Металлургия,1985, с. 74.(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ ОБРАЗЦА(57) Изобретение относится к металлографии, в частности к способам измерения шероховатостей и дефектов поверхности, иможет быть использовано в металлургической промышленности для оптического контроля технологического микрорельефаповерхности аморфных и микрокристаллических лент. Цель изобретения - повышениеинформативности и производительностиисследования технологического микрорельефа контактной поверхности аморфных и контактной и внешней поверхностей мирокристаллических лент, полученных быстрой закалкой из расплава, за счет разного уровня формирования неоднородностей по глубине поверхностного слоя ленты и малой глубины резкости изображаемого пространства оптического микроскопа. Устанавливают образец на предметный столик светового микроскопа и фокусируют микроскоп до получения изображения поверхности образца. Перед фокусировкой микроскопа выполняют недофокусировку до получения изображения белого ручеистого узора неконтакта, а после фокусировки микроскопа выполняют перефокусировку до получения изображения микроструктуры дна углублений неконтакта и по трем изображениям судят о технологическом микро- рельефе контактной поверхности лент и оценивают ее шероховатость и площадь контакта застывающего расплава с поверхностью закалочного диска аморфной и микрокристаллической лент, а микроструктуру исследуют на разной глубине технологического микрорельефа внешней поверхности микрокристаллических лент, 5 ил. Изобретение относится к металлографии, в частности к способам измерения шероховатостей и дефектов поверхности, и может быть использовано в металлургической промышленности для оптического контроля технологического микрорельефа поверхности аморфных и микрокристаллических лент, полученных быстрой закалкой из расплава.Цель изобретения - повышение информативности и производительности исследования техн контактной и контактной и рокристалличе рой закалкой и уровня формир глубине поверх глубины резкос ства оптическоНа фиг, рафия техноло логи внеш ских лз расовэнностнти изго ми ог- ончес ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ческого микрорельефа хности аморфных и ней поверхностей микент, полученных быстплава за счет разного ия неоднородностей по ого слоя ленты и малой ображаемого пространкроскопа.дставлена микрофоткого микрорельефа ктактной многокомпонентной аморфно-кристаллической поверхности ленты, получен. Ного в недофокусе; на фиг. 2 - то же, в фокусе; на фиг, 3 - то же, в перефокусе; на фиг,4 - микрофотография изображения технологического микрорельефа контактной поверхности аморфной ленты на основе Ее, полученного в недофокусе; на фиг. 5 - то же, в перефокусе,На фиг. 1 - 5 обозначены: 1 - белый ручеистый узор неконтакта, 2 - реплика от материала закалочного диска, 3 - контур каверны, 4 - топология дна каверны, 5 - ,кристаллы,Предложенный способ исследования ,микроструктуры образца осуществляется ,следующим образом,Участок ленты, технологический рельеф которого исследуется, очищается от пыли, обезжиривается и устанавливается на пред,метном столике оптического микроскопатак, чтобы он оставался плоскопэраллель.ным, Специфика структуры аморфных и , микрокристаллических лент, полученных ,быстрой закалкой из расплава, - разныйуровень формирования неоднородностейпо глубине поверхностного слоя ленты - дает возможность использовать расфокусировку оптической системы микроскопа в некогерентном свете, позволяющую из-за малой глубины резкости оптического микроскопа фокусировать изображение микроструктуры на выбранной глубине. При расфокусировке наблюдается выделение границы между участками с различной структурой в виде линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как правило, выявляются неоднородности дна каверн,Предложенный способ позволяет оценить глубину рельефа у наблюдаемой в поле40 45 50 55 5 10 15 20 25 30 35 зрения микроскопа конкретной каверны и посчитать среднюю шероховатость контактной поверхности по формуле К = Лб/1, где А б - глубина рельефа, равная величине расфокусировки, отсчитываемой по рукоятке механизма точной фокусировки микроскопа от сфокусированного изображения реплики вблизи выбранного контура каверны до деталей на ее дне (в перефокусе); - средняя длина каверны.П р и м е р 1, На фиг. 1 изображена контактная поверхность многокомпонентной аморфно-кристаллической ленты в недофокусе, визуализирован белый ручеистый узор 1 неконтакта; на фиг, 2 - то же, в фокусе, визуализирована реплика 2 от материала закалочного диска, у края контура 3 каверны - кристаллы 5; на фиг, 3 - то же, в пере- фокусе, визуализирована топология 4 дна каверны - бугорки предкристаллизации,Контактная поверхность аморфно-кристаллической ленты, как и аморфных лент, полученных быстрой закалкой из расплава, характеризуется белым ручеистым узором 1 неконтакта и кавернами, ориентированными вдоль направления спиннингования, Однако белый ручеистый узор 1 неконтакта, реплика 2 от материала закалочного диска и топология 4 дна каверны выражены значительно слаблее, что, по-видимому, связано с растущими кристаллами 5, изменяющими отражательную способность контактной поверхности. П редложен н ый способ позволяет выявить в фокусе кристаллы 5, в перефокусе на дне каверн наблюдать бугорки, предшествующие кристалл и за ции. П р и м е р 2. Иногда для выявления особенностей технологического микрорельефа поверхности достаточно наблюдения изображения контактной поверхности в режимах недофокуса и перефокуса, На фиг, 1 изображена контактная поверхность аморфной ленты на основе Ге в недофокусе, белый ручеистый узор 1 неконтакта связан с контуром 3 каверн; на фиг. 5 в перефокусе выявлена топология 4 дна каверн, хорошо визуализирована пористость дна каверны,Предложенный способ исследования микроструктуры образца помогает решить проблему получения аморфных сплавов с заданными свойствами, сокращая время, необходимое для анализа микроструктуры лент, полученных быстрой закалкой из расплава, и исключая использование дорогостоящего научного оборудования. Способ дает возможность установить оперативный метрологический контроль непосредственно в заводской лаборатории и управлять1587332 2 качеством ленточной продукции на заводеили опытно-экспериментальном участке попроизводству быстрозакаленн ых лент. Формула изобретения 5 Способ исследования микроструктуры образца, заключающийся в том, что устанавливают образец на предметный столик светового микроскопа, фокусируют микроскоп до полученя изображения поверхности 10 образца и производят исследование микроструктуры, о т л и ч а ю щ и й с я тем что, с целью повышения информативности и производительности исследования технологического микрорельефа контактной 15 поверхности аморфных и контактной и внешней поверхностей микрокристаллических лент, полученных быстрой закалкой из расплава, выполняют перед фокусировкой микроскопа недофокусировку до получения изображения белого ручеистого узора не- контакта, а после фокусировки микроскопа выполняют перефокусировку до получения изображения микроструктуры дна углублений неконтакта и по трем изображениям судят о технологическом микрорел ьефе контактной поверхности лент и оценивают ее шероховатость и площадь контакта застывающего расплава с поверхностью зака - лочного диска аморфной и микрокристаллической ленты, а микроструктуру исследуют на разной глубине технологического микрорельефа внешней поверхности микрокристаллических лент.1587332 Корректор Редактор В,Дан ка роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгоагарина аказ 2412 ВНИИПИ Госуд Составитель Л.Лобзо Техред М.Моргентал Тираж 493 Подписноенного комитета па изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 3035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5