Интерференционный способ измерения плотности

Номер патента: 708144

Авторы: Данилина, Каменщиков, Комиссаров

ZIP архив

Текст

и 708144 ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскмкСоциалистическихРеспублик(23) Приоритет 1 ееударетееиай кемитет СССР ае аелем изебретеиий и етирьпийОпубликовано 05.01.80. Бюллетень М 1 (53) УДК535,4 (088.8) Дата опубликования описания 07,01.80 Н. М. Комиссаров, В. А. Каменщиков и Г, Г. Данилина(54) ИНТЕРФЕРЕНБИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ Изобретение относится к технике интерференционных измерений плотности оптически прозрачных сред и может найти применение в га.зодинамике, плазмохимии, физике горения и взрыва.5Известен способ определения плотности газа с помощью двухлучевого интерферометра,состоящий в том, что измеряют сдвиг полоси по расчетным формулам устанавливают плотность 1).Наиболее близким по технической сущностик предложенному является интерференционный способ измерения плотности оптическипрозрачного вещества, основанный на явлениидисперсии света в веществе, состоящий в том,15что фотографически регистрируют двухлучевуюспектроинтерферограмму и по положению полос вспектре определяют плотность (2,Недостатком этого способа является низкаяточность определения фазового сдвига, равного для двухлучевых интерферометров 0,05 длины волны света, и невозможность определенияпрофиля распределения плотности, т.е. недостаточный динамический диапазон. Бель изобретения - повышение точностяизмерения и расширение динамического диапа.зона,Это достигается тем, что в интерференцион.ном способе измерения плотности оптическипрозрачных веществ создают одновременноспектроинтерференционные трехлучевую и двухлучевую картины, в рабочем участке спектратрехлучевой картины формируют не менеедвух изапик, определяют длину волны одногоиэапика и измеряют спектральные расстояниямежду соседними изапиками в исходном и рабо"чем состоянии. По наклону двухлучевых полос определяют направление изменения плотности и судят об ее абсолютном значении.Для определения профиля плотности выделяютв монохроматической трехлучевой картине дваучастка в экстремуме освещенности и изапикеполосы, регистрируют изменение интенсивностив этих участках и ло полученным значениямсудят о профиле распределения плотности,Точность измерения повышается за счетиспользования трехлучевой интерферометрии,позволяющей находить разность хода с точнос708144 Ыи иг. 4 РСоставитель А. МедведеТехред М. Келемешраж 801 орректор Е. Пап Ред мелькин каз 84 ПодписноСССР Ти ЦНИИП по 113035, Государственного комитетаелам изобретений и открытийосква, Ж - 35, Раушская наб 4/5 Филиал ППП "Патент", г, У ул. Проек 2, Способ по п. 1, о т л и ч а ю ш и й.с я тем, что, в трехлучевой картине выделяютучасток в экстремуме освещенности и изапикеполосы, регистрируют изменение интенсивностив этих участках и по полученным значениямсудят о профиле распределения плотности.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 6 1. Физические измерения в газовой дина. мике и при горении, ИЛ, М 1957, 2. Чепур Д, В., 1 ишловский А. А Изв, АН СССР, т. ХЧ 11, Х б, 1953, сер. физика, Спектроинтерференционный дифференционный метод измерения показателей преломления и дисперсии жидкостей (прототип) .

Смотреть

Заявка

2510731, 18.07.1977

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5539

КОМИССАРОВ НИКОЛАЙ МИХАЙЛОВИЧ, КАМЕНЩИКОВ ВИКТОР АЛЕКСЕЕВИЧ, ДАНИЛИНА ГАЛИНА ГЕОРГИЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, плотности

Опубликовано: 05.01.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-708144-interferencionnyjj-sposob-izmereniya-plotnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерференционный способ измерения плотности</a>

Похожие патенты